第一篇：掃描探針電子顯微鏡綜述

掃描探針電子顯微鏡綜述

[摘要] 新的設計思想帶來新的技術革命, S TM 巧妙地利用探針近場(近距離)探測方法、隧道電流理論、壓電陶瓷掃描方法等現代科學技術,大大擴展了顯微技術的深度。借鑒S TM 的方法,許多新型的顯微儀器和探測方法相繼誕生。這些顯微儀器適用于不同的領域,具有不同的功能。雖然它們功能各異,但都有一個共同的特點:使用探針在樣品表面進行掃描。科學界把這類顯微儀器歸納到一起,統稱為掃描探針顯微鏡。本文分別對掃描探針顯微鏡家族中的原子力顯微鏡,近場光學顯微鏡和彈道電子發射顯微鏡的性能和特點進行綜述。

[關鍵詞]掃描探針顯微鏡;原子力顯微鏡;近場光學顯微鏡;彈道電子發射顯微鏡

[中圖分類號] TN16 [文獻標識碼]A [文章編號]10070033yun1 ,XU Zhi-rong1 , YAN G Demicro scope.By using t he met ho d of S TM , many new microscopy instruments and detection methods have been developed.These instruments are used in various regions and have different functions.Alt ho ugh t hey have different functions but t hey have t he same peculiarity of using t he probe to scan the surface of sample.Scientist s induce all t he se instruments together and call them Scanning Probe Micro scope.This paper discusses the features and cha rac2teristicsof the family members of SPM such as atomic force micro scope , close field optic micro scope and trajectory electron emission microscope.Key words : scanning probe micro scope(S TM);atomic force micro scope;Scanning mea rfield Optical Micro2scope)

科學界把探針與樣品之間的距離小于幾十納米的范圍稱為近場,而大于這個距離的范圍叫做遠場。顯然, STM、AFM等利用探針在樣品表面的掃描的方法屬于近場探測, 而對于光學顯微鏡、電子顯微鏡等遠離樣品表面進行觀測的方法稱為遠場方法。正如電子具有隧道效應一樣, 光子也具有光子隧道效應。既然可以利用電子的隧道效應成像, 是否也能利用光子隧道效應成像呢? 傳統光學顯微鏡的分辨率不能超過光波波長的一半,這是限制光學顯微鏡分辨本領的桎梏。研究發現,物體受光波照射后, 離開物體表面的光波分為兩種成份: 一部分光向遠方傳播, 這是傳統光學顯微鏡能接收的信息;而另一部分光波只能沿物體表面傳播, 一旦離開表面就很快衰減。這部分在近場傳播的光波又叫隱失波。由于隱失波攜帶有研究樣品表面非常有用的信息, 科學家一直設想能對這種近場的光波加以研究利用。S TM 新穎的設計思想的出現,為近場光學的研究提供了思路。于是一種新型的科研儀器,近場光學顯微鏡誕生了。圖2 是近場光學顯微鏡的原理示意圖。將一個同時具有傳輸激光和接收信號功能的光纖微探針移近樣品表面, 微探針表面除了尖端部分以外均鍍有金屬層以防止光信號泄露, 探針的尖端未鍍金屬層的裸露部分用于在微區發射激光和接收信號。當控制光纖探針在樣品表面掃描時, 探針一方面發射激光在樣品表面形成隱失場, 另一方面又接收10Electron – Emission Microscopy ,B E EM)

一般來說, 當兩種材料相互接觸時, 接觸的面就叫做界面。界面是看不見,摸不著的。界面到底有什么特殊的物理和化學性質一直是人們關心的問題。對于半導體材料來講, 界面的研究尤其重要。例如我們所熟悉的二極管、三極管就是利用其界面的特殊性質進行工作的。在以往的半導體/ 半導體或金屬/半導體界面研究中, 人們只能通過宏觀或平均的測量來了解界 面的性質,而對微觀的界面情況了解甚少。S TM近場探測方法的實現, 也開闊了人們研究微觀界面的思路。彈道電子發射顯微鏡也是在S TM 的基礎上設計出來的。

圖3 是彈道電子發射顯微鏡的示意圖。為了理解B E EM的工作原理, 我們可以回想一下中學時學過的半導體二極管和三極管。二極管是由摻雜有不同材料的P 型和N 型半導體構成的;P 型和N 型半導體構成的界面稱為PN 結。而三極管則是由兩個PN 結組成。PN 結實際上是一種被稱為肖特基勢壘的異質結, 正是由于這種界面異質結的特殊性質使得三極管具有了奇妙的放大作用。現在我們把S TM 的探針接近具有異質結的樣品表面。它具有兩個信號通路: 一個是探針與上層樣品構成的S TM 信號通路;另一個是由探針經過上層材料和異質 結到達下層材料的彈道電流通路。按照S TM 的工作原理, 當

