第一篇：中國民航無損檢測人員技術資格鑒定委員會

中國民航無損檢測人員資格鑒定與認證委員會

※※※※※※※※※※※※※※編號：NDT200503 ※※

※NDT資格鑒定文件※頒發(fā)日期：2005年4月6日 ※※

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標題:征文通知

國際、南方、東方集團航空公司機務工程部，北京、廣州飛機維修工程有限公司，海南航空集團公司，民航飛行學院機務處，廈門、山東太古飛機工程有限公司，深圳、廈門、四川、上海、山東、飛龍航空公司，各有關單位：

隨著民用航空器維修事業(yè)的快速發(fā)展，無損檢測技術越來越廣泛地應用到維修的各個方面。2005年正值民航無損檢測技術應用30周年，為了提高無損檢測人員技術水平，促進民航無損檢測技術進步，提高航空器維修質(zhì)量，保證飛行安全。擬在今年適當時間舉辦民航無損檢測技術交流會，希望各單位從事航空器無損檢測的技術人員、操作人員和管理人員踴躍投稿，具體要求如下：

1.稿件內(nèi)容：無損檢測技術在航空器維修中的應用研究，航空器及其零部件無損檢測經(jīng)驗，國內(nèi)外新標準、新技術、新設備在航空器檢測中的應用，航空器無損檢測中的疑難問題探討，無損檢測質(zhì)量控制和管理等。

2.稿件用A4紙打印，宋體，小四號字體。

3.稿件文本和軟盤于9月30日前寄到民航NDT委員會秘書處，或者發(fā)電子郵件。

秘書處地址：成都雙流機場國航工程技術分公司成都維修基地無損檢測中心

聯(lián)系電話：（028）85721322、（028）85721328

傳真：（028）85721321e-mail:caacndt@163.net

聯(lián)系人：熊德瓊

民航無損檢測人員資格鑒定與認證委員會

注：請各集團航空公司將本通知轉告所屬各分公司。

報：總局飛標司抄送：各管理局適航處

第二篇：高級無損檢測技術資格人員RT題庫

高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編（填空題及答案1-50）

1.普朗克常數(shù)h=(6.626×10-34J?s),長度單位1 =(10-10m),電子質(zhì)量me=(9.108×10-30kg),電子電量e=(-1.602×10-19C)2.當單色射線能量約（9MeV）時，對鋼的穿透力最大，此時相應的Χ射線輸出約為（20MeV）3.直接電離輻射通常是指陰極射線,(β)射線,(α)射線和(質(zhì)子)射線,間接電離輻射是指(Χ)射線,(γ)射線和(中子)射線

4.60Co放出的γ射線平均能為(1.25MeV),相當于(2000～3000KVp)X射線穿透力,192Ir放出的γ射線平均能為(0.35MeV),相當于(150～800kVp)X射線穿透力

5.60Co和192Ir的射線輸出分別為(1.3)R/m?h?ci和(0.5)R/m?h?ci；60Co和192Irγ射線的能譜線分別為(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一種γ射線新源是（169Yb），其半衰期為（31）天，射線輸出為（125）mR/h?ci

7.檢查輕合金的薄試件也可利用β放射同位素所產(chǎn)生的韌致輻射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等

8.中子射線有以下特點：在重元素中衰減(小),在輕元素中衰減(大),在空氣中電離能力(弱),不能直接使膠片感光

9.常用的中子源有以下三種：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反應堆）10.不同劑量的照射對人體的損傷：D≤（0.25Gy）的一次照射時，無明顯病理變化；D≈（0.5Gy）時，出現(xiàn)一時性血象變化；D≥（1Gy）時，會引起急性放射病

11.電離輻射引起的生物效應分為兩類：①發(fā)生率取決于劑量的（隨機）效應，如遺傳效應和軀體致癌效應；②嚴重程度隨劑量而變化的（非隨機）效應，如對眼、皮膚和血液引起的效應。射線防護的目的在于防止有害的（非隨機）效應，并限制（隨機）效應的發(fā)生率，使之達到可以接受的水平

12.發(fā)生光電效應幾率的實驗近似公式為：τ=kρz4λ3，其中K為常數(shù)；ρ為（物質(zhì)密度）；Z為（物質(zhì)的原子序數(shù)）；λ為（射線的波長）

13.波長為0.1 的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)爾格,管電壓250kV時,產(chǎn)生射線的最短波長為(0.0496)14.射線穿透物質(zhì)時產(chǎn)生的吸收程度，取決于材料的（原子系數(shù)）、（密度）、（厚度）以及射線本身的（波長）

15.射線的線質(zhì)越硬，其光子能量越（大），波長越（短），穿透力越（強），衰減系數(shù)越（小）,半價層厚度越（大）

16.X射線穿透鋼材料時,兩種主要效應的發(fā)生幾率與光子能量的關系：J=σc時,E≈(100)keV；σc=max時,E=(1000)keV 17.連續(xù)Χ射線總強度可用下式表示：I=（ηoiZV2），連續(xù)Χ射線的轉換效率公式為η=（ηoZV）

18.單色窄束射線的半價層厚度約為1/10價層厚度的（0.3）倍；若已知線衰減系數(shù)μ，則1/10價層厚度為（2.3/μ）

19.γ射線放射性活度與照射量的關系式為X=A?t/KrR2。式中X-（照射量[倫]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常數(shù)[mR/h?ci]）；R-（到點源距離[m]）；t-（受照時間[h]）20.常用的γ源Kr常數(shù),對于60Co為Kr=（1.32）；對于192Ir為Kr=（0.472）21.照射量的國際單位是(庫侖/千克,C/Kg),專用單位是(倫琴,R),兩者的換算關系是(1庫侖/千克≈3.877*103倫琴,1倫琴=2.58*10-4庫侖/千克)22.吸收劑量的國際單位是(戈瑞,Gy),專用單位是(拉德,rad),兩者的換算關系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.劑量當量的國際單位是(希沃特,Sv),專用單位是(雷姆,rem),兩者的換算關系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.劑量當量H是吸收劑量D與(品質(zhì)因數(shù)Q)與(其他修正因數(shù)N)的乘積,數(shù)學表達式為H=(DQN),對Χ射線和γ射線防護而言,由于(有關修正因數(shù)為1),可以認為吸收劑量與劑量當量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(質(zhì)量數(shù)),其原子核中含有(27)個質(zhì)子和(33)個中子,60Co裂變時發(fā)生(β)射線和(γ)射線,60Co因(半衰期)較長而適用于無損檢測.26.當單色窄束X射線通過厚度為d的物質(zhì)后，表示射線強度衰減規(guī)律的公式為：（I=I0e-μd）27.射線與物質(zhì)作用時，最主要的效應是(光電)效應、(散射)效應、(電子對生成)效應 28.10居里鈷60射源衰減到1.25居里時大約需要(15.9)年

29.X射線的能量取決于（X射線管電壓），而γ射線的能量取決于（γ源的種類）30.高能射線是能量在（1）兆電子伏特以上的X射線，采用直線加速器產(chǎn)生的高能X射線與一般X射線相比，它具有（穿透能力強）、（焦點小）、（轉換效率高）等特點 31.X射線是利用（高速運動的電子撞擊金屬靶）的方法產(chǎn)生的，它具有（連續(xù)X）線譜和（特征X）線譜，γ射線是利用（放射性同位素物質(zhì)衰變）的方法產(chǎn)生的，它只具有X射線中的后一種線譜

32.鈷60γ射線源發(fā)出的兩種γ射線能量分別為1.17和1.33MeV，因此它們的波長分別為(0.0106)和(0.00932)33.活度為1居里的銥192，距離它1米處在無遮擋、無吸收的條件下，其一次射線的照射量率為（0.55）倫琴/小時

34.衰變常數(shù)為0.021/年的γ射線源，其半衰期為（33年），此射線源為（銫）源 35.X射線的能量取決于X光機的（管電壓），γ射線的強度取決于（源的種類）36.原子核內(nèi)的（質(zhì)子）數(shù)相同，而（中子）數(shù)不同的元素叫做同位素

37.單色、窄束、強度為I0的X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=I0e-μd），而對于強度為I0的單色、寬束X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=(1+n)I0e-μd）38.X射線、γ射線與物質(zhì)作用時，可產(chǎn)生（光電）效應、（康普頓(或散射)）效應和（電子對生成）效應，其中（電子對生成）效應只有在光子能量大于（1.02MeV）才會出現(xiàn) 39.射線的衰減系數(shù)與（射線能量）及照射物質(zhì)的（原子序數(shù)）和（密度）有關

40.吸收劑量當量的單位是（雷姆(Rem)），對于X射線、γ射線，因為修正系數(shù)等于（1），故吸收劑量當量值與吸收劑量值是（相同）的

41.直線加速器的優(yōu)點是（體積小）和（輸出射線強度大），回旋加速器的優(yōu)點是（焦點尺寸小）

42.經(jīng)Χ射線曝光過的膠片包含兩種不同類型的粒度：（膠片）粒度和（量子噪聲）引起的粒度

43.產(chǎn)生給定膠片密度所需要的倫琴數(shù)隨射線能量的增加而（增加）；射線能量高到一定數(shù)值，上述倫琴數(shù)（基本不變），這就是所謂射線膠片的光譜靈敏度

44.用鹽屏攝得的底片不清晰與兩個因素有關，一是（結構）斑點；二是（量子）斑點 45.底片顆粒度的表示為：G=σd/α,式中符號意義：σd（密度均方差）；α（掃描點面積）46.Χ射線能量低于150kV時，由于（吸收系數(shù)）變化很快，管電壓的選擇比較嚴格；能量在200～400kV時，電壓變化約為（30～40）kV才使靈敏度有明顯變化；當為2～31MeVΧ射線時，探傷靈敏度（幾乎相同）

47.(電離室)型監(jiān)測儀可用來測量直射線、操作區(qū)內(nèi)的散射線等相當高的照射率；（閃爍計數(shù)器）可用來探測曝光室之外的泄漏射線；（膠片劑量計）是最典型的個人照射劑量計，可記錄在相當長時間內(nèi)累積的劑量

48.對電子加速器產(chǎn)生的Χ射線束，不宜用（鉛）或重過濾材料，因在（2～3）MeV時，其質(zhì)量衰減系數(shù)有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三種：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反應堆中子源)50.192Ir中有（77）個質(zhì)子，（115）個中子，其半衰期為75天，則其衰變常數(shù)為（0.00924/d），51.放射性同位素的制取有在核反應堆中通過中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂變的產(chǎn)物，如（137Cs）

52.X射線照相檢測時的工藝參數(shù)最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等 53.用棒陽極射線管透照有剩磁的鋼管環(huán)焊縫時，（聚焦電子）漂移會造成曝光量不穩(wěn)定 54.膠片特性曲線上，某一區(qū)域的黑度差沒D與（相對曝光量對數(shù)的差值）的比值稱為該區(qū)域的反差系數(shù)r 55.我國天津感光膠片廠生產(chǎn)的工業(yè)用II、III、V型膠片，其感光度大致相當于國外（Agfa）牌號的（D10）、（D7）、（D4）型膠片，或國外（富士）牌號的（400）、（200）、（100或80）型膠片

56.亞硫酸鈉在顯影液中起（保護）作用；在定影液中起（保護）作用

57.工業(yè)用X光機高壓的調(diào)節(jié)通常是通過（自耦變壓器）的調(diào)節(jié)，改變高壓發(fā)生器中的（初級電壓）來實現(xiàn)的，而管電流的調(diào)節(jié)是通過（電阻）的調(diào)節(jié)，改變（燈絲變壓器）的（初級電壓）來實現(xiàn)的

58.為使像質(zhì)計靈敏度達到最佳值，透照余高磨平的焊縫宜選擇黑度約為（2.5）的攝片條件；透照有余高的焊縫時，宜選擇母材黑度約（3.0～3.5），焊縫黑度約（1.5～2.0）的攝片條件

59.按照信息論，空間頻率f即每毫米黑白線對是指（不清晰度），而影像噪聲是指（顆粒度）

60.若底片上階梯孔型像質(zhì)計靈敏度為2%，則實際圓形氣孔的檢出靈敏度約為（3）%；為檢出1mm氣孔，像質(zhì)計上應顯示的階梯孔徑為（2/3）mm 61.金屬增感屏的增感系數(shù)隨著材料原子序數(shù)的增大而（增大），在試驗范圍內(nèi)（金）最大，在管電壓較低時（錫）最大

62.金屬增感屏的增感系數(shù)隨著Χ射線管電壓的降低而（減小），大約在（120）kV以下時，增感系數(shù)(小)于1 63.在某一密度D時的膠片襯度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在兩特定密度之間，膠片的平均襯度可表示為G=（△D/△lgE）

64.射線照相靈敏度是射線照相（清晰度）和（對比度）兩大因素的綜合結果

65.X射線照相檢測時的工藝參數(shù)最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等 66.射線輻射防護的三種基本方式是(距離防護),(屏蔽防護),(時間防護)67.按JIS Z3104,3105標準規(guī)定，用內(nèi)膠片法，對管子環(huán)縫進行照像時，為保證橫向裂紋的檢出率，當焦距最遠時，按普通級要求，最少應照（13）張片子

68.為了提高射線照像的對比度，可以采取射線膠片與工件保持適當距離的特殊照像方法，此時（1/[1+n]）值隨該距離的增大而增大，（σ）值該距離的增大而減小，因此必須取（σ/[1+n]）值的最大時的最佳距離

69.對于厚度差比較大的工件進行一次曝光透照時，可以采用（雙膠片）、（分散曝光）、（補償）等方法，使底片黑度都處于有效黑度范圍內(nèi)

70.為了保證焊縫中裂紋的檢出率，日本JIS Z3104標準規(guī)定：射線穿透方向與缺陷方向之間的相對角度，對于普通級應小于（14）度，對于特殊級應小于（9）度

71.用100居里的銥192γ射線源透照某工件，焦距1米，曝光時間5分鐘，能得到合適的底片黑度。225天后，用該源透照相同工件，焦距變?yōu)?米，為得到相同黑度，曝光時間應為（160）分鐘 72.底片對比度與（工件）對比度和（膠片反差）系數(shù)有關

73.射線照相的靈敏度由兩個指標來確定，即射線底片的（對比）度和（清晰）度 74.鑒定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做試驗液，如果底片上出現(xiàn)（棕黃色）現(xiàn)象，即可說明底片水洗不佳

75.銥192的半衰期為75天，用該新源透照工件最佳的曝光時間為10分鐘，225天后重照同樣的工件（設其他條件不變），則需曝光（80）分鐘

76.為了提高射線照像的對比度沒D，可以在照相布置時把膠片與工件的距離調(diào)整到使（σ/[1+n]）的比值達到最大值

77.底片黑度取決于輻射強度和曝光時間的乘積，若曝光量一定時，輻射強度與曝光時間成反比，但采用（熒光增感）方法時，則該反比定律失效

78.射線照相對比度的公式是（△D=-0.434γμσ△d/(1+n)），其中（μ△d/(1+n)）稱為主因?qū)Ρ榷?/p>

79.一鑄件厚度為1.25英寸，射線底片上顯示出ASTM 20#像質(zhì)計的2T孔，則該底片的當量靈敏度為（1.6%）

80.鑄件射線底片上出現(xiàn)清晰的黑線或長度與寬度不等，輪廓光滑分明的帶狀顯示，則大多數(shù)是（冷隔）缺陷

81.鉛箔增感屏前屏起（增感）、（吸收軟射線）作用，后屏主要起（吸收散射線）作用 82.在半波自整流電路里加裝逆電壓降低器的目的是(降低X射線管的逆電壓)，在倍壓整流電路里起倍壓作用的元件是(電容器)83.由于Χ射線照射場內(nèi)陽極側和陰極側（焦點尺寸）和（射線強度分布）不同，因此不能利用整個照射場來透照工件

84.射線底片表觀對比度與底片對比度的關系式為：△Da=（△D/(1+n')）

85.體積狀缺陷的可檢出性主要取決于射線照相（對比度）細小缺陷的可檢出性還取決于膠片的（清晰度）

86.裂紋類面狀缺陷的可檢出性不僅取決于射線照相影像質(zhì)量的三參數(shù)，還取決于缺陷本身的三參數(shù)即（深度L）、（寬度W）和（與射線束的角度θ）

87.給定γ射線源可透檢厚度范圍的上限取決于其（能量和強度）下限取決于（靈敏度下降值）

88.在Χ射線管窗口加濾板有兩大作用（增大厚度寬容度）、（消除邊蝕散射）

89.溫度對顯影的影響表現(xiàn)為：溫度越高時，顯影速度越（快），反差越（高），灰霧越（大），顆粒越（大）,溫度越低，反差越（低），一般將顯影溫度控制在（20℃）左右 90.不同透照電壓的厚度寬容度不同,這直接反映在其曝光曲線的(斜率)不同 91.細顆粒膠片感光速度(慢),清晰度(高),大顆粒膠片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能膠片可分為(增感型)和(非增感型)兩類膠片

93.在酸性堅膜定影液中會有相互分解的成分，大蘇打要靠（亞硫酸鈉），鉀明釩要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件時要選用較高（管電壓）的原因是它的波長（短），穿透能力（強）95.試件厚度越大，散射比越（大）

96.射線能量越高，μ值越（小）；試件厚度越大，μ值越（小）97.在X光機窗口加一層薄的過濾器，其目的主要是（提高平均能量）98.散射線對照相底片的影響主要是降低射線照相的（清晰度）和（對比度）

99.評價一個同位素源時，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四個方面

100.底片對比度與（工件對比度）和（膠片對比度）有關 ,

第三篇：高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題

高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編 填空題

1.普朗克常數(shù)h=(6.626×10-34J·s),長度單位1=(10-10m),電子質(zhì)量me=(9.108×10-30kg),電子電量e=(-1.602×10-19C)2.當單色射線能量約（9MeV）時，對鋼的穿透力最大，此時相應的Χ射線輸出約為（20MeV）

3.直接電離輻射通常是指陰極射線,(β)射線,(α)射線和(質(zhì)子)射線,間接電離輻射是指(Χ)射線,(γ)射線和(中子)射線

4.60Co放出的γ射線平均能為(1.25MeV),相當于(2000～3000KVp)X射線穿透力,192Ir放出的γ射線平均能為(0.35MeV),相當于(150～800kVp)X射線穿透力 5.60Co和192Ir的射線輸出分別為(1.3)R/m·h·ci和(0.5)R/m·h·ci；60Co和192Irγ射線的能譜線分別為(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一種γ射線新源是（169Yb），其半衰期為（31）天，射線輸出為（125）mR/h·ci

7.檢查輕合金的薄試件也可利用β放射同位素所產(chǎn)生的韌致輻射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等 8.中子射線有以下特點：在重元素中衰減(小),在輕元素中衰減(大),在空氣中電離能力(弱),不能直接使膠片感光

9.常用的中子源有以下三種：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反應堆）

10.不同劑量的照射對人體的損傷：D≤（0.25Gy）的一次照射時，無明顯病理變化；D≈（0.5Gy）時，出現(xiàn)一時性血象變化；D≥（1Gy）時，會引起急性放射病

11.電離輻射引起的生物效應分為兩類：①發(fā)生率取決于劑量的（隨機）效應，如遺傳效應和軀體致癌效應；②嚴重程度隨劑量而變化的（非隨機）效應，如對眼、皮膚和血液引起的效應。射線防護的目的在于防止有害的（非隨機）效應，并限制（隨機）效應的發(fā)生率，使之達到可以接受的水平

12.發(fā)生光電效應幾率的實驗近似公式為：τ=kρz4λ3，其中K為常數(shù)；ρ為（物質(zhì)密度）；Z為（物質(zhì)的原子序數(shù)）；λ為（射線的波長）

13.波長為0.1的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)爾格,管電壓250kV時,產(chǎn)生射線的最短波長為(0.0496)14.射線穿透物質(zhì)時產(chǎn)生的吸收程度，取決于材料的（原子系數(shù)）、（密度）、（厚度）以及射線本身的（波長）

15.射線的線質(zhì)越硬，其光子能量越（大），波長越（短），穿透力越（強），衰減系數(shù)越（小）,半價層厚度越（大）

16.X射線穿透鋼材料時,兩種主要效應的發(fā)生幾率與光子能量的關系：J=σc時,E≈(100)keV；σc=max時,E=(1000)keV 17.連續(xù)Χ射線總強度可用下式表示：I=（ηoiZV2），連續(xù)Χ射線的轉換效率公式為η=（ηoZV）

18.單色窄束射線的半價層厚度約為1/10價層厚度的（0.3）倍；若已知線衰減系數(shù)μ，則1/10價層厚度為（2.3/μ）

19.γ射線放射性活度與照射量的關系式為X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[倫]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常數(shù)[mR/h·ci]）；R-（到點源距離[m]）；t-（受照時間[h]）

20.常用的γ源Kr常數(shù),對于60Co為Kr=（1.32）；對于192Ir為Kr=（0.472）21.照射量的國際單位是(庫侖/千克,C/Kg),專用單位是(倫琴,R),兩者的換算關系是(1庫侖/千克≈3.877*103倫琴,1倫琴=2.58*10-4庫侖/千克)22.吸收劑量的國際單位是(戈瑞,Gy),專用單位是(拉德,rad),兩者的換算關系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.劑量當量的國際單位是(希沃特,Sv),專用單位是(雷姆,rem),兩者的換算關系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.劑量當量H是吸收劑量D與(品質(zhì)因數(shù)Q)與(其他修正因數(shù)N)的乘積,數(shù)學表達式為H=(DQN),對Χ射線和γ射線防護而言,由于(有關修正因數(shù)為1),可以認為吸收劑量與劑量當量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(質(zhì)量數(shù)),其原子核中含有(27)個質(zhì)子和(33)個中子,60Co裂變時發(fā)生(β)射線和(γ)射線,60Co因(半衰期)較長而適用于無損檢測.26.當單色窄束X射線通過厚度為d的物質(zhì)后，表示射線強度衰減規(guī)律的公式為：（I=I0e-μd）

27.射線與物質(zhì)作用時，最主要的效應是(光電)效應、(散射)效應、(電子對生成)效應

28.10居里鈷60射源衰減到1.25居里時大約需要(15.9)年

29.X射線的能量取決于（X射線管電壓），而γ射線的能量取決于（γ源的種類）30.高能射線是能量在（1）兆電子伏特以上的X射線，采用直線加速器產(chǎn)生的高能X射線與一般X射線相比，它具有（穿透能力強）、（焦點小）、（轉換效率高）等特點

31.X射線是利用（高速運動的電子撞擊金屬靶）的方法產(chǎn)生的，它具有（連續(xù)X）線譜和（特征X）線譜，γ射線是利用（放射性同位素物質(zhì)衰變）的方法產(chǎn)生的，它只具有X射線中的后一種線譜

32.鈷60γ射線源發(fā)出的兩種γ射線能量分別為1.17和1.33MeV，因此它們的波長分別為(0.0106)和(0.00932)33.活度為1居里的銥192，距離它1米處在無遮擋、無吸收的條件下，其一次射線的照射量率為（0.55）倫琴/小時

34.衰變常數(shù)為0.021/年的γ射線源，其半衰期為（33年），此射線源為（銫）源 35.X射線的能量取決于X光機的（管電壓），γ射線的強度取決于（源的種類）36.原子核內(nèi)的（質(zhì)子）數(shù)相同，而（中子）數(shù)不同的元素叫做同位素

37.單色、窄束、強度為I0的X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=I0e-μd），而對于強度為I0的單色、寬束X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=(1+n)I0e-μd）

38.X射線、γ射線與物質(zhì)作用時，可產(chǎn)生（光電）效應、（康普頓(或散射)）效應和（電子對生成）效應，其中（電子對生成）效應只有在光子能量大于（1.02MeV）才會出現(xiàn)

39.射線的衰減系數(shù)與（射線能量）及照射物質(zhì)的（原子序數(shù)）和（密度）有關 40.吸收劑量當量的單位是（雷姆(Rem)），對于X射線、γ射線，因為修正系數(shù)等于（1），故吸收劑量當量值與吸收劑量值是（相同）的

41.直線加速器的優(yōu)點是（體積小）和（輸出射線強度大），回旋加速器的優(yōu)點是（焦點尺寸小）

42.經(jīng)Χ射線曝光過的膠片包含兩種不同類型的粒度：（膠片）粒度和（量子噪聲）引起的粒度 43.產(chǎn)生給定膠片密度所需要的倫琴數(shù)隨射線能量的增加而（增加）；射線能量高到一定數(shù)值，上述倫琴數(shù)（基本不變），這就是所謂射線膠片的光譜靈敏度

44.用鹽屏攝得的底片不清晰與兩個因素有關，一是（結構）斑點；二是（量子）斑點

45.底片顆粒度的表示為：G=σd/α,式中符號意義：σd（密度均方差）；α（掃描點面積）

46.Χ射線能量低于150kV時，由于（吸收系數(shù)）變化很快，管電壓的選擇比較嚴格；能量在200～400kV時，電壓變化約為（30～40）kV才使靈敏度有明顯變化；當為2～31MeVΧ射線時，探傷靈敏度（幾乎相同）47.(電離室)型監(jiān)測儀可用來測量直射線、操作區(qū)內(nèi)的散射線等相當高的照射率；（閃爍計數(shù)器）可用來探測曝光室之外的泄漏射線；（膠片劑量計）是最典型的個人照射劑量計，可記錄在相當長時間內(nèi)累積的劑量

48.對電子加速器產(chǎn)生的Χ射線束，不宜用（鉛）或重過濾材料，因在（2～3）MeV時，其質(zhì)量衰減系數(shù)有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三種：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反應堆中子源)50.192Ir中有（77）個質(zhì)子，（115）個中子，其半衰期為75天，則其衰變常數(shù)為（0.00924/d）

51.放射性同位素的制取有在核反應堆中通過中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂變的產(chǎn)物，如（137Cs）

52.X射線照相檢測時的工藝參數(shù)最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等

53.用棒陽極射線管透照有剩磁的鋼管環(huán)焊縫時，（聚焦電子）漂移會造成曝光量不穩(wěn)定

54.膠片特性曲線上，某一區(qū)域的黑度差沒D與（相對曝光量對數(shù)的差值）的比值稱為該區(qū)域的反差系數(shù)r 55.我國天津感光膠片廠生產(chǎn)的工業(yè)用II、III、V型膠片，其感光度大致相當于國外（Agfa）牌號的（D10）、（D7）、（D4）型膠片，或國外（富士）牌號的（400）、（200）、（100或80）型膠片

56.亞硫酸鈉在顯影液中起（保護）作用；在定影液中起（保護）作用

57.工業(yè)用X光機高壓的調(diào)節(jié)通常是通過（自耦變壓器）的調(diào)節(jié)，改變高壓發(fā)生器中的（初級電壓）來實現(xiàn)的，而管電流的調(diào)節(jié)是通過（電阻）的調(diào)節(jié)，改變（燈絲變壓器）的（初級電壓）來實現(xiàn)的

58.為使像質(zhì)計靈敏度達到最佳值，透照余高磨平的焊縫宜選擇黑度約為（2.5）的攝片條件；透照有余高的焊縫時，宜選擇母材黑度約（3.0～3.5），焊縫黑度約（1.5～2.0）的攝片條件

59.按照信息論，空間頻率f即每毫米黑白線對是指（不清晰度），而影像噪聲是指（顆粒度）

60.若底片上階梯孔型像質(zhì)計靈敏度為2%，則實際圓形氣孔的檢出靈敏度約為（3）%；為檢出1mm氣孔，像質(zhì)計上應顯示的階梯孔徑為（2/3）mm 61.金屬增感屏的增感系數(shù)隨著材料原子序數(shù)的增大而（增大），在試驗范圍內(nèi)（金）最大，在管電壓較低時（錫）最大

62.金屬增感屏的增感系數(shù)隨著Χ射線管電壓的降低而（減小），大約在（120）kV以下時，增感系數(shù)(小)于1 63.在某一密度D時的膠片襯度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在兩特定密度之間，膠片的平均襯度可表示為G=（△D/△lgE）

64.射線照相靈敏度是射線照相（清晰度）和（對比度）兩大因素的綜合結果

65.X射線照相檢測時的工藝參數(shù)最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等

66.射線輻射防護的三種基本方式是(距離防護),(屏蔽防護),(時間防護)67.按JIS Z3104,3105標準規(guī)定，用內(nèi)膠片法，對管子環(huán)縫進行照像時，為保證橫向裂紋的檢出率，當焦距最遠時，按普通級要求，最少應照（13）張片子

