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重慶大學材料學院X射線第三次實驗報告參考版

時間:2019-05-15 07:09:13下載本文作者:會員上傳
簡介:寫寫幫文庫小編為你整理了多篇相關的《重慶大學材料學院X射線第三次實驗報告參考版》,但愿對你工作學習有幫助,當然你在寫寫幫文庫還可以找到更多《重慶大學材料學院X射線第三次實驗報告參考版》。

第一篇:重慶大學材料學院X射線第三次實驗報告參考版

實驗三透射電鏡結構分析綜合實驗

(這個題目是從學院網站上看到的)

一、實驗內容及實驗目的1.結合透射電鏡實物介紹其基本結構及工作原理,以加深對透射電鏡結構的整體印象,加深對透射電鏡工作原理的了解。

2.選用合適的樣品,通過明暗場像操作的實際演示,了解明暗場成像原理。

二、實驗原理(原里很多、大家摘抄吧)

(一)透射電鏡的基本結構及工作原理

透射電子顯微鏡是一種具有高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器,被廣泛應用于材料科學等研究領域。透射電鏡以波長極短的電子束作為光源,電子束經由聚光鏡系統的電磁透鏡將其聚焦成一束近似平行的光線穿透樣品,再經成像系統的電磁透鏡成像和放大,然后電子束投射到主鏡簡最下方的熒光屏上而形成所觀察的圖像。在材料科學研究領域,透射電鏡主要可用于材料微區的組織形貌觀察、晶體缺陷分析和晶體結構測定。

透射電子顯微鏡按加速電壓分類,通常可分為常規電鏡(100kV)、高壓電鏡(300kV)和超高壓電鏡(500kV以上)。提高加速電壓,可縮短入射電子的波長。一方面有利于提高電鏡的分辨率;同時又可以提高對試樣的穿透能力,這不僅可以放寬對試樣減薄的要求,而且厚試樣與近二維狀態的薄試樣相比,更接近三維的實際情況。就當前各研究領域使用的透射電鏡來看,其主要三個性能指標大致如下:

加速電壓:80~3000kV

分辨率:點分辨率為0.2~0.35nm、線分辨率為0.1~0.2nm

最高放大倍數:30~100萬倍

盡管近年來商品電鏡的型號繁多,高性能多用途的透射電鏡不斷出現,但總體說來,透射電鏡一般由電子光學系統、真空系統、電源及控制系統三大部分組成。此外,還包括一些附加的儀器和部件、軟件等。有關的透射電鏡的工作原理可參照教材,并結合本實驗室的透射電鏡,根據具體情況進行介紹和講解。以下僅對透射電鏡的基本結構作簡單介紹。

1.電子光學系統

電子光學系統通常又稱為鏡筒,是電鏡的最基本組成部分,是用于提供照明、成像、顯像和記錄的裝置。整個鏡筒自上而下順序排列著電子槍、雙聚光鏡、樣品室、物鏡、中間鏡、投影鏡、觀察室、熒光屏及照相室等。通常又把電子光學系統分為照明、成像和觀察記錄部分。

2.真空系統

為保證電鏡正常工作,要求電子光學系統應處于真空狀態下。電鏡的真空度一般應保持在10-5托,這需要機械泵和油擴散泵兩級串聯才能得到保證。目前的透射電鏡增加一個離子泵以提高真空度,真空度可高達133.322×10-8Pa或更高。如果電鏡的真空度達不到要求會出現以下問題:

(1)電子與空氣分子碰撞改變運動軌跡,影響成像質量。

(2)柵極與陽極間空氣分子電離,導致極間放電。

(3)陰極熾熱的燈絲迅速氧化燒損,縮短使用壽命甚至無法正常工作。

(4)試樣易于氧化污染,產生假象。

3.供電控制系統

供電系統主要提供兩部分電源,一是用于電子槍加速電子的小電流高壓電源;二是用于各透鏡激磁的大電流低壓電源。目前先進的透射電鏡多已采用自動控制系統,其中包括真空系統操作的自動控制,從低真空到高真空的自動轉換、真空與高壓啟閉的連鎖控制,以及用微機控制參數選擇和鏡筒合軸對中等。