圖2近場光學顯微鏡的原理示意圖

圖3 彈道電子發射顯微鏡的示意圖

總之, 如何科學地構筑課程體系, 合理地整合課程教學內容, 編寫出結構優化、內容精練、相關教材銜接和配合、方便教學、節省資源,內容上具有實用性、通用性、先進性、使學生能減輕負擔、增加學習興趣、真正體現醫工結合的特色、反映教改新成果的教材,仍需作深入的研究和探討。出版教材目錄

4.1 參加面向21 世紀課程規劃教材(人民衛生出版社)

(1)醫學影像設備學主編張里仁

(2)醫學影像學檢查技術主編張云亭袁聿德

(3)醫學影像診斷學編委于富華

(4)醫學電子學基礎編委王先運

4.2 全國高等職業技術教育醫學影像學專業規劃教材(人民衛生出版社)

(1)醫學影像成像原理主編李月卿編委王昌元

(2)醫學影像設備學主編徐躍編委韓豐談

(3)醫學影像設備管理主編李林楓編委李建民

(4)醫學影像診斷學主編祁吉副主編劉林祥

(5)醫學影像檢查技術主編袁聿德編委于茲喜

(6)放射物理與防護主編李迅茹編委王鵬程

(7)放射治療技術主編王瑞芝編委喬田奎

(8)影像電子學基礎主編陳武凡編委郭永新

4.3 生物醫學工程專業本科協編教材(人民衛生出版社)

(1)醫學影像設備學主編韓豐談編委王洪林慶德李建民2003 , ISBN 7044741173

(3)醫學影像成像理論主編李月卿編委王昌元張里仁鄭浩2003.10 , ISBN 7057611173

(5)電子技術學主編郭永新編委吳稼祥房鷹范世忠2003 , ISBN 7057701176

(7)醫學圖像處理主編王昌元編委李月卿張兆臣2003 , ISBN 7044871175

4.4 出版參考書

1.全國衛生專業技術資格考試指南影像醫學技術專業編委有:李月卿劉林祥張里仁邱建峰袁聿德知識出版社

2.實習醫師影像診斷手冊主編劉林祥人民軍醫出版社

3.實用社區醫師指南編委劉林祥人民軍醫出版社

4.診斷學大辭典(第二版)編委劉林祥華夏出版社

4.5 自編教材與實驗指導講義

1.醫學影像診斷學專業英語影像診斷教研室

2.攝影技術專業英語影像技術教研室

3.影像設備學專業英語影像設備教研室

4.放射治療學專業英語放射治療與防護教研室

5.模擬電子技術實驗講義醫學工程實驗室

6.電工學實驗指導醫學工程實驗室

7.數字電子技術實驗講義醫學工程實驗室

8.醫用傳感器實驗講義醫學工程實驗室

9.信號與系統實驗講義醫學工程實驗室

10.影像設備安裝與維修實驗講義影像技術實驗室

[參考文獻]

[ 1] 朱翠玲.關于研究生“生物醫學工程前沿”建設的意見

[J ].中國醫學物理學雜志,2004 ,21(2):1204.[ 3] 湯黎明,等.醫院中臨床醫學工程學科發展建設的研究

[J ].醫療設備信息,2004 ,(9):1-3.☆

探針與樣品之間的距離非常接近時, 由于探針的電勢場高于樣品, 探針會向樣品發射隧道電子。這些隧道電子進入樣品到達界面時, 雖然大部分電子的能量由于已經衰減而被界面的勢壘反彈回來, 但是仍有少數能量較高的電子能夠穿透界面到達下層材料, 這些穿透過界面的電子稱為彈道電子。由于彈道電子在穿透界面時攜帶了許多有關界面的信息, 因此B E EM 為界面的研究提供了有價值的數據。B E EM 的另一個特點是可以同時得到表面的S TM 圖像和界面的圖像, 這對于同時對表面和界面進行探測、研究和比較是十分有利的。如前所述,掃描探針顯微鏡的種類有很多。例如,用以研究磁場現象的磁力顯微鏡, 研究表面摩擦的摩擦力顯微鏡, 還有靜電力顯微鏡、掃描噪聲顯微鏡、掃描熱顯微鏡、光子隧道顯微鏡、離子電導顯微鏡,等等。這些顯微鏡在不同的研究領域發揮著各自不同的作用。可以預料,隨著納米科技的蓬勃發展,將不斷會有新型的儀器產生并加入到掃描探針顯微鏡家族之中。

[參考文獻]

[ 1] 阮興云,等.醫療設備理論與實踐[M ].昆明:云南科技出版社,2000.[ 2] 西門紀業,等.電子顯微鏡的原理和設計[M ].北京:科學出版社,1979.[ 3] 朱宜等.電子顯微鏡的原理和使用[M ].北京:北京大學出版社,1983.☆