68.為了提高射線照像的對比度，可以采取射線膠片與工件保持適當距離的特殊照像方法，此時（1/[1+n]）值隨該距離的增大而增大，（σ）值該距離的增大而減小，因此必須取（σ/[1+n]）值的最大時的最佳距離

69.對于厚度差比較大的工件進行一次曝光透照時，可以采用（雙膠片）、（分散曝光）、（補償）等方法，使底片黑度都處于有效黑度范圍內(nèi)

70.為了保證焊縫中裂紋的檢出率，日本JIS Z3104標準規(guī)定：射線穿透方向與缺陷方向之間的相對角度，對于普通級應小于（14）度，對于特殊級應小于（9）度 71.用100居里的銥192γ射線源透照某工件，焦距1米，曝光時間5分鐘，能得到合適的底片黑度。225天后，用該源透照相同工件，焦距變?yōu)?米，為得到相同黑度，曝光時間應為（160）分鐘

72.底片對比度與（工件）對比度和（膠片反差）系數(shù)有關

73.射線照相的靈敏度由兩個指標來確定，即射線底片的（對比）度和（清晰）度 74.鑒定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做試驗液，如果底片上出現(xiàn)（棕黃色）現(xiàn)象，即可說明底片水洗不佳

75.銥192的半衰期為75天，用該新源透照工件最佳的曝光時間為10分鐘，225天后重照同樣的工件（設其他條件不變），則需曝光（80）分鐘

76.為了提高射線照像的對比度沒D，可以在照相布置時把膠片與工件的距離調(diào)整到使（σ/[1+n]）的比值達到最大值

77.底片黑度取決于輻射強度和曝光時間的乘積，若曝光量一定時，輻射強度與曝光時間成反比，但采用（熒光增感）方法時，則該反比定律失效

78.射線照相對比度的公式是（△D=-0.434γμσ△d/(1+n)），其中（μ△d/(1+n)）稱為主因?qū)Ρ榷?/p>

79.一鑄件厚度為1.25英寸，射線底片上顯示出ASTM 20#像質(zhì)計的2T孔，則該底片的當量靈敏度為（1.6%）

80.鑄件射線底片上出現(xiàn)清晰的黑線或長度與寬度不等，輪廓光滑分明的帶狀顯示，則大多數(shù)是（冷隔）缺陷

81.鉛箔增感屏前屏起（增感）、（吸收軟射線）作用，后屏主要起（吸收散射線）作用

82.在半波自整流電路里加裝逆電壓降低器的目的是(降低X射線管的逆電壓)，在倍壓整流電路里起倍壓作用的元件是(電容器)83.由于Χ射線照射場內(nèi)陽極側和陰極側（焦點尺寸）和（射線強度分布）不同，因此不能利用整個照射場來透照工件

84.射線底片表觀對比度與底片對比度的關系式為：△Da=（△D/(1+n')）

85.體積狀缺陷的可檢出性主要取決于射線照相（對比度）細小缺陷的可檢出性還取決于膠片的（清晰度）86.裂紋類面狀缺陷的可檢出性不僅取決于射線照相影像質(zhì)量的三參數(shù)，還取決于缺陷本身的三參數(shù)即（深度L）、（寬度W）和（與射線束的角度θ）

87.給定γ射線源可透檢厚度范圍的上限取決于其（能量和強度）下限取決于（靈敏度下降值）

88.在Χ射線管窗口加濾板有兩大作用（增大厚度寬容度）、（消除邊蝕散射）89.溫度對顯影的影響表現(xiàn)為：溫度越高時，顯影速度越（快），反差越（高），灰霧越（大），顆粒越（大）,溫度越低，反差越（低），一般將顯影溫度控制在（20℃）左右

90.不同透照電壓的厚度寬容度不同,這直接反映在其曝光曲線的(斜率)不同 91.細顆粒膠片感光速度(慢),清晰度(高),大顆粒膠片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能膠片可分為(增感型)和(非增感型)兩類膠片

93.在酸性堅膜定影液中會有相互分解的成分，大蘇打要靠（亞硫酸鈉），鉀明釩要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件時要選用較高（管電壓）的原因是它的波長（短），穿透能力（強）95.試件厚度越大，散射比越（大）

96.射線能量越高，μ值越（小）；試件厚度越大，μ值越（小）97.在X光機窗口加一層薄的過濾器，其目的主要是（提高平均能量）

98.散射線對照相底片的影響主要是降低射線照相的（清晰度）和（對比度）99.評價一個同位素源時，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四個方面

100.底片對比度與（工件對比度）和（膠片對比度）有關

101.同位素源輻射出的伽瑪射線能量用（所有輻射能量的平均值）來度量，X射線機輻射出X射線的能量用（電壓峰值）來度量 102.金屬增感屏靠（二次射線和電子）增感，常用的金屬材料是（鉛），它的粒度（細），增感系數(shù)（小），所得底片清晰度（高）

103.入射光強與透過光強之比為10，則底片黑度為（1），若透射光強與入射光強之比為1:1000，則底片黑度為（3）

104.影響顯影的主要因素為（配方）、（顯影溫度）、（顯影時間）、（顯影觀察-暗室安全燈）、（顯影液老化程度）與（攪動-顯影均勻程度）105.顯影液是（堿）性的，定影液是（酸）性的

106.透照某工件，已知曝光量達到膠片特性曲線的過渡曝光區(qū)，為使底片達到一定黑度，采用縮短顯影時間的方法來調(diào)整，這將影響底片的（對比度）和（清晰度），并降低底片的（靈敏度）

107.大晶粒金屬零件進行射線照相時，利用（提高管電壓和使用鉛增感屏）可以減少或消除衍射斑的影響

108.從實際應用來說，可以認為X射線膠片特性曲線的形狀與（X射線或γ射線的線質(zhì)）無關

109.對于一定的射線質(zhì)量，如果因試樣厚度范圍太大并且被攝物對比度過大，應采用的修正方法是（提高管電壓、在X射線管上放置濾波器，并延長曝光時間）

110.X射線在大晶粒材料中衍射而引起的一種特殊形式的散射線會使底片上出現(xiàn)（斑點）狀影像

111.輻射防護監(jiān)測儀器多半是利用射線能使氣體物質(zhì)（電離）的原理制造的 112.個人劑量筆給出的是（射線劑量累計照射率）值 113.X射線管按不同的用途可分為五大類，第一類是（醫(yī)學診斷用X射線管），第二類是（醫(yī)學治療用X射線管），第三類是（材料分析用X射線管），第四類是（材料檢驗用X射線管），第五類是（特殊用途X射線管），無損檢測應用的是第（4）類X射線管

114.有的X射線管的陰極頭有兩組燈絲，可產(chǎn)生（兩個大小不同的）焦點，以適應不同的用途

115.在其他工作條件保持恒定的情況下，管電流變化會使X射線管發(fā)射的輻射強度發(fā)生變化，強度近似地與管電流成比例，造成強度與管電流不能精確地成比例的主要因素是（X射線機變壓器的電壓和波型隨負荷變化）

116.金屬陶瓷X射線管與玻璃殼X射線管相比有下面六個優(yōu)點：（抗震性強，不易破碎）、（金屬殼不存在電擊穿和表面放電問題）、（管內(nèi)真空度高，各項電性能好）、（體積小，重量輕，壽命長）、（容易裝焊鈹或鉬窗口以放射軟X射線）、（制造工藝簡單）

117.特殊用途的X光管包括（周向輻射X射線管）、（軟X射線管）、（微焦點X射線管）、（棒狀陽極X射線管）

118.X射線管的管電壓是指它的（最大額定工作電壓峰值），但在電工測量中，表頭指示的是（有效）值

119.輻射監(jiān)測主要是（場所輻射）監(jiān)測和（個人劑量）監(jiān)測 120.輻射劑量儀可分為（探測器）和（測量裝置）兩部分

121.影響輻射損傷的因素是（輻射性質(zhì)）、（劑量）、（劑量率）、（照射方式）、（照射部位）、（照射面積）

122.在X射線檢測中，以保證穿透為前提，一般為了提高靈敏度，應盡量選擇（低）的管電壓，（高）的管電流，（長）焦距，（小）焦點

123.用相同條件透照同一容器的環(huán)焊縫，采用外照法（射線源在容器外側）比內(nèi)照法（射線源在容器內(nèi)側）對橫向裂紋的檢出率要（低），而對單面焊根部裂紋和未焊透（熔入不足）的檢出率要（高）

124.用銥192透照某工件，曝光10分鐘可獲得理想的底片，150天后，以相同條件用該源透照同一工件時，要獲得相同質(zhì)量的底片需曝光（40）分鐘

125.焊縫照像底片評定時發(fā)現(xiàn)焊縫中央沿縱向有一較寬直長的黑線，黑線邊緣很整齊，則該瑕疵可能是（未焊透）

126.在分別含有氣孔,鎢粒和夾渣的鋼焊縫X射線底片上,比它們周圍其他地方看起來較亮的是(鎢粒)127.在分別含有氣孔,鎢粒和夾渣的鋼焊縫X射線底片上,比它們周圍其他地方看起來較黑的是(氣孔和夾渣)128.底片上評定區(qū)域出現(xiàn)黑點，大致有以下幾種可能（氣孔或點狀夾渣）、（弧坑）、（顯影液飛濺）、（壓痕）、（水跡）、（銀粒子流動）、（霉點）129.底片上評定區(qū)域出現(xiàn)黑線，大致有以下幾種可能（裂紋）、（未熔合）、（錯口）、（咬邊）、（膠片劃傷）、（增感屏劃傷）、（線狀氣孔）130.在射線底片上呈現(xiàn)較大面積的樹枝形影像是(靜電感光)131.在焊縫的射線底片上,較周圍部位顯得非常明亮的缺陷是(重金屬夾渣,或稱高密度夾渣,如夾銅,夾鎢等)132.對于未曝光膠片的儲存應考慮（溫度）、（濕度）、（有效期限）、（防止受壓）和（遠離放射線）133.GB3323標準的最早頒布年份是（1982）年，在87年的版本中，把射線照相質(zhì)量劃分成（A）、（AB）、（B）三個等級，適用厚度在（2-200mm）范圍內(nèi)的（鋼熔化對接焊縫）X射線和γ射線照相方法以及質(zhì)量分級

是非判斷題（在每題后面括號內(nèi)打“X”號表示“錯誤”，畫“○”表示正確）1.不穩(wěn)定的同位素在衰變期間，始終要輻射出γ射線。()2.一放射性同位素放出的γ射線穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射線機的穿透力，這種關系稱作該同位素的當量能。()3.放射性同位素的當量能上限總是高于其平均能。（）

4.射線通過材料后，其強度的9/10被吸收，該厚度即稱作1/10價層。（）

5.60Co和192Ir射線源是穩(wěn)定的同位素在核反應堆中俘獲中子而得到的，當射線源經(jīng)過幾個半衰期后，將其放在核反應堆中激活，可重復使用。（）6.俄歇電子是指被熒光Χ射線逐出原子軌道的電子。（）7.光電子又稱為反沖電子。（）

8.暗室內(nèi)的工作人員在沖洗膠片的過程中，會受到膠片上感生的射線照射，因而白血球也會降低。（）

9.一能量為300千電子伏的光子進入原子中,使一軌道電子脫離50千電子伏的結合能后,又給這個電子50千電子伏的能量使其飛出軌道,則新的光子能量是200千電子伏()10.中子射線照相檢測方法的英文縮寫是NRT()11.射線照相檢驗方法的局限性是不易評定缺陷的形狀,大小和分布()12.射線照相檢驗法的優(yōu)點是效率高,成本低()

13.當射線中心束方向與裂紋開裂面成45°角時,最容易發(fā)現(xiàn)該裂紋()14.當射線中心束方向與裂紋開裂面成90°角時,最容易發(fā)現(xiàn)該裂紋()15.X射線檢測法不適用于混凝土結構件()17.X或γ射線的計算機輔助層析掃描技術簡稱為工業(yè)CT()18.“韌致輻射”是高速運行的電子與陽極靶相撞后能量被轉換的一種電磁輻射，即X射線()19.連續(xù)、寬束X射線透過厚度d的物體后，射線強度的衰減規(guī)律可用下列公式表示：I=I0e-μd()20.X射線的光子與物質(zhì)相互作用時，當射線能量達到MeV以上時，會產(chǎn)生電子、正電子對，而光子的能量全部消失，這就是“電子對的生成”效應（）21.對于某一種放射源，若其活度越高，則所發(fā)出的射線能量也越強()22.最小可見對比度△Dmin隨線狀圖像的寬度增大而增大，當線狀圖像的寬度達到一定數(shù)值時，△Dmin成為常數(shù)()23.射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點的大小成正比，與射線源到工件表面的距離成反比（）

24.射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點的大小成反比，與射線源到工件表面的距離成正比()

25.由焦點尺寸和照像幾何條件決定的像質(zhì)計金屬絲幾何因素修正系數(shù)σ在d'/d的比值大于1時，其數(shù)值隨d'/d的增大而減小（）

26.通常把膠片本身引起的不清晰度稱為膠片不清晰度或固有不清晰度（）27.散射線不影響射線照像底片的對比度而是影響底片的清晰度（）28.底片的黑度取決于射線強度與曝光時間的乘積，即曝光量，但當采用熒光或金屬熒光增感屏時，射線強度與曝光時間不成反比關系（）

29.鉛箔增感屏之所以有增感作用，是因為X與γ射線能從鉛中激發(fā)出電子來，從而使膠片感光，達到增感的目的（）

30.通常對于管電壓大于120KVP的X射線才能使鉛箔有增感作用（）

31.對于2MeV的電子直線加速器，靶材料為鎢，比例系數(shù)為1.2x10-6時，其連續(xù)X射線的轉換效率約為1.8%()32.X或γ射線在標準狀態(tài)下，對一立方厘米的空氣照射時，使空氣中產(chǎn)生一個靜電單位電荷的離子對，這時的射線照射量為一居里（）33.用于射線照相法檢驗的X和γ射線，它們之間的差別僅在于X射線是高速電子韌致的輻射產(chǎn)物，γ射線是放射性物質(zhì)原子核裂變的輻射產(chǎn)物（）

34.高能X射線一般指的是其能量在千電子伏特（KeV）級以上的X射線()

35.中子射線照相的原理，主要是由于含氫物質(zhì)中的氫具有俘獲中子的能力，從而使透過含氫物質(zhì)后的中子射線的強度發(fā)生變化（）

36.X射線、γ射線與可見光一樣，它們在真空中的傳播速度都是3x108cm/s()37.在國際單位制中，放射性活度用符號X表示，它的單位是庫侖/千克（C/Kg）()38.在國際單位制中，吸收劑量用符號D表示，它的單位是戈瑞（Gy）（）

39.射線膠片中的溴化銀微粒銀的負離子失去電子，使曝光的膠片中形成所謂“潛影”（）

40.波長相同的X射線和γ射線具有相同的性質(zhì)（）

41.不同種類的放射性同位素，其中活度（居里數(shù)）高的輻射出的γ射線劑量不一定比活度低的大（）

42.高速運動的電子在與靶金屬的原子核外電場作用時，發(fā)射出連續(xù)X射線（）43.連續(xù)X射線的總強度與管電壓的平方成正比，與管電流和靶原子序數(shù)成正比（）44.當射線的能量達到1.02MeV以上時，射線的光量子同原子作用的結果，使得光量子消失，產(chǎn)生一對離子，這就是電子對生成效應()45.當X射線通過三個半價層后，其強度僅剩初始的1/8（）

46.半衰期是指放射性同位素其能量減少到一半所需要的時間（）

47.管電壓越高，X光管中飛向靶金屬的電子速度就越大，射線的輻射能量就越高（）48.連續(xù)、寬束射線透過厚度為d的物體后，射線強度的衰減規(guī)律可用下式表示：I=Ie-μd（）

49.散射比n是表示散射線強度Is和輻射源到工件的入射線的強度I0之比，即：n=Is/I0（）

50.射線通過膠片時，能在膠片上激發(fā)出自由電子，這種散亂的自由電子也能使膠片感光，形成不清晰度，這種不清晰度稱為“固有不清晰度”（）

51.通常對于管電壓大于150KVP的X射線，鉛箔才能起增感作用，而對于管電壓低于150KVP的X射線，鉛箔對于射線的減弱作用大于射線的增強作用，所以沒有增感作用（）

52.射線透過工件后的兩個不同厚度區(qū)域的強度比值稱為工件對比度（）

53.X或γ射線在標準狀態(tài)下，對一立方厘米的空氣照射時，空氣中離子產(chǎn)生一個靜電單位電荷的照射劑量為一居里()54.“吸收劑量當量”-拉德（Rad）等于被照射生物機體的吸收劑量-雷姆（Rem）與該射線相應的修正系數(shù)（RBE）的乘積（對X和γ射線來說修正系數(shù)等于1）()

55.直線加速器的輸出強度要比同樣能量的電子感應加速器的輸出強度要大許多倍。（）

56.192Ir射線源產(chǎn)生的射線主要成分是能量幾乎呈連續(xù)分布的“白色Χ射線”。（）57.在顯影過程中，KBr中的Br離子被吸附在AgBr表面形成負電層，因而能排斥顯影劑負離子對未曝光的AgBr的還原作用，防止灰霧生成。（）58.膠片劑量計和袖珍劑量筆的工作原理均基于電離效應。（）

59.對電子加速器產(chǎn)生的Χ射線束，不宜用鉛作過濾材料，原因是鉛在高能量射線照射下會被激活。（）

60.在射線劑量筆中,兩個石英纖維絲帶有正電荷,當射線通過時就失去它們的電荷,并且其中一個石英纖維絲向另一個靠攏()61.在X射線管窗口處加濾光板可以濾掉軟射線，從而獲得線質(zhì)更加均勻的X射線（）62.像質(zhì)計是判別射線照像質(zhì)量和測定照像靈敏度的器件（）

63.閃爍計數(shù)器型的輻射儀，是由鉈活化的碘化鈉單晶、光電倍增管和電子電路構成（）

64.X射線能量取決于X射線管的燈絲電流（）

65.膠片感光的部分越多，顯影時耗費的顯影液就越多（）

66.射線膠片產(chǎn)生一定黑度所需要的照射量（即倫琴數(shù)）與射線線質(zhì)無關。（）67.當缺陷尺寸小于幾何不清晰度尺寸時，影像會被放大，而對比度則降低。（）68.如果信噪比不夠，即使增大膠片襯度，也不可能識別更小的細節(jié)影像。（）69.在MeV級高能射線照相中，能量越高，則照射場尺寸越大。（）

70.就設備性能而言，在高能射線照相中照射場尺寸顯得十分重要，而焦點尺寸顯得較不重要。（）

71.密封鉛罐中的水位可用中子照相法測定。（）

72.在某一黑度條件下的膠片，其曝光量倒數(shù)的104，定義為膠片的感光速度（）73.根據(jù)美國核管理委員會（USNRC）規(guī)定，對于職業(yè)射線工作者來說，人體不同部位的照射劑量不得超過下列指標：全身-頭部、軀干、器官、眼睛、生殖腺等為5雷姆/年；手和前臂、腳和關節(jié)等為30雷姆/年；全身皮膚為75雷姆/年()74.美國ASTM E94的標準名稱是“射線照相檢驗的推薦操作方法”（）

75.日本JIS Z3104的標準名稱是“焊縫射線照相檢驗技術的標準評定方法”()76.射線照相的靈敏度由射線底片的對比度和清晰度兩個指標來確定（）77.｜△D｜≥｜△Dmin｜時，才能發(fā)現(xiàn)缺陷（）

73.對某一曝光曲線，應使用同一類型的膠片，但可更換不同的X射線機（）76.X射線的能量取決于射線管中電子飛向陽極的速度()77.伽瑪射線的強度取決于射源的比活度（）

78.硬X射線比軟X射線的波長短、傳播速度快，所以硬X射線具有更高的能量（）79.像質(zhì)計是用來鑒定照相技術和膠片處理質(zhì)量的器件()80.當固有不清晰度不大于幾何模糊度時，只要改善幾何模糊度，仍可得到高清晰度的底片（）

81.射線透過工件的兩個不同厚度區(qū)域的強度比值稱為工件對比度()82.連續(xù)X射線透過工件后，雖然強度減弱了，但線質(zhì)不變（）83.高能X射線比低能X射線更易于使膠片感光（）84.散射線影響底片的對比度和清晰度，從而降低靈敏度()85.37x1011Bq的銥192源經(jīng)過五個半衰期后，僅剩115.625x109Bq，由于能量太低，不能繼續(xù)使用（）

86.個人劑量筆的讀數(shù)是射線照射量的累積值()87.伽瑪射線透過物質(zhì)的兩個半值層后，其強度僅為透過前的四分之一()88.在X射線管中，高速運動的電子與靶相撞，能夠產(chǎn)生連續(xù)X射線，在特定的情況下也能產(chǎn)生特征X射線()89.含氫元素的物質(zhì)對中子射線有較強的衰減作用()94.如果X射線和伽瑪射線的波長相同，那么它們具有相同的性質(zhì)()95.所謂對比度，就是指一張射線底片上兩個相鄰區(qū)域之間的黑度差()96.不同感光速度的工業(yè)X光膠片的基本區(qū)別在于溴化銀的顆粒大小()97.對于管電壓低于150KV的X射線，鉛箔增感屏不能起到增感作用()100.在射線檢測中應用的X射線、伽瑪射線、中子射線，從本質(zhì)上來說都屬于電磁波（）

101.康普頓效應中，散射光子的波長大于入射光子的波長()102.透過物體后的射線，其能量減弱到入射能量一半時的物體厚度稱為半值層（）103.射線強度的衰減公式：I=I0e-Ex，適用于單色、寬束X射線或伽瑪射線（）104.新的或長期停止使用的X光機，使用前要對X光管進行“訓練”，其目的是為了提高X光管的真空度()105.在無損檢測中應用的伽瑪射源除了最常用的鈷60和銥192、銫137以外，還有75Se、169Yb、170Tm和153Gd()106.鈷60的半衰期是5.3年()107.精確地說，銥192的半衰期是74.4天()108.75Se（硒75）的半衰期是118天()109.169Yb（鐿169）的半衰期是31天()110.170Tm（銩170）的半衰期是129天()111.153Gd（釓153）的半衰期是242天()112.銫137的半衰期是33年()113.照射量單位“庫侖/千克”只適用于Χ射線或γ射線。不能用于其它射線。（）114.當X或γ射線源移去以后工件不再受輻射作用，但工件本身仍殘留極低的輻射。（）

115.被照體離焦點越近，Ug值越小（）

116.管電壓一定，曝光量=管電流×曝光時間（）

117.X射線穿透相同厚度的物體時,衰減系數(shù)μ愈大,穿透率I/I0愈大,X射線的波長愈長μ愈小,穿透物質(zhì)的原子序數(shù)愈大μ愈小,穿透物質(zhì)的密度愈高μ愈小()118.對于相同物體,易于透過的X射線其線質(zhì)軟,硬X射線比軟X射線的波長長,衰減系數(shù)大,半值層薄()193.對不同種類的放射性同位素，高活度的同位素總是比低活度的同位素具有更高的輻射水平。（）

194.放射性同位素的原子核數(shù)目減少到原來一半所需要的時間稱作半衰期。（）195.在某種材料中，入射射線強度減少到原來一半所需要經(jīng)過的距離稱作該射線對該材料的半值層。（）

196.高速電子與靶原子的軌道電子相撞發(fā)出X射線，這一過程稱作韌致輻射。（）197.一能量為300KeV的光子與原子相互作用,使一軌道電子脫離軌道,且具有50KeV動能飛出,則新光子的能量是250KeV()198.含氫元素的物質(zhì)對中子射線具有較強的衰減作用。（）

199.照射量只反映X或γ射線對空氣中的電離本領，而吸收劑量可反映不同性質(zhì)的物質(zhì)吸收輻射能量的程度。（）

200.從X射線或γ射線防護角度上講，可認為在數(shù)值上1倫琴相當于1拉德,相當于1雷姆。（）

201.X射線機采用高頻電路的優(yōu)點能將幾乎所有的電源瞬變和干擾消除，KV，mA讀數(shù)精度較高。（）

202.實驗表明，膠片顆粒性對平板孔型像質(zhì)計中小孔影象顯示的影響，要比對線型像質(zhì)計中金屬絲影像的顯示影響小得多（）

203.新購置或放置較久的X光機使用前要進行“訓練”的主要原因是為了吸收射線管中的殘留氣體（）

204.X射線照相時應盡量采用金屬增感屏，因為它與熒光增感屏相比，具有更高的增感系數(shù)（）

205.在X射線機窗口前裝濾光片的目的是吸收軟X射線、增大寬容度和減少散射線對底片的影響（）

206.安裝陽極靶時，通常要傾斜一定角度，使該實際焦點小，而有效焦點大（）207.新購置或擱置較長時間不用的X光機使用前要進行開機“訓練”，這是為了排除機頭絕緣油中的氣泡（）

208.像質(zhì)計是用來鑒定照相技術和膠片處理質(zhì)量的器件（）209.新購置或長期停用的X光機使用前要進行“訓練”，這是為了排除冷卻油中的氣泡，提高冷卻油的絕緣性能（）

210.在X射線實時成像中，射線照射工件傳到熒光屏上所產(chǎn)生的顯示與射線強度有關，而與曝光時間無關。（）

211.對不同型式的像質(zhì)計來說，只要采用相同的透照技術，像質(zhì)計靈敏度的數(shù)值一般都相同。（）

212.在實際使用的焦距范圍（100～1000mm）內(nèi)，焦距的變化對散射比的數(shù)值幾乎沒有影響。（）

213.只要底片達到特定的黑度值(如最佳黑度值)，而不管μp/1+n如何，底片上可識別的象質(zhì)計金屬絲直徑必然最小。()214.采用熒光增感時，由于“互易定律失效”，不能根據(jù)曝光因子公式修正透照參數(shù)。（）

215.濾板厚度改變時所繪制的Χ射線膠片特性曲線形狀和位置均會改變。（）216.透照有加強高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指能保證焊縫部位和母材部位得到相同透度計靈敏顯示的黑度值（）

217.用2，5，8，18和31MeV這些高能Χ射線透照大厚度工件時，可以達到的探傷靈敏度幾乎相同。（）

218.使用γ射線或高能Χ射線透照厚工件時，膠片類型和膠片黑度的選擇十分重要。（）

219.采用不同的透照方法能獲得相同的金屬絲像質(zhì)計靈敏度，但不一定能給出相同的裂紋檢出靈敏度。（）220.采用換算的方法，可將某種材料制作的像質(zhì)計用于不同吸收系數(shù)的材料透照時的像質(zhì)評價。（）221.使用襯度較低的射線膠片，必要時采用單面乳劑膠片，可增大透照厚度寬容度。（）

222.實驗證明，焊縫余高和母材區(qū)的散射比是不一致的，一般來說，余高中心部位的散射比大于母材區(qū)的散射比（）223.熒光增感屏或金屬熒光增感屏，由于熒光亮度產(chǎn)生的感光作用與接受的射線照相量率的大小是不成正比的，因此照射量率低的時候，曝光時間比通常計算所得的要高，這種現(xiàn)象稱之謂“反比定律失效”（）

224.高能Χ射線發(fā)生器能產(chǎn)生能量值很高的射線,因此能檢測大厚度的工件,但它的缺點是焦點較大,能量轉換效率較低()225.用強光觀察高黑度的底片時，由于界限識別對比度△Dmin增大，從而擴大了可識別的黑度范圍（）

226.為了提高射線照相的對比度，在照相膠片選定以后，選用的射線能量越低越好()227.缺陷沿射線方向的尺寸與底片上缺陷影像的大小成正比()228.透照某工件，采用金屬熒光增感，管電流5mA，透照時間4分鐘，獲得底片黑度為1.8，若其他條件不變，把管電流改為10mA，透照時間改為2分鐘，底片黑度仍不變()229.當選用100KV-200KV的管電壓進行透照時，對鉛增感屏的增感系數(shù)是不變的()230.透照同一工件，鉛箔增感比熒光增感獲得的底片清晰度高而對比度低()231.要在一張射線探傷底片上同時顯示出材料厚度不等的影像，必須采用低電壓和熒光增感()232.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片直接放入定影液（）233.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片顯影時間縮短一分鐘后直接放入定影液（）

234.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片先在活水中至少沖洗2分鐘，然后放入定影液（）

235.防止底片產(chǎn)生水斑的方法是將濕底片快速干燥（）

236.防止底片產(chǎn)生水斑的方法是先將濕底片在潤濕液中浸

一、兩分鐘（）237.防止底片產(chǎn)生水斑的方法是使用新鮮的定影液（）238.防止底片產(chǎn)生水斑的方法是延長水洗時間（）239.未焊透和未熔合的主要區(qū)別是產(chǎn)生原因不同，因此缺陷的形狀和產(chǎn)生部位也不同（）

