e俄歇效應(yīng)：原子在入射色X射線光子或電子的作用下失掉一個k層電子變?yōu)閗激發(fā)態(tài)，若該過程中所釋放出來的能量用來產(chǎn)生二次電離，使另一個核外電子脫離原子變?yōu)槎坞娮拥默F(xiàn)象。產(chǎn)生的二次電子的能量具有固定值，這種具有特征能量的電子稱為俄歇電子。

標識x射線譜：在連續(xù)譜的基礎(chǔ)上疊加若干條具有一定波長的譜線。

短波限：連續(xù)X射線譜的強度是隨波長的變化而連續(xù)變化的，每條曲線都有一個強度最大值，并在短波長方向上有一個波長極限，稱為。

相干散射：物質(zhì)中的電子在x射線電場的作用下，產(chǎn)生強迫震動，每個受迫振動的電子便成為新的電磁波源向空間各個方向輻射同頻率的電磁波，這些新的散射波之間可以發(fā)生反射作用，吧這種散射顯像稱為相干散射。

吸收限：物質(zhì)對電磁輻射的吸收隨輻射波長的減小而減小，當(dāng)波長的減小至某一限度是質(zhì)量衰減系數(shù)驟然增大，此時你的波長稱吸收限。吸收限為x射線性狀的特殊標志量，并且與原子能級的精細結(jié)構(gòu)一一對應(yīng)。

選擇反射：x射線投射到原子面上是，只有當(dāng)λθd三者之間滿足布拉格方程是才發(fā)生反射x射線的這種反射稱為選擇反射。

干涉指數(shù)：干涉面的面指數(shù)稱為指數(shù)，干涉指數(shù)互為質(zhì)數(shù)是，他就代表一族真是的晶面。

原子散射因子：用來表示一個原子散射和一個電子散射之間的對應(yīng)關(guān)系的參量

f=一個原子散射的相干散射波振幅一個電子散射的相干散射波振幅=AaAe

結(jié)構(gòu)因子：用來表征單胞的相干散射與單原子散射的相干散射之間的對應(yīng)關(guān)系的參量：

FHKL=一個單胞內(nèi)所有原子散射的相干散射振幅一個電子散射的相干散射振幅=AbAe

他是倒空間的衍射強度分布函數(shù)。

系統(tǒng)消光：由于結(jié)構(gòu)因子FHKL=0而使衍射線小時的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。包括點陣消光和結(jié)構(gòu)消光。

晶面指數(shù)：空間點陣中無論哪一個方向都可以畫出許多互相平行的陣點平面。同一方向上的陣點平面不僅互相平行，而且等距，各平面上的陣點分布情況完全相同。但是，不同方向上的陣點平面卻具有不同的特征。陣點平面之間的差別主要取決于他們的取向。在晶體學(xué)中陣點平面的空間取向用晶面指數(shù)表示。

晶帶定律：凡是屬于uvw晶帶的晶面，他們的晶面指數(shù)hkl都必須符合hu+kv+lw=0的條件。

多重性因子：等同晶面族的反射強度都重疊在一個衍射圓環(huán)上。吧同族晶面hkl的等同晶面數(shù)P稱為衍射強度的多重性因子。

布拉格方程：

衍射矢量方程：(s-s0)/l=r*HKL(|r*HKL|=1/dHKL)

倒易矢量的基本性質(zhì)：1、倒易矢量垂直于正點陣中的HKL晶面2、倒易矢量的長度等于HKL晶面的面間距dHKL的倒數(shù)。

光電效應(yīng)：光子激發(fā)原子所發(fā)生的激發(fā)和輻射過程成為光電效應(yīng)。被擊出的電子稱為光電子。

X射線強度：垂直與X射線傳播方向的單位面積上在單位時間內(nèi)所通過的光子數(shù)目的能量總和。

非相干散射：X射線光子與束縛力不大的外層電子或者自由電子碰撞，電子獲得一部分能量成為反沖電子，光子離開原來的傳播方向；碰撞后光子的能量減少，波長增加，這樣的散射稱為非相干散射。

線（質(zhì)量）衰減系數(shù)：單位體積（重量）物質(zhì)對X射線強度的衰減程度。

倒易點陣：在晶體點陣的基礎(chǔ)上按照一定的對應(yīng)關(guān)系建立起來的幾何圖形，是晶體整點正點陣的另一種表達方式。許多性質(zhì)與晶體點陣存在著倒易的關(guān)系。

晶體投影：三維晶體結(jié)構(gòu)中的晶向和晶面位置關(guān)系和數(shù)量關(guān)系投影到二維平面上來。

晶帶軸定律：凡屬于【

u

v

w

】晶帶的晶面，它的晶面指數(shù)｛

h

k

l

｝必定滿足

Hu+Kv+Lw=0的關(guān)系式；這個關(guān)系式稱為晶帶軸定律。

X射線定性分析注意事項：1、實驗數(shù)據(jù)存在一定誤差。2、晶面間距比相對強度3、低角度線比高角度線重要4、強線比弱線重要5、重視特征線6、弄清式樣來源和化學(xué)成分。步驟：1、獲得衍射花樣2、計算晶面間距和相對強度值3、查閱PDF卡片4、檢索匹配

X射線定量分析K值法原理與公式推導(dǎo)：

測定j相含量，內(nèi)標物質(zhì)s

根據(jù)衍射強度公式：

K值測定：制備一個待測相和內(nèi)標物質(zhì)重量百分數(shù)1：1的復(fù)合式樣，通過測定強度比的值便可求出K

K值法優(yōu)點：

l

K的值與待測相和內(nèi)標物質(zhì)含量無關(guān)，因此可以任意選取內(nèi)標物質(zhì)。

l

K值的測定簡單，不需要測繪定標曲線。

l

K值具有常數(shù)意義。只要待測相，內(nèi)標物質(zhì)相同，實驗條件一定，都可以使用同一個精確測定的K值。