第二篇：Bruker 公司介紹和掃描探針顯微鏡背景技術介紹

Bruker DI 掃描探針顯微鏡系統簡介

1． 公司背景

Bruker 公司是一家納斯達克上市的美國公司，旗下的 DI 工廠是全球規模最大的專業生產掃描探針顯微鏡(SPM)的廠家，成功地制造了世界上第一臺商用掃描探針顯微鏡，有超過 20 年的 SPM 生產經驗，成熟的工藝保證了 Bruker SPM 產品具有最好的穩定性和可靠性。擁有最廣泛的顧客群，全球及國內市場占有率在 70%以上，處于占絕對優勢的市場領先地位；在全球半導體、磁記錄器件和光通訊器件生產廠家的占有率幾乎達到 100%，已成為業界標準。

2． 產品技術水平

Bruker 公司的 Dmension Icon 在掃描探針顯微鏡基本工作原理及應用方面擁有 150 多項專利，其中包 括已成為業界標準的 Tapping Mode, Lift mode 等，具有極其優異的性能，在 SPM 各個領域中全面領先，Dmension Icon系統具備最新的專利技術智能掃描模式（SCANASYST）、定量機械力學測試模式（PFQNM）, 最

許多科學家在使用 SPM 后紛紛在學術上取得了令人矚目的成果，在《SCIENCE》、《NATURE》 等國際頂尖學術刊物上發表的使用掃描探針顯微鏡的科學文獻 90%是使用的 BrukerDISPM。

3． 產品服務水平

Bruker公司在中國具備完整的售后服務及技術支持的體系，中國分公司于。Bruker 公司的工程師按職能嚴格分為 3 類：銷售工程師，技術工 程師，應用工程師；11個專職的技術工程師，3個應用工程師（擁有博士學位的有10位）。售后服務(SPM 的安裝、調試、維護以及維修)由在美國工廠進行過專業培訓的 SPM 專業技術工程師專人負責。

掃描探針顯微鏡技術背景資料

納米科學技術是在納米尺度內，研究物質（包括原子、分子）的特性和相互作用，并且利用這些特性的多學科的高科技。目前，納米科學技術的研究領域集中在三個方面。第一，具有特殊性能的納米材料和結構的研究。第二，設計和制備納米結構和器件，以推動工業技術的革 新和發展。第三，納米加工和納米測量技術的實踐與應用。

對于納米科學和納米技術來說，掃描探針顯微鏡(SPM)是一種“起動工具”(引自 2001 年 5 月 美國藝術與科學研究院納米技術研討會上的《nanotechnology pioneer》一文，作者哈佛大學 George Whitesides)，并且是當今世界上具有最高分辨率測量和成像的工具（在垂直方向上，分辨率低 于埃級；在水平方向上，分辨率為納米級）。最新型的儀器已經可以在納米級別操縱物體和處理 表面，并且可以在分子級別感應化學和生物分子。

國外一流大學早在 90 年代中期就建立了納米研究實驗室，并引進了具有納米分辨率的觀測 設備（如 SPM 等），在納米研究方面取得了重要進展。另外，國內許多院所都引進了新型的納 米測試系統。例如：北京大學，清華大學等幾十所大學的多個院系，中科院多家研究所等，目 前國內已有超過 400 套 SPM。

掃描探針顯微鏡(SPM)能夠在大氣及液體環境下準確地觀測樣品表面納米尺度的三維形 貌；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，如表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力和其他表面力以及電化學相互作用力的測量；同時可以對樣品表面進行納米尺 度的刻蝕和加工。在研發、工藝改進、品質控制和失效分析等方面的應用包括：

微電子—半導體設備，數據存儲磁頭和媒體，應用包括形貌、電屬性和力學測量（摻雜，膜厚，磁疇分布等）

先進材料—聚合物，金屬，陶瓷，MEMS/NEMS，應用包括形貌測量，分子研究，磨 損/摩 擦學研究方面

光通訊—激光和其他設備，應用包括形貌和電屬性測量（摻雜，膜厚等）生命科學/生物技術—細胞，組織，DNA，蛋白質，應用包括形貌測量和單個分

子之間相互作用力的力學測量。

制藥—藥品交貨/密封包裝，藥品發明，結晶性等

納米操縱/刻蝕 —在納米級別組裝結構，操縱原子和分子，進行刻蝕。

第三篇：掃描電子顯微鏡在材料研究中的應用

掃描電子顯微鏡在材料研究中的應用

宋嘯

北京石油化工學院高063班

摘 要：介紹了掃描電子顯微鏡的工作原理及特點，闡述了掃描電子顯微鏡在材料科學領域中的應用。關鍵詞：掃描電子顯微鏡 材料 應用

二十世紀60年代以來，出現了掃描電子顯微鏡(SEM)技術，這樣使人類觀察微小物質的能力發生質的飛躍。依靠掃描電子顯微鏡的高分辨率、良好的景深和簡易的操作方法，掃描電子顯微鏡(SEM)迅速成為一種不可缺少的工具，并且廣泛應用于科學研究和工程實踐中。1 掃描電子顯微鏡的原理

掃描電鏡(Scanning ElectronMicroscope)，簡寫為SEM，是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小的電子束，在試樣表面進行掃描，激發出各種信息，通過對這些信息的接收、放大和顯示成像，以便對試樣表面進行分析。入射電子與試樣相互作用產生如圖1所示的信息種類。