240.在底片上觀察透度計金屬絲時，應從粗絲開始向細絲方向（）241.鉛增感屏的剝落部位，在底片上的黑度大（）

242.射線照像質(zhì)量等級是根據(jù)射線源(能量),膠片和增感屏的不同組合來劃分的()243.對于γ射線探傷機，根據(jù)不同需要，放射源傳輸裝置的長度應盡可能減短，每次照相后，放射源必須能立即返回源容器并進入關閉狀態(tài)（）244.進行γ射線探傷作業(yè)時，必須考慮γ射線探傷機和被檢物體的距離、照射方向、時間和屏蔽條件，以保證作業(yè)人員的受照劑量低于年劑量限值，并應達到可以合理做到的盡可能低的水平（）

245.常見的金屬增感屏按金屬箔材料的不同分為如下幾類：鉛屏；鋼屏；銅屏；鉭屏；鎢屏()246.金屬增感屏是由金屬箔與襯紙緊密膠粘制成的()247.金屬增感屏的金屬箔是由鉛、鋼、銅、鉭或鎢等金屬分別軋制而成的()248.金屬增感屏襯紙的材料可以是紙質(zhì)的、塑料的或其他適宜的非金屬材料()249.金屬增感屏（金屬箔或襯紙）的表面應光滑清潔和平整()250.金屬箔的表面不應有肉眼可辨的孔洞、劃痕、擦傷、皺紋、油污、氧化等()251.金屬增感屏的表面質(zhì)量可用肉眼在白光下進行檢查()252.晶粒較粗大的材料，在一定的射線透照條件下，射線底片上可能產(chǎn)生衍射斑紋()253.用偏心內(nèi)透照法100%檢驗容器的環(huán)焊縫，當焦距大于容器外半徑時，為了防止漏檢，應將搭接標記放在膠片側()254.環(huán)焊縫中橫向缺陷的檢出率，在焦距相同的情況下，內(nèi)照法優(yōu)于外照法()255.一般來說，曝光量只有選擇在膠片特性曲線的直線部分才易于發(fā)現(xiàn)缺陷()256.透照容器環(huán)焊縫時選擇焦距的原則是：采用內(nèi)透照法應優(yōu)先考慮厚度比K和失真角θ；采用外透照法應優(yōu)先考慮幾何不清晰度Ug（）

257.要在一張底片上顯示出母材不等厚的焊縫影像，必須采用低電壓和熒光增感（）258.為了獲得高襯度和高清晰度的射線圖像，在選擇X射線機時，焦點的有效面積應盡可能大（）

259.當設計低壓X射線管時，為了考慮到濾波、效率、散熱等因素，X射線管的窗口一般采用銅合金制成（）

260.采用中子照相法時，其曝光需要先經(jīng)過轉換屏轉換，然后再使用X射線膠片曝光()261.采用中子照相法時，其曝光方法是利用熒光增感屏+X射線膠片曝光（）

262.一般采用鈷60照射鋼材時，適用的檢查厚度范圍在270毫米以內(nèi)或其當量厚度（）

263.鈷60的半衰期為5.3年，如該放射源已存放三年，則透照時的曝光時間應增加約70%（）

264.銥192的半衰期為75天，若目前檢驗工件的最佳曝光時間為20分鐘，則經(jīng)過150天后，在相同的攝影條件下要達到同樣的黑度，曝光時間需要120分鐘（）265.假定管電壓和曝光時間一定，在焦距500毫米和管電流5毫安的情況下可得到曝光適宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，則應采用10毫安的管電流才能得到相同的曝光量（）

266.已知銥192源的放射性強度為10居里，在焦距400毫米時可得到正確的曝光量，若其他條件不變，把焦距增加到800毫米，則要求更換放射性強度為60居里的新源（）

267.對于管電壓和管電流都不變的某一曝光量，當焦距從1200毫米減少到800毫米時，其曝光時間將從原來的10分鐘縮短到4.4分鐘()268.已知銥192源在距離1米時的曝光時間為60分鐘，如果把曝光時間縮短為15分鐘，則需要將距離縮短到0.25米（）

269.在膠片特性曲線上連接給定兩點密度的直線的斜率稱為曝光范圍（）270.根據(jù)膠片特性曲線上的斜率可以判別膠片的密度（）271.通過增大焦距，可以起到降低底片襯度的作用（）272.利用儀表測量法可以測定X射線管的焦點（）

273.用鉛箔做增感屏時，若X射線管電壓太高，會產(chǎn)生磷光現(xiàn)象（）274.若僅從高清晰度的需要出發(fā)，焦距應盡可能長()275.在X射線管窗口處加裝濾光板可以使X射線強度均勻化（）

276.鉛的密度是11.4，鋼的密度是7.8，鉛的密度約是鋼的1.5倍，用220KV的X射線進行照相時，2.5mm厚的鉛吸收相當于30mm厚鋼的吸收，因此鉛的吸收是鋼的24倍（）277.使用鉛或鉛化銻高原子序數(shù)增感屏的目的是為了降低攝片的條件和降低對底片的要求（）

278.關于底片清晰度，它與焦點大小和物體至膠片的距離成反比（）279.粒度大的X射線膠片其照相的清晰度比粒度小的膠片差()280.強度一定的兩種同位素源，若其放射性比活度值不同，則對放射性比活度值較高的源來說，其半衰期比放射性比活度值低的源長（）

281.提高熒光屏觀察法（即時射線成像）靈敏度的主要困難是成本高和速度慢（）282.表達式：（毫安x時間）/距離平方，稱之為照相的對比度（）283.表達式：（毫安x時間）/距離平方，稱之為互易定律（）

284.在X射線管和膠片距離一半處放置一塊用高密度材料制成并鉆有小孔的板，這是用來測量軟化X射線的能量（）

285.在試樣周圍放置鉛板的目的是產(chǎn)生較短波長的X射線輻射（）286.X射線照相時使用的電壓值高或低，其襯度不變（）

287.膠片的增感因子在40-400KV之間的變化情況是隨著電壓增大，增感因子增大（）288.膠片的增感因子在40-400KV之間的變化情況是隨著電壓增大，增感因子變小（）289.如果熒光增感屏的種類一定，則感光速度主要取決于熒光物質(zhì)的顆粒度，顆粒越大，感光速度越慢（）

290.根據(jù)黑度D的定義，其數(shù)學表達式為：D=lg(L/L0)式中：L0-透過底片前的光強度；L-透過底片后的光強度（）

291.在膠片背面放一個“B”鉛字，曝光后沖洗出來的底片上出現(xiàn)該鉛字的影像，說明對背散射的防護適當（）

292.工件內(nèi)部如有一面積型缺陷，當該缺陷面與射線投照方向成90°夾角時，在底片上的影像最清晰（）

293.220KV的X射線對鋼和銅進行射線照相，兩者的厚度當量系數(shù)為1:1.4，若以12mm的銅板進行射線照相時的曝光條件對鋼進行射線照相，則該鋼板的厚度應為25mm（）294.當用觀片燈觀察底片時，為了獲得更直觀的效果，在曝光時采用不同方向攝取兩張底片的特殊照相方法，稱之為立體射線照相法()295.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據(jù)缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為深度定位視差法()296.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據(jù)缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為立體射線照相法（）

297.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據(jù)缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為空間投影法（）

298.定影液使用一段時間后，由于定影液中可溶解的銀鹽濃度增加，導致定影效果下降()299.定影液使用一段時間后，由于定影液成分被揮發(fā)，導致定影效果下降（）300.熒光增感屏經(jīng)常受到強光照射或紫外線照射后，會導致顏色改變和喪失一些光澤()301.熒光增感屏因為經(jīng)常受到強光照射或紫外線照射導致顏色改變和喪失一些光澤時，可以用弱射線照射使其恢復原有的狀態(tài)（）302.在制作膠片特性曲線時，如果增加顯影時間，會使膠片特性曲線變得更陡，并且向左移動()303.在制作膠片特性曲線時，如果增加顯影時間，會使膠片特性曲線變得更陡，并且向右移動（）

304.采用高KV值X射線照相法的特點是能獲得較高的對比度（）

305.采用高KV值X射線照相法的特點是適用于厚試樣或吸收系數(shù)大的試樣的照相()306.當采用高KV值X射線照相法時，幾乎所有的曝光均需要使用鉛箔增感屏()307.當采用熒光屏觀察法時，幾乎所有的曝光均需要使用鉛箔增感屏（）308.一般用于熒光屏觀察法的觀察窗口是用硼硅酸玻璃制成的（）309.一般用于熒光屏觀察法的觀察窗口是用光學玻璃制成的（）

310.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發(fā)生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為波長的變化不完全成比例（）

311.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發(fā)生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為管電壓和X射線設備的電壓波形會隨著負載發(fā)生變化()312.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發(fā)生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為電流在線性比率上才能改變（）

313.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發(fā)生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為散射線不能按比率變化()314.觀察底片時要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為底片高度曝光的原因造成的()315.觀察底片時要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為X射線強度太高的原因造成的()316.觀察底片時，要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為背散射的原因造成的()317.由于X射線在粗晶材料中可能發(fā)生衍射效應，因此散射的特殊表現(xiàn)形式是底片的襯度差()318.由于X射線在粗晶材料中可能發(fā)生衍射效應，因此散射的特殊表現(xiàn)形式是底片上出現(xiàn)斑點()319.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用熒光增感屏法()320.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒內(nèi)同時裝兩張相同的膠片重疊曝光()321.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒內(nèi)同時裝兩張具有不同感光速度的膠片重疊曝光()322.如果放射源的尺寸較大，為了獲得質(zhì)量較高的底片，可以考慮增大射源至膠片的距離()323.如果放射源的尺寸較大，為了獲得質(zhì)量較高的底片，可以考慮采用感光速度快的膠片()324.射線照相時，底片邊緣未經(jīng)直接曝光而出現(xiàn)黑度較高的區(qū)域，這是由于試件幾何形狀不規(guī)則引起的()325.射線照相時，底片邊緣未經(jīng)直接曝光而出現(xiàn)黑度較高的區(qū)域，這是由于鉛屏蔽引起的()326.裝在暗盒內(nèi)而未經(jīng)曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是膠片本身質(zhì)量有問題()327.裝在暗盒內(nèi)而未經(jīng)曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是受到宇宙射線曝光()328.裝在暗盒內(nèi)而未經(jīng)曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是暗盒邊緣處漏光()329.裝在暗盒內(nèi)而未經(jīng)曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是受到散射線照射()330.底片上產(chǎn)生樹枝狀影像的原因是顯影液攪拌不均勻()331.底片上產(chǎn)生樹枝狀影像的原因是裝拆膠片時摩擦產(chǎn)生靜電火花放電()332.使用透度計的目的是要知道X射線和γ射線的穿透特性的好壞()333.使用透度計的目的是要知道所透照的底片質(zhì)量好壞()334.線狀透度計和孔型透度計相比較，線狀透度計難以看得清()335.線狀透度計和孔型透度計相比較，孔型透度計容易看得清()336.工業(yè)射線檢測使用的膠片與一般膠片之間最大的差別是雙面涂乳劑()337.工業(yè)射線檢測使用的膠片與一般膠片之間最大的差別是單面涂乳劑()338.膠片經(jīng)曝光后產(chǎn)生的潛影能夠被肉眼觀察到()339.膠片經(jīng)曝光后產(chǎn)生的潛影在紅燈下能夠被肉眼觀察到()340.確定膠片密度和膠片速度的方法是利用特性曲線進行比較()341.確定膠片密度和膠片速度的方法是通過與一張已知速度的膠片進行比較()342.未經(jīng)射線曝光的膠片經(jīng)暗室處理后，發(fā)現(xiàn)底片上存在模糊的淡黑色，這稱之為膠片的本底化學灰霧度()343.鋼板厚度15毫米，雙面焊冠之和為5毫米的焊接件，在底片上能發(fā)現(xiàn)最小直徑為0.4毫米的鋼絲透度計，此時所達到的靈敏度即是約為2.7%()344.在進行焊縫射線照相時，線型透度計一般是放置在鋼板上面()345.在進行焊縫射線照相時，線型透度計一般是放置在焊縫上面()346.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以提高管電壓并使用熒光增感屏()347.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以降低管電壓并使用鉛箔增感屏()348.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以提高管電壓并使用鉛箔增感屏()349.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以降低管電壓并使用熒光增感屏()350.對顯影液添加補充液時，一般在添加的補充液量達到原來顯影液量的4倍時，該顯影液應該報廢，而不應無限制地添加補充液()351.對顯影液添加補充液時，一般在添加的補充液量達到原來顯影液量的7倍時，該顯影液應該報廢，而不應無限制地添加補充液()352.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是裂紋()353.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）()354.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是夾雜()355.底片上焊縫中心部位出現(xiàn)的長度和寬度不等的連續(xù)或間斷的長條形黑色影像很可能是疏松()高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編 問答題

1.射線可分為哪幾類，對于工業(yè)探傷的射線有哪幾種？ 答：射線可分為以下幾類：

(1)Χ射線和γ射線。它們都是波長很短的電磁波，按波粒二相性觀點，也可以看作是能量很高的光子流。Χ射線是高速運動的電子撞擊金屬產(chǎn)生的；γ射線是放射性同位素在γ衰變過程中從原子核內(nèi)發(fā)出的。

(2)電子射線和β射線。它們都是高速電子流。電子射線是通過加速器加速電子得到的；β射線是放射性同位素在β衰變過程中從原子核內(nèi)發(fā)出的。

(3)質(zhì)子射線、氘核射線和α射線。它們都是帶正電的粒子流，質(zhì)子是普通氫原子核1H1；氘核是氫同位素氘2H1的原子核，由1個質(zhì)子與1個中子構成；α粒子是氫原子核4He2，由2個質(zhì)子與2個中子構成。質(zhì)子射線與氘核射線可利用回旋加速器或靜電加速器得到，α射線是放射性同位素在α衰變過程中從原子核內(nèi)發(fā)出的。(4)中子射線。它是高速中子流，可從原子反應堆中獲得，也可通過加速器獲得，或從放射性同位素-252中獲得。

目前用于探傷的主要是Χ射線、γ射線和中子射線。其中Χ射線和γ射線廣泛用于工業(yè)探傷，中子射線用于特種檢驗。

2.什么叫連續(xù)Χ射線的有效能量？為什么連續(xù)Χ射線穿透物質(zhì)后有效能量會增大？答：如果某一單能射線的吸收系數(shù)與連續(xù)Χ射線在特定厚度范圍內(nèi)平均吸收系數(shù)相等，便可用此單能射線的能量來表示連續(xù)Χ射線的平均能量，稱作有效能量。連續(xù)Χ射線包含有能量不同的光子，在穿透物質(zhì)過程中，能量較低的光子較容易被物質(zhì)吸收，因此，在射線透過物質(zhì)后，不同能量射線所占的強度比率發(fā)生變化，低能量射線所占比率減少，從而使透過射線的平均能量或有效能量增大。3.放射性同位素衰變過程中的輻射有哪幾種形式？答：放射性同位素的衰變幅射主要有以下幾種形式：(1)僅幅射α粒子,(2)僅幅射β粒子,(3)既幅射α粒子又幅射γ射線,(4)既幅射β粒子又幅射γ射線

4.射線防護有哪幾種基本方法？每種防護方法的基本原理是什么？

[提示]：射線防護方法有三種，即距離防護、時間防護、屏蔽防護，距離防護--射線劑量率與離射線源的距離平方成反比，因此盡量在距離射線源遠的地方從事射線探傷工作；時間防護--人體接收射線劑量與時間成正比，盡量縮短接收時間以減少對人體的危害；屏蔽防護--射線穿過屏蔽材料時，其能量會衰減，盡量在有安全屏蔽的條件下進行工作

5.影響照相質(zhì)量的散射線是如何產(chǎn)生的？答：射線穿過物質(zhì)時，與物質(zhì)發(fā)生各種相互作用，其結果是除了一部分直接前進的透射線外，還有向各個方向射出的散亂射線以及光電子，反跳電子等。光電子和反跳電子穿透力極弱，大多數(shù)被物體自身吸收，即使射到物體外，也很容易被空氣吸收，對探傷質(zhì)量不產(chǎn)生影響。散亂射線中的一部分是由光電效應引發(fā)的熒光X射線，這部分射線能量遠小于透射線。例如鐵的Kβ1熒光X射線能量約7keV，很容易被物體和增感屏吸收，對探傷質(zhì)量也不產(chǎn)生什么影響。因此影響探傷質(zhì)量的散射線主要是由康普頓效應和湯姆遜效應產(chǎn)生的，在射線能量很低（小于50keV）范圍內(nèi)，散射線主要由于湯姆遜效應產(chǎn)生，在射線能量較高范圍內(nèi)，散射線主要由康普頓效應產(chǎn)生。

6.簡述Χ射線管的結構和各部分作用 答：Χ射線管 陰極 燈絲：發(fā)射電子 陰極頭：燈絲支座，聚焦電子

陽極 靶：遏制電子，發(fā)出X射線 陽極體：支承靶，傳遞靶熱量

陽極罩：吸收二次電子，減少管壁電荷，提高工作穩(wěn)定性 管殼 連接兩極，保持真空度

7.繪出能工作的X射線機的最基本電路圖,并標明各部分名稱 答:如右圖所示。

8.用于X射線檢測用的X射線管有哪些類型和種類？答：就焦點大小區(qū)分，可分為大焦點、小焦點和微焦點；就結構形式區(qū)分有玻璃殼管、金屬陶瓷管和波紋陶瓷管；就輻射形式區(qū)分有定向曝光和周向曝光（有平靶和錐靶兩種），軟X射線管，棒陽極等 9.試比較射線檢測與超音波檢測兩種方法的適用范圍和局限性

[提示]：應從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及安全防護和經(jīng)濟性等方面進行比較

10.何謂互易定律失效？它對射線照相有何影響？答：互易定律是光化學反應的一條定律，該定律指出，決定光化學反應產(chǎn)物質(zhì)量的條件，只與總曝光量相關，即取決于照度和時間的乘積，而與這兩個因素的單獨作用無關，由于它指出了時間和照度的互易關系，所以稱為互易定律，如果與這一定律結論有偏離，則稱為互易定律失效。如果不考慮光解銀對感光乳劑顯影的引發(fā)作用的差異，互易定律可引伸為顯影黑度只與總曝光量有關，而與照度和時間分別無關。在射線照相中，當采用鉛箔增感和無增感時，遵守互易定律。設產(chǎn)生一定顯影黑度的曝光量E=I·t，當射線強度I和時間t相應變化時，只要兩者乘積E值不變，底片黑度不變。當采用熒光增感時，互易定律將會失效。I與t發(fā)生變化時，盡管I與t的乘積不變，底片黑度仍會改變。用公式描述保證底片黑度不變的前提下，曝光量E與射線強度I，時間t的關系，其形式為E=I·tp（p≠1）。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照參數(shù)的基礎，如果互易定律失效，則不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照參數(shù)，這將使透照參數(shù)的選擇復雜化。

11.何謂幾何不清晰度？其主要影響因素有哪些？答：由于射線源都具有一定尺寸，所以照相時工件輪廓或缺陷邊緣都會在底片上產(chǎn)生半影。這個半影寬度便是幾何不清晰度Ug,缺陷的幾何不清晰度Ug值計算公式為：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至膠片距離。技術標準中規(guī)定的幾何不清晰度，通常是指透照中心部位的最大幾何不清晰度，計算公式為：Ugmax=dL2/L1 ,式中：L1--射線至工件表面距離；L2--工件表面至膠片距離；d--射源公稱有效焦點尺寸。由以上公式可知，Ug值與射源尺寸和工件厚度或工件表面至膠片距離成正比，與射源至工件表面距離或焦距成反比。

12.△D=(-0.434μγσ△x)/(1+n)是計算什么的公式？從這個公式中可以說明什么問題？答：這是計算缺陷（或金屬絲透度計的金屬絲直徑）對比度的完整公式。從這個公式中可以看出影響射線檢驗靈敏度的主要因素，如：吸收系數(shù)μ越大，△D就越大，為此應選用盡量低的管電壓；膠片襯度γ越大，△D也越大，為此應選用襯度（對比度）高的膠片和相應的暗室處理條件；幾何修正系數(shù)σ越大，△D也越大，為此應選用焦點小的射線機和合適的焦距，并盡量使膠片與零件緊貼；△x越大（即缺陷沿射線方向尺寸越大），△D也越大；散射比n越大，則△D就越小，因此應設法降低散射線的影響，以將n降低到最低限度。13.射線輻射防護檢測的目的和種類有哪些？ 答：輻射檢測的目的是為了控制和判定電離輻射對人體的照射劑量，從而估計照射對人體的影響，以便采取更完善的輻射防護措施，防患于未然，確保放射性工作人員及周圍群眾的健康和安全，它包括場所輻射監(jiān)測和個人劑量監(jiān)測。

14.無損檢測中常用的能量范圍內(nèi)的伽瑪射線衰減是通過哪種方式產(chǎn)生的？答：光電效應和康普頓散射

15.產(chǎn)生X射線的必備條件是什么？

答：要有一定數(shù)量的電子；這些電子沿一定方向作高速運動；在電子前進的路徑上，有阻止電子運動的障礙物

16.X、γ射線具有哪些主要特征？答：直線傳播的電磁波，速度為光速；不受電磁場的影響；能使膠片感光；能使物質(zhì)電離；能透過可見光不能透過的物質(zhì)；具有反射、折射、衍射、干涉等波的性質(zhì)；有生物效應

17.敘述射線穿過物質(zhì)發(fā)生的三個效應與入射線能量之間的關系。答：低能射線以光電效應為主；中等能量射線以康普頓效應為優(yōu)勢，以光電效應結束；能量大于1.022MeV者，以電子對生成效應為主 18.何謂中子射線？

答：中子射線即中子流，中子是原子核的基本粒子之一，在放射性物質(zhì)裂變時，有時會放射出中子而形成中子射線

19.對于實用的X射線，為了要用半值層公式，應以什么波長為計算半值層厚度的基準？

答：在管電壓一定時，X射線強度最大所對應的波長為計算基準 20.寫出窄束射線穿過物質(zhì)的衰減定律公式，并注明各符號的含義。

答：I=I0e-μd 式中：I0--沒有穿透物質(zhì)某點的射線強度（又稱為初始射線強度）；I--穿過厚度為d的試件某點后的射線強度；d--射線穿透試件的厚度；μ--線性減弱系數(shù)或稱衰減系數(shù)

21.何謂放射性同位素？答：在元素周期表上占據(jù)相同位置，具有不穩(wěn)定性的元素，它能自發(fā)蛻變成另一種原子核

22.X射線的能量取決于什么？答：X射線的能量大小取決于管電壓 23.γ射線的能量取決于什么？答：γ射線的能量大小取決于射線源放射性同位素的種類

24.X光管陽極靶材料由鎢換成鉬會產(chǎn)生什么結果？答：提高發(fā)射X射線的效率；耐熱性好

25.繪圖說明膠片特性曲線由哪五部分組成？底片黑度應控制在膠片特性曲線的哪個區(qū)域？為什么要控制在這個區(qū)域？答：AB-遲鈍區(qū)；BC-感光不足區(qū)；CD-正常（適量）感光區(qū)；DE-過感區(qū)；EF-負感區(qū)。底片黑度應限制在正常感光區(qū)內(nèi)，因為在這個區(qū)域內(nèi)底片的對比度大（曝光量有小的差異就能產(chǎn)生較大的黑度差），靈敏度高。26.試述高能X射線的特殊性質(zhì)。答：穿透力極強，可達500mm；射線焦點小；能量轉換高；散射線少，清晰度高；透照幅度寬。27.X射線管中為什么選用鎢靶？

答：高速運動的電子撞擊陽極靶時，約有1-2%的動能轉換為X射線，絕大部分均轉化為熱能，使靶面溫度升高，同時X射線的強度與陽極靶的原子序數(shù)有關，所以一般工業(yè)用X射線管的陽極靶選用原子序數(shù)大、耐高溫的鎢來制造

28.散亂射線是怎樣產(chǎn)生的？它對底片有何影響？透照時如何遮擋？答：散亂射線是由射線與物質(zhì)作用而產(chǎn)生的，如果來自工件內(nèi)部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、墻壁上等，均會產(chǎn)生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側壁散亂射線）；散亂射線使底片產(chǎn)生附加黑度，嚴重時全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度；遮擋的方法有：采用限光器（準直器）或采用鉛板在射線源側遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響；采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響；透照較厚工件時，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線；被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關的雜物以避免側壁散亂射線影響。

29.高能X射線設備的主要原理是什么？答：利用超高壓、強磁場、微波等技術對射線管的電子進行加速，從而獲得能量強大的電子束，轟擊靶面而獲得高能X射線 30.X射線管焦點的尺寸大小與什么有關？

答：主要取決于X射線管陰極燈絲的形狀和大小，使用的管電壓和管電流對焦點大小也有一定影響。

31.周向輻射X射線管有哪兩種陽極靶？答：平面陽極和錐體陽極兩種形式 32.用于狹窄部位攝片的X射線管陽極是什么樣的？答：棒狀陽極

33.X射線熒光屏法的優(yōu)缺點是什么？答：優(yōu)點是：檢驗速度快，檢驗結果可即時性觀察；操作簡單，檢測成本低；無膠片處理過程；可改變照射角度來全面觀察工件內(nèi)部質(zhì)量。缺點是：檢驗結果較難做全面的永久性記錄；工作人員容易疲勞；檢驗靈敏度較低；受穿透力限制，一般只適用于較薄的工件。

34.輻射場限制區(qū)是如何測量的？答：X射線機的輻射場尺寸是指從X射線管焦點上發(fā)出的X射線在規(guī)定距離d處，垂直于輸出窗軸線的平面上，X射線輻射場的大小可用曝光拍片法測量，膠片取得足夠大，可將輻射場的限制區(qū)拍攝下來，以底片最大黑度降低20%構成的邊界為輻射場的尺寸

35.伽瑪射線探傷裝置主要由哪四部分構成？答：射源、保護罐（用鉛或貧化鈾制成）、操作機構和支撐裝置

36.中子探傷設備包括哪幾部分？答：中子源、慢化劑、準直器和像探測器

37.射線防護的基本原則是什么？答：采取一些措施，把射線工作人員以及周圍其他工作人員所受的射線劑量降低到最高允許劑量（也叫安全劑量）以下，確保人身安全。38.工業(yè)電視應配什么樣的X射線機？包括哪些主要部件？答：應配備小焦點、恒電位的X射線機，包括的部件有圖像增強器、攝像管及電視顯示器，最新的工業(yè)電視則采用了CCD(電荷耦合器件)或CMOS來接受X射線并轉換成電信號送入電腦進行信號處理及重構圖像，在電腦屏幕上顯示射線透視的結果

39.什么是軟射線技術？答：使用軟X射線管，產(chǎn)生的X射線束直接從鈹窗口射出，避免了普通X射線管的固有濾波，能基本保持原有波長且能量較低的X射線，稱為軟X射線，利用其進行透照的技術，即是軟射線技術，多用于人體軟組織、輕金屬和非金屬的射線檢測

40.選購X光機時，應考慮哪些條件？答：應考慮以下條件：①首先要選擇穿透能力能滿足工作厚度的要求；②能量相同時，盡量選小焦點的；③要考慮工作量的大小，連續(xù)生產(chǎn)還是斷續(xù)生產(chǎn)；④要考慮工件的材質(zhì)和形狀，即是有色金屬還是重金屬，軸類、板材還是筒類等去選擇相應的X射線探傷機種。

41.X射線機的常見故障有哪些？答：常見故障有：①X 射線管松動；②保險絲溶斷；③電流表沒指示或指示數(shù)很小；④電纜斷線；⑤自耦變壓器老化、高壓指數(shù)達不到額定值；⑥發(fā)生器保護罩漏油，高壓跳火；⑦X射線管失效；⑧陽極過熱，毫安表針擺動較嚴重；⑨馬達不轉，發(fā)生器局部發(fā)熱；⑩X射線管燈絲預熱時間不夠，而使燈絲老化損壞。42.絕緣油絕緣強度低劣時有何現(xiàn)象？

答：絕緣油絕緣強度低時，送高壓后，電流值不規(guī)則的波動，一般不至達到跳閘程度。43.什么是絕緣油的絕緣強度？答：油樣在油杯內(nèi)2.5mm間隙時的擊穿電壓的多次平均值，就是該油的絕緣強度。