(二)明暗場成像原理

1.明暗場成像原理

晶體薄膜樣品明暗場像的襯度(即不同區域的亮暗差別),是由于樣品相應的不同部位結構或取向的差別導致衍射強度的差異而形成的,因此稱其為衍射襯度,以衍射襯度機制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過物鏡光欄成像,稱其為明場像;如果只允許某支衍射束通過物鏡光欄成像,則稱為暗場像。有關明暗場成像的光路原理參見圖1-1。就衍射襯度而言,樣品中不同部位結構或取向的差別,實際上表現在滿足或偏離布喇格條件程度上的差別。滿足布喇格條件的區域,衍射束強度較高,而透射束強度相對較弱,用透射束成明場像該區域呈暗襯度;反之,偏離布喇格條件的區域,衍射束強度較弱,透射束強度相對較高,該區域在明場像中顯示亮襯度。而暗場像中的襯度則與選擇哪支衍射束成像有關。如果在一個晶粒內,在雙光束衍射條件下,明場像與暗場像的襯度恰好相反

三、使用儀器、材料

這個在老師的ppt里面

四、實驗操作

明暗場成像是透射電鏡最基本也是最常用的技術方法,其操作比較容易,這里僅對暗場像操作及其要點簡單介紹如下:

(1)在明場像下尋找感興趣的視場。

(2)插入選區光欄圍住所選擇的視場。

(3)按“衍射”按鈕轉入衍射操作方式,取出物鏡光欄,此時熒光屏上將顯示選區域內晶體產生的衍射花樣。為獲得較強的衍射束,可適當的傾轉樣品調整其取向。

(4)傾斜入射電子束方向,使用于成像的衍射束與電鏡光鈾平行,此時該衍射斑點應位于熒光屏中心。

(5)插入物鏡光欄套住熒光屏中心的衍射斑點,轉入成像操作方式,取出選區光欄。此時,熒光屏上顯示的圖像即為該衍射束形成的暗場像。

通過傾斜入射束方向,把成像的衍射束調整至光軸方向,這樣可以減小球差,獲

得高質量的圖像。用這種方式形成的暗場像稱為中心暗場像。在傾斜入射束時,應將透射斑移至原強衍射斑(hkl)位置,而(hkl)弱衍射斑相應地移至熒光屏中心,而變成強衍射斑點,這一點應該在操作時引起注意。

五、實驗數據

六、實驗結果及分析

把老師給的題坐在這里應該就可以了吧!

第二篇:X射線衍射實驗報告

1、前言和實驗目的

(1)了解X射線產生和X射線衍射的原理。

(2)掌握使用X射線衍射儀測定晶體晶面間隔的方法。

2、實驗原理

(1)X射線產生機理:X射線管的燈絲發射的電子在強磁場的作用下加速,以很高的速度打在金屬靶上,從而產生X射線。其中由于金屬給電子帶來的巨大的減速作用會使電子發出具有連續波譜的X射線;而若是高速電子將金屬原子的內層電子打出,則其他層的電子就會向內躍遷,從而產生具有特定波長的X射線。故由此得到的X射線是具有特征峰的連續波譜。其它層向K層躍遷產生的射線統稱為K線系(其中L層來的稱為K?線,M層來的稱為K?線),向L層躍遷的稱為L線系。

(2)晶體學基礎:晶體中的原子、分子或離子都是有規則呈周期性排布的,排布方式稱為晶格結構,在晶體學上常取與客觀晶體有同等對稱性的平行六面體作為構成晶體體積的最小單元,稱為晶胞。

(3)X射線衍射機理:由于X射線的波長很小,不可能拿一般的光柵做衍射實驗,但晶體中晶胞的線度卻跟X射線波長在同一數量級上,因此可以用晶體來做X射線的衍射實驗(如圖一)。當兩反射光同相時,產生干涉加強,此時滿足如下關系式

QA'Q'-PAP'=SA'+A'T=nλ n=0,±1,±2……

即: 2dsin??n?

滿足此式則在該處能觀察到衍射極大,試驗中通過測量不同角度在相同時間內所接收到的X射線粒子數來進行判斷,得到極大衍射角也可由上式推得晶格系數d。

圖一

3、實驗器材

采用德國萊寶教具公司所生產的X射線裝置,它是用微處理器控制的可進行多種實驗的小型X射線裝置。該裝置的高壓系統、X光管和實驗區域被完全密封起來,正面裝有兩扇鉛玻璃門,當它們其中任意一扇被打開時會自動切斷高壓,具有較大的安全性。其測量結果通過計算機進行實時采集和處理,使用極其方便。