圖1 電子束探針照射試樣產生的各種信息

這些信息的二維強度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有表面形貌、成分、晶體取向、電磁特性等)，是將各種探測器收集到的信息按順序、成比率地轉換成視頻信號，再傳送到同步掃描的顯像管并調制其亮度，就可以得到一個反應試樣表面狀況的掃描圖。如果將探測器接收到的信號進行數字化處理即轉變成數字信號，就可以由計算機做進一步的處理和存儲。掃描電鏡主要是針對具有高低差較大、粗糙不平的厚塊試樣進行觀察，因而在設計上突出了景深效果，一般用來分析斷口以及未經人工處理的自然表面。

掃描電子顯微鏡中的各種信號及其功能如表1所示。

表1 掃描電鏡中主要信號及其功能

收集信號類別 二次電子 背散射電子 特征X射線 俄歇電子

功能 形貌觀察 成分分析 成分分析 成分分析 掃描電鏡可做如下觀察:(1)試樣表面的凹凸和形狀；(2)試樣表面的組成分布；

(3)可測量試樣晶體的晶向及晶格常數；

(4)發光性樣品的結構缺陷,雜質的檢測及生物抗體的研究；(5)電位分布；

(6)觀察半導體器件結構部分的動作狀態；(7)強磁性體的磁區觀察等。

掃描電子顯微鏡有如下七種分類方法:(1)按照電子槍種類分:鎢絲槍、六硼化鑭、場發射電子槍；

(2)按照樣品室的真空度分: 高真空模式、低真空模式、環境模式；(3)按照真空泵分:油擴散泵、分子泵；(4)按照自動化程度分:自動、手動；

(5)按照操作方式分:旋鈕操作、鼠標操作；(6)按照電器控制系統分:模擬控制、數字控制；(7)按照圖像顯示系統分:模擬顯像、數字顯像。2 掃描電子顯微鏡的特點

由于采用精確聚焦的電子束作為探針和獨特的工作原理，掃描電子顯微鏡表現出了獨特的優勢，包括以下幾個方面。

(1)高的分辨率。由于采用精確聚焦的電子束作為探針和獨特的工作原理，掃描電鏡具有比光學顯微鏡高得多的分辨率。近些年來，由于超高真空技術的發展，場發射電子槍的應用得到普及，使掃描電鏡的分辨本領獲得較顯著的提高，現代先進的掃描電鏡的分辨率已經達到1nm左右。

(2)有較高的放大倍數，20—20萬倍之間連續可調。

(3)有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構。

(4)配有X射線能譜儀裝置，可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析。低加速電壓、低真空、環境掃描電鏡和電子背散射花樣分析儀相繼商品化，這大大提高了掃描電鏡的綜合、在線分析的功能。

(5)試樣制備簡單。掃描電鏡在材料研究中的應用 3.1 材料組織形貌觀察

材料剖面的特征、零件內部的結構及損傷的形貌，都可以借助掃描電鏡來判斷和分析。反射式的光學顯微鏡直接觀察大塊試樣很方便，但其分辨率、放大倍數和景深都比較低。而掃描電子顯微鏡的樣品制備簡單，可以實現試樣從低倍到高倍的定位分析，在樣品室中的試樣不僅可以沿三維空間移動，還能夠根據觀察需要進行空間轉動，以利于使用者對感興趣的部位進行連續、系統的觀察分析；掃描電子顯微圖像因真實、清晰，并富有立體感，在金屬斷口和顯微組織三維形態的觀察研究方面獲得了廣泛地應用。3.2 鍍層表面形貌分析和深度檢測

金屬材料零件在使用過程中不可避免地會遭受環境的侵蝕，容易發生腐蝕現象。為保護母材，成品件，常常需要進行諸如磷化、達克羅等表面防腐處理。有時為利于機械加工，在工序之間也進行鍍膜處理。由于鍍膜的表面形貌和深度對使用性能具有重要影響，所以常常被作為研究的技術指標。鍍膜的深度很薄，由于光學顯微鏡放大倍數的局限性，使用金相方法檢測鍍膜的深度和鍍層與母材的結合情況比較困難，而掃描電鏡卻可以很容易完成。使用掃描電鏡觀察分析鍍層表面形貌是方便、易行的最有效的方法，樣品無需制備，只需直接放入樣品室內即可放大觀察。3.3 微區化學成分分析

在樣品的處理過程中,有時需要提供包括形貌、成分、晶體結構或位向在內的豐富資料，以便能夠更全面、客觀地進行判斷分析。為此，相繼出現了掃描電子顯微鏡—電子探針多種分析功能的組合型儀器。掃描電子顯微鏡如配有X射線能譜(EDS)和X射線波譜成分分析等電子探針附件，可分析樣品微區的化學成分等信息。材料內部的夾雜物等，由于它們的體積細小，因此，無法采用常規的化學方法進行定位鑒定。掃描電鏡可以提供重要的線索和數據。工程材料失效分析常用的電子探針的基本工作方式為:(1)對樣品表面選定微區作定點的全譜掃描定性；