44.X射線機要求什么樣的絕緣油，有哪些具體要求？

答：X射線機多用45#變壓器油、絕緣強度要在50kv以上，還要求有燃點高、凝固點低、揮發(fā)性低、粘度適中等。

45.經(jīng)常熔斷電源保險絲的故障原因可能有哪些?答:X射線管真空度不良,絕緣油里有氣泡或絕緣強度降低,高壓電路元件損壞,造成對地放電或短路,調(diào)壓器等低壓電路元件絕緣降低,造成對地短路,電源接錯等

46.高壓可接通,但無管電流的故障原因可能有哪些?答:X射線管或高壓整流管燈絲斷或接觸不良,高壓變壓器斷線或接觸不良,高壓電纜與插座接觸不良,毫安表損壞無指示,毫安調(diào)節(jié)器斷路等

47.試述底片影象顆粒度及影響因素答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時在感覺上產(chǎn)生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由于影像不均勻引起的透射光強變化，其測定結果稱為顆粒度。由于顆粒大小的分布是隨機的，所以顆粒度一般是采用均方根離差σ來度量。目前較通用的方法是用直徑24μm的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重迭生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念，影像顆粒大小取決于以下因素：①膠片鹵化銀粒度；②曝光光子能量；③顯影條件。48.試推導射線照相主因?qū)Ρ榷龋ㄎ锛Ρ榷龋┑谋磉_式

答：已知寬束射線透過厚度為T的試件,其透過射線強度Ip=(1+n)Ioe-μT--(1),當試件中某一局部區(qū)域厚度有變化,射線穿過的厚度差為△T,該區(qū)域透過射線的強度也會發(fā)生變化,其強度增量為△I,則有：

△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1)--(2),(2)÷(1)得： △I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展為級數(shù)

eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！??+(μ△T)n/n！??--(4),近似取級數(shù)前兩項代入(3),得：

△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n)--(5)49.寫出透照厚度差為△T的平板底片對比度公式和象質(zhì)計金屬絲底片對比度公式，說明公式中各符號的含義，并指出兩個公式的差異 答：厚度差為△T的平板底片對比度公式：△D=-0.434μpγ△T/(1+n)--(1)象質(zhì)計金屬絲底片對比度公式：△D=-0.434μpγσ·d/(1+n)--(2),式中：μp--考慮膠片速度系數(shù)的射線吸收系數(shù)；γ--膠片反差系數(shù)；σ--幾何修正系數(shù)；△T--平板透照厚度差；d--象質(zhì)計金屬絲直徑；n--散射比。

兩個公式的差別在于幾何修正系數(shù)σ，由于透度計金屬絲直徑d遠小于焦點尺寸，在一定透照幾何條件下，焦點尺寸會影響金屬絲影像對比度，所以公式(2)引入σ對底片對比度進行修正。當缺陷尺寸大于焦點尺寸時，焦點尺寸對底片對比度的影響可忽略不計，所以公式(1)中，沒有幾何修正系數(shù)σ

50.什么是幾何修正系數(shù)，寫出其計算式并說明其實用意義

答：幾何修正系數(shù)σ是考慮射源焦點尺寸在一定的透照幾何條件下,會對小缺陷影像對比度產(chǎn)生影響而提出的,其公式是按透度計金屬絲的情況推導的。對金屬絲透度計按左圖中表示的情況進行透照,到達膠片上P點的射線將通過金屬絲截面的abcd部分,近似認為射線通過的是a1b1c1d1部分,并認為在焦點尺寸f范圍內(nèi)射線強度無變化。

設金屬絲直徑為d,金屬絲截面圓為O,在距圓心x的一點上,射線穿過金屬絲b2d2兩點，設其穿透厚度為d“,則有 d”=(d2-4x2)1/2 連接膠片上P點與焦點兩端,設兩直線與以O為原點的直線的橫軸分別交于x1和x2,則x1和x2之間的距離d'可用下式表示：d'=f·l/L,式中：l--金屬絲中心至膠片距離；L--焦點至膠片距離。

底片上P點所產(chǎn)生的黑度差△D是由于焦點上各點發(fā)出的射線穿過a1b1c1d1金屬絲截面,強度減小而產(chǎn)生的,而焦點上各點發(fā)出的射線穿過金屬絲的厚度不一樣,所以穿透厚度d“是一個變量,設dm為d”的平均值,則有：

當d'＜d時,積分上下限為X1=-d'/2，X2= d'/2代入,得：d“m＝{[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}·(d/2)

當d'≥d時,積分上下限為X1=-d/2，X2= d/2代入,得：d”m=(πd/4)(d'/d)-1,修正系數(shù)σ= d"m/d，所以有：

d'＜d：σ=(1/2){[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)} d'≥d：σ=(π/4)(d'/d)-1 σ值隨d'/d變化情況見圖b,由圖可見：當d'/d接近1時,σ值會急劇下降,也意味著小缺陷的對比度會隨之減小,在實際透照中,為保證小缺陷的對比度,應考慮采用d'/d≤0.5,σ≈1的幾何布置,此時焦距L的計算公式推導如下：

已知：d'/d≤0.5,則d'≤0.5d,又d'=f·l/L,∴f·l/L≤0.5d,則L≥2fl/d,式中：L-焦距；f-焦點尺寸；l-透度計至膠片距離；d-要求能夠識別的金屬絲直徑

51.固有不清晰度大小與哪些因素有關？答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響：(1)射線的質(zhì)。透照射線的光子能量越高，激發(fā)的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。

(2)增感屏。據(jù)文獻報道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會引起固有不清晰度增大；在γ射線和高能量Χ射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。

(3)屏與膠片貼緊程度。透照時，如暗盒內(nèi)增感屏和膠片貼合不緊，會使固有不清晰度增大。為改善屏與膠片貼合情況，提出使用一種真空暗盒。固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關，與暗室處理條件無關。52.實際照相中，底片上各點的Ug值是否變化？有何規(guī)律？

答：實際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡化計算，便于應用，有關技術標準僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標。對不同部位Ug值的變化忽略不計。底片上不同部位的Ug值變化規(guī)律如下：

(1)焦點尺寸變化引起Ug值變化，由于Χ射線管的結構原因，沿射線管軸向不同位置焦點投影尺寸是變化的。陽極側焦點小，陰極側焦點大。因此底片上偏向陽極一側的部位Ug值小，偏向陰極一側的部位Ug值大。

(2)L2/L1變化引起Ug值變化，透照縱縫時，被檢區(qū)域各點的L2/L1值是定值，Ug值不發(fā)生變化。但在透照環(huán)縫時，各點的L2/L1值是變化的，因此Ug值也發(fā)生變化。例如，環(huán)縫外透法和F≠R的環(huán)縫內(nèi)透法，端部的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也會增大。53.試述Ug與Ui的關系以及對照相質(zhì)量的影響 答：可簡要歸納為以下幾點：(1)射線照相中，通常主要考慮的是幾何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛應用的，表達U，Ug，Ui的關系式是：U2=Ug2+Ui2(2)由于U是Ug和Ui的綜合結果，所以在Ug值已小于Ui值的情況下，再進一步減小Ug值，以期望減小U，其效果是不顯著的，從而是沒有意義的。(3)在Χ射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug。

(4)在60Co，137Cs及192Irγ射線照相中，Ui值較大，對照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過Ui值。54.透照有焊冠的焊縫應注意哪些事項？

答：（1）由于焊縫焊冠的存在，底片上焊縫部位黑度D1總是小于母材部位黑度D2，照相時應注意保證D1、D2均在標準允許的黑度范圍內(nèi)。（2）由于底片對比度△D隨黑度D的增加而增大，而識別界限對比度△Dmin也隨黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊縫時，通過控制適當?shù)暮缚p部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊縫部位能識別的透度計線徑相等，此黑度稱為有焊冠焊縫透照的最佳黑度。（3）底片對比度隨射線有效能量的降低而增大，但另一方面，射線有效能量的降低會使焊縫部位的透射線I1與母材部位的透射線I2的比值大大減小，從而使母材部位的散射線對焊縫部位的影響更嚴重，其結果是降低了對比度，因此，透照有焊冠焊縫時，焊縫部位的對比度不是單純地隨射線能量的降低而增大，而是在某一線質(zhì)時，焊縫部位的底片對比度達到最大值。此線質(zhì)稱為有焊冠焊縫透照的最佳線質(zhì)。

55.指出小口徑管對接焊縫射線照相缺陷檢出的不利因素，并提出改進措施。答：小口徑管焊縫射線照相采用雙壁雙影法透照，對缺陷檢出的不利因素和改進措施有以下幾點：(1)雙壁雙影法透照時，由于射源側焊縫比膠片側焊縫離開膠片的距離相差一個管子直徑，故射線源尺寸的幾何影響較大，使幾何模糊度增加，小缺陷對比度降低，為減小射源尺寸對幾何模糊度和對比度的影響，可選擇焦點尺寸小的射線源，適當增大焦距。(2)透照小口徑管時射線的穿透厚度自中心向兩端變化很大，易導致底片上中心部位黑度過大，邊緣部位黑度過小，為減少被檢區(qū)域不同部位的黑度差，宜適當提高射線能量，采用“高電壓，短時間”的透照工藝。(3)由于管子直徑較小，散射線引起“邊蝕”效應比較嚴重。相應的措施是在射線機窗口處加濾板，或采用鉛罩屏蔽焊縫以外部分，以減少“邊蝕”。(4)雙壁雙影透照時，焊縫被傾斜投影到膠片上，缺陷影像會發(fā)生畸變。為減少畸變，應控制透照角度和橢圓開口間距，間距一般為3～10mm，最大不超過15mm。

56.試述編寫射線檢測程序書所應包含的內(nèi)容？答：(1)工藝適用范圍(試件種類、焊接方法和類型、厚度等)。(2)工藝編制依據(jù)(有關規(guī)程、規(guī)范、標準、設計規(guī)定等)。(3)對探傷人員要求(資格、工作經(jīng)歷、學歷、視力等)。(4)設備器材選擇(射線機、膠片、增感屏、透度計、暗盒、鉛字等)。(5)對工件要求(工序、探傷時機、工件表面狀況)。(6)探傷技術要求（質(zhì)量等級、比例、部位、合格級別)。(7)透照方法(源-膠片相對位置、焦距、劃線長度、編號方法、透度計、鉛字擺放、散射線屏蔽等)。(8)曝光參數(shù)(管電壓、管電流、曝光時間等)。(9)暗室處理(配方、程序、條件、要求等)。(10)底片評定(像質(zhì)鑒定、級別評定、返修規(guī)定等)。(11)記錄報告(種類、內(nèi)容、簽證、存檔及發(fā)送規(guī)定等)。(12)安全管理規(guī)定。

57.散亂射線是怎樣產(chǎn)生的？它對底片有何影響？透照時如何遮擋？

答：散亂射線是由射線與物質(zhì)作用而產(chǎn)生的，如果來自工件內(nèi)部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、墻壁上等，均會產(chǎn)生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側壁散亂射線）；散亂射線使底片產(chǎn)生附加黑度，嚴重時全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度；遮擋的方法有：采用限光器（準直器）或采用鉛板在射線源側遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響；采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響；透照較厚工件時，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線；被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關的雜物以避免側壁散亂射線影響。

58.射線源和膠片處于工件兩面，透照時的像質(zhì)計應如何放置？為什么？

答：應放置在射線源側工件的表面上，置于有效受檢部分的一端，鋼絲橫跨且垂直于焊縫，細絲向片子的端部；這樣放置時的幾何模糊度最大、靈敏度最低，若此靈敏度符合規(guī)范標準的要求，則其它部位也能符合要求。

59.在一些壓力容器安全監(jiān)察規(guī)程中規(guī)定對于厚度較大的焊縫在進行射線照相后還要求進行超聲波檢測復驗，這是為什么？

答：各種非破壞檢測方法都有其局限性，射線照像隨著板厚的增加，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力就越來越差，特別是對于線狀缺陷，例如輕微的未焊透（熔入不足）及小裂紋等難以發(fā)現(xiàn)，而超音波檢測對于線狀缺陷是敏感的，為提高檢測可靠性，保證產(chǎn)品質(zhì)量，特別是質(zhì)量要求高的產(chǎn)品，超音波檢測可以彌補射線照像檢測的不足。

60.簡述判片的一般程序步驟。[提示]應按相應的規(guī)范標準要求進行，通常主要包括：檢查底片上的各標記符號是否齊全及擺放位置是否合乎要求；測定判片區(qū)域的黑度與靈敏度要符合標準要求；評定缺陷的位置、性質(zhì)、大小、分布狀況，按評級標準評出底片級別并作記錄；發(fā)出報告。

61.曝光條件主要包括哪些內(nèi)容？答：對一定機器產(chǎn)生的X射線而言，曝光條件包括管電壓、管電流、曝光時間和焦距；對射源一定的伽瑪射線而言，曝光條件包括曝光時間和焦距。

62.對于水循環(huán)冷卻油絕緣的X射線機，當高壓切斷后（已經(jīng)沒有X射線產(chǎn)生），是否能馬上關閉機器的油泵？為什么？

答：不能馬上關閉油泵，因為X射線產(chǎn)生的過程中有大量電子轟擊陽極鎢靶而產(chǎn)生很高的熱量，所以必須將冷卻油泵繼續(xù)運轉10-15分鐘，使X射線管的陽極充分冷卻后才能關閉總電源、關閉水源。

63.右圖所示線路屬于何種高壓回路？多用于哪些射線機上？ 答：這是半波自整流線路，多用于便攜式X射線機上

64.目前工業(yè)射線檢測中已經(jīng)應用的伽馬射源有哪些？它們各自的半衰期及可檢鋼厚度范圍是多少？答：60Co(5.3年，60-150 mm)；192Ir(74.4天，20-90 mm)；75Se(118天，5-40mm)；169Yb(31天，2-12mm)；170Tm(129天，≤5mm)；153Gd(242天，≤5mm)

65.射線檢測的“三個基本要素”是什么？答：射線源、受檢物和記錄或顯示介質(zhì)。66.選擇透照方式時必須確定的事項、幾何參數(shù)和必須考慮的相關因素是什么？答：選擇透照方式時必須確定的事項是：射線源和膠片的位置、射線束照射的方向、透度計和標記的放置、散射線的屏蔽和監(jiān)測等；必須確定的幾何參數(shù)是：焦距、一次透照長度、環(huán)焊縫100%透照時最少曝光數(shù)；必須考慮的相關因素是：幾何模糊度、透照厚度比、橫裂檢出角、縱裂檢出角、有效評定長度以及100%透照時相鄰兩片的搭接長度。

67.射線探傷的組織管理工作主要包括哪幾個方面？[提示]①配備足夠完成本單位探傷任務的人員，這些人員需經(jīng)考試合格并取得資格證書；②配備足夠完成本單位探傷任務的設備及器材，加強設備維護，保證設備完好；③制定必要的各項規(guī)章制度，如：檢測程序書、設備維護、人員培訓、檢測報告、審核及存檔制度等；④儲備足夠數(shù)量的探傷用消耗器材（膠片、增感屏、藥品等），并認真驗收保管好；⑤監(jiān)督本單位全體人員各負其責，把好質(zhì)量關。

68.最新的第二代75Seγ射線源有些什么特點？答：是在反應堆中激活的具有熱穩(wěn)定性的金屬硒化物，焦點呈準球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦點尺寸更小，更適用于小焦距曝光、管道爬行器和接觸式射線照相，影像幾何不清晰度小，是γ射線透照中等厚度（5-40mm鋼），獲取較高影像質(zhì)量的一種新型同位素射源，較銥192和釔169源的半衰期長(118天)，與銥192相比，其發(fā)射能譜較軟，γ射線照射率常數(shù)較小，設定輻射防護禁區(qū)較小，對操作者安全等

69.評片時對底片的質(zhì)量一般有哪些要求？答：底片上應無偽像、劃傷、跡痕和其他可能引起評片結論出現(xiàn)差錯的影像；底片上應有識別工件的編號、拍片部位編號、定位記號等標志并與工件相對應；底片上應有透度計的影像，透度計規(guī)格適當，底片靈敏度符合標準要求；底片黑度應在規(guī)定范圍內(nèi)，反差適當。70.畫出曝光曲線的示意圖，說明制作條件并簡述其用途。

答：曝光曲線是給定X射線機在選定工藝條件下（包括膠片類型、增感方式、顯影條件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在給定的X射線機和相同的工藝條件下才能使用該曝光曲線。有了實際射線探傷工藝條件下的曝光曲線，在射線探傷時，對于不同厚度的工件就可以根據(jù)曝光曲線上的穿透厚度直接求得相應的管電壓、管電流和曝光時間，這是非常經(jīng)濟、省時和方便的。

71.在評片前首先要檢查底片是否合格，其合格要求有哪幾項？

答：底片黑度合格、像質(zhì)指數(shù)或像質(zhì)計靈敏度合格、影像識別要求合格，即定位及識別標記齊全；沒有妨礙底片評定的偽像，包括底片的損傷、污跡等。72.以玻殼X射線管為例說明其結構各部分名稱及主要作用。

答：玻殼X射線管的內(nèi)部構造主要包括七個部分，即：鉛玻璃罩-保持X射線管內(nèi)的真空度，吸收軟射線；陽極罩-吸收二次電子和軟射線；陽極體-支撐陽極靶和散熱；陰極頭-聚焦電子；燈絲-產(chǎn)生熱電子；陽極靶-發(fā)射X射線；鈹窗-吸收軟射線 73.X射線管的種類中，有一種旋轉式陽極，它是怎樣的？

答：它的陽極是裝在一個小的感應電動機軸上，在X射線照射時旋轉，這樣陽極時刻以“新的靶面”接受電子束的轟擊，因此電子束的能量不至于像固定式陽極那樣集中于一點，它可把熱量散布在陽極的相當大的面積上。由于陽極轉動的非常平穩(wěn)，焦點可以保持形狀和位置的穩(wěn)定。用旋轉陽極制成的X射線管不但可以得到很小的焦點，而且可以制成較大的功率，其陽極為一直徑約76毫米具有斜邊緣的鎢盤構成，旋轉速度可達到每分鐘數(shù)千轉。

74.什么是X射線管的有效焦點？其焦點形狀和尺寸于哪些因素有關？

答：在X射線管中，電子束轟擊陽極靶上的實際面積為X射線管的實際焦點，實際焦點在所激發(fā)的射線束中心方向（即垂直于X射線管軸線方向）的投影面積稱為X射線管的有效焦點，有效焦點的平面可認為在X射線管的軸線上，它是直接影響X射線檢驗質(zhì)量的因素，因此X射線機說明書或檢測規(guī)程上所說的焦點（或稱作射源尺寸）都是指有效焦點。X射線管焦點的形狀和尺寸，決定于燈絲的形狀、尺寸、安裝位置以及陽極靶面的傾斜角度。

75.什么是X射線管的容量？答：X射線管允許的最大負荷量就稱為X射線管的容量，它等于X射線管在使用時額定最高管電壓和額定管電流的乘積（計算管電壓時取有效值：U有效=0.707U峰值），即容量P=U有效(千伏)I(毫安)/1000(千瓦)，該容量是指在使用中按規(guī)定的冷卻方式工作，并且連續(xù)工作時間不能超過規(guī)定的連續(xù)工作時間的情況下。

76.影響X射線管容量的因素有哪些？答：X射線管的負荷容量直接決定于X射線管實際焦點處的工作溫度，影響焦點處溫度的因素有：實際焦點大小；使用管電壓的高低；管電流的大小；X射線管的連續(xù)使用時間；在實際焦點上電子束截面的電子密度分布情況；陽極的構造及冷卻方式。

77.X射線管為什么要經(jīng)過訓練（老練硬化）處理？答：X射線管的質(zhì)量優(yōu)劣及使用壽命都與管內(nèi)的真空度密切相關，盡管制造時已經(jīng)達到要求的真空度（一般可達10-7mmHg）,但是管內(nèi)的結構材料在第一次使用或者長期擱置，或者受到電子轟擊或受熱時，都有可能從這些物體中逸出氣體（“放氣”）而降低真空度，導致X射線管不能穩(wěn)定工作甚至損壞。X射線管的訓練實質(zhì)上是通過從低端開始逐步升高管電壓和管電流，使管內(nèi)的氣體分子電離并因被電離出來的質(zhì)量較大的正離子高速沖向陰極，使得陰極金屬發(fā)生濺散，這些濺散的金屬此時會吸收管內(nèi)的氣體，即“排氣”，從而提高管內(nèi)真空度，保障X射線管穩(wěn)定工作。因此對于新的或停止工作較長時間的X射線管在正式使用前都必須進行訓練處理。

78.為什么在射線檢測規(guī)范標準中對底片黑度的要求有越來越高的趨勢，而且采用的觀片燈的亮度液越來越大？ 答：隨著底片黑度的提高，其對比度也相應增加，這一關系直到黑度值為3-3.5左右，底片對比度提高后。透照靈敏度也增加了，因此有傾向于要求較高的底片黑度，而為了能夠觀察高黑度的底片，要求觀片燈的亮度也要隨之相應加大了。79.X射線硬度對靈敏度有什么影響？

答：X射線的硬度決定于波長，波長越短，硬度越高。X射線檢驗的靈敏度主要取決于底片的對比度和清晰度，對比度越高，越容易發(fā)現(xiàn)缺陷，然而當其他條件固定時，缺陷在底片上的對比度完全取決于主因?qū)Ρ榷龋篒A/IC=eμx（式中IA-透過缺陷處的射線強度；IC-透過缺陷附近材料的射線強度；e-自然對數(shù)的底，常數(shù)；μ-吸收系數(shù)；x-缺陷深度）當缺陷深度一定時，提高主因?qū)Ρ榷鹊奈ㄒ煌緩绞窃龃笪镔|(zhì)的吸收系數(shù)μ，由于μm=CZmλn（式中μm-質(zhì)量吸收系數(shù)；C-常數(shù)；Z-物質(zhì)的原子序數(shù)；λ-X射線波長，m和n一般取3），即質(zhì)量吸收系數(shù)與被透物質(zhì)原子序數(shù)的立方和入射X射線波長的立方成正比。當被透物質(zhì)固定時，吸收系數(shù)僅決定于X射線波長。采用較低的管電壓時可以得到波長較長的X射線，從而提高了主因?qū)Ρ榷龋嗉刺岣吡遂`敏度，因此在可能的條件下盡量采用較低的管電壓，也就是較軟的X射線，對提高靈敏度是有益的。

80.焦距對射線檢驗的靈敏度有何影響？答：主要表現(xiàn)在四個方面：①焦距的大小會引起缺陷投影的畸變，焦距越小，缺陷投影畸變越大，因此從減小缺陷畸變考慮，選用較大焦距為好；②焦距的大小會引起零件沿射線方向厚度的變化，這是由于射線束成圓錐形擴散，引起零件邊緣沿射線方向厚度增加，導致零件在底片上的黑度不均勻，用K表示邊緣部位與中間部位沿射線方向的厚度比，即K值越大，零件中間部位與邊緣部位沿射線方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均勻，對射線檢驗靈敏度影響越大，選用較大的焦距可有效地減小K值（一般要求K值越小越好，最好不超過1.1），對靈敏度有利；③焦距大小隊幾何模糊度的影響，幾何模糊度Ug的存在使缺陷邊緣輪廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷對比度，因此焦距越大則Ug越小，檢驗靈敏度越高；④焦距大小對散射線的影響，焦距增大必然導致曝光量要增加，在管電流一定的情況下只能增加曝光時間，除了降低工作效率外，也會使得散射線作用時間增長而影響底片清晰度，降低了檢驗靈敏度。因此，從前三項而言，增大焦距對提高檢驗靈敏度有利，但從散射線影響的因素來說，提高焦距對靈敏度是不利的，故在確定焦距參數(shù)時應予以全面綜合考慮，選擇適宜的焦距。81.什么是增感和增感系數(shù)？

答：增感即是增加膠片的感光量，從而可以相對地縮短對膠片的曝光時間。增感系數(shù)用于說明增感屏的作用程度，也稱增感因素，它是在所有條件不變的情況下，使底片得到相同黑度時，不使用增感屏所需曝光時間t1與使用增感屏所需曝光時間t2之比：K=t1/t2,但是此增感系數(shù)K并不是一個固定不變的值，它隨使用的X射線波長和所取底片黑度的不同而變化的。

82.影響射線檢測透照靈敏度的諸因素有哪些？

答：使用的X射線機性能；使用的X射線膠片性能質(zhì)量與暗室處理條件；增感屏的選用；散射線的防護措施；零件的材料、尺寸和形狀，缺陷的性質(zhì)、尺寸、形狀和方向；管電壓、管電流、曝光時間與焦距的選用。83.常見的曝光曲線有哪些形式？

答：常見的曝光曲線形式有：曝光量和管電壓隨材料厚度變化的曲線；管電壓對材料厚度變化的曝光曲線。

84.工業(yè)X射線電視的優(yōu)缺點如何？

答：優(yōu)點：可以直觀地觀察物體動態(tài)或靜態(tài)情況下的內(nèi)部結構與缺陷；使用經(jīng)濟、簡便、效率高；可用于流水作業(yè)，便于實現(xiàn)X射線檢驗自動化。缺點：其檢測靈敏度一般較X射線照相法低；對形狀復雜的零件檢查有困難；初始投入較高。85.工業(yè)CT的全稱是什么？答：工業(yè)用計算機控制層析X射線照相裝置

86.用黑度計測定的底片黑度是一個綜合的表觀值，它包含了什么因素在內(nèi)？答：包含了工件對比度和膠片對比度

87.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發(fā)現(xiàn)如右圖顯示的圓形瑕疵分布，按（）標準，該焊縫應判定為幾級？（按出題人確定的標準作答）

88.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發(fā)現(xiàn)如右圖顯示的圓形瑕疵和線形瑕疵，按（）標準，該焊縫應判定為幾級？（按出題人確定的標準作答）

89.右圖為某合金鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：氣體保護焊-鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。答：橫裂紋

90.右圖為某鈦合金板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。答：夾鎢

91.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：密集氣孔

92.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：局部夾渣

93.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：未焊透（熔入不足）94.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：線狀夾渣

95.右圖為某厚度14mm低合金鋼板對接焊縫，X型坡口，焊接方式：自動焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。答：縱向裂縫

96.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：樹枝狀偽缺陷

97.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質(zhì)。

答：蜘蛛狀偽缺陷

98.什么是偽缺陷？簡述底片上偽缺陷的來源。

[提示]：由于膠片本身質(zhì)量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨別的影像，但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像，稱之為偽缺陷。偽缺陷的來源包括機械損傷或表面附著物形成（如指紋、折痕、劃傷、水印等），或者是由化學作用形成（如漏光、感光、藥物玷污等），大致上可以分為來源于膠片本身的制造質(zhì)量與儲運、保管，來源于增感屏制造質(zhì)量及損傷導致的增感不均勻或受過可見光線照射過的熒光增感屏的受激熒光影響等，來源于膠片裁切、包裝、照相及沖洗過程中的漏光、手印、靜電、劃傷或局部折傷等；來源于暗室處理中的玷污、處理不均勻、水跡、指紋、氣泡、藥水老化失效、操作程序不當?shù)鹊?/p>

99.什么是“照相灰霧（Photo graphic fog）”和“曝光灰霧（exposure fog）”？ [提示]：照相灰霧是由于乳劑和沖洗條件造成的灰霧，即是膠片固有灰霧與顯影時的化學灰霧的總和；曝光灰霧則是由于膠片受到不需要的電離輻射或可見光波的曝光而造成的灰霧

100.什么是影響射線照相影象質(zhì)量的三要素？答：影響射線照相影像質(zhì)量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為底片影像中相鄰區(qū)域的黑度差。射線照相清晰度定義為底片影像中不同黑度區(qū)域間分界線的寬度。用來定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射線照相顆粒度定義為對視覺產(chǎn)生影響的底片影像黑度的不均勻程度。

101.什么叫主因?qū)Ρ榷龋渴裁唇心z片對比度？它們與射線照相對比度的關系如何？ 答：由于不同區(qū)域射線強度存在差異所產(chǎn)生的對比度稱為主因?qū)Ρ榷龋鋽?shù)學表達式為：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透過試件到達膠片的射線強度；△I--局部區(qū)域射線強度增量；μ--射線的吸收系數(shù)；△T--局部區(qū)域的透射厚度差；n--散射比。由上式可以看出，主因?qū)Ρ榷热Q于透照厚度差、射線的質(zhì)以及散射比。膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數(shù)定量表示，數(shù)學式為：γ'=△D/△lgE,式中γ'--膠片平均反差系數(shù)；△D--底片對比度；△lgE--曝光量對數(shù)值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型，底片黑度，顯影條件和增感方式。射線照相底片對比度是主因?qū)Ρ榷群湍z片對比度的綜合結果，主因?qū)Ρ榷仁菢嫵傻灼瑢Ρ榷鹊母疽蛩兀z片對比度可以看作是主因?qū)Ρ榷鹊姆糯笙禂?shù)。