4、注意事項

1.NaCl單晶易潮、易碎,要小心安放

2.不能用手拿NaCl晶體的正面,只能拿側面

3.調節時要細致,由于要調節兩個參數,可往復固定一個調節另一個 4.可通過修改參數使得實驗進行的更快或者更加精確,可靈活運用

5、實驗數據、實驗數據處理、計算結果和估算不確定度等

實驗所用的X射線發生器陽極材料為Mo,其K?線波長λ2=71.073pm,K?線波長為λ1=63.2288pm.實驗得到的NaCl的X射線衍射圖樣如下圖所示:

由圖得K?線一級衍射最大角為6.0 o;K?線一級衍射最大角約為6.9 o。而NaCl晶體的晶面間距d為563.9pm。而按照理論值應為7.3 o,有誤差,重新調節,但重新做的衍射圖樣沒拷貝,重新調節的結果為K?線一級衍射最大角約為7.3 o,實驗結果與理論值在誤差允許范圍內,可接受,故認為調節完成,可對LiF進行X射線衍射實驗。

實驗得到的LiF的X射線衍射圖樣如下圖所示:

由圖可得LiF的K?線一級衍射最大角為9.2 o;K?線的一級衍射最大角為10.3 o。由此可計算其晶格常數,由公式2dsin??n?,可得d????2si?n??1.99Am, ??d???1.98Am,由兩條特征線計算的結果基本一致.2sin??

6、分析實驗結果和不確定度的來源及談談心得和改進方法

本實驗采用較為先進的儀器,實驗結果較為精確,且儀器集成化易于操作。并且在實驗中先用反射極大角進行調節,而后又用NaCl的衍射圖樣進行測驗看調節是否已滿足要求,總體來說本實驗的設計和儀器都還是不錯的。

在限定實驗儀器的情況下,個人認為可以提供一條改進思路,可行性有待商榷:用標準樣品NaCl進行一次測量,得到其X射線衍射圖樣,由此我們可以得到角度的偏差值,再進行其他樣品的測量,對角度考慮此角度偏差即可。原因是角度調節不管多細致,總很難排除主觀誤差,而對兩個樣品進行衍射圖樣的獲得則可以通過一定的途徑進行改進,比如增加每一角度的停留時長以及角度分的更細等。

提供另一種可能的修改途徑,此時需要對實驗儀器進行適當改動:將樣品兩邊夾住而不是放在平板上,允許樣品朝兩個方向轉動,通過得到從負角到正角(如把0~30o改為-30o~30o),這樣得到的衍射圖樣便可消除零度角的調節帶來的誤差。

第三篇:X射線衍射實驗報告

X射線衍射實驗報告

一、實驗目的

(1)掌握X射線衍射儀的工作原理、操作方法;(2)掌握X射線衍射實驗的樣品制備方法;

(3)掌握運用X射線衍射分析軟件進行物相分析的原理和實驗方法 ;(4)熟悉PDF卡片的查找方法和物相檢索方法。

二、實驗儀器

X射線衍射儀,PDF卡。

X射線衍射儀,主要由X射線發生器、X射線測角儀、輻射探測器、輻射探測電路、計算機系統等組成。(1)X射線發生器

X射線管工作時陰極接負高壓,陽極接地。燈絲附近裝有控制柵,使燈絲發出的熱電子在電場的作用下聚焦轟擊到靶面上。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點便成為X射線源,向四周發射X射線。在陽極一端的金屬管壁上一般開有四個射線出射窗口。轉靶X射線管采用機械泵+分子泵二級真空泵系統保持管內真空度,陽極以極快的速度轉動,使電子轟擊面不斷改變,即不斷改變發熱點,從而達到提高功率的目的,如下圖1。

圖1 X射線管

(2)測角儀

測角儀圓中心是樣品臺,樣品臺可以繞中心軸轉動,平板狀粉末多晶樣品安放在樣品臺上,樣品臺可圍繞垂直于圖面的中心軸旋轉;測角儀圓周上安裝有X射線輻射探測器,探測器亦可以繞中心軸線轉動;工作時,一般情況下試樣臺與探測器保持固定的轉動關系(即θ-2θ連動),在特殊情況下也可分別轉動;有的儀器中樣品臺不動,而X射線發生器與探測器連動,如下圖2。

圖2 測角儀

(3)PDF卡的組成如下3圖所示

圖3 PDF卡

三、實驗原理

1、X射線的產生

實驗中通常使用X光管來產生X射線。在抽成真空的X光管內,當由熱陰極發出的電子經高壓電場加速后,高速運動的電子轟擊由金屬做成的陽極靶時,靶就發射X射線。發射出的X射線分為兩類:(1)如果被靶阻擋的電子的能量不越過一定限度時,發射的是連續光譜的輻射。這種輻射叫做軔致輻射;(2)當電子的能量超過一定的限度時,可以發射一種不連續的、只有幾條特殊的譜線組成的線狀光譜,這種發射線狀光譜的輻射叫做特征輻射。對于特征X光譜分為:(1)K系譜線:外層電子填K層空穴產生的特征X射線Kα、Kβ?