(2)電子束沿樣品表面選定的直線軌跡作所含元素濃度的線掃描分析；

(3)電子束在樣品表面作面掃描,以特定元素的X射線訊號調制陰極射線管熒光屏亮度，給出該元素濃度分布的掃描圖像。

一般而言，常用的X射線能譜儀能檢測到的成分含量下限為0.1%(質量分數)。可以應用在判定合金中析出相或固溶體的組成、測定金屬及合金中各種元素的偏析、研究電鍍等工藝過程形成的異種金屬的結合狀態、研究摩擦和磨損過程中的金屬轉移現象以及失效件表面的析出物或腐蝕產物的鑒別等方面。3.4 顯微組織及超微尺寸材料的研究

鋼鐵材料中諸如回火托氏體、下貝氏體等顯微組織非常細密，用光學顯微鏡難以觀察組織的細節和特征。在進行材料、工藝試驗時，如果出現這類組織，可以將制備好的金相試樣深腐蝕后，在掃描電鏡中鑒別。下貝氏體與高碳馬氏體組織在光學顯微鏡下的形態均呈針狀，且前者的性能優于后者.但由于光學顯微鏡的分辨率較低,無法顯示其組織細節，故不能區分。電子顯微鏡卻可以通過對針狀組織細節的觀察實現對這種相似組織的鑒別。在電子顯微鏡下(SEM)，可清楚地觀察到針葉下貝氏體是有鐵素體和其內呈方向分布的碳化物組成。

納米材料是納米科學技術最基本的組成部分。現在可以用物理、化學及生物學的方法制備出只有幾個納米的“顆粒”。由于納米材料表面上的原子只受到來自內部一側的原子的作用，十分活潑,所以使用納米金屬顆粒粉作催化劑,可加快化學反應過程.納米材料的應用非常廣泛,比如通常陶瓷材料具有高硬度、耐磨、抗腐蝕等優點,但又具有脆性和難以加工等缺點,納米陶瓷在一定的程度上卻可增加韌性，改善脆性。復合納米固體材料亦是一個重要的應用領域。例如含有20%超微鈷顆粒的金屬陶瓷是火箭噴氣口的耐高溫材料；金屬鋁中含進少量的陶瓷超微顆粒，可制成重量輕、強度高、韌性好、耐熱性強的新型結構材料。納米材料的一切獨特性能主要源于它的超微尺寸，因此必須首先切確地知道其尺寸，否則對納米材料的研究及應用便失去了基礎。目前該領域的檢測手段和表征方法可以使用透射電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)等技術，但高分辨率的掃描電鏡(SEM)在納米級別材料的形貌觀察和尺寸檢測方面因具有簡便、可操作性強的優勢，也被大量采用。4 結束語

隨著材料科學和高科技的迅速發展,各種行業對檢測技術水平的要求日異提高,可以預測掃描電鏡將以其擁有的優勢進一步發揮它的作用。

參考文獻

[1]杜希文,原續波.材料分析方法[M].天津大學出版社,2006,9.[2]張慶軍.掃描電子顯微鏡的應用[J].河北理工學院學報,1998,8,20(3).[3]李偉.掃描電子顯微鏡及其技術簡介[J].山東電力技術,1996(2):34-36.[4]陳長琦,干蜀毅,朱武,等.掃描電子顯微鏡成像信號分析[J],真空,2001,12(6):42-44.[5]朱琳.掃描電子顯微鏡及其在材料科學中的應用[J],吉林化工學院學報,2007.4,24(2):81-84.[6]王成國,丁洪太,侯緒榮.材料分析測試方法[M].上海交通大學出版社,1994,106.Applications of Scanning Electronic Microscope in Material

Research

Song Xiao(Beijing Institute Of Petrochemical Technology, Polymer Materials Science and Engineering 06-3)Abstract: The paper introduces the principle and characteristics of scanning electronic microscope,illustrates its application in materials science.Key words:Scanning Electronic Microscope;Materials;Application

第四篇：掃描工作制度

湖南省普通高中學業水平考試

試卷掃描工作制度

第一章 總則

第一條 為進一步規范全省普通高中學業水平考試試卷掃描工作，確保學業水平考試順利實施，結合我省實際，特制定本制度。

第二條 全省普通高中學業水平考試試卷掃描是指通過網上評卷系統對考試答題卷掃描信息進行采集、匯總與切割，供評卷時使用。

第三條 全省試卷掃描工作在省普通高中學業水平考試辦公室（以下簡稱學考辦）的統一部署下進行。

第二章 組織領導

第四條 省成立試卷掃描工作領導小組，主要職責是統籌、管理和協調掃描點的掃描工作；審定掃描點提交的工作方案，監督其落實情況；委派巡視員到掃描點檢查指導掃描工作；裁定并協調解決掃描點提出的其它相關問題。領導小組下設若干工作組：