102.就象質(zhì)計金屬絲底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高底片對比度可能會帶來什么缺點？答：象質(zhì)計金屬絲底片對比度公式△D=-0.434μpγσ·d/(1+n),提高對比度主要途徑及由此帶來的缺點：(1)增大μp值。在保證穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，得這樣會使曝光時間增加。(2)增大γ值。可選用γ值更高的微粒膠片；由于非增感型片膠片γ值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間，提高黑度也需要增加曝光時間，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度△Dmin，對靈敏度產(chǎn)生不利影響。(3)提高σ值，可選擇焦點尺寸小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光時間延長。(4)減少n值。要減小散射線，就要使用鉛窗口和鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時間延長。

103.以鋼鐵材料為例簡述吸收系數(shù)μ的三個主分量τ、σ、χ在不同射線能量（從0-100MeV）時的分布規(guī)律，并用圖示說明（答案從略）

104.簡述射線照相時，最小可見對比度△Dmin的含義以及它與底片黑度的關系，對于金屬線圖像來說，在什么黑度范圍內(nèi)是可以識別的，并用圖示加以說明（答案從略）105.簡述射線檢驗中除照相法外的任意三種其他方法的原理及適用范圍（答案從略）106.簡述焊縫射線照相時，影響底片圖像對比度的各種因素，為提高照相對比度，可采用哪些工藝措施？（答案從略）107.簡述暗室處理時，影響底片質(zhì)量的主要因素以及因暗室處理不當造成底片質(zhì)量問題的各種主要表現(xiàn)形式（答案從略）

108.試用射線的衰減規(guī)律解釋射線照相法的基本原理，并簡要分析提高射線照相質(zhì)量的各種因素（答案從略）

109.簡述X射線工業(yè)電視檢測法的原理及優(yōu)缺點（答案從略）

110.何謂射線照相中的“寬容度”？在什么情況下需要提高照相的寬容度？這樣會給它的照相質(zhì)量參數(shù)帶來什么影響？（答案從略）

111.試述焊縫射線照相時，降低散射、直射線強度比n的幾種方法（答案從略）112.請對GB3323-82和JB1152-81這兩個標準任選一個談談對其優(yōu)缺點及改進意見的看法（答案從略）

113.按GB3323-82標準規(guī)定，射線照相探傷底片上標志的主要要求有哪些？（答案從略）

114.對應于平的對接焊縫，在透照時應怎樣選擇膠片類型、KV值和底片黑度？（答案從略）

115.散射線是怎樣產(chǎn)生的？它對射線照相有何影響？透照時應采取什么措施加以防止？（答案從略）

116.對焊縫而言，采用射線照相法與超聲波檢驗法各有什么優(yōu)缺點？（答案從略）117.底片黑度是影響射線照相質(zhì)量的參數(shù)之一，試述黑度D與對比度△D和最小可見對比度△Dmin之間的關系，根據(jù)這一關系，應如何選定底片的黑度范圍？并作圖加以說明（答案從略）

118.γ射線探傷中最常用的幾種放射源的名稱、半衰期、γ射線能量、比活度范圍、化學狀態(tài)以及對鋼鐵工件的適用厚度范圍是什么？（答案從略）

119.為什么散射線會降低射線照相的靈敏度？在焊縫射線照相中，加強高（余高）和母材區(qū)的散射比n的數(shù)值分布規(guī)律大致是怎樣的？并以簡圖加以說明。在焊縫射線照相中可以用什么方法來減少散射比以提高圖像質(zhì)量？（答案從略）

120.射線探傷用的膠片一般是根據(jù)什么來進行分類的？各類膠片主要參數(shù)之間（如顆粒度、對比度、感光速度、清晰度）的相互關系是什么？（答案從略）

121.為什么適當提高觀片燈亮度就可以擴大金屬絲影像在底片上的可見黑度范圍？并請作圖加以說明（答案從略）122.簡述X射線照相法之外的任意四種射線檢測缺陷方法的名稱和應用范圍（答案從略）

第四篇：鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規(guī)則

鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規(guī)

則

鐵道部

鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規(guī)則

1987年6月10日，鐵道部

第一章 總 則

第1條 凡采用本規(guī)則所規(guī)定的無損檢測方法，對在鐵道部所屬線路上運行的鐵路機車、車輛及所使用的鋼軌、橋梁及其有關鐵道機件的質(zhì)量檢查、設備安全運行的監(jiān)督檢查的無損檢測人員，必須按本規(guī)則進行技術資格鑒定考核。

第2條 從事無損檢測技術的科研、教學和其他人員，通過資格鑒定考核，也可獲得技術等級資格。

第3條 經(jīng)技術資格鑒定考核合格的人員，由鐵道部門無損檢測人員技術資格鑒定考核委員會（以下簡稱部鑒定考核委員會）統(tǒng)一發(fā)給資格證。從事與所持證書規(guī)定的無損檢測方法、技術等級、專業(yè)相適應的無損檢測工作。第4條 本規(guī)則用于從事超聲檢測（ＵＴ），射線檢測（ＲＴ），磁粉檢測（ＭＴ），滲透檢測（ＰＴ），渦流檢測（ＥＴ）人員。

第二章 無損檢測技術等級

第5條 每種檢測方法的無損檢測人員分Ⅰ級（初級），Ⅱ級（中級）、Ⅲ級（高級）三個技術等級。

第三章 各級無損檢測人員的職責 第6條 Ⅰ級人員的職責：

（1）正確調(diào)整和使用檢測儀器。（2）執(zhí)行規(guī)定的檢測工作。（3）記錄和初步評定檢測結果。（4）了解和執(zhí)行有關安全防護規(guī)則。第7條 Ⅱ級人員的職責：

（1）熟練調(diào)整和校準檢測儀器。（2）圓滿完成所規(guī)定的檢測工作。

（3）記錄檢測結果并根據(jù)標準、規(guī)范等寫出評定檢測結果的報告。（4）熟悉檢測方法的應用范圍和限度。（5）制訂簡單的檢測工藝規(guī)程。

（6）指導和監(jiān)督低于Ⅱ級的人員，培訓Ⅰ級人員。（7）執(zhí)行安全防護規(guī)則。第8條 Ⅲ級人員的職責：

（1）監(jiān)督、指導檢測工作的進行。（2）保證法規(guī)、標準和規(guī)范的貫徹執(zhí)行。

（3）選擇適當?shù)臋z測方法和工藝：在沒有其他標準可供引用時，協(xié)助制訂驗收標準。

（4）根據(jù)法規(guī)、標準和規(guī)范，解釋、評判檢測結果。（5）培訓、指導和監(jiān)督低于Ⅱ級的人員。（6）監(jiān)督執(zhí)行安全防護規(guī)則。

第四章 資格鑒定考核組織

第9條 部鑒定考核委員會對無損檢測人員Ⅱ、Ⅲ級技術資格進行鑒定考核。第10條 部鑒定考核委員會可下設各系統(tǒng)考核委員會。各系統(tǒng)無損檢測人員技術資格考核委員會的組成前，應報部鑒定考核委員會核批。

第11條 各系統(tǒng)考委會由部鑒定考核委員會成員和本系統(tǒng)無損檢測管理和專業(yè)人員代表組成，設主任委員一名，副主任委員二名，委員若干名。

第12條 各系統(tǒng)考委會成員中，專業(yè)人員的比例不得少于2／3，主任委員應由部鑒定考核委員會成員兼任。第13條 各系統(tǒng)考委會的職責：

（1）審查各級技術等級資格鑒定申請者的資格。

（2）按規(guī)定確定Ⅰ級人員的考試內(nèi)容，組織考試、評定成績，并將考核人員的清冊、考試成績、考題、實物操作考試內(nèi)容報部鑒定考核委員會核備認可。（3）組織Ⅱ級人員的培訓。

第五章 各級技術資格鑒定的申請

第14條 申請技術資格鑒定的無損檢測人員必須具備下列資格條件之一的文化程度和工作經(jīng)驗（見表1）。表1-------------------------| 級別 | 報 考 資 格 | |--------|-----------| | |1．理工科大學畢業(yè)，并具有連續(xù)四年以上本 | | Ⅲ |專業(yè)方法無損檢測工作經(jīng)驗者（無損檢測專 | | |業(yè)畢業(yè)的可二年）。| | |2．中等專業(yè)學校畢業(yè)，并具有連續(xù)六年以上 | | 級 |本專業(yè)方法無損檢測工作經(jīng)驗者（無損檢測 | | |專業(yè)的可三年）。| | |3．取得Ⅱ級技術資格后五年以上者。| |--------|-----------| | |1．理工科大學畢業(yè)，具有一年以上本專業(yè)方 | | |法無損檢測工作經(jīng)驗者（無損檢測專業(yè)畢業(yè) | | |可不受工作年限限制）。| | Ⅱ |2．中等專業(yè)學校畢業(yè)，并具有連續(xù)二年以上 | | |本專業(yè)方法無損檢測工作經(jīng)驗者（無損檢測 | | |專業(yè)畢業(yè)可不受工作年限限制）。| | |3．高中畢業(yè)，并具有連續(xù)四年以上本專業(yè)方 | | |法無損檢測工作經(jīng)驗者。| | 級 |4．取得本專業(yè)方法Ⅰ級資格二年以上者。| | |5．具有六年以上本專業(yè)方法無損檢測工作 | | |經(jīng)驗者。| |--------|-----------| | |1．高中或技工學校畢業(yè)，并具有連續(xù)一年以 | | |上射線、超聲、渦流方法無損檢測工作經(jīng)驗 | | Ⅰ |者或具有半年以上磁粉、滲透方法無損檢測 | | |工作經(jīng)驗者。| | |2．初中文化程度，并具有連續(xù)一射線、超聲、| | 級 |渦流方法無損檢測工作經(jīng)驗者或具有連續(xù) | | |一年以上磁粉、滲透方法無損檢測工作經(jīng)驗 | | |者。|-------------------------第15條 申請者應填寫申請表，通過體格檢查，并由申請者單位蓋公章。

第六章 考 試

第16條 申請技術資料鑒定的無損檢測人員必須通過考試。考試包括無損檢測理論筆試和操作技術兩部分。各級人員考試內(nèi)容（見表2）。各級人員考試內(nèi)容 表2-------------------------| 級別 | 考 試 內(nèi) 容 | |--------|-----------| | | 本規(guī)則所列的五種無損檢測技術知識。| | Ⅲ |所考核方法的基本原理，該方法所應用的儀 | | |器設備和校正方法、缺陷信號、圖象的解釋、| | |判斷、有關技術標準和規(guī)范、安全衛(wèi)生、防護 | | 級 |規(guī)則、冶金和工藝知識。| |--------|-----------| | Ⅱ | 無損檢測概論。所考核方法的基本原 | | |理。該方法所用儀器設備的校正方法、有關 | | |技術標準和規(guī)范、安全衛(wèi)生、防護規(guī)則。常見 | | 級 |材料缺陷特性及有關的冶金、工藝知識。| |--------|-----------| | Ⅰ |檢驗設備的操作和檢測方法等。| | 級 | |-------------------------第17條 資格鑒定應考人員的無損檢測理論和操作技術兩部分考試成績均不應低于80分（百分制）。

第18條 參加經(jīng)部鑒定考核委員會認可的Ⅱ級、Ⅲ級無損檢測培訓班的學員，結業(yè)考試成績優(yōu)良（百分制80分以上）者，在有效期內(nèi)，技術資格鑒定時，可申請免試理論部分，直接參加操作技能考試。

第19條 參加經(jīng)各系統(tǒng)考委會認可的Ⅰ級無損檢測人員培訓班的學員，結業(yè)考試成績優(yōu)良（百分制80分以上）者，在有效期內(nèi)，技術資格鑒定時，可申請免試理論部分，直接參加操作技術考試。

第七章 技術資格證書的申請

第20條 資格鑒定考核合格者，統(tǒng)一由相應考委會向部鑒定考核委員會申請資格證書。

第八章 技術資格證書及其有效期

第21條 無損檢測Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級技術資格證書由部鑒定考核委員會統(tǒng)一頒發(fā)，蓋部鑒定考核委員會和本系統(tǒng)公章。

第22條 技術資格證書有效期三年，可申請延長一次，有效期最長不得超過六年。繼續(xù)從事無損檢測的人員，在技術資格證到期前三個月，必須申請延長或更新考試。

第23條 注銷或暫停下列人員的技術資格：（1）持過期技術資格證者；（2）檢測工作中有重大失誤者；（3）脫離無損檢測工作一年以上者；（4）身體狀況不適合者。

第九章 無損檢測人員的培訓

第24條 實驗和實際操作訓練的課時，須占培訓總課時的1／3～1／2。第25條 培訓教材：

（1）基礎教材統(tǒng)一由部鑒定考核委員會推薦。（2）專業(yè)教材由各系統(tǒng)考委會確定。

（3）對從事鍋爐（固定）及壓力容器無損檢測人員的培訓教材與勞動人事部門商定。

第五篇：初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題

初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編

選擇題（將認為正確的序號字母填入題后面的括號內(nèi)，只能選擇一個答案）1.下列材料中聲速最低的是（a）：a.空氣 b.水 c.鋁 d.不銹鋼

2.一般來說，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測缺陷要比縱波靈敏，這是因為（a）a.橫波比縱波的波長短 b.在材料中橫波不易擴散 c.橫波質(zhì)點振動的方向比缺陷更為靈敏 d.橫波比縱波的波長長

3.超聲波探傷用的橫波，具有的特性是（a）

a.質(zhì)點振動方向垂直于傳播方向，傳播速度約為縱波速度的1/2 b.在水中傳播因波長較長、衰減小、故有很高的靈敏度

c.因為橫波對表面變化不敏感，故從耦合液體傳遞到被檢物體時有高的耦合率 d.上述三種都不適用于橫波 4.超過人耳聽覺范圍的聲波稱為超聲波，它的頻率高于（b）：a.20赫 b.20千赫 c.2千赫 d.2兆赫 5.超過人耳聽覺范圍的聲波稱為超聲波，它屬于（c）：a.電磁波 b.光波 c.機械波 d.微波 6.波長λ、聲速C、頻率f之間的關系是（a）：a.λ=c/f b.λ=f/c c.c=f/λ 7.應用2P20x20 60°的探頭探測鋼時，鋼材中超聲波的波長是（b）：a.1.43mm b.1.6mm c.2.95mm d.2.34mm 8.可在固體中傳播的超聲波波型是（e）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.板波 e.以上都可以 9.可在液體中傳播的超聲波波型是（a）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.板波 e.以上都可以

10.超聲波的波陣面是指某一瞬間（b）的各質(zhì)點構成的空間曲面：a.不同相位振動 b.同相位振動 c.振動 11.介質(zhì)中質(zhì)點振動方向和傳播方向垂直時，此波稱為（b）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.板波 e.爬波 12.介質(zhì)中質(zhì)點振動方向和波的傳播方向平行時，此波稱為（a）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.板波 e.爬波

13.橫波的聲速比縱波的聲速（b）：a.快 b.慢 c.相同 14.縱波的聲速比瑞利波的聲速（a）：a.快 b.慢 c.相同

15.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度就是（a）：a.聲能的傳播速度 b.脈沖的重復頻率 c.脈沖恢復速度 d.物質(zhì)遷移速度

16.對同種固體材料，在給定頻率的情況下，產(chǎn)生最短波長的波是（d）：a.縱波 b.壓縮波 c.橫波 e.表面波

17.頻率為2.5MHZ的縱波在探測鋼時的波長是(a)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 18.頻率為2.5MHZ的橫波,在探測鋼時的波長是(b)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 19.頻率為2.5MHZ的縱波在探測鋁時的波長(c)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 20.頻率為2.5MHZ的橫波,在探測鋁時的波長是(d)：a.2.34mm b.1.3mm c.2.6mm d.1.26mm 21.鋼中聲速最大的波型是（a）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.在給定材料中聲速與所有波型無關 22.橫波探傷最常用于（a）：a.焊縫、管材 b.測定金屬材料的彈性特性 c.探測厚板的分層缺陷 d.薄板測厚

23.在固體表面能沿園滑過渡的邊角傳播的超聲波稱為（b）：a.橫波 b.表面波 c.縱波

24.傳播速度略小于橫波，不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是（a）：a.表面波 b.板波 c.萊姆波 d.縱波 25.波束擴散角是晶片尺寸和所通過的介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)，并且（a）：

a.頻率或晶片直徑減少時增大 b.頻率或晶片直徑減少時減少 c.頻率增加而晶片直徑減少時減少 26.如果超聲波頻率增加，則一定直徑晶片的聲束擴散角將（a）：a.減少 b.保持不變 c.增大 d.隨波長均勻變化

27.確定波束擴散角的公式是（d）：

a.sinθ=直徑平方/4倍波長 b.sinθx直徑=頻率x波長 c.sinθ=頻率x波長 d.sin（θ/2）=1.22波長/直徑 28.超聲波投射到界面上，在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做（d）：a.發(fā)散 b.擴散 c.角度調(diào)整 d.反射 29.超聲波從一種介質(zhì)進入另一種不同介質(zhì)而改變傳播方向的現(xiàn)象叫做（a）：a.折射 b.擴散 c.角度調(diào)整 d.反射

30.超聲波從一種介質(zhì)進入另一介質(zhì)后，其聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（b）a.入射角 b.折射角 c.擴散角 d.反射角

31.超聲波從一種介質(zhì)進入另一介質(zhì)，入射聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（a）a.入射角 b.折射角 c.擴散角 d.反射角

32.超聲波到達兩個不同材料的界面上，可能發(fā)生（d）：a.反射 b.折射 c.波型轉換 d.以上都是 33.同一介質(zhì)中，同一波型的超聲波反射角（a）

a.等于入射角 b.等于折射角 c.與使用的耦合劑有關 d.與使用頻率有關

34.同一介質(zhì)中，超聲波反射角（d）入射角：a.等于 b.大于 c.小于 d.同一波型的情況下相等

35.公式sinθ1/C1= sinθ2/C2叫做（d）：a.聲阻抗比例公式 b.相位變化公式 c.近場公式 d.折射定律。36.使一種波產(chǎn)生90°折射的入射角叫做（b）：a.垂直入射角 b.臨界角 c.最小反射角

37.超聲波垂直入射至異質(zhì)界面時，反射波和透射波的（a）：a.波型不變 b.波型變換 c.傳播方向改變 38.有一個5P20x10 45°的探頭，有機玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（b）

a.sinα=(3230/2730)?sin45° b.α=sin-1(3230/2730)?sin 45° c.tgα=(3230/2730)?Sin45° 39.為使經(jīng)折射透入第二介質(zhì)的超聲波只有橫波，縱波在第一介質(zhì)的入射角應（c）

a.大于第二臨界角 b.小于第一臨界角 c.在第一和第二臨界角之間 d.在第二和第三臨界角之間 40.為減小超聲波通過介質(zhì)時的衰減和避免林狀回波，宜采用（d）進行探傷 a.高頻率、橫波 b.較低頻率、橫波 c.高頻率、縱波 d.較低頻率、縱波

41.一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中，穿透力強的波型是（a）：a.縱波 b.切變波 c.橫波 d.瑞利波

42.晶片厚度和探頭頻率是相關的，晶片越厚，則（a）：a.頻率越低 b.頻率越高 c.無明顯影響 43.缺陷反射能量的大小取決于（d）：a.缺陷尺寸 b.缺陷方位 c.缺陷類型 d.缺陷的尺寸、方位、類型 44.因工件表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生的漫射叫做（b）：a.角度調(diào)整 b.散射 c.折射 d.擴散

45.3—63．由發(fā)射探頭發(fā)射的超聲波，通過試件后再由另一接收探頭接收，這種檢驗方法稱 為（c）a.表面波法 b.斜射法 c.穿透法 d.垂直法

46.晶片與探測面平行，使超聲波垂直于探測面而進入被檢材料的檢驗方法稱為（a）：a.垂直法 b.斜射法 c.表面波法

47.萊姆波可用于檢查（d）：a.鍛件 b.棒坯 c.鑄錠 d.薄板

48.靠近探頭的缺陷不一定都能探測到，因為有（c）：a.聲束擴散 b.材質(zhì)衰減 c.儀器阻塞效應 d.折射 49.超聲波探傷中常用的換能器是利用（b）：a.磁致伸縮原理 b.壓電原理 c.小型轉換原理

50.把某些材料所具有的，能使電能與機械能相互轉換的特性稱為（b）：a.波型變換 b.壓電效應 c.折射 d.阻抗匹配

51.一般地說，在遠場區(qū)，同一深度的平底孔，直徑增大一倍，其回波高度提高（c）a.1倍 b.9dB c.12dB d.24dB 52.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑差1倍，平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 53.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑差1倍，橫通孔 的回波高度差（b）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 54.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑差1倍，球孔回波高度差（c）dB：a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 55.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑相同，聲程差一倍，平底孔回波高度差（d）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 56.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑相同，聲程差一倍，橫通孔的回波高度差（e）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 57.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑相同，聲程差一倍，球孔回波高度差（f）dB a.12 b.3 c.6 d.12 e.9 f.12 58.當某些晶體受到拉力或壓力時，產(chǎn)生形變，從而晶體的表面上出現(xiàn)電荷，這種現(xiàn)象稱為（a）效應，這一效應是可逆的：a.壓電 b.振動 c.逆壓電 d.應變

59.把電能轉變成超聲聲能的器件叫做（d）：a.發(fā)射器 b.輻射器 c.分離器 d.換能器 60.共振式超聲波儀器主要采用（b）：a.高頻脈沖波 b.連續(xù)波 c.低頻脈沖波 d.以上都不是 61.縱波又稱為（d）：a.壓縮波 b.疏密波 c.L波 d.以上都是 62.橫波又稱為（d）：a.切變波 b.剪切波 c.S波 d.以上都是 63.蘭姆波又稱為（）：a.萊姆波 b.板波 c.Lamb Wave d.以上都是

64.波動的形式（波形）可以分為（e）：a.球面波 b.平面波 c.柱面波 d.活塞波 e.以上都是 65.根據(jù)介質(zhì)質(zhì)點振動方向與波動傳播方向的關系劃分，波的類型有（e）a.L波 b.S波 c.R波 d.Lamb波 e.以上都是

66.按照斯涅爾（Snell）折射定律規(guī)定，入射角和折射角的正弦之比等于兩種介質(zhì)的（d）a.密度之比 b.彈性模量之比 c.聲阻抗之比 d.聲速之比

67.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度主要取決于（d）：a.脈沖寬度 b.頻率 c.探頭直徑 d.超聲波通過的材質(zhì)和波型

68.探傷面上涂敷耦合劑的主要目的是（b）

a.防止探頭磨損 b.消除探頭與探測面之間的空氣 c.有利于探頭滑動 d.防止工件生銹

69.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若介質(zhì)兩側的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（a）時，將有最大的聲壓透過率

a.1/2波長的整數(shù)倍 b.1/4波長的奇數(shù)倍 c.1/4波長的整數(shù)倍 d.1/8波長的整數(shù)倍

70.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若介質(zhì)兩側的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（b）時，將有最大的聲壓反射率

a.1/2波長的整數(shù)倍 b.1/4波長的奇數(shù)倍 c.1/4波長的整數(shù)倍 d.1/8波長的整數(shù)倍

71.有一個5MHz20x10 45°的斜探頭，有機玻璃楔塊內(nèi)的聲速為2700米/秒，被檢材料（鋼）中的聲速為3230米/秒，則求入射角α的公式應為（d）a.sinα=(3230/2700)sin45° b.tgα=(2700/3230)sin45° c.α=sin-1[(2700/3230)tg45°] d.α=sin-1[(2700/3230)sin45°] 72.超聲波由A介質(zhì)透入B介質(zhì)時，如果面對入射方向的界面為一個凹面，并且聲速CA＞CB,則該曲面將對透過波（b）

a.起聚焦作用 b.起發(fā)散作用 c.不起作用 d.有時聚焦，有時發(fā)散

73.超聲波由A介質(zhì)透入B介質(zhì)時，如果面對入射方向的界面為一個凹面，并且聲速CA＜CB,則該曲面將對透過波（a）

a.起聚焦作用 b.起發(fā)散作用 c.不起作用 d.有時聚焦，有時發(fā)散

74.超聲波由A介質(zhì)透入B介質(zhì)時，如果面對入射方向的界面為一個凸面，并且聲速CA＞CB,則該曲面將對透過波（a）

a.起聚焦作用 b.起發(fā)散作用 c.不起作用 d.有時聚焦，有時發(fā)散

75.超聲波由A介質(zhì)透入B介質(zhì)時，如果面對入射方向的界面為一個凸面，并且聲速CA＜CB,則該曲面將對透過波（b）

a.起聚焦作用 b.起發(fā)散作用 c.不起作用 d.有時聚焦，有時發(fā)散

76.在X≥3N的距離上，聲程增加一倍時，大平底的反射聲壓為原來的（f）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍

77.在X≥3N的距離上，聲程增加一倍時，橫通孔的反射聲壓為原來的（a）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍 78.在X≥3N的距離上，聲程增加一倍時，球孔的反射聲壓為原來的（d）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍

79.在X≥3N的距離上，當距離不變，而孔徑增加一倍時，平底孔的反射聲壓變?yōu)樵瓉淼模╞）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍

80.在X≥3N的距離上，當距離不變，而孔徑增加一倍時，橫通孔的反射聲壓變?yōu)樵瓉淼模╟）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍

81.在X≥3N的距離上，當距離不變，而孔徑增加一倍時，球孔的反射聲壓變?yōu)樵瓉淼模╣）a.1/2.8倍 b.4倍 c.1.42倍 d.1/4倍 e.1/8倍 f.1/2倍 g.2倍

82.一般地說，在超聲波的遠場區(qū)，同一深度的平底孔直徑增大一倍，其回波高度提高（c）a.1倍 b.9dB c.12dB d.24dB 83.用入射角度為52°的斜探頭探測方鋼，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（斜楔為有機玻璃）（d）

84.直探頭探測具有傾斜底面的鋼鍛件，右圖中哪個聲束路徑是正確的？（b）

85.超聲波試驗系統(tǒng)分辨前表面回波與靠近前表面的小缺陷回波的能力（a）a.主要取決于換能器發(fā)射的始脈沖的形狀 b.與被探工件的表面粗糙度無關 c.主要取決于被檢零件的厚度 d.用直徑較大的探頭可以得到改善

86.縱波以20°入射角自水中入射至鋼中，右圖中哪個聲束路徑是正確的？（d）

87.超聲波從水中通過曲表面進入金屬工件時，聲束在工件中將（d）a.具有對稱型相速度 b.具有入射縱波的相速度 c.不受零件幾何形狀影響

d.收斂（如果工件表面為凹面）或發(fā)散（如果工件表面為凸面）

88.超聲波試驗系統(tǒng)的靈敏度（a）

a.取決于探頭、脈沖發(fā)生器和放大器 b.隨頻率提高而提高 c.與換能器的機械阻尼無關 d.隨分辨率提高而提高

89.造成不同材料中超聲波速度差別的主要因素是（c）

a.頻率和波長 b.厚度和傳播時間 c.彈性和密度 d.化學性質(zhì)與磁導率

90.直徑1.25cm，頻率2.25MHz的換能器在水中的半擴散角為（c）（水中聲速取1.5x105cm/s）a.2.5° b.40.5° c.3.75° d.37.5°

91.決定超聲波在界面上的相對透過率和反射率的是（c）：a.聲衰減 b.聲速 c.聲阻抗比 d.聲頻率 92.當材料中缺陷厚度至少為多大時才能得到最大反射？（a）：a.λ/4 b.λ/2 c.λ d.λ/2的偶數(shù)倍 93.聲束在何處發(fā)生擴散？（b）：a.近場 b.遠場 c.從晶片位置開始 d.三倍近場 94.在兩種不同材料的界面上，聲阻抗差異會引起（c）

a.入射能量在界面上全部反射 b.聲波被吸收 c.聲能分為透射波與反射波兩部分 d.折射

95.液浸探傷時，需要調(diào)整探頭和被檢零件表面之間的距離（水距），使聲波在水中的傳播時間（b）a.等于聲波在工件中的傳播時間 b.大于聲波在工件中的傳播時間 c.小于聲波在工件中的傳播時間 d.以上都不對