(2)L系譜線:外層電子填L層空穴產生的特征X射線Lα、Lβ?如下圖4。

圖4 特征X射線

2、X射線與物質的相互作用

X射線與物質相互作用產生各種復雜過程。就其能量轉換而言,一束X射線通過物質分為三部分:散射,吸收,透過物質沿原來的方向傳播,如下圖5,其中相干散射是產生衍射花樣原因。

圖5 X射線與物質的相互作用

3、晶體點陣結構

晶體結構可以用三維點陣來表示。每個點陣點代表晶體中的一個基本單元,如離子、原子或分子等。空間點陣可以從各個方向予以劃分,而成為許多組平行的平面點陣。因此,晶體可以看成是由一系列具有相同晶面指數的平面按一定的距離分布而形成的。各種晶體具有不同的基本單元、晶胞大小、對稱性,因此,每一種晶體都必然存在著一系列特定的d值,可以用于表征不同的晶體。X射線波長與晶面間距相近,可以產生衍射。晶面間距d和X射線的波長的關系可以用布拉格方程來表示 :2dsinθ=nλ。根據布拉格方程,不同的晶面,其對X射線的衍射角也不同。因此,通過測定晶體對X射線的衍射,就可以得到它的X射線粉末衍射圖,與數據庫中的已知X射線粉末衍射圖對照就可以確定它的物相。

4、物相鑒定原理

任何結晶物質均具有特定晶體結構(結構類型,晶胞大小及質點種類,數目,分布)和組成元素。一種物質有自己獨特的衍射譜與之對應,多相物質的衍射譜為各個互不相干,獨立存在物相衍射譜的簡單疊加。

衍射方向是晶胞參數的函數(取決于晶體結構);衍射強度是結構因子函數(取決于晶胞中原子的種類、數目和排列方式)。任何一個物相都有一套d-I特征值及衍射譜圖。因此,可以對多相共存的體系進行全分析。也就是說實驗測得的圖譜與數據庫中的已知X射線粉末衍射圖對照,通過兩者的匹配性就可以確定它的物相。

四、實驗內容

1、樣品制備

將待測粉末樣品在試樣架里均勻分布并用玻璃板壓平實,使試樣面與玻璃表面齊平

2、測試 A、開機

(1)打開墻體及主機電源,并按下主機啟動按鈕。(2)打開冷卻循環水系統開關,使冷卻水電導率在3以內,水溫在20-24度范圍內。

(3)按下控制面板上的開真空按鈕,使真空度降至150mV以下。(4)打開控制柜開關(5)打開電腦,在軟件控制程序中開啟X射線后執行預熱至需要功率,預熱時間為1-1.5小時。B、裝樣

將裝有待測粉末樣品的試樣架放置在測角儀中心的樣品架上 C、測量

在電腦軟件控制中,打開測量控制程序,設定好實驗參數。測量結束后,保存數據以待分析

3、物相鑒定

(1)打開Jade,讀入衍射數據文件;

(2)鼠標右鍵點擊S/M工具按鈕,進入“Search/Match”對話界面;(3)選擇“Chemistry filter”,進入元素限定對話框,選中樣品中的元素名稱,然后點擊OK返回對話框,再點擊OK;

(4)從物相匹配表中選中樣品中存在的物相。在所選定的物相名稱上雙擊鼠標,顯示PDF卡片,按下Save按鈕,保存PDF卡片數據;

(5)如果樣品存在多個物相,在主要相鑒定完成后,選擇剩余峰(未鑒定的衍射),做“Search/Match”,直至全部物相鑒定出來。

(6)鼠標右鍵點擊“打印機”圖標,顯示打印結果,按下“Save”按鈕,輸出物相鑒定結果。

(7)以同樣的方法標定其它樣品的物相,物相鑒定實驗完成。

4、物相定量分析

(1)在Jade窗口中,打開一個多相樣品的衍射譜;

(2)完成多相樣品的物相鑒定,物相鑒定時,選擇有RIR值的PDF卡片;(3)選擇每個物相的主要未重疊的衍射峰進行擬合,求出衍射峰面積;(4)選擇菜單“Options|Easy Quantitative”,按絕熱法計算樣品中兩相的重量百分數;