1、巡視組：督促檢查掃描點工作小組和掃描人員的工作落實情況；督促檢查掃描點安全保衛與保密工作落實情況；負責掃描公司與各掃描點之間的工作協調；協調處理掃描過程中出現的其它突發事件；檢查掃描工作完成后答題卷的封存情況。

2、技術協調組：負責協調掃描公司與各掃描點之間的技術問題；對掃描設施設備和網絡運行情況進行檢測；協助各掃描點進行現場管理；協助掃描公司對相關人員進行崗前培訓，并在掃描評卷過程中給予技術指導；協助掃描公司對答題卷掃描信息進行采集和匯總，并根據各評卷點情況，將各學科切割后的答題卷信息分配到各評卷點實施評卷。

3、保密保衛組：負責制定并實施試卷掃描保密保衛規定；檢查各掃描點保密保衛工作方案；監督檢查各掃描點保密保衛工作。

第五條 各掃描點要成立相應的領導小組，實行組長負責制，搞好分工，明確任務，責任到人，確保掃描工作順利實施。其主要職責是：負責制定掃描工作實施方案；選配掃描工作人員；督促檢查相關工作小組的工作落實情況；處理掃描期間的各種突發事件，及時向省領導小組匯報工作進展情況。

第三章 工作程序

第六條 準備階段

1、確定掃描工作場地及保密室，達到規定的保密保衛要求，其中掃描場地面積不小于80平方米。

2、確保掃描場地及保密室具備空調、防盜門窗等設施，能實行封閉式管理。

3、安裝視頻監控系統，配備UPS電源、監測電腦等，并擺放適當的桌椅。

4、各掃描點與掃描公司對設施設備和網絡運行情況進行檢測。

5、各掃描點協同掃描公司對相關人員進行崗前培訓。第七條 實施階段

1、送卷：各掃描點將各考點答題卷分類集中到保密室，沒有設掃描點的市州按《考務工作細則》要求將答題卷分類放置到指定掃描點保密室。

2、領卷：掃描公司在保密室門口領取答題卷，與保密員辦理交接手續（填寫交接表）。

3、拆封：拆封人員檢查答題卷袋密封是否完好，如發現異常情況，應報告掃描組長，并填寫《湖南省普通高中學業水平考試評卷差錯登記表》，然后拆封。從保密室領出后的答題卷由掃描公司負責保密，不得丟失，如試卷數量有差錯，立即向掃描點報告并清查。

4、掃描：工作人員按以下規定流程進行掃描。

⑴裝卷：協助員按掃描機器的要求將答題卷平整的裝到機器上。

⑵機器識別與掃描：操作人員按掃描程序要求操作。⑶改錯：發現異常卷，做好記錄，并按要求進行修改(不能對考生答題區域作任何修改)，修改后再重新掃描。

⑷清點數量：操作人員認真核對答題卷袋上的參考人數與掃描答題卷數目是否相符，做到不漏掃。

⑸裝袋：掃完一個考室后，將答題卷裝回卷袋，如遇“重張”情況，必需重新掃描本考室。

⑹做標記：掃完一個考室后，在卷袋上加蓋已掃公章標記。⑺打捆：掃完一個考點的一個學科后，按考點打捆。

5、還卷：掃描公司將已經掃描的答題卷裝袋并加蓋已掃公章后，交還保密室，辦理交接手續，各市州負責本市州答題卷的分類堆放，以便查卷。

6、所有答題卷掃描完成后，封閉保密室，由各市州保密員貼好封條，并晝夜值班，直到評卷工作結束。

7、掃描后的數據盤由掃描點與掃描公司保密人員共同加密后，由掃描公司在省巡視人員的監督下送到省學考辦數據中心進行數據匯總和處理。

第四章 工作要求

第八條 加強人員管理。掃描人員嚴格遵守工作紀律，服從統一安排；不得在掃描機房內大聲喧嘩、吸煙和做其它有礙掃描工作的事情；掃描期間，統一工作時間，工作人員集體上下班，不遲到，不早退，并做好交接工作，不準私自逗留掃描場地。

第九條 規范現場秩序。掃描場地實行封閉式管理，封閉區域應劃定明顯的警戒標志線，并實行手機信號屏蔽，工作人員通道入口處由公安人員負責執勤，工作人員和評卷教師憑相關證件入場，禁止無關人員入內。

第十條 嚴守操作規程。愛護機器設備，遵守規章制度，嚴格按照要求上機操作，機器出現故障或遇到異常卷時，不得私自拆修和調試，不得擅自修改答題卷的內容，應及時報告掃描組長；如需從鍵盤上輸入、更改考生填涂答案時，必須有掃描組長在場，同時將輸入的題號、選擇項、考生姓名、考號等情況進行詳細登記。

第十一條 遵守保密紀律。自答題卷進入掃描場地之日起至-4-網上評卷工作結束，答題卷及其掃描結果數據均屬國家機密件，各掃描點必須做好保密工作，不得發生任何形式的失密、泄密、被盜及毀損事件；不得將考生答題卷及相關物品帶出掃描場地，不準將掃描無關的資料帶入掃描場地，不準查閱、記錄和向外泄露考試成績及掃描情況。