96.聲壓反射率為負號，表示反射波相位與入射波相位有何種關系？（b）：a.相同 b.相反 c.無關 d.以上都不對

97.橫波探傷最常用于（a）：a.焊縫、管材探傷 b.薄板探傷 c.探測厚板的分層缺陷 d.薄板測厚 98.在鋼中傳播速度略小于橫波且不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是（c）：a.縱波 b.板波 c.表面波 d.切變波 99.超聲波檢測中對探傷儀的定標(校準時基線)操作是為了(c)a.評定缺陷大小 b.判斷缺陷性質(zhì) c.確定缺陷位置 d.測量缺陷長度 100.A型超聲波探傷儀上的“抑制”旋鈕打開對下述哪個性能有影響?(a)a.垂直線性 b.水平線性 c.脈沖重復頻率 d.延遲

101.用對比試塊對缺陷作定量評定,已知工件中缺陷埋藏深度為22mm,驗收標準為Φ1.2mm平底孔當量,則應選用同材料對比試塊中的(c)進行比較: a.Φ3-20mm b.Φ2-25mm c.Φ1.2-25mm d.Φ1.2-20mm 102.鍛件探傷中,如果材料的晶粒粗大,通常會引起(d)a.底波降低或消失 b.有較高的“噪聲”顯示 c.使聲波穿透力降低 d.以上全部

103.粗晶材料的探傷可選用（b）頻率的探頭：a.2.5MHz b.1.25MHz c.5MHz d.10MHz 104.由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補償應為（c）

a.2dB b.4dB c.用實驗方法測定的補償dB值 d.對第一種材料任意規(guī)定的補償dB值 105.在小工件中，聲波到達底面之前，由于聲束擴散，在試件側面可能產(chǎn)生（c）a.多次底面反射 b.多次界面反射 c.波型轉換 d.入射聲能的損失

106.如果儀器采用鋸齒掃描發(fā)生器，其掃描鋸齒波形的好壞程度，決定了掃描（c）的好壞。a.動態(tài)范圍 b.垂直線性 c.水平線性

107.調(diào)節(jié)“抑制”旋鈕，會影響儀器的（d）：a.水平線性 b.垂直線性 c.動態(tài)范圍 d.b和c 108.儀器的盲區(qū)，除了與探頭特性有關外，主要還決定于接收放大器在強信號沖擊下的（a）時間。a.阻塞 b.上升 c.同步

109.探傷儀發(fā)射電路部分的功用是（c）：a.發(fā)射超聲脈沖 b.把發(fā)射脈沖放大 c.發(fā)射電脈沖 d.產(chǎn)生方形波

110.能將兩個相鄰缺陷在示波屏上區(qū)分開的能力叫（a）：a.分辨力 b.重復頻率 c.水平線性 111.被放大的信號幅度與缺陷的反射面積成正比關系，放大器這一非飽合的放大區(qū)域稱為（b）a.靈敏度范圍 b.線性范圍 c.選擇性范圍 d.分辨范圍

112.超聲波檢測儀中，產(chǎn)生高壓電脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元稱為（c）a.放大器 b.接收器 c.脈沖發(fā)生器 d.同步器

113.在A型掃描顯示中，電子束在陰極射線管的熒光屏上均勻重復移動，所形成的水平線叫做（b）a.方波圖形 b.掃描線 c.標志圖形 d.上述三種都不對

114.一個垂直線性好的儀器，在熒光屏上波幅從80%處降至5%時，應衰減（d）：a.6dB b.18dB c.32dB d.24dB 115.超聲波檢驗中，脈沖的持續(xù)時間稱為（a）：a.脈沖寬度 b.脈沖振幅 c.脈沖形狀 d.上述三種都不對。116.利用陰極發(fā)射的電子束在熒光屏上顯示圖象的電子管叫做（c）：a.放大管 b.脈沖管 c.陰極射線管 d.掃描管

117.超聲波檢測儀中，以熒光屏縱軸顯示超聲波信號強度，以橫軸顯示超聲波傳播時間或反射體深度的脈沖顯示法叫做（b）：a.連續(xù)波顯示 b.A掃描顯示 c.B掃描顯示 d.C掃描顯示

118.在鍛件探傷中，出現(xiàn)草狀回波的原因主要是由于（c）a.工件內(nèi)有大缺陷 b.靈敏度過高 c.晶粒粗大和樹枝狀結晶

119.鍛件探傷時，調(diào)節(jié)靈敏度的方式是（b）：a.沒有特定方式 b.大平底方式和試塊方式 c.槽形反射孔方式

120.在用水浸法探傷鋼板時，發(fā)現(xiàn)第二次水層界面波與鋼板第二次底波重合，則鋼板的厚度是水層厚度的（c）

a.1/2倍 b.1倍 c.2倍 d.4倍

121.在用直探頭進行水浸法探傷時，探頭至探測面的水層距離應調(diào)節(jié)在使一次與二次界面回波之間至少出現(xiàn)一次（c）

a.缺陷回波 b.遲到回波 c.底面回波 d.側面回波

122.在下述測試項目中指出與評價超聲波檢測儀主要性能有關的測試項目（a）a.分辨力和靈敏度 b.指向性和近場長度 c.折射角和入射角 d.指示長度

123.直探頭探測厚度250mm和500mm的兩個餅形試件，若后者探測面粗糙且與前者耦合差為5dB，兩者的材質(zhì)雙聲程衰減均為0.004dB/mm，當前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅的80%時，后者的底面回波應為示波屏滿幅的（c）a.5% b.10% c.20% d.40% 124.下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力？（b）a.用直徑較小的探頭進行檢驗 b.用頻率較低的縱波進行檢驗 c.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗 d.將縱波檢驗改為橫波檢驗 125.在金屬材料的超聲波檢測中使用最多的頻率范圍是（a）：a.1-5MHz b.2.5-5MHz c.1-15MHz d.2-8MHz 126.用水浸法縱波垂直入射探測鋼材，為防止在第一次底面回波前面出現(xiàn)第二次界面回波，當水層厚度為50毫米時，能探測鋼材的最大厚度為（b）：a.100mm b.200mm c.300mm d.400mm 127.蘭姆波在板中的傳播速度(d): a.與板厚有關 b.與材料的縱波和橫波速度有關 c.與頻率有關 d.以上都是

128.在液體中唯一能傳播的聲波波型是(c): a.剪切波 b.瑞利波 c.壓縮波 d.蘭姆波 129.鋼中表面波的能量大約在距表面多遠的距離會降低到原來的1/25?(b)a.五個波長 b.一個波長 c.1/10波長 d.0.5波長

130.在同種固體材料中,縱波聲速CL,橫波聲速CS,表面波聲速CR之間的關系是(c)a.CR＞CS＞CL b.CS＞CL＞CR c.CL＞CS＞CR d.以上都不對

131.超聲波入射到異質(zhì)界面時,可能發(fā)生(d): a.反射 b.折射 c.波型轉換 d.以上都可能 132.超聲波傳播過程中,遇到尺寸與波長相當?shù)恼系K物時,將發(fā)生(b)a.只繞射,無反射 b.既反射,又繞射 c.只反射,無繞射 d.以上都可能 133.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時,反射波與透過波聲能的分配比例取決于(c)a.界面兩側介質(zhì)的聲速 b.界面兩側介質(zhì)的衰減系數(shù) c.界面兩側介質(zhì)的聲阻抗 d.以上全部 134.超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時,其傳播方向的改變主要取決于(b)a.界面兩側介質(zhì)的聲阻抗 b.界面兩側介質(zhì)的聲速 c.界面兩側介質(zhì)的衰減系數(shù) d.以上全部

135.檢驗鋼材用的60°斜探頭,探測鋁材時,其折射角(a): a.大于60° b.等于60° c.小于60° d.以上都可能 136.當超聲橫波入射至端角時,下面的敘述哪點是錯誤的?(d)a.反射橫波與入射波平行但方向相反 b.入射角為30°時的反射率最高 c.入射角為45°時的反射率最高 d.入射角為60°時的反射率最低 137.用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗鋼板時,聲束進入工件后將(b)a.因折射而發(fā)散 b.進一步集聚 c.保持原聚焦狀況 d.以上都可能

138.超聲場的未擴散區(qū)長度(c):a.約等于近場長度 b.約等于近場長度的0.6倍 c.約為近場長度的1.6倍 d.以上都可能

139.超聲波的反射特性取決于(c): a.入射聲壓 b.反射聲強 c.界面兩側的聲阻抗差異 d.界面兩側的聲速差異

140.有機玻璃斜楔的CL=2650m/s,鋼工件的CS=3100m/s和CR=2850m/s,用瑞利波檢測時的最佳入射角是(b)a.68.4° b.58.7° c.25.5° d.66.8°

141.超聲波在介質(zhì)中傳播時,質(zhì)點振動方向與波的傳播方向垂直的波型是(b): a).縱波 b.橫波 c.板波 d.表面波

142.能在液體中傳播的超聲波波型是(a): a.縱波 b.橫波 c.板波 d.表面波 e.a和b 143.聲阻抗在數(shù)值上等于(b): a.ρ=cz b.z=ρc c.c=ρz 144.兩個不同聲壓間的分貝差表示式為(a)a.△dB=20lg(P1/P2)b.△dB=10lg(P1/P2)c.△dB=20lg(P2/P1)d.△dB=10lg(P2/P1)145.兩個不同聲強間的分貝差表示式為(a)a.△dB=20lg(I1/I2)b.△dB=10lg(I1/I2)c.△dB=20lg(I2/I1)d.△dB=10lg(I2/I1)146.當晶片直徑一定時,如果超聲波頻率增大,則聲束擴散角將(b): a.增大 b.減小 c.不變 d.呈指數(shù)函數(shù)變化

147.在下列不同類型超聲波中,哪種波的傳播速度隨頻率不同而改變?(b): a.表面波 b.板波 c.疏密波 d.剪切波

148.超聲探傷裝置的靈敏度(a)a.取決于脈沖發(fā)生器,探頭和接收器的組合性能 b.隨頻率的提高而提高 c.隨分辨率的提高而提高 d.與換能器的機械阻尼無關

149.超聲波的波長,聲速與頻率的關系為(a): a.c=f?λ b.λ=c?f c.f=c?λ d.λ=f/c

150.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與(d)有關: a.介質(zhì)的彈性 b.介質(zhì)的密度 c.超聲波波型 d.以上全部 151.在同一固體材料中,縱,橫波聲速之比與材料的(d)有關: a.密度 b.彈性模量 c.泊松比 d.以上全部 152.超聲波在水/鋼界面上的反射角(b): a.等于入射角的1/4 b.等于入射角 c.縱波反射角＞橫波反射角 d.b和c 153.探頭中壓電晶片的基頻取決于(c)a.激勵電脈沖的寬度 b.發(fā)射電路阻尼電阻的大小 c.晶片材料和厚度 d.晶片的機電耦合系數(shù) 154.下列壓電晶體中哪一種用作高溫探頭較為合適?(c)a.鈦酸鋇(Tc=115°)b.PZT-5(Tc=365°)c.鈮酸鋰(Tc=1200°)d.硫酸鋰(Tc=75°)155.表征壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是(c): a.壓電電壓常數(shù)g33 b.機電耦合系數(shù)K c.壓電應變常數(shù)d33 d.以上全部

156.在同一固體介質(zhì)中,當分別傳播縱,橫波時,它的聲阻抗將(c)a.一樣 b.傳播橫波時大 c.傳播縱波時大 d.以上a和b 157.超聲波的擴散衰減主要取決于(a): a.波陣面的幾何形狀 b.材料的晶粒度 c.材料的粘滯性 d.以上全部

158.縱波直探頭的近場長度不取決于下述何種因素(d)a.換能器的直徑 b.換能器的頻率 c.聲波在試件中的傳播速度 d.耦合劑的聲阻抗 159.聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時,缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是(c)a.反射波高隨粗糙度的增大而增加 b.無影響 c.反射波高隨粗糙度的增大而下降 d.以上a和b都可能 160.頻率為(c)的機械振動波屬于超聲波范疇: a.低于16Hz b.高于16Hz,低于20KHz c.高于20000Hz d.以上都不是

161.在異質(zhì)界面上斜入射縱波,如果入射角達到第二臨界角,將會發(fā)生(c)a.表面波全反射 b.橫波45°折射 c.表面波 d.以上都不對

162.檢驗厚度大于400mm的鋼鍛件時,如降低縱波的頻率,其聲速將(c): a.提高 b.降低 c.不變 d.不定 163.若園晶片直徑為D，探測距離為X，聲壓公式為Px=P0πD2/4λx，則（e）

a.X＜N（近場區(qū)長度）此公式正確 b.X＞1.6N時此公式基本上可用 c.X＞3N時此公式基本正確 d.X＞6N時此公式正確 e.b、c和d 164.有一個5P20x10 45°的探頭，有機玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（b）a.sinα=(3230/2730)?sin45° b.α=sin-1(3230/2730)?sin 45° c.tgα=(3230/2730)?Sin45°

165.為使經(jīng)折射透入第二介質(zhì)的超聲波只有橫波，縱波在第一介質(zhì)的入射角應（c）

a.大于第二臨界角 b.小于第一臨界角 c.在第一和第二臨界角之間 d.在第二和第三臨界角之間 166.超聲波從水中以5°角入射到鋼內(nèi)，此時的橫波折射角（a）a.小于縱波折射角 b.等于縱波折射角 c.大于縱波折射角 d.為零 167.在水/鋼界面上，水中入射角為7°，在鋼中主要存在的振動波型是（c）a.縱波 b.橫波 c.縱波、橫波同時存在 d.縱波、橫波都不存在

168.用入射角為30°的有機玻璃斜探頭探測鋼時，折射橫波的折射角是（a）a.36° b.19.17° c.30° d.45° 169.要使鋼中折射橫波的折射角是45°，縱波在水中的入射角應是（b）：a.36° b.19.17° c.30° d.45° 170.超聲波在介質(zhì)中傳播時，任一點的聲壓和該點振動速度之比稱為（a）：a.聲阻抗 b.介質(zhì)密度 c.聲速 d.聲壓

171.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若介質(zhì)兩側面的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（a）時，將有最大的聲壓透過率：a.1/2波長的整倍數(shù) b.1/4波長的整倍數(shù) c.1/4波長的奇倍數(shù) 172.超聲波縱波從水中傾斜入射到金屬材料中時，折射角主要取決于（b）

a.水與金屬的阻抗比 b.水與金屬的相對聲速及聲波入射角 c.超聲波的頻率 d.水與金屬的密度比 173.探頭前保護膜的聲阻抗公式，（Z=聲阻抗）應是（c）

a.Z保護膜=(Z晶片+Z工件)1/2 b.Z保護膜=(Z晶片-Z工件)1/2 c.Z保護膜=(Z晶片xZ工件)1/2 d.Z保護膜=(Z晶片/Z工件)1/2

174.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大，但聲速與第二介質(zhì)相同，則折射角（c）a.大于入射角 b.小于入射角 c.與入射角相同 d.在臨界角之外

175.超聲波從材料1進入材料2，隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，而透過聲壓（a）a.減小 b.增大 c.不變 d.既可增大又可減小

176.表征材料聲學特性的材質(zhì)衰減，主要是由（a）所引起的：a.散射和吸收 b.波束擴散 c.介質(zhì)密度過大 177.聲程大于3N時，聲程增加一倍，大平底的反射聲壓為原來的（a）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 178.聲程大于3N時，聲程增加一倍，平底孔的反射聲壓為原來的（b）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 179.聲程大于3N時，聲程增加一倍，橫通孔的反射聲壓為原來的（c）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍 180.聲程大于3N時，聲程增加一倍，球孔的反射聲壓為原來的（d）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍

181.聲程大于3N時，若聲程相同，則孔徑增加一倍時，平底孔反射聲壓為原來的（e）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍

182.聲程大于3N時，若聲程相同，則孔徑增加一倍時，橫通孔的反射聲壓為原來的（f）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍

183.聲程大于3N時，若聲程相同，則孔徑增加一倍時，球孔的反射聲壓為原來的（g）a.1/2倍 b.1/4倍 c.1/2.8倍 d.1/4倍 e.4倍 f.1.42倍 g.2倍

184.在遠場區(qū)，同直徑的平底孔，聲程從100mm增大到300mm，若不計材質(zhì)衰減，則聲壓減小（d）a.3倍 b.12dB c.24dB d.以上三個答案都不對

185.在遠場，同直徑橫孔，聲程增大1倍，不計材質(zhì)衰減，則聲壓減小（b）：a.6dB b.9dB c.3dB d.12dB 186.在遠場，同聲程的橫孔，直徑從2mm增大到8mm時，其回波聲壓提高（b）：a.4倍 b.6dB c.12dB d.9dB 187.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（b）可得到最大反射信號 a.一個λ的奇數(shù)倍 b.λ/4的奇數(shù)倍 c.λ/4的偶數(shù)倍 d.λ/2的整數(shù)倍 188.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（d）可得到最大反射信號 a.一個λ的奇數(shù)倍 b.一個λ的偶數(shù)倍 c.λ/4的偶數(shù)倍 d.λ/4的奇數(shù)倍 189.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（b）可得到最大反射信號，a.λ/2的奇數(shù)倍 b.λ/4的奇數(shù)倍 c.λ/4的偶數(shù)倍 d.λ/2的整數(shù)倍

190.一個2.25MHz，在水中近場長度等于58.6mm的直探頭，其半擴散角度大約是（c）a.1.5° b.2.05° c.3.75° d.7.5°

191.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為（c）a.53° b.35° c.31° d.47°

192.共振式超聲波儀器主要采用（b）：a.高頻脈沖縱波 b.連續(xù)縱波 c.低頻脈沖縱波 d.連續(xù)橫波 193.當一平行聲束通過液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（d）a.具有不同的相速度 b.仍然保持平行聲束狀態(tài) c.聲束被聚焦 d.聲束被發(fā)散 194.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了入射角以外還應考慮（a）

a.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速 b.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速 c.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的縱波聲速 d.以上都可以 195.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇應考慮（d）

a.合適的入射角 b.合適的斜楔材料的縱波聲速 c.合適的斜楔材料的橫波聲速 d.a和c 196.用一臺時基線已正確校正的儀器去探測R1=50mm，R2=25mm的牛角試塊（V2試塊），使斜探頭對正R1圓弧，若R1圓弧的第一次回波位于水平刻度1.5格處，則R2圓弧的第一次回波將出現(xiàn)在（d）：a.5格 b.9格 c.6格 d.不能出現(xiàn)

197.壓電晶片-耦合劑-鋼的聲阻抗分別為Z晶、Z耦、Z鋼，當耦合劑薄層厚度為1/4波長時，從聲阻抗考慮，超音波易于通過的條件為（c）：a.Z耦=(Z晶+Z鋼)1/2 b.Z耦=(Z鋼-Z晶)1/2 c.Z耦=(Z晶Z鋼)1/2 d.Z耦=(Z晶/Z鋼)1/2

198.在X≥3N的距離上，當聲程相同時，若孔徑相差一倍，則平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 199.在X≥3N的距離上，當聲程相同時，若孔徑相差一倍，則橫通孔回波高度差（b）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 200.在X≥3N的距離上，當聲程相同時，若孔徑相差一倍，則球孔回波高度差（c）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 201.在X≥3N的距離上，當孔徑相同時，若聲程相差一倍，則平底孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 202.在X≥3N的距離上，當孔徑相同時，若聲程相差一倍，則橫通孔回波高度差（d）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 203.在X≥3N的距離上，當孔徑相同時，若聲程相差一倍，則球孔回波高度差（a）dB：a.12 b.3 c.6 d.9 204.材料的晶粒尺寸約大于多少波長時，超聲波的散射會影響試驗結果？（b）：a.1 b.1/10 c.1/2 d.1/100 205.聲強為I，聲壓為P，其換算關系式為（d）：a.I=P2/2 b.I=P/2Z c.P=I/2Z d.I=P2/2Z 206.聲壓反射率r與聲強反射率R之間的關系為（d）：a.r=R b.R=(r)1/2 c.r=(R)1/2 d.D=r2 207.聲壓透射率t與聲強透射率T之間的關系為（c）：a.T=t2 b.T=(t)1/2 c.T=(Z1/Z2)t2 d.T=(Z2/Z1)t2 208.聲壓反射率r與聲壓透射率t之間的關系為（c）：a.t+r=1 b.t2+r2=1 c.t-r=1 d.(t2+r2)1/2=2 209.超聲波從材料1進入材料2,隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，透過聲壓則（b）：a.增大 b.減小 c.不變 d.以上都不對

210.超聲波探傷儀上的“進波報警”是指缺陷回波在下述那種情況下報警?(d)a)低于報警電平b)高于報警電平c)達到報警電平d)b和c 211.脈沖反射式超聲波探傷儀中,產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做(c):a.發(fā)射電路 b.掃描電路 c.同步電路 d.標距電路

212.脈沖反射式超聲波探傷儀中,產(chǎn)生時基線的電路單元叫做(b): a.觸發(fā)電路 b.掃描電路 c.同步電路 d.發(fā)射電路

213.發(fā)射電路輸出的電脈沖,其電壓通常可達(a): a.幾百伏到上千伏 b.幾十伏 c.幾伏 d.1伏

214.接收電路中,放大器輸入端接收的回波電壓約有(d): a.幾百伏 b.100伏左右 c.十伏左右 d.0.001～1伏

215.調(diào)節(jié)探傷儀面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的(d): a.垂直線性 b.動態(tài)范圍 c.靈敏度 d.以上全部 216.窄脈沖探頭和普通探頭相比(d): a.Q值較小 b.靈敏度較低 c.頻帶較寬 d.以上全部

217.探頭軟保護膜和硬保護膜相比,突出的優(yōu)點是(c)：a.透聲性能好 b.材質(zhì)聲衰減小 c.有利消除耦合差異 d.以上全部

218.脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復頻率和下述哪個電路有關?(c):a.報警電路 b.接收電路 c.同步電路 d.時基電路

219.用縱波直探頭探傷,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置(d)a.在任何情況下都位于探頭中心正下方 b.位于探頭中心左下方 c.位于探頭中心右下方 d.未必位于探頭中心正下方

220.超聲波檢驗中,當探傷面比較粗糙時,宜選用(d): a.較低頻探頭 b.較粘的耦合劑 c.軟保護膜探頭 d.以上都對

221.探傷時采用較高的探測頻率,可有利于(d):a.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 b.區(qū)分開相鄰的缺陷 c.改善聲束指向性 d.以上全部

222.缺陷反射聲能的大小取決于(d): a.缺陷的尺寸 b.缺陷的類型 c.缺陷的形狀和取向 d.以上全部 223.超聲波檢測條件的主要考慮因素是(f)a.工作頻率 b.探頭和儀器參數(shù) c.耦合條件與狀態(tài) d.探測面 e.材質(zhì)衰減 f.以上都是

224.半波高度(6dB)法測長適用于(b): a.平底孔 b.粗細均勻的長條形缺陷 c.粗細不均勻的長條形缺陷 225.在評定缺陷大小時通常采用當量法,現(xiàn)發(fā)現(xiàn)一個缺陷大小為Φ2mm平底孔當量,該缺陷的實際大小(a)a.大于Φ2mm平底孔 b.小于Φ2mm平底孔 c.等于Φ2mm平底孔 226.在何種情況下,鍛鋼件超聲波檢測需要使用對比試塊調(diào)節(jié)探測靈敏度?(c)a.厚度大于等于三倍近場長度,工件表面光潔度大于等于3.2μm,探測面與底面平行 b.厚度大于等于三倍近場長度,工件表面粗糙,探測面與底面平行 c.厚度小于等于三倍近場長度,工件表面粗糙,探測面與底面不平行

227.某鍛件采用對比試塊法探傷,驗收標準為Φ1.2mm平底孔當量,現(xiàn)發(fā)現(xiàn)埋藏深度33mm處有一缺陷,應采用下述哪種試塊進行評定?(c): a.Φ1.2-25mm b.Φ1.2-30mm c.Φ1.2-40mm d.Φ1.2-50mm 228.對某厚度為50mm的上下面平行的鋼鍛件采用縱波垂直入射探傷時,發(fā)現(xiàn)某局部位置處的底波前沿不在50mm刻度處,而是在46mm刻度處,這可能是(c): a.下表面局部有凹坑造成厚度有變化 b.有缺陷存在 c.以上兩種情況都有可能

229.鍛件探傷中,熒光屏上出現(xiàn)“林狀(叢狀)波”時,是由于(d)a.工件中有小而密集缺陷 b.工件材料中有局部晶粒粗大區(qū)域 c.工件中有疏松缺陷 d.以上都有可能 230.長軸類鍛件從端面做軸向探測時,容易出現(xiàn)的非缺陷回波是(d):a.三角反射波 b.61°反射波 c.輪廓回波 d.遲到波

231.鍛件接觸法探傷時,如果探傷儀的“重復頻率”調(diào)得過高,可能發(fā)生(d)a.熒光屏“噪聲”信號過高 b.時基線傾斜 c.始脈沖消失 d.容易出現(xiàn)“幻象波” 232.鍛件探傷時,那些因素會在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波?(d):a.邊緣效應 b.工件形狀及外形輪廓 c.遲到波 d.以上全部

233.某鋼鍛件毛坯厚度30mm,后續(xù)機械加工的表面加工余量為4mm,超聲波探傷時應考慮選用下述哪種探頭為宜?(e)a.2.5MHz,Φ20mm b.5MHz,Φ14mm c.5MHz,Φ14mm,窄脈沖探頭 d.組合雙晶直探頭 e.c或d 234.鋼板超聲波檢測中,一般用來測量缺陷邊界位置的方法是(a): a.6dB法 b.12dB法 c.20dB法 235.在鋼板的水浸探傷中,如果入射角為33°(sin33°=0.545),在板中將會產(chǎn)生(b)a.縱波 b.橫波 c.縱波與橫波兩種都有 d.沒有縱波,也沒有橫波 236.管材自動探傷設備中,探頭與管材相對運動的形式是(d)a.探頭旋轉,管材直線前進 b.探頭靜止,管材螺旋前進 c.管材旋轉,探頭直線移動 d.以上均可 237.下面有關鋼管水浸探傷的敘述中哪點是錯誤的?(c)a.使用水浸式縱波探頭 b.探頭偏離管材中心線

c.無缺陷時,熒光屏上只顯示始波和1～2次底波 d.水層距離應大于鋼中一次波聲程的1/2 238.鋼管水浸聚焦法探傷中,下面有關點聚焦方式的敘述中哪條是錯誤的?(b)a.對短缺陷有較高探測靈敏度 b.聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡 c.缺陷長度達到一定尺寸后,回波幅度不隨長度而變化 d.探傷速度較慢 239.鋼管水浸聚焦法探傷時,下面有關線聚焦方式的敘述中哪條是正確的?(d)a.探傷速度較快 b.在焦線長度內(nèi)回波幅度隨缺陷長度增大而提高 c.聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片形晶片 d.以上全部 240.為探測出焊縫中與表面成不同角度的缺陷,應采取的方法是(b)a.提高探測頻率 b.用多種角度探頭探測 c.修磨探傷面 d.以上都可以

241.板厚100mm以上窄間隙焊縫的超聲檢驗中,為探測邊緣未熔合缺陷,最有效的掃查方式是(b)a.斜平行掃查 b.串列掃查 c.雙晶斜探頭前后掃查 d.交叉掃查

242.采用雙晶直探頭檢驗鍋爐大口徑管座角焊縫時,調(diào)節(jié)探傷靈敏度應采用(b)a.底波計算法 b.試塊法 c.通用AVG曲線法 d.以上都可以 243.對有加強層的焊縫作斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時,應(d)a.保持靈敏度不變 b.適當提高靈敏度 c.增加大折射角探頭探測 d.以上b和c 244.鑄鋼件超聲波探傷的主要困難是(d): a.材料晶粒粗大 b.聲速不均勻 c.聲阻抗變化大 d.以上全部 245.超聲波檢測作業(yè)中校正時基掃描線(俗稱“定標”)是為了(c)a.評定缺陷大小 b.判斷缺陷性質(zhì) c.確定缺陷位置 d.測量缺陷長度 246.某超聲波探傷儀出廠指標中給出“鋼中縱波始波占寬15mm”,則(d)a.在鋁中應大于15mm b.在水中應小于15mm c.在任何情況下都是15mm d.這是一個參考指標,具體數(shù)值與靈敏度和檢測對象及條件有關