(5)按下“Save”按鈕,保存定量分析結果,定量分析數據處理完成。

五、樣品處理技術

X射線衍射分析的樣品主要有粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、纖維樣品等。樣品不同,分析目的不同(定性分析或定量分析),則樣品制備方法也不同。

1、粉末樣品

粉末樣品應有一定的粒度要求,所以,通常將試樣研細后使用,可用瑪瑙研缽研細。定性分析時粒度應小于44微米(350目),定量分析時應將試樣研細至10微米左右。較方便地確定10微米粒度的方法是,用拇指和中指捏住少量粉末,并碾動,兩手指間沒有顆粒感覺的粒度大致為10微米。根據粉末的數量可壓在玻璃制的通框或淺框中。壓制時一般不加粘結劑,所加壓力以使粉末樣品粘牢為限,壓力過大可能導致顆粒的擇優取向。當粉末數量很少時,可在乎玻璃片上抹上一層凡士林,再將粉末均勻撒上。

常用的粉末樣品架為玻璃試樣架,在玻璃板上蝕刻出試樣填充區為20×18平方毫米。玻璃樣品架主要用于粉末試樣較少時(約少于500立方毫米)使用。充填時,將試樣粉末-點一點地放進試樣填充區,重復這種操作,使粉末試樣在試樣架里均勻分布并用玻璃板壓平實,要求試樣面與玻璃表面齊平。如果試樣的量少到不能充分填滿試樣填充區,可在玻璃試樣架凹槽里先滴一薄層用醋酸戊酯稀釋的火棉膠溶液,然后將粉末試樣撒在上面,待干燥后測試。

2、塊狀樣品

先將塊狀樣品表面研磨拋光,大小不超過20×18平方毫米, 然后用橡皮泥將樣品粘在鋁樣品支架上,要求樣品表面與鋁樣品支架表面平齊。

3、微量樣品

取微量樣品放入瑪瑙研缽中將其研細,然后將研細的樣品放在單晶硅樣品支架上(切割單晶硅樣品支架時使其表面不滿足衍射條件),滴數滴無水乙醇使微量樣品在單晶硅片上分散均勻,待乙醇完全揮發后即可測試。

4、薄膜樣品

將薄膜樣品剪成合適大小,用膠帶紙粘在玻璃樣品支架上即可。

六、注意事項

(1)理論上講,只要PDF卡片足夠全,任何未知物質都可以標定。但是實際上會出現很多困難。

(2)主要是試樣衍射花樣的誤差和卡片的誤差。例如,晶體存在擇優取向時會使某根線條的強度異常強或弱;強度異常還會來自表面氧化物、硫化物的影響等等。

(3)粉末衍射卡片確實是一部很完備的衍射數據資料,可以作為物相鑒定的依據,但由于資料來源不一,而且并不是所有資料都經過核對,因此存在不少錯誤。尤其是重校版之前的卡片更是如此。

(4)美國標準局(NBS)用衍射儀對卡片陸續進行校正,發行了更正的新卡片。所以,不同字頭的同一物質卡片應以發行較晚的大字頭卡片為準。從經驗上看,晶面間距d值比相對強度重要。

(5)待測物相的衍射數據與卡片上的衍射數據進行比較時,至少d值須相當符合,一般只能在小數點后第二位有分歧。

(6)由低角衍射線條測算的d值誤差比高角線條要大些。較早的PDF卡片的實驗數據有許多是用照相法測得的,德拜法用柱形樣品,試樣吸收所引起的低角位移要比高角線條大些;相對強度隨實驗條件而異,目測估計誤差也較大。吸收因子與2θ角有關,所以強度對低角線條的影響比高角線條大。

(7)而衍射儀法的吸收因子與2θ角無關,因此德拜法的低角衍射線條相對強度比衍射儀法要小多相混合物的衍射線條有可能有重疊現象,但低角線條與高角線條相比,其重疊機會較少。倘若一種相的某根衍射線條與另一相的某根衍射線重疊,而且重疊的線條又為衍射花樣中的三強線之一,則分析工作就更為復雜。(8)當混合物中某相的含量很少時,或某相各晶面反射能力很弱時,它的衍射線條可能難于顯現,因此,X射線衍射分析只能肯定某相的存在,而不能確定某相的不存在。