第十二條 加強安全警戒。答題卷要實行24小時警戒，其中在保密室存放時由掃描點保密人員負責，在掃描過程中由掃描公司負責，并辦好交接手續。掃描場地外圍保衛人員必須嚴守紀律，堅守崗位，按時巡查和值班。工作期間，要嚴格執行登記制度；非工作時間，嚴禁任何人進入。要保障答題卷存放場所封閉區域夜間外圍的燈光照明，保證保衛人員在執勤時有可視的照明光線。存放答題卷的保密室要掛雙鎖，鑰匙分別由兩名保密員掌管，門窗須張貼封條，每天對封條檢查不少于5次，并作好記錄。答題庫內不準生火、吸煙，防止雨水、茶水等污染答題卷。

第十三條 做好后勤保障。加強對場地的水電設施檢查，確保水電正常，封閉區域外圍要有夜間照明；掃描場地要有醫生值班，備齊常用藥品，并對其它可能出現的意外事件制定應急預案。

第五篇：掃描員工作總結

篇一：勞資員工作總結篇 工 作 總 結

2011年，我懷著對工作的熱情，對未來的美好憧憬來到了香茗酒店，轉眼已經是第三個年頭，2012年我由財務的一名收銀員轉崗成為行政人事板塊的勞資員。我深知自己在工作中有很多不足，所幸在酒店領導以及各部門的大力支持下、緊緊圍繞酒店的發展目標，勤奮學習，積極工作，較為圓滿地完成了自身崗位職責范圍內的各項工作任務。2013年已悄然而過，我將帶著新的奮斗目標跨入2014，更好的去完成每一項工作,現將過去一年的工作總結如下：

一、完成工作項具體如下：

（一）社會保險的管理：

1、根據人員變動信息，及時上報酒店各部門工作人員的增減變動情況，辦理相關信息的變更登記和個人賬戶的銜接、轉移等手續，保證數據更新及時、準確。

2、分階段、分時期依據參保情況如實完成社保稅的申報和繳納。

（二）薪資管理工作：

按時審核酒店各部人員的考勤狀況，及時完成工資報表等相關工作，并協助財務部出納完成工資的發放等工作。

（三）勞動關系管理：

1、按照公司規定協助相關部門領導，完成酒店各部門員工的考核和崗位工資的評定。

2、及時完成酒店新老員工合同的新簽和續簽工作，并更新人事信息。保證數據的準確無誤，并完成勞動合同備案等工作。

3、嚴格執行酒店制定的休假制度，在保證公司員工的切身利益的同時，做好非正常考勤的處理工作。

（四）其他工作：

完成了領導交辦的其他工作。

二、總結： 作為一名勞資員，應當時刻樹立為一線部門服務的理念，善于傾聽各部門的各種意見和建議，對于職責范圍內的事情，都能認真對待及時解決，同時，對于超權限范圍的問題，應當及時向領導請示。

勞資工作相對比較復雜，需要有極高的耐心和恒心。在平時的工作中，我認真學習公司勞資方面的管理規定，堅定不移地貫徹執行公司的方針與政策，并運用于工作實踐之中。

雖然過去一年里我沒有什么可供炫耀的業績，但在自己的工作崗位上始終兢兢業業也是一種價值的體現，在來年的工作里認真對待每一件事，多思考，多關注，更好地去為酒店所有部門做好服務工作。我將更加努力的完成各項工作，不辜負酒店對我的信任和期望！篇二：材料員工作總結 工作總結

轉眼間年后上班已經三個多月了，在完成這一階段的工作以后，工作總結確實相當必要，特別對于我這個掌管材料詢價、材料采購以 及材料進場控制的管理者來說，尤為重要。因為工作總結可以讓我們 對過去一段時間的工作有一個更清楚、直觀的評價與認識，把工作中 的得失利弊剖析的更加徹底，避免同一個失誤出現第二次，從而為以 后的工作再上一個臺階，打下堅實的基礎。

過去的三個月是華陽路與東海路工程最為繁忙的三個月，在這段 時間里材料需求量相當大，供應時間差的相當短，我心中明白我所承 擔擔子的分量，項目要想安全有序的進行，材料這一環斷不得。但在 項目部以及供應商的積極配合下，在我自己積極地努力下，我已出色 的完成了這段時間的任務。這段時間主要采購的材料包括管道、石灰、鋼筋、商混等一系列材料。詢價、訂購與進場等每一個環節，我都嚴 格把關。從而確保價格的合理性，訂購的及時性，進場的有序性。此 外質量是我把關的最為重要的一個環節，任何不符合要求的材料，一 經發現，立刻退場，絕不姑息！

但我在這段時間的工作中也發現了一些自己的不足之處，首先自 己平時很少進行自我總結，材料采購人員應善于總結，從而不斷提高 自己業務能力，為能采購到物美價廉的材料做好經驗積累。其次 除了材料采購以外很少關心施工工藝方面的東西。如果這樣再過十