247.一種超聲波探傷儀可直觀顯示出被檢工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度,這種儀器顯示是(b)a.A型顯示 b.B型顯示 c.C型顯示 d.以上都不是 248.下面哪一組性能是超聲波探傷儀最重要的性能?(c)a.放大線性,分辨力,示波管屏幕尺寸 b.放大線性,分辨力,盲區(qū) c.放大線性,時間軸線性,分辨力 d.發(fā)射功率,耗電功率,重量

249.橫波探傷中最常用于調(diào)整起始靈敏度的方法是(c): a.底波方式法 b.AVG曲線圖法 c.對比試塊法 250.水浸法縱波探傷時,水距的選擇應當是(a)a.第二次界面回波落在第一次底波之后 b.第二次界面回波落在第一次底波之前 c.第二次界面可處于任何位置

251.有的半圓試塊在中心側壁開有5mm深的切槽,其目的是(c)a.標記試塊中心 b.消除邊界效應 c.獲得R曲面等距離反射波 d.以上全部 252.被檢材料表面過分粗糙會導致(d)a.來自內(nèi)部缺陷的反射幅度下降 b.使聲束指向性變差 c.使前表面回波的寬度增大 d.以上都是 253.用2.5MHz,Φ25mm直探頭測定厚度100mm鋼板的材質(zhì)衰減,設鋼板表面往返損失1dB,現(xiàn)在測得(B1-B2)=5dB,則雙聲程衰減系數(shù)為(a): a.0.04dB/mm b.0.020dB/mm c.0.0625dB/mm d.0.03125dB/mm 254.鍛件超聲波縱波檢測的起始靈敏度調(diào)整通常是(c)a.只采用對比試塊法 b.只采用底波方式法 c.可以采用對比試塊法或底波方式法

255.用超聲縱波探測鋼鍛件(CL=5850m/s),要求能發(fā)現(xiàn)Φ0.8mm平底孔當量的缺陷,應選用何種工作頻率為宜?(c)a.1.25MHz b.2.5MHz c.5MHz d.10MHz 256.鍛件探傷中,下面有關“幻象波”的敘述哪點是不正確的?(d)a.有時幻象波在整個掃描線上連續(xù)移動 b.有時幻象波在掃描線上是穩(wěn)定的且位于底波之前 c.用耦合劑拍打工件底面時,此波會跳動或波幅降低 d.用耦合劑拍打工件底面時,此波無變化

257.欲使用5MHz14mm直探頭縱波檢測厚度40mm的鋼鍛件,其靈敏度調(diào)試和定量評定的方法最好采用(c)a.底波方式法 b.AVG曲線圖法 c.對比試塊法 258.下列哪種頻率的超聲波對鑄鋼件的穿透力較大?(d): a.5MHz b.10MHz c.2.5MHz d.1MHz 259.下面有關鑄鋼件探測條件選擇的敘述中哪點是正確的?(b)a.探測頻率應等于大于5MHz b.透聲性好粘度大的耦合劑 c.晶片尺寸小的探頭 d.以上全部

260.厚度相同,材料相同,下列那種工件對超聲波的衰減大?(b)a.鋼鍛件 b.鑄鋼件 c.鋼板 d.上述工件的衰減相同

261.鍛件探傷時,如果用試塊比較法對缺陷定量,對于表面粗糙的缺陷,缺陷實際尺寸會(c)a.大于當量尺寸 b.等于當量尺寸 c.小于當量尺寸 d.以上都可能

262.方形鍛件垂直法探傷時,熒光屏上出現(xiàn)一隨探頭移動而游動的缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大,該缺陷的取向可能是(c): a.平行且靠近探測面 b.與聲束方向平行 c.與探測面成較大角度 d.平行且靠近底面

263.焊縫超聲波檢測最常采用的是(c): a.縱波法 b.蘭姆波法 c.橫波法 d.爬波法 e.瑞利波法

264.已知厚度22mm鋼板對接焊縫寬度18mm,焊縫加強高1.5mm,V型坡口,使用2.5MHz10x12mm斜探頭,其前沿長度(入射點至探頭前端面距離)11.5mm,應選用最佳探頭標稱折射角度為(a): a.45° b.60° c.70° 265.厚板焊縫斜角探傷時,時常會漏掉(a)a.與表面垂直的裂紋 b.方向無規(guī)律的夾渣 c.根部未焊透 d.與表面平行的未熔合 266.焊縫斜角探傷時,熒光屏上顯示的反射波來自(d): a.焊道 b.缺陷 c.結構 d.以上全部 267.對于Φ83x14mm規(guī)格的鋼管對接環(huán)焊縫探傷時,采用的對比試塊最好是(c)a.IIW2試塊 b.IIW1試塊 c.實際工件試塊 d.任何平底孔試塊都可以 268.用單斜探頭檢查厚壁焊縫時最容易漏檢的缺陷是(d)a.條狀夾渣 b.橫向裂紋 c.密集氣孔 d.與探測面垂直的大而平的缺陷

269.焊縫斜角探傷時,焊縫中與表面成一定角度的缺陷,其表面狀態(tài)對回波高度的影響是(a)a.粗糙表面回波幅度高 b.無影響 c.光滑表面回波幅度高 d.以上都可能

270.對圓筒形工件縱向焊縫作橫波探傷時,跨距將(a): a.增大 b.減小 c.不變 d.按外或內(nèi)圓周面探測而增大或減小

271.采用不帶中心刻槽的半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷的掃描比例時,如果圓弧第一次反射波對準時基刻度2,則以后各次反射波對應的刻度應為(c): a.4,6,8,10 b.3,5,7,9 c.6,10 d.以上都不對 272.某高壓無縫鋼管的規(guī)格為Φ83x20mm,其超聲波檢測應考慮采用(f)a.縱波法 b.蘭姆波法 c.橫波法 d.爬波法 e.瑞利波法 f.變型波（縱-橫波）法 273.管材周向斜角探傷與板材斜角探傷顯著不同的地方是(c)a.內(nèi)表面入射角等于折射角 b.內(nèi)表面入射角小于折射角 c.內(nèi)表面入射角大于折射角 d.以上都可能 274.管材橫波接觸法探傷時,入射角的允許范圍與(c)有關

a.探頭楔塊中的縱波聲速 b.管材中的縱,橫波聲速 c.管子的規(guī)格 d.以上全部

275.某鋼棒直徑Φ180mm(CL=5900m/s),欲用底波方式法調(diào)整起始靈敏度探傷,要求能發(fā)現(xiàn)Φ2mm平底孔當量及以上的缺陷,可考慮采用下述哪種探頭較適宜?(b)a.5MHz10x2,焦距30mm雙晶直探頭 b.2.5MHzΦ14mm直探頭 c.2.5MHzΦ20mm直探頭 d.2.5MHz8x10mm,60°斜探頭

276.與表面光滑的工件相比，檢驗表面粗糙的工件時，一般應采用（a）a.較低頻率的探頭和較粘的耦合劑 b.較高頻率的探頭和較粘的耦合劑 c.較高頻率的探頭和粘度較小的耦合劑 d.較低頻率的探頭和粘度較小的耦合劑 277.用水浸法檢查工件時，通常用于產(chǎn)生橫波的方法是（d）

a.用縱波垂直于界面發(fā)射到工件中去 b.用兩個不同振動頻率的晶片 c.沿Y軸切割石晶英晶體 d.適當?shù)貎A斜探頭

278.用縱波水浸法探測鋼材時，為防止在第一次底面回波前面出現(xiàn)二次界面回波，水層厚度為25mm時，能探測鋼材的最大厚度為（b）：a.50mm b.100mm c.150mm d.200mm 279.檢驗近表面缺陷，最有效的方法是（d）：a.可變角探頭 b.直探頭 c.斜探頭 d.收發(fā)聯(lián)合雙晶探頭。280.探測分散的氣孔反射波較低，這是因為（b）

a.氣孔內(nèi)充滿了空氣 b.氣孔通常是園球形，其反射波是發(fā)散的 c.氣孔表面通常是很光滑的。

281.在檢驗工件時若無缺陷顯示，則操作者應注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（d）：a.大而平的缺陷與入射聲束取向不良 b.疏松 c.晶粒粗大 d.以上都是

282.用單斜探頭檢驗厚焊縫容易漏掉（b）：a.線狀夾渣 b.與探測面垂直的大而平的缺陷 c.密集氣孔 d.未焊透

283.在檢驗大鍛件時，通常采用（c）：a.軸向檢驗 b.徑向檢驗 c.軸向、徑向檢驗 284.厚鋼板內(nèi)部與探測面呈45°傾斜的平滑片狀缺陷，最有效的探傷方法是（b）a.單探頭縱波法 b.單探頭橫波法 c.雙斜探頭前后串列法

285.直探頭探測厚250mm及500mm的兩個餅形鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差5dB，材質(zhì)衰減均為0.004dB/mm，前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅度的80%，則后者的底面回波應為滿幅度的（c）a.5% b.10% c.20% d.40% 286.管子的槽形參考標準，應把槽加工在管子的（a）

a.內(nèi)外表面 b.只在內(nèi)表面 c.只在外表面 d.從內(nèi)表面到壁厚的1/2深度 287.超聲波探傷試塊的作用是（e）

a.檢驗儀器和探頭的組合性能 b.確定靈敏度 c.缺陷定位 d.缺陷定量 e.以上都是

288.已選定某一聚焦探頭對管材作水浸聚焦探傷，如果聚焦點不能調(diào)整到被檢管件的中心軸線上，而偏離中心軸線一定距離，在管壁內(nèi)將出現(xiàn)（b）：a.盲區(qū)增大 b.無底波反射 c.多種波型傳播

289.鍛件探傷中，若缺陷垂直于探測面，且缺陷稍有曲折或較粗糙時，若采用高靈敏度探傷，其反射波特征是（c）

a.反射波峰尖銳 b.反射波穩(wěn)定但較波幅低 c.反射波幅低，回波包絡寬度較大 290.斜探頭測焊縫時，正確地調(diào)整儀器的水平或深度比例主要是為了（e）。

a.識別焊道回波和缺陷波 b.判定缺陷的大小 c.判定缺陷的長度 d.判斷缺陷的位置 e.達到a和d的目的 如右圖所示：

291.探頭C正在進行（d）

a.距離測定 b.分辨力測定 c.靈敏度校驗 d.折射角測定

292.探頭B正在進行（d）

a.靈敏度調(diào)節(jié) b.距離測定 c.聲速測定 d.橫波分辨力測定 293.探頭A正在進行（d）

a.驗證楔塊角度 b.靈敏度調(diào)節(jié) c.分辨力測定 d.斜探頭入射點測定 294.探頭D正在進行（b）

a.驗證楔塊角度 b.直探頭分辨力測定 c.靈敏度測定 d.距離校驗

295.在利用實心軸上圓柱面底波按AVG方法校正探傷靈敏度時，為了保證軸的直徑不小于3.7N，通常可通過（a）使之實現(xiàn)

a.減小探頭尺寸 b.加大探頭尺寸 c.降低檢測頻率 d.以上都不對

296.當用雙晶直探頭在平面上掃查時，應盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向（c）a.平行 b.成45°角 c.垂直 d.成60°角

297.當探頭橫向移動時，比探頭尺寸小的缺陷所產(chǎn)生的信號幅度會發(fā)生起伏變化，這個區(qū)域稱為（b）a.遠場區(qū) b.近場區(qū) c.過渡區(qū) d.陰影區(qū)

298.液浸探傷時，采用（b）方法可消除探頭近場的影響

a.提高頻率 b.合適的水層距離 c.大直徑探頭探測 d.聚焦探頭探測

299.鋼件或鋁件水浸探傷時，始脈沖和工件表面反射波之間顯示的水層反射間隔很寬，這是由于（a）所致 a.水中聲速比工件聲速低 b.水中聲速比工件聲速高 c.水中溫度高 d.以上都是 300.參考反射體中，（c）與聲束角度無關：a.平底孔 b.V形缺口 c.橫通孔 d.大平底 301.參考反射體中，（c）與聲束角度無關：a.平底孔 b.U形缺口 c.橫通孔 d.柱孔 302.金屬零件中的粗大晶粒通常會引起（d）

a.底波降低或消失 b.較高的雜波 c.超聲波的穿透力降低 d.以上都是

303.同種波型的聲波，反射角（a）：a.等于入射角 b.取決于使用的耦合劑 c.取決于使用的頻率 d.等于折射角

304.在頻率相同的條件下，在粗晶材料中的穿透力最大的波型是（a）：a.縱波 b.橫波 c.表面波 d.以上都不是

305.公式(sinθ1)/C1=(sinθ2)/C2是用來計算（a）：a.角度關系 b.相速度 c.聲能反射量 d.聲阻抗 306.在水/鋼界面上，超聲波在水中的入射角為7°，鋼中的主要波型為（c）a.縱波 b.橫波 c.縱波與橫波 d.表面波

307.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探傷時通常需要使用（a）a.頻率較低的探頭和粘度較高的耦合劑 b.頻率較高的探頭和粘度較低的耦合劑 c.頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑 d.頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑 308.增大超聲波在粗晶材料中的穿透力，可以（b）

a.用直徑較小的探頭進行檢驗 b.在細化晶粒熱處理后進行檢驗 c.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗 d.將縱波檢驗改為橫波檢驗

309.鍛件中，非金屬夾雜物的最可能取向是（c）

a.與主軸線平行 b.與副軸線平行 c.與鍛件流線一致 d.與鍛件流線約成45°角 310.檢驗形狀復雜的鍛件的最好方法是（b）

a.用帶有經(jīng)校準的衰減器和C掃描記錄儀的探傷儀對精加工鍛件進行液浸自動探傷 b.鍛造前對鍛坯進行檢驗，精加工后對形狀許可的部位再進行檢驗 c.對成品件進行手工接觸法檢驗 d.鍛造前對鍛坯進行自動液浸檢驗 311.確定探傷靈敏度的最常用的方法是（b）

a.根據(jù)頻率和壓電晶片的厚度進行計算 b.用人工缺陷的反射信號幅度確定 c.與同種探頭進行比較 d.確定探頭的振蕩時間

312.用橫槽作為參考反射體，探測（b）最適宜

a.滾軋板材中的疏松 b.焊縫根部的未焊透 c.焊縫中的氣孔 d.內(nèi)部夾雜物 313.在A型超聲波探傷儀中，射頻脈沖發(fā)生器的輸出電壓一般在（c）范圍內(nèi) a.1-10伏 b.10-100伏 c.100-1000伏 d.1000-3000伏

314.粗糙表面會使工件內(nèi)的缺陷回波振幅（b）：a.增大 b.減小 c.無變化 d.改變頻率 315.制作聲發(fā)射器最好的材料是（c）：a.石英 b.硫酸鋰 c.鋯鈦酸鉛 d.以上都不對 316.制作聲接收器最好的材料是（b）：a.石英 b.硫酸鋰 c.鈦酸鋇 d.偏鈮酸鉛 317.根據(jù)近場長度公式，可以通過（d）方法減小近場長度 a.減小水距 b.增大探頭直徑 c.減小反射體 d.降低試驗頻率

318.一般說來，缺陷越薄，對聲波的反射越差，當能得到最大反射時，缺陷厚度最小的尺寸等于（a）a.四分之一波長 b.二分之一波長 c.一個波長 d.二分之一波長的奇數(shù)倍

319.管子的槽形參考反射體應加工在（a）：a.管子內(nèi)外表面 b.內(nèi)表面 c.外表面 d.從內(nèi)表面到壁厚的二分之一深度

320.管子水浸探傷時常采用聚焦探頭，其優(yōu)點為（d）

a.能改善指向性 b.使聲束入射角保持不變 c.能提高信噪比 d.以上都是 321.有晶片所發(fā)射的超聲波聲束的擴散主要取決于（c）

a.探傷類型 b.晶片背襯的致密性 c.頻率和晶片尺寸 d.脈沖寬度 322.（d）探頭具有較長的近場長度 a.1兆赫，Φ14毫米 b.2.5兆赫，Φ14毫米 c.1兆赫，Φ20毫米 d.2.5兆赫，Φ30毫米 323.（d）頻率的探頭可獲得最佳分辨力：a.1兆赫 b.5兆赫 c.10兆赫 d.25兆赫 324.（d）頻率的探頭具有最薄的石英晶片：a.1兆赫 b.5兆赫 c.10兆赫 d.25兆赫 325.探頭中使用壓電陶瓷晶片的優(yōu)點是（a）

a.能最有效地發(fā)射超聲波能量 b.能最有效地接收超聲波能量 c.具有很低的機械阻抗 d.能在700℃高溫下工作

326.儀器抑制旋鈕的功能是（b）

a.只抑制雜波而對缺陷波無影響 b.限制檢波后的信號輸出幅度，同時抑制雜波和缺陷波 c.可以改善儀器的垂直線性 d.可以提高儀器的動態(tài)范圍

327.一臺經(jīng)校準好的超聲波探傷儀，其垂直線性誤差應為（b）：a.＞8% b.≤8% c.20分貝 d.6分貝 328.一臺新出廠的的超聲波探傷儀，其水平線性誤差應為（d）：a.＞6分貝 b.＞2% c.＜6分貝 d.≤2% 329.水浸探傷法的優(yōu)點是（d）：a.能提高探測速度 b.易于控制聲束入射方向 c.易實現(xiàn)自動探傷 d.以上都是

330.利用三個平底孔繪制實測“距離-波幅”曲線時，有時所得到距探測面最近的孔的反射回波幅度較其他兩孔的低，這是由于（d）所致：a.三平底孔試塊的探測面表面狀態(tài)不一致 b.近場的影響 c.孔的幾何形狀不正確 d.以上都是

331.使用2.5兆赫、Φ20毫米直探頭探測如右圖所示的筒體鍛件，探測時以筒體內(nèi)表面作參考反射體，起始靈敏度為Φ2毫米平底孔，波高40%，此時的校驗分貝和探測分貝各為（a）：a.32.8分貝和0分貝 b.35分貝和0分貝 c.39分貝和0分貝 d.38分貝和0分貝

332.被探鋼板厚度為19毫米，探測時，當波形出現(xiàn)疊加效應，則對缺陷的評價應以（b）為據(jù)：a.F1回波的大小 b.F2回波的大小 c.B1回波的大小 d.以上都不對 333.用25兆赫硫酸鋰晶片制的探頭最適宜采用（b）探傷 a.縱波接觸法 b.水浸探傷法 c.橫波接觸法 d.表面波接觸法 334.頻率大于5兆赫的探頭最適宜于（d）a.鋁錠的縱波接觸法探傷 b.鋼管的橫波接觸法探傷 c.金屬板材的接觸法探傷 d.水浸法探測小口徑薄壁管

335.鋼管水浸探傷時，水中加入適量潤濕劑的目的是（c）

a.調(diào)節(jié)水的粘度 b.消除水中氣泡 c.提高水的浸潤能力 d.防止水的混濁 336.水浸探傷時，鋼管用橫波檢測的條件是（b）

a.T/D≤40%或T/d≤20% b.T/D≤20%或T/d≤40% c.T/D≤25%或T/d≤50% d.T/D≤50%或T/d≤25% 式中：T-壁厚；D-管子外徑；d-管子內(nèi)徑

337.鍛件探傷時，若材料中存在白點，其特征為（d）

a.回波清晰、尖銳 b.缺陷的區(qū)域較大且集中于工件中心部位 c.會造成底波衰減 d.以上都是

338.鍛件超聲波探傷時，探測靈敏度的校驗可以使用（d）：a.AVG曲線 b.參考試塊 c.工件的大平底 d.以上都是

339.斜探頭在磨平的焊縫上進行掃查，主要用于檢測（b）：a.縱向缺陷 b.橫向缺陷 c.表面缺陷 d.以上都是

340.焊縫用串列探頭進行掃查，主要用于檢測（c）

a.平行于探測面的缺陷 b.與探測面傾斜的缺陷 c.垂直于探測面的缺陷 d.不能用斜探頭檢測的缺陷 341.由于工件表面與試塊的表面粗糙度不一致，因此在超聲波探傷時應考慮（b）

a.通過機械加工使工件表面與試塊表面的光潔度一致 b.補償因表面耦合損耗而引起的分貝差值 c.采用黃油作耦合劑 d.以上都不是

初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編 填空題 1.指出右圖中各表示什么顯示方式? 從左到右：（A）（B）（C）

2.所謂聲強，就是在（單位時間）內(nèi)（垂直）通過（單位面積）的超聲能量，它具有（功）的概念 3.在異質(zhì)界面上，當超聲波（縱）波的（折射）角等于90℃時的（縱）波（入射）角稱為第一臨界角 4.超聲波只有在（斜射）時才能在異質(zhì)界面發(fā)生波型轉換，并且至少一側為（固）體

5.超聲波檢測中，采用橫軸表示實際聲程，縱軸表示規(guī)則反射體相對波高的坐標曲線是描述（距離）、（波幅）、（當量大小）之間關系的曲線，又稱實用AVG曲線，在調(diào)節(jié)（探傷靈敏度）和對缺陷（定量）中得到了廣泛應用

6.超聲波的波長由聲速與頻率求得，而聲速則由（材質(zhì)）和（波的種類）決定的 7.超聲波檢測中，2.25MHz探頭的分辨率比5MHz探頭的分辨率（差）

8.當超聲波聲程大于3N時，如聲程相同，若平底孔面積相差一倍，則波高相差（6）dB，若長橫孔直徑相差一倍時，則波高相差（3）dB 9.在超聲波檢測中，相同的探測靈敏度下，缺陷波幅決定于缺陷的（大小）、（取向）與（類型）10.超過人耳聽覺范圍的聲波稱為超聲波，它的頻率高于（20千赫），屬于（機械波）

11.波長λ、聲速C、頻率f之間的關系是（λ=c/f）。應用2P20x20 60°的探頭探測鋼時，鋼材中超聲波的波長是（1.6mm）

12.（縱波）、（橫波）和（表面波）可在固體中傳播，只有（縱波）可在液體中傳播 13.蘭姆波只能在（固體）中傳播

14.超聲波傳播的條件是（有發(fā)射聲波的聲源）、（有傳播聲波的彈性介質(zhì)）15.超聲波在傳播過程中僅有（能量的傳播），沒有（物質(zhì)的遷移）16.超聲波的波陣面是指某一瞬間（同相位振動）的各質(zhì)點構成的空間曲面

17.介質(zhì)中質(zhì)點振動方向和傳播方向垂直時，此波稱為（橫波）。介質(zhì)中質(zhì)點振動方向和波的傳播方向平行時，此波稱為（縱波）。橫波的聲速比縱波的聲速（慢）。焊縫探傷主要用（橫波）

18.超聲波在傳播過程中產(chǎn)生干涉現(xiàn)象是由于（兩束以上的波）相互作用，引起強度（重新分布）的結果。19.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度就是（聲能）的傳播速度

20.一般來說，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測缺陷要比縱波靈敏，這是因為（橫波比縱波的波長短）

21.超聲波探傷用的橫波，具有的特性是（質(zhì)點振動方向垂直于傳播方向），（傳播速度約為縱波速度的1/2）

22.頻率都是2.5MHZ的縱波和橫波在探測鋼時的波長分別是(2.34mm)和(1.3mm),在探測鋁時的波長分別是(2.6mm)和(1.26mm)23.鋼中聲速最大的波型是（縱波）

24.在固體表面能沿園滑過渡的邊角傳播的超聲波稱為（表面波）25.傳播速度略小于橫波，不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是（表面波）

26.在傳播超聲波的介質(zhì)內(nèi)，由于交變振動產(chǎn)生了壓強，這種交變的附加壓強就叫做（聲壓），單位時間內(nèi)通過超聲波傳播方向垂直截面單位面積上的聲能稱為（聲強），后者與前者的振幅平方正比。27.近場區(qū)是指（鄰近探頭），聲壓（無規(guī)律）變化，有極大值和極小值的區(qū)域 28.遠場區(qū)是指遠離探頭，隨著（距探頭的距離）增加，聲壓（單調(diào)下降）的區(qū)域

29.鄰近壓電晶片，聲壓分布不均勻的超聲場為（近場）此區(qū)長度在頻率給定時，隨晶片直徑變小而（縮短）。用公式L0=（D2-λ2）/4λ表示

30.設晶片表面的平均入射聲壓為P0則理想園平面小缺陷的反射聲壓PF=P0As?S/λ2X2，反射波的聲壓與缺陷面積S成（正）比，同時與缺陷距離X的（平方）成反比而（減少）。面積為As的晶片近場距離為N，當距離在1.6N以外時,這個算式可以認為基本上是成立的。

31.設超聲波的入射聲壓為P0，則大平底面而產(chǎn)生的反射波聲壓PF=P0As/2λX，反射波的聲壓與晶片面積成（正）比而增大，與距離成（反）比而減少。這個算式對晶片面積為As，距離在1.6N以外的聲場基本上適用。

32.超聲波投射到界面上，在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做（反射）33.超聲波從一種介質(zhì)進入另一種不同介質(zhì)而改變傳播方向的現(xiàn)象叫做（折射）

34.超聲波從一種介質(zhì)進入另一介質(zhì)后，其聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（折射角）35.同一介質(zhì)中，同一波型的超聲波反射角（等于）入射角

36.超聲波到達兩個不同材料的界面上，可能發(fā)生（反射、折射、波型轉換）

37.超聲波從一種介質(zhì)進入另一介質(zhì)，入射聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（入射角）

38.在離晶片的一定距離外，超聲波按一定角度擴散。在超音波檢測中，這個角度是以（聲壓）在理論上是零點的位置作為基準的，即說指向角θ0=70λ/D 39.公式sinθ1/C1= sinθ2/C2叫做（折射定律）40.使一種波產(chǎn)生90°折射的入射角叫做（臨界角）

41.超聲波垂直入射至異質(zhì)界面時，反射波和透射波的波型（不變）

42.為使經(jīng)折射透入第二介質(zhì)的超聲波只有橫波，縱波在第一介質(zhì)的入射角應（在第一和第二臨界角之間）43.有一個5P20x10 45°的探頭，有機玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（α=Sin-1(3230/2730)?Sin45°）

44.超聲波從水中以5°角入射到鋼內(nèi)，此時的橫波折射角（小于）縱波折射角

45.在水/鋼界面上，水中入射角為7°，在鋼中主要存在的振動波型是（縱波、橫波同時存在）

46.用入射角為30°的有機玻璃斜探頭探測鋼時，折射橫波的折射角是（36°）。要使鋼中折射橫波的折射角是45°，縱波在水中的入射角應是（19.17°）。

47.超聲波以一定角度入射在不同介質(zhì)的界面上，第二介質(zhì)中聲波折射角的大小是由（兩個介質(zhì)中聲速）決定的

48.超聲波在介質(zhì)中傳播時，任一點的聲壓和該點振動速度之比稱為（聲阻抗），它常用（介質(zhì)密度）和（聲速）的乘積來表示

49.超聲波縱波從水中傾斜入射到金屬材料中時，折射角主要取決于（水與金屬的相對聲速及聲波入射角）50.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若介質(zhì)兩側面的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（1/2波長的整倍數(shù)）時，將有最大的聲壓透過率

51.探頭前保護膜的聲阻抗公式，（Z=聲阻抗）應是（Z保護膜=(Z晶片xZ工件)1/2）

52.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大，但聲速與第二介質(zhì)相同，則折射角與入射角（相同）

53.超聲波從材料1進入材料2，隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，而透過聲壓（減小）54.表征材料聲學特性的材質(zhì)衰減，主要是由（散射和吸收）所引起的

55.當超聲波的波長與金屬晶粒相比，數(shù)值相近，或小于晶粒時，（衰減）顯著、穿透能力減弱，同時由于晶粒反射，出現(xiàn)（雜亂）回波，不易檢出缺陷。

56.為減小超聲波通過介質(zhì)時的衰減和避免林狀回波，宜采用（較低）頻率和（縱）波進行探傷。57.因工件表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生的漫射叫做（散射）

58.缺陷反射能量的大小取決于缺陷的（尺寸）、（方位）、（類型）59.晶片厚度和探頭頻率是相關的，晶片越厚則頻率（越低）

60.一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中，穿透力強的波型是（縱波）

61.在小工件中，聲波到達底面之前，由于聲束擴散，在試件側面可能會有（波型轉換）產(chǎn)生 62.由發(fā)射探頭發(fā)射的超聲波，通過試件后再由另一接收探頭接收，這種檢驗方法稱 為（穿透法）63.萊姆波可用于檢查（薄板）

64.晶片與探測面平行，使超聲波垂直于探測面而進入被檢材料的檢驗方法稱為（垂直法）65.靠近探頭的缺陷不一定都能探測到，因為超聲波檢測儀器存在有儀器（阻塞）效應 66.超聲波探傷中常用的換能器是利用（壓電）原理