(9)任何方法都有局限性,有時X射線衍射分析時往往要與其他方法配合才能得出正確結論.例如,合金鋼中常常碰到的TiC、VC、ZrC、NbC及TiN都具有NaCl結構,點陣常數也比較接近,同時它們的點陣常數又因固溶其他合金元素而變化,在此情況下,單純用X射線分析可能得出錯誤的結論,應與化學分析、電子探針分析等相配合。

第四篇:重慶大學CAD實驗報告1

實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

CAD課程第1次實驗報告任務及模板

實驗一 AutoCAD基本圖形繪制

(成績__________)

一、實驗目的

1、掌握直線、園、園弧等命令

2、掌握對象捕捉的方法

3、掌握圖幅設置、視圖控制

二、實驗項目內容

(1)將圖幅設置成2號圖紙放大100倍。(2)完成圖1-1的繪制,采用多種坐標形式。

圖1-1 基本繪制命令練習

(3)采用line、arc、circle、solid、trace繪制圖1-2

2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

圖1-2基本繪制命令練習

(4)采用pline的命令繪制圖1-3

圖1-3基本繪制命令練習

請對上面的過程進行抓圖,并進行說明。要求對命令、參數、過程進行詳細的敘述。

三、實驗過程

1、將圖幅設置成2號圖紙放大100倍。命令: limits 重新設置模型空間界限: 指定左下角點或 [開(ON)/關(OFF)] <0.0000,0.0000>: 指定右上角點 <420.0000,297.0000>: 594,420 命令: zoom 指定窗口的角點,輸入比例因子(nX 或 nXP),或者

[全部(A)/中心(C)/動態(D)/范圍(E)/上一個(P)/比例(S)/窗口(W)/對象(O)] <實時>: s 輸入比例因子(nX 或 nXP): 100

2、完成圖1-1的繪制,采用多種坐標形式。命令: line 指定第一點: 5000,5000 指定下一點或 [放棄(U)]: 5000,15000 指定下一點或 [放棄(U)]: 15000,15000 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: 15000,5000 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: c 2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

命令: line 指定第一點: 指定下一點或 [放棄(U)]: @10000,0 指定下一點或 [放棄(U)]: @0,10000 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: @-10000,0 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: c

LINE 指定第一點: 指定下一點或 [放棄(U)]: @10000<0 指定下一點或 [放棄(U)]: @10000<90 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: @10000<180 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: c 2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

LINE 指定第一點: 指定下一點或 [放棄(U)]: @5000<0 指定下一點或 [放棄(U)]: @8000<45 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: @5000<90 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: @5000<180 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: @8000<225 指定下一點或 [閉合(C)/放棄(U)]: c

3、采用line、arc、circle、solid、trace繪制圖1-2 命令: l LINE 指定第一點: 命令: c 命令: CIRCLE

2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

命令: l LINE 指定第一點: 命令: arc 命令: l LINE 指定第一點: 命令: arc

命令: trace 指定寬線寬度 <5000.0000>: 5000 指定起點: 指定下一點: @5000,90 2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

命令: solid 指定第一點: 指定第二點: @5000<0 指定第三點: @5000<90 指定第四點或 <退出>: @5000<180 指定第三點: @5000<-90

4、采用pline的命令繪制圖1-3 指定起點: 當前線寬為 200.0000 指定下一個點或 [圓弧(A)/半寬(H)/長度(L)/放棄(U)/寬度(W)]: w 指定起點寬度 <200.0000>: 100 指定端點寬度 <100.0000>: 100 指定下一個點或 [圓弧(A)/半寬(H)/長度(L)/放棄(U)/寬度(W)]: 指定下一點或 [圓弧(A)/閉合(C)/半寬(H)/長度(L)/放棄(U)/寬度(W)]: w 指定起點寬度 <100.0000>: 500 指定端點寬度 <500.0000>: 0 指定下一點或 [圓弧(A)/閉合(C)/半寬(H)/長度(L)/放棄(U)/寬度(W)]: 指定下一點或 [圓弧(A)/閉合(C)/半寬(H)/長度(L)/放棄(U)/寬度(W)]:

2014年9月20日完成 實驗1 AutoCAD基本圖形繪制

命令: PLINE 命令: div DIVIDE 選擇要定數等分的對象: 輸入線段數目或 [塊(B)]: 4 命令: pline 命令: _.erase 找到 8 個 命令: explode 找到 1 個

命令: _.erase 找到 1 個

命令: pline

四、實驗分析

1.通過繪制這些最基本圖形的組合體,能夠幫助我熟練掌握一些基本圖形的繪制方法,為今后更加方便、快捷、靈活自如的繪制出復雜的圖形打下基礎;