年，我仍然還是一個做工程的外行。所以平時要虛心學習，不斷提高

自己專業水準，為以后挑起更重的擔子，擔當更高的職位，做好準備。此外工作中不能抱著事不關己或是多一事不如少一事的態度而盲目聽從；應以神佛之心、對公司負責的精神對待自己的工作，對待不合理的東西，需要及時地提出質疑、驗證質疑，并進而拿出合理的方案，為公司節約成本、提高效率與品質的同時，提升自身的工作品質，關注并規避保守、不合理的東西。

當前，市場競爭日趨激烈，工程質量要求越來越高。在如此嚴峻 的經營形勢下, 努力降低工程成本是企業的必然選擇。同時，降低成本是提高經濟效益，提高項目管理水平的重要前提，而降低成本的關鍵在于降低材料采購成本。如果能通過加強采購管理，進料費用平均每降低一個百分點，就能降低很多成本，因此采取必要措施，加強采購管理非常重要。所以我覺得要想做好材料采購這項工作，應該做到以下幾點：首先采購人員需要掌握豐富的物流知識、準確把握市場行情、了解主要生產廠家和貨源渠道，還要有一定的預算、財務常識。從目前我們材料管理戰線的人員現狀看，我們人員素質離市場與 工程管理的要求還相差甚遠，所以人員培訓就顯得尤為重要。其次幾個項目材料需要集中采購。集中采購是降低采購價格的重要前提。只有集中采購，取得規模效益；提高保障效率，才能保證采購質量；要實現控制，首先就要集中采購。集中能夠形成批量，能夠在市場采購中處于主動的位置，給供應商在競爭中形成壓力，獲得質優價廉的服務。此外 加強材料計劃管理。預算計劃滯后、需用計劃不及時、不準確，給處于服務地位的物資采購部門帶來了極大被動，也不利于形成采購規模，給物資采購帶來的操作困難和經濟損失是顯而易見的，嚴重影響著企業的整體管理水平和效益。我們要求各項目部要及時編制材料計劃，材料需用情況變更時，要及時變更材料計劃。編制、審核材料計劃時，要求工程技術人員充分考慮、盡量采用綠色建材并合理控制物資數量，減少庫存材料的資金占用，推行零庫存管理，充分利用社會資源這個大倉庫。同時，為不影響施工進度，一些緊俏物資、外委加工物資等采購所需時間較長的物資，要提前編制材料需用計劃。另外加強進貨渠道管理，在確保物資質量的基礎上不斷拓寬進貨渠道，形成以主渠道為主，多渠道為輔的采購方式，尤為重要。評價進貨渠道應在保證質量的前提下，堅持“質量合格、費用最低，費用相同、質量選優”的原則。按照這樣的原則確定長期的采購供應渠道，建立合格供貨方名冊，并對供貨方實行動態管理，就是否具備相應的生產經營資格、基本生產經營條件、質量管理現狀和服務能力是否能保證供給的物資為合格產品、并滿足安全方面有關要求進行審核。對經審核確認為不合格的供貨方，則取消合格供貨方資格。為擴大貨源渠道，消除靠坐等供應商上門存在的局限性，我們奉行積極“走出去”，了解同類施工企業的供應商評價情況，并通過其他一些途徑了解更多的優秀供應商，再通過考察確認等方式科學評估供應商資信情況，補充到我們的合格供應商名冊中，及時優化供應商結構，拓寬采購時的備選范圍。最后 靈活把握對業主指定廠商、指定品牌、確定單價的材料的采購成本的控制。針對業主指定材料的情況，想辦法與業主擬定的供應商在未向業主報書面價以前取得聯系，并與其協商給一個最低價，在給我們留出這個利潤空間的基礎上向業主報價。業主根據供應商報價確定價格后，我們并不急于與廠商簽合同，而是再找該產品的生產廠家或其他經銷商、代理商，以書面方式報價比較，把產品價格降到極限后，以此價格和業主指定的供應商洽談。如這種辦法不能奏效，我們就向業主提出放棄采購權，減少資金支出，盡量迫使業主重新定價，這樣做一般都能爭取到相當的價差。這種辦法盡管不太符合合同法則，但實際效果往往不錯。

我在平時的工作中一直嚴格遵守公司的各項規章制度，任何材料物資的采購一直奉行透明、公開與公平的原則。任何時候公司利益高于一切是我現在工作中的人生信條！宋邦華

江蘇自力建設工程有限公司

2012年05月03日篇三：倉庫數據員工作要求 倉庫數據員erp工作描述 工作崗位職責：

系統錄入所有進出的成品倉鞋子、輔料和禮品，保證系統數據與實物的一致。工作對接部門：

1、直屬領導：倉庫主管

2、工作交接部門：計劃部、倉庫掃描員

3、技術咨詢部門：信息部

4、監督部門：計劃部 工作時間：

跟隨成品倉上下班。