2.直線對象line和pline的最主要區別在于,直線對象每條線段都是一個獨立對象,而多段線則為一個整體。

3.同一個圖形可以用多種繪制方式,但如何選取最佳繪制方式需要我們不斷去摸索實踐。

4.繪制圖形之前,先對圖形做基本幾何分析,制定初步的繪制方案,和命令組合形式,有利于提高圖形的繪制效率。

2014年9月20日完成

第五篇:重慶大學網絡學學院2014國家公務員制度第三次作業

國家公務員制度第三次作業

一、簡答題(本大題共60分,共 10 小題,每小題 6 分)

1.簡述報考國家公務員必須同時符合的七項資格條件。

2.簡述我國國家公務員考核的基本標準。

3.我國國家公務員任職有哪四種方式?

4.簡述建立國家公務員申訴制度的意義。

5.簡述職位的特點

6.國家公務員有哪些情形時其職務即自行免除?

7.簡述國家公務員現行福利制度改革的趨勢。

8.簡述國家公務員獎勵的作用。

9.簡述國家公務員在行政處分中承擔的義務。

10.國家公務員轉任從長遠看具體內容有哪四個方面?

二、案例分析題(本大題共20分,共 1 小題,每小題 20 分)

一天,某行政學院任職班一小組圍繞著國家公務員管理專題開展討論。其中有一位省人事廳副廳長談到當前回避制度的實施已經成為國家公務員的一種主動要求和自學行為,而在1993年底剛開始實施時,還尚不為人們所理解。這位副廳長講了這么一個典型:S市市長的秘書小揚,因為經常在市長身邊,就與市長的小女兒“談”上了,經過一段較長時間的考驗就“成”了。經男女雙方“深謀”,揚秘書于1994年初突然遞交了“雙申請”:一是申請結婚;二是申請調離現工作崗位,要求到當時條件最艱苦的原籍S市B縣去工作。當時許多人都不理解,特別是揚秘書的父母更是不理解,經過這幾年鍛煉、磨煉,現在他也是我們省里大名鼎鼎的“改天換地”的S市B縣縣長了。今天下午接廳里來的電話,聽說這位縣長不久還會“破格”提為市級領導。請回答:為位揚秘書1994年申請調離、后來任S市B縣縣長以及將要任市級領導,合乎回避制度的有關規定嗎?為什么?

三、論述題(本大題共20分,共 1 小題,每小題 20 分)

試論述我國公務員制度的中國特色。

答案:

一、簡答題(60分,共 10 題,每小題 6 分)

1.參考答案:

1具有中華人民共和國國籍,享有公民政治權利。

2、擁護中國共產黨的領導,熱愛社會主義。

3、遵紀守法,品行端正,具有為人民服務的精神。

4、一般具有大專以上文化程度,經考試主管機關批準也可適當放寬。

5、報考省級以上政府工作部門一般要有兩年以上基層工作經歷,國家有特殊規定的除外。

6、身體健康,年齡一般為35歲以下,經考試主管機關批準也可以放寬年齡限制。

7、具有考試主管機關批準的其他條件。

解題方案:

回答公務員報考的資格條件

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

2.參考答案:

1、優秀的標準為:正確貫徹執行黨和國家的路線,方針,政策,模范遵守各項規章制度,熟悉業務,工作勤奮,有改革創新精神,成績突出。

2、稱職的基本標準為,正確貫徹執行黨和國家的路線、方針、政策、自學遵守各項規章制度,熟悉或較熟悉業務,工作積極,能夠完成工作任務。

3、不稱職的基本標準:政治、業務素質較差,難以適應工作要求,或工作責任心不強,不能完成工作任務?;蛟诠ぷ髦性斐蓢乐厥д`。

解題方案:

回答公務員考核的評價標準

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

3.參考答案:

1、選任制。

2、委任制式

3、考任制、4、聘任制

解題方案:

回答公務員任職的方式

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

4.參考答案:

1、建立國家公務員申訴控告制度,有利于貫徹憲法精神,維護憲法的最高權威性。

2、好新聞國家公務員申訴控告 制度,有 利于維護國家公務員的合法權益,促進國家行政機關的協調運轉,3、建立國家公務員申訴控告制度,有利于維護國家行政機關依法行政,監督制約不當行政行為。

解題方案:

回答建立國家公務員申訴制度的意義

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

5.參考答案:

1、職位是執行公務的基本單位,是組織機構的細胞和最小單元。

2、職位是以“事“為中心而設置的,是為了落實組織的職能而進行職能分解的單元。,具有相對的穩定性,不受該職位上人員的變動的影響,職位不隨人走,人走職位在。

3、職位為數量限制,受組織機構的職能、規模、職權分解和經費等因素制約。

4、職位在相對穩定的前提下,也具有可變更性。

5、每一職位都有一定的標準,包括職位的名稱,工作內容,責任,工作標準,任職條件、晉升轉任方向等。

6、每個職位對應一定的類別和等級,從而與一定的工資待遇掛鉤。解題方案:

回答職位的含義及特征

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

6.參考答案:

1、受到刑事處罰或者被勞動教養的。

2、受到行政撤職或者開除處分的。

3、辭職和被辭退的。

4、因機構變動失去職位的。

5、死亡的。

解題方案:

回答公務員免職的條件

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

7.參考答案:

國家公務員現行福利制度改革的趨勢是:改善國家公務員病事假待遇,完善和規范醫療,住房等其他福利待遇,建立起與國家公務員制度相配套、與社會主義市場經濟相適應的一套獨立、完善的國家公務員福利體系,為國家公務員創造良好的工作,生活條件,使其安心工作,更好地為經濟建設服務。解題方案:

評分標準:

從公務員福利的目的和原則角度入手分析作答

8.參考答案:

激勵與鼓舞作用。引導與示范作用。促進競爭與高效作用/

解題方案:

評分標準:

依照國家公務員獎勵的作用知識點作答

9.參考答案:

1、國家公務員違反紀律取得的財物,必須上交,國家行政機關有權依法予以沒收、追繳或者責令退賠。

2、對于國家公務員違反紀律取得的榮譽、資格、職稱或者待遇等、應當予以取消或者撤銷;

3、接受處分的機關考驗的義務。

4、改正錯誤,不再違紀的義務。

解題方案:

評分標準:

10.參考答案:

1、轉任的適用對象,是所有有在職國家公務員。

2、轉任的范圍,是整個行政機關系統內,可以跨地區、跨部門調動,也可以是在國家行政機關內的同一部門,同一單位的不同職位之間的調動。

3、轉任的條件,是工作需要或國家公務員個人有正當理由。前者或者是為抽調人員充實,加強某一方面的工作,或者

是為了調整人員結構,或者是為了安排因機構調整和縮減員額而出現的富余人員等。后者或者是為了更好 地發揮個人專長,或者是為了解決夫妻兩地分居,或者是因為身體不適應現在的工作環境等。

4、轉任的要求,是必須符合擬任職務規定的條件要求,經考核合格后,按規定的程序辦理。換言之,國家公務員轉任并非只是簡單地辦理調動手續,而是必須經濟過考核,并符合擬轉任職位所要求的思想水平,工作能力及相應的資格條件。

解題方案:

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

二、案例分析題(20分,共 1 題,每小題 20 分)

0.參考答案:

答題要點:不符合。其行為不符合“任職回避”和“地區回避” 的有關規定。

1、揚秘書是市長的小女兒的配偶,兩人之間存在近姻親關系,屬于法定回避的親屬關系。

2、根據任職回避的規定,揚秘書不得擔任與市長存在直接上下級領導關系的職務。

3、根據地方區回避的規定,擔任縣級以下地方人民政府領導職務的,一般不得在原籍任職。

解題方案:

利用公務員回避的有關知識分析材料作答

評分標準:

參照答案,每答到一要點得該點分數,其余酌情給分

三、論述題(20分,共 1 題,每小題 20 分)

0.參考答案:

答題要點:1我國公務員制度的特色主要體現在與國外公務員制度相比較的特色和與傳統干部人事管理制度相比較的特色兩大方面:

1、與國外公務員制度相比較的特色“(1)堅持黨的基本路線,國家公務員不搞“政治中立”(2)堅持為人民服務的宗旨,國家公務員不是獨立的“利益集團”(3)堅持黨管干部的原則,國家公務員不搞“兩官分途”;(4)堅持德才兼備的用人標準,國家公務員不單純片面追求“才能”。

2、同傳統的人事管理制度相比較的特色:

(1)具有健全的法律法規體系(2)具有科學的競爭激勵機制(3)具有正常的新陳代謝機制;(4)具有廉政勤政的保障機制;(5)體現了分類管理的原則。

解題方案:

評分標準:

綜合比較中外、古今公務員制度作答

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