67.把某些材料所具有的，能使電能與機械能相互轉換的特性稱為（壓電）效應

68.聲程大于3N時，聲程增加一倍，大平底的反射聲壓為原來的（1/2倍），平底孔的反射聲壓為原來的（1/4倍），橫通孔的反射聲壓為原來的（1/2.8倍），球孔的反射聲壓為原來的（1/4倍）。

69.聲程大于3N時，若聲程相同，則孔徑增加一倍時，平底孔反射聲壓為原來的（4倍），橫通孔的反射聲壓為原來的（1.42倍），球孔的反射聲壓為原來的（2倍）

70.一般地說，在遠場區(qū)，同一深度的平底孔，直徑增大一倍，其回波高度提高（12dB）71.大平底的反射聲壓公式（PF=P0As/2λX（Ａs-晶片面積））72.平底孔的反射聲壓公式為（PF=P0As?S/λ2?X2（S-平底孔面積））73.球孔的反射聲 壓公式為（PF=P0As?d/4λX2（d-球孔直徑））

74.長橫通孔的反射公式為（PF=[P0As/2(2)1/2?λ]?(d/X3)1/2（d-橫通孔直徑））

75.在遠場區(qū)，同直徑的平底孔，聲程從100mm增大到300mm，若不計材質(zhì)衰減，則聲壓減小（19dB）76.在遠場，同聲程的長橫通孔，直徑從2mm增大到8mm時，其回波聲壓提高（6dB）77.在遠場，同直徑長橫通孔，聲程增大1倍，不計材質(zhì)衰減，則聲壓減小（9dB）78.在下述回波高度比和分貝關系中，填入正確的分貝值 回波高度比 0.1 0.5 1 2 10 0.01 0.158 0.354 0.56 1.41 dB值-20-6 0 6 20-40-16-9-5 3 79.晶片發(fā)射的超聲波聲壓，在1.6N以外，與晶片面積S成（正）比，與波長成（反）比，因此頻 率越高，（聲壓）也越大

80.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑差1倍，平底孔回波高度差（12）dB，橫通孔的回波高度差（3）dB，球孔回波高度差（6）dB。

81.聲程大于3N且聲程相同時，若孔徑相同，聲程差一倍，平底孔回波高度差（12）dB，橫通孔的回波高度差（9）dB，球孔回波高度差（12）dB。

82.當某些晶體受到拉力或壓力時產(chǎn)生形變，從而晶體的表面上出現(xiàn)電荷，這種現(xiàn)象稱為（壓電）效應，這一效應是可逆的

83.壓電晶片是具有壓電效應的晶體材料，用于超聲波探傷的壓電晶體材料，如石英、硫酸鋰、碘酸鋰等是（單晶）體，而鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛是（多晶）體，也稱（壓電陶瓷）84.把電能轉變成超聲聲能的器件叫做（換能器）

85.超聲波檢測常用的探頭種類有（直探頭）、（斜探頭）、（組合雙晶探頭）、（水浸探頭）。（任寫四種）

86.液浸聚焦探頭設計中，聲透鏡的聲速為C1，液體中的聲速為C2，若C1＞C2，聲透鏡應加工成（平凹）形。若C1＜C2，聲透鏡應加工成（平凸）形。若C1=C2，聲透鏡（不產(chǎn)生）聚焦

87.水浸法比直接接觸法優(yōu)越，主要是由于不受（工件表面光潔度）影響，還可以實現(xiàn)聲束（聚焦）的緣故 88.為實現(xiàn)鋼管的橫波探傷，要求入射角在（第一臨界角）和（第二臨界角）之間

89.當橫波入射到平面缺陷時，在一定條件下，就會產(chǎn)生（波型轉換），這種現(xiàn)象與橫波（入射角）有關 90.超聲波聲速與介質(zhì)彈性系數(shù)、密度之間的關系式是（CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2）91.共振式超聲波儀器主要采用（連續(xù)縱波）

92.為了在工件中得到純橫波，不但要選擇合適的（入射角），而且要給斜探頭選擇合適的斜楔材料，應滿足斜楔材料的縱波聲速（小）于工件中的橫波聲速

93.為了在工件中得到純橫波，不但要選擇合適的（入射角），而且要給斜探頭選擇合適的（斜楔材料）94.為了給tgβ=2.5的斜探頭設計一個適合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格，第二次回波前沿出現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應是（32.3）mm 95.在測試某臺超聲波檢測儀的垂直線性時，首先要做出如下一組衰減量與理論回波高度的對應數(shù)值，再根據(jù)實測回波高度對應值，然后計算該儀器的垂直線性誤差，請?zhí)畛鱿率霰砀裰?、6、12、18、24dB時的理論回波高度對應數(shù)值

衰減量（dB）0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 波高值（%）100

50.1

25.1

12.6

6.3

96.對下圖中示出的工件選定適合的超聲波入射方向和探測面:

97.粗晶材料的探傷可選用（較低）頻率的探頭

98.由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補償dB值應用（實驗）方法測定

99.用縱波水浸法探測鋼材時，為防止在第一次底面回波前面出現(xiàn)二次界面回波，水層厚度為25mm時，能探測鋼材的最大厚度為（100mm）

100.直探頭探測厚250mm及500mm的兩個餅形鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差5dB，材質(zhì)衰減均為0.004dB/mm，前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅度的80%，則后者的底面回波應為滿幅度的（20%）101.超聲波探傷報告的主要內(nèi)容是（被檢產(chǎn)品的基本狀況）、（探傷方法）、（探傷條件）、（驗收標準）、（探傷結論）、（操作者）、（審核人）、（探傷日期）102.管子的槽形參考標準，應把槽加工在管子的（內(nèi)外表面）

103.超聲波探傷試塊的作用是（檢驗儀器和探頭的組合性能）、（確定靈敏度）、（缺陷定位）、（缺陷定量）

104.組成直探頭的元件有（壓電晶片）、（吸收塊）、（高頻接線和地線）、（保護膜）、（外殼）等，其中（壓電晶片）是主要元件，其功能是將（電能）轉變成（聲能），并且可逆

105.超聲波探頭中的吸收塊所起的作用是（抑制不需要的振動）和（吸收雜波），常用（環(huán)氧樹脂粉加鎢粉）制成

106.超聲波探頭中的匹配吸收塊（即阻尼塊），其作用是阻尼晶片的振動使脈沖便窄，限制從晶片背面發(fā)射的聲波，以防止出現(xiàn)雜波。探頭若不加阻尼塊，始脈沖應會變（寬），盲區(qū)變（大），分辯力（降低）107.斜探頭的楔塊應采用（縱波聲速比被檢工件橫波聲速小）的材料制成，它的功能是將（縱波）按給定的（入射角）斜射到工件表面，在界面發(fā)生折射，形成（橫波）或（瑞利波）或（蘭姆波）在工件中傳播 108.聯(lián)合雙直探頭有（兩）塊壓電晶片，在電路上和聲路上（彼此分離），晶片前裝有（延遲塊），此種探頭有盲區(qū)（小），有助于（近表面缺陷）的檢出

109.頻率（高）的探頭容易產(chǎn)生（寬度窄）的脈沖，因此在探測薄工件和近表面缺陷時，應選擇（高）頻率的探頭。

110.超聲波探傷儀最重要的性能指標有（分辨力）、（動態(tài)范圍）、（水平線性）、（垂直線性）、（靈敏度）、（信噪比）。

111.波束中心入射到試件探測面的一點叫（入射點），此點到探頭楔塊前端的一段距離叫探頭的（前沿距離），入射點變化時，此段距離（也變化）。

112.如果儀器采用鋸齒掃描發(fā)生器，其掃描鋸齒波形的好壞程度，決定了掃描（水平線性）的好壞。113.使用AVG曲線法定量時，儀器調(diào)節(jié)中，不應該使用（“深度補償”）和（“抑制”）114.調(diào)節(jié)“抑制”旋鈕，會影響儀器的（垂直線性）和（動態(tài)范圍）

115.超聲波檢測儀中，以熒光屏縱軸顯示超聲波信號強度，以橫軸顯示超聲波傳播時間或反射體深度的脈沖顯示法叫做（A掃描顯示）

116.利用陰極發(fā)射的電子束在熒光屏上顯示圖象的電子管叫做（陰極射線管）117.超聲波檢驗中，脈沖的持續(xù)時間稱為（脈沖寬度）

118.一個垂直線性好的儀器，在熒光屏上波幅從80%處降至5%時，應衰減（24）dB 119.在A型掃描顯示中，電子束在陰極射線管的熒光屏上均勻重復移動，所形成的水平線叫做（掃描線）120.超聲波檢測儀中，產(chǎn)生高壓電脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元稱為（脈沖發(fā)生器）

121.被放大的信號幅度與缺陷的反射面積成正比關系，放大器這一非飽合的放大區(qū)域稱為（線性范圍）122.能將兩個相鄰缺陷在示波屏上區(qū)分開的能力叫（分辨力）123.探傷儀發(fā)射電路部分的功用是（發(fā)射電脈沖）

124.儀器的盲區(qū)，除了與探頭特性有關外，主要還決定于接收放大器在強信號沖擊下的（阻塞）時間。125.國際焊接學會的IIW試塊可用來測定超聲波檢測儀和探頭的組合性能指標，其中包括：（水平線性）、（垂直線性）、（靈敏度）、（分辨力）、（盲區(qū)）、（聲程）、（入射點）、（折射角）

126.國際焊接學會的IIW試塊其厚度為（25）mm，寬度為（100）mm，長度為（300）mm，凹槽上的（85）mm及槽兩側的91mm和（100）mm可用于測定探頭的（分辨力）

127.鋼板探傷中，當同時存在底波和傷波時，說明鋼板中存在（小于）聲場直徑的缺陷。

128.當?shù)谝淮魏偷诙蔚撞ㄖg出現(xiàn)傷波時，鋼板中可能存在尺寸很大的缺陷，也可能存在尺寸很小的缺陷，可以用（6dB法）測量缺陷的邊界位置

129.當板材厚度為δB，水層厚度為δS時，要求采用四次重合法探傷。其條件分別為一次重合法時（δS1=δB/4），二次重合法時（δS2=δB/2）、三次重合法時（δS3=3δB/4）、四次重合法時（δS4=δB）130.管件探傷的入射角公式為（(CL1/CL2)≤sinα≤(r/R)?(CL1/CS2)，式中： R—管子外徑，r—管子內(nèi)徑）131.管子超聲波探傷中，超聲波在耦合介質(zhì)中聚焦點的內(nèi)半角公式為（θ=tg-1(D/2F)式中：D-晶片直徑；F-焦距）

132.已選定某一聚焦探頭對管材作水浸聚焦探傷，如果聚焦點不能調(diào)整到被檢管件的中心軸線上，而是偏離中心軸線一定距離，在管壁內(nèi)將出現(xiàn)（無底波反射）

133.采用大平底反射波探測鍛件，在計算缺陷當量大小時，要注意缺陷是否在（3倍近場長度）以外 134.采用大平底反射波探測鍛件時，一定注意底面的（平直度）

135.在單探頭掃查法中，分為①（鋸齒型）掃查法、②（轉角）掃查法、③（環(huán)繞）掃查法、④（斜平行）掃查法、⑤（沿焊縫兩側平行）掃查法

136.焊縫超聲波檢測中，由于焊縫加強高的存在，探頭一般（不放在）焊縫上，而是將探頭（放在鋼板上），超聲波傾斜射入焊縫進行探傷。

137.直接用缺陷波高來比較缺陷的大小，儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕應置于（關）的位置

138.厚板上進行焊縫探傷時，如焊縫不磨平，應從工件的（內(nèi)）表面和（外）表面，在焊縫（兩）側，共

（四）個探測面探傷。

139.厚板上進行焊縫探傷時，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應在焊縫上，沿焊縫的（縱）向探測 140.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較（低）的探頭和粘度較（高）的耦合劑

141.超聲波檢測用的探頭中，置于壓電晶片背面的阻尼塊有三個基本作用，第一是用于固定（晶片位置），第二是用于吸收（晶片背面的超音波），第三是用于減少（晶片持續(xù)振動時間），從而使得脈沖寬度變（窄）142.鋼板的直探頭探傷中，顯示于示波屏上的缺陷回波圖形可以分為三種，它們是：（底波多次反射和缺陷的多次反射波同時出現(xiàn)）、（只有缺陷的多次反射波出現(xiàn)）、（只有一些紊亂的波）143.鋼板探傷的掃查方式有：（全面掃查）、（格子線掃查）、（列線掃查）、（邊緣掃查）144.選擇焊縫探傷中的斜探頭折射角時，為使整個焊縫截面不漏檢，選用的折射角β必須滿足（tgβ≥(D+L)/T，式中：D-焊縫寬度；L-探頭前沿長度；T-鋼板厚度）

145.超聲波檢測儀上的衰減器精度一般用（每12dB）或（每2dB）中的誤差表示 146.對試樣進行接觸法斜角探傷時，如果入射角達到第二臨界角，就會產(chǎn)生（表面波）147.換能器頻率與晶片厚度有關，晶片越（薄），頻率越（高），材料對聲能的衰減越（大）148.在直徑一定的條件下，晶片頻率提高時，聲束擴散角將（減小），聲指向性將（改善）149.透鏡的曲率半徑增大時，透鏡的焦距將（增大）150.透鏡的曲率增大，透鏡的焦距將（縮短）

151.垂直探傷時，工件探測面與底面不平行，底波將（降低）或（消失）152.在（遠場）區(qū)，缺陷顯示的振幅隨傳播距離的增加而按指數(shù)規(guī)律降低 153.縱波折射角90°時所對應的入射角稱為（第一臨界角）154.超聲波傳播過程中的能量總消耗稱為（衰減）

155.當入射角選在第一臨界角和第二臨界角之間，在工件中傳播的超聲波為（橫）波 156.橫波折射角90°時所對應的入射角稱為（第二臨界角）

157.聲波遇到異質(zhì)界面時，在原介質(zhì)中改變傳播方向的現(xiàn)象叫做（反射）現(xiàn)象

158.超聲波從一種介質(zhì)進入聲速不同的另一種介質(zhì)后，其方向發(fā)生變化的現(xiàn)象叫做（折射）現(xiàn)象 159.超聲波探傷中，晶片是由具有（壓電效應）的（壓電）晶體制作的

160.超聲波在介質(zhì)中傳播時，介質(zhì)的密度和聲波傳播速度的乘積稱為（聲阻抗）161.橫波主要用來檢查（管材）和（焊縫）

162.超聲波探傷儀在單位時間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)目叫做（脈沖重復頻率）163.檢驗近表面缺陷最有效的方法是采用（收發(fā)聯(lián)合雙晶）探頭

164.在遠場區(qū)，同一深度的平底孔，直徑增大一倍，其回波高度提高（12）分貝 165.在遠場區(qū)，同聲程的橫孔直徑從2毫米增大到8毫米時，其回波高度提高（6）分貝 166.在遠場區(qū)，同直徑橫孔聲程增大一倍時，不計材質(zhì)衰減，其回波高度降低（9）分貝 初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編

是非判斷題（在每題后面括號內(nèi)打“X”號表示“錯誤”，畫“○”表示正確）1.最常用的超聲波換能器是利用壓電效應發(fā)射和接收超聲波的()2.在超聲波檢測中最常用的超聲波換能器是利用磁致伸縮效應發(fā)射和接收超聲波的()3.質(zhì)點完成五次全振動所需要的時間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播五個波長的距離()4.一般的超聲波檢測儀在有抑制作用的情況下其水平線性必然變壞()5.脈沖寬度大的儀器其頻帶寬度窄()6.超聲波檢測時要求聲束方向與缺陷取向垂直為宜()7.在同一固體介質(zhì)中,縱波的傳播速度為常數(shù)()8.在同一固體介質(zhì)中,橫波的傳播速度為常數(shù)()9.在同一固體介質(zhì)中,瑞利波的傳播速度為常數(shù)()10.在同一固體介質(zhì)中,蘭姆波的傳播速度為常數(shù)()11.超聲波表面波不能在液體表面?zhèn)鞑?)12.在同一固體材料中,傳播縱,橫波時的聲阻抗相同()13.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學特性的重要參數(shù),溫度變化對材料的聲阻抗也會有影響()14.第二介質(zhì)中折射的橫波其折射角達到90°時的縱波入射角為第二臨界角()15.第二介質(zhì)中折射的橫波其折射角達到90°時的縱波入射角為第一臨界角()16.第二介質(zhì)中折射的縱波其折射角達到90°時的縱波入射角為第二臨界角()17.第二介質(zhì)中折射的縱波其折射角達到90°時的縱波入射角為第一臨界角()18.頻率和晶片尺寸相同時,橫波聲束指向性不如縱波好()19.在水中不僅能傳播縱波，也能傳播橫波()20.有機玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑越小,焦距越大()21.有機玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率越大,焦距越大()22.吸收衰減和散射衰減是材料對超聲能量衰減的主要原因()23.鋼中聲速最大的波型是縱波()24.鋼中聲速最大的波型是橫波()25.鋼中聲速最大的波型是蘭姆波()26.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時,同一波型的聲束反射角大于入射角()27.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時,同一波型的聲束反射角小于入射角()28.商品化斜探頭標志的角度是表示聲軸線在任何材料中的折射角()29.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應大于被檢試件中的縱波速度()30.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與波長成正比()31.超聲波在鋁中傳播時,頻率越高,波長越短()32.超聲波在鋼中傳播時,頻率越低,波長越短()33.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度等于質(zhì)點的振動速度()34.在同種固體材料中,縱,橫波聲速之比為常數(shù)()35.聲源面積不變時,超聲波頻率越高,超聲場的近場長度越長()36.采用高頻探傷可以改善聲束指向性,提高探傷靈敏度()37.不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電晶體作成頻率相同的晶片時其厚度不同()38.蘭姆波波速在一定介質(zhì)中不為常數(shù)()39.超聲波探頭的近場長度近似與晶片直徑成正比,與波長成反比()40.超聲波探頭的半擴散角近似與晶片直徑成正比,與波長成反比()41.超聲波探頭發(fā)射超聲波利用的是逆壓電效應,而接收超聲波則是利用的正壓電效應()42.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越低,指向角越小()43.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越高,指向角越小()44.聲透鏡的曲率越大,焦距越短()45.聲透鏡的曲率半徑越大,焦距越短()46.波長越短,近場長度越短,晶片直徑越大,近場長度也越長()47.不同的材料具有不同的材料彈性和密度，因此同一波型的超聲波在不同材料中的傳播速度不同()48.同一波型的超聲波在不同材料中的傳播速度是相同的()49.超聲波縱波在異質(zhì)界面上發(fā)生反射時，反射波中必定會分離出反射縱波與反射橫波()50.根據(jù)公式：C=λ?f 可知聲速C與頻率f成正比，因此同一波型的超聲波在高頻時傳播速度比低頻時大()51.壓電晶片是利用“逆壓電效應”的原理產(chǎn)生超聲波的()52.壓電晶片是利用“逆壓電效應”的原理接收超聲波的()53.用聲透鏡對超聲波進行聚焦時，必須選用中間厚度小、邊緣厚度大的凹形透鏡()54.物體在振動過程中，當外力的頻率等與振動系統(tǒng)的固有頻率時，物體的振幅達到最大值，這種現(xiàn)象稱為諧振()55.波在傳播過程中遇到遠小于波長的障礙物時，就會發(fā)生繞射現(xiàn)象()56.超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關系，頻率越高，晶片越薄()57.在鋼中測定為某個折射角的探頭，移放到鋁上測定，該折射角將會變小()58.在超聲波檢測中，窄脈沖的縱向分辨力高，這是因為它的脈沖寬度大()59.一臺垂直線性理想的超聲波檢測儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比例()60.一臺垂直線性理想的超聲波檢測儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成反比()61.當激勵探頭的脈沖幅度增大時，由探頭發(fā)射的超聲波強度也隨之增大()62.超聲波垂直入射至鋼/空氣界面時，反射波和入射波可在鋼中形成駐波。()63.超聲波以角入射到水/鋼界面時，反射角等于入射角。()64.水的溫度升高時，超聲波在水中的傳播速度則隨著降低()65.所有的液體（水除外），其聲速都隨著溫度的升高而增加()66.超聲波垂直入射時，界面兩側介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復透過率愈高()67.當鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高將隨之降低()68.第一介質(zhì)為液體介質(zhì)時，也會有第三臨界角()69.超聲場的近場長度愈短，聲束指向性愈差()70.斜角探傷橫波聲場中假想聲源的面積小于實際聲源面積()71.圓晶片斜探頭的折射波束上緣折射角大于下緣折射角()72.如斜探頭入射點到晶片的距離不變，入射點到假想聲源的距離隨入射角的增加而增大()73.對空心圓柱體在內(nèi)圓周面上探傷時，曲底面回波聲壓比同聲程大平面高()74.A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板是不能直觀顯示缺陷的當量大小和缺陷深度的()75.B型顯示探傷儀能夠直觀顯示出缺陷深度()76.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說明該晶片發(fā)射性能好()77.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大，則說明該晶片發(fā)射性能好()78.常用的有機玻璃楔探頭，當溫度升高時，其折射角將變小()79.超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而減小()80.一般情況下，對于薄層反射體，能得到最大反射信號的厚度為（λ/4的奇數(shù)倍）()81.一般情況下，對于薄層反射體，能得到最大反射信號的厚度為（λ/4的偶數(shù)倍）()82.一般情況下，對于薄層反射體，能得到最大反射信號的厚度為（λ/2的奇數(shù)倍）()83.一般情況下，對于薄層反射體，能得到最大反射信號的厚度為（λ/2的偶數(shù)倍）()84.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應考慮（合適的斜楔材料的橫波聲速）()85.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應考慮（合適的斜楔材料的縱波聲速）()86.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應考慮（斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速）()87.為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應考慮（斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速）()88.為了給tgβ=2.5的斜探頭設計一個適合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格，第二次回波前沿出現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應是32.3mm()89.超聲波檢測常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中接收效率最高的是鈮酸鋰()90.超聲波檢測常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中居里點最高的是硫酸鋰()91.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關而與探頭折射角度無關的是矩形槽()92.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、U形槽中，回波聲壓只與聲程有關而與探頭折射角度無關的是平底孔()93.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、U形槽中，回波聲壓只與聲程有關而與探頭折射角度無關的是U形槽()94.在超聲波檢測中最常用的超聲波是有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機械波()95.在超聲波檢測中最常用的超聲波是單純的正弦波()96.在超聲波檢測中最常用的超聲波是方波脈沖()97.在超聲波檢測中最常用的超聲波是駐波()98.用sinθ=1.22λ/D公式計算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于0%時的指向角()99.用sinθ=1.22λ/D公式計算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于50%時的指向角()100.用sinθ=1.22λ/D公式計算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于10%時的指向角()101.用sinθ=1.22λ/D公式計算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于1%時的指向角()102.水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍屬于超聲波檢測儀的性能指標()103.頻帶寬度、探測深度、重復頻率屬于超聲波檢測儀的性能指標()104.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨力屬于超聲波檢測儀的性能指標()105.入射點、近場長度、擴散角屬于超聲波檢測儀的性能指標()106.在普通常用的超聲波檢測儀上，使用“抑制”旋鈕的抑制作用，可以減少雜波顯示，與此同時也會導致垂直線性變差，動態(tài)范圍減小()107.在普通常用的超聲波檢測儀上，使用“抑制”旋鈕的抑制作用，可以減少雜波顯示，與此同時也會導致其他回波幅度一并下降()108.在普通常用的超聲波檢測儀上，使用“抑制”旋鈕的抑制作用，可以減少雜波顯示，與此同時也會導致回波寬度變小()109.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一種材料的聲阻抗較大，但其聲速與第二材料相同，則在第二種材料中的折射角大于入射角()110.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一種材料的聲阻抗較大，但其聲速與第二材料相同，則在第二種材料中的折射角小于入射角()111.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一種材料的聲阻抗較大，但其聲速與第二材料相同，則在第二種材料中的折射角等于入射角()112.超聲波通過兩種材料的界面時，如果第一種材料的聲阻抗較大，但其聲速與第二材料相同，則在第二種材料中的折射角等于臨界角()113.超聲波檢測儀在單位時間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做脈沖的重復頻率()114.超聲波檢測儀在單位時間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做超聲波頻率()115.如果超聲波頻率增加而晶片直徑不變，則聲束擴散角將減小()116.如果超聲波頻率增加而晶片直徑不變，則聲束擴散角將增大()117.單位時間內(nèi)垂直通過單位面積上的聲能叫做聲強，它與聲壓的平方成正比()118.單位時間內(nèi)垂直通過單位面積上的聲能叫做聲壓，它與聲強的平方成正比()119.在傳播超聲波的介質(zhì)中，由于交變振動產(chǎn)生的附加壓強叫做聲壓()120.在傳播超聲波的介質(zhì)中，由于交變振動產(chǎn)生的附加壓強叫做聲強()121.超聲波儀器的B、C型顯示都屬于二維顯示（）122.超聲波儀器的B、C型顯示都屬于三維立體顯示（）

123.在超聲波檢測中，如果使用的探測頻率過高，在探測粗晶材料時會出現(xiàn)林狀回波（）124.復合鋼板的超聲波檢測可以從基體金屬表面或覆蓋層表面進行

125.超聲波檢測使用的試塊，其功能不僅僅是用于調(diào)整檢測靈敏度和評估缺陷大小()126.管子超聲波探傷必須采用水浸聚焦方法是因為管子曲率對超聲波有散射作用()127.焊縫的超聲波檢測都是采用斜探頭進行探傷()128.焊縫的超聲波檢測不應當采用直探頭進行探傷()129.鍛件的超聲波檢測都是采用直探頭進行探傷()130.鍛件的超聲波檢測不采用組合雙晶探頭進行探傷()131.鍛件的超聲波檢測不采用斜探頭進行探傷()132.用直探頭在軸類鍛件的圓周面上進行周向掃查時，如果有游動信號出現(xiàn)，就可以肯定存在徑向缺陷()133.用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法周向探傷時，其跨距比同厚度平板小()134.為提高分辯力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應盡量調(diào)得高一些()135.采用當量法確定的缺陷尺寸一般大于缺陷的實際尺寸()136.只有當工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才需要采用測長法確定缺陷長度()137.Φ50x10mm的鋼管，如果采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向橫波探傷將無法掃查到內(nèi)壁()138.焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一定會是很高的()139.鋼板探傷中，當同時存在底波和傷波時，說明鋼板中存在小于聲場直徑的缺陷()140.鋼板探傷中，當同時存在底波和傷波時，說明鋼板中存在大于聲場直徑的缺陷()141.直接用缺陷波高來比較缺陷的大小，儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕應置于（關）的位置()142.直接用缺陷波高來比較缺陷的大小，儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕應置于（開）的位置()143.焊縫超聲探傷中，由于焊縫加強高的存在，探頭一般不放在焊縫上，而是將探頭放在鋼板上，超聲波傾斜射入焊縫進行探傷()144.網(wǎng)格掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()145.鋸齒型掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()146.轉角掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()147.環(huán)繞掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()148.斜平行掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()149.螺旋轉圈掃查法是使用單斜探頭橫波檢測焊縫的基本掃查方法之一()150.網(wǎng)格掃查法是使用單直探頭縱波檢測鋼板的基本掃查方法之一()151.厚板上進行焊縫探傷時，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應在焊縫上，沿焊縫的縱向探測()152.厚板上進行焊縫探傷時，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應在焊縫上，沿焊縫的橫向探測()153.在探測工件側壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏低，這是因為有側壁干擾所致()154.在探測工件側壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏高，這是因為有側壁干擾所致()155.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，常會發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高，這是由于多次回波之間的疊加作用所致()156.當用雙晶直探頭在平面上掃查時，應盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向平行()157.當用雙晶直探頭在平面上掃查時，應盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向垂直()158.超聲波檢測儀上的衰減器精度用每12dB中的誤差表示()159.超聲波檢測儀上的衰減器精度用每2dB中的誤差表示()160.超聲波檢測儀上的衰減器精度用每6dB中的誤差表示()161.超聲波檢測儀上的衰減器精度用每10dB中的誤差表示()162.超聲波檢測時要求聲束方向與缺陷取向平行為宜()163.兩束頻率不同的聲波在同一介質(zhì)中傳播時,如果相遇可產(chǎn)生干涉現(xiàn)象()164.兩束頻率相同但行進方向相反的聲波的疊加可形成駐波()165.在同一固體介質(zhì)中,縱波,橫波,瑞利波,蘭姆波的傳播速度均為常數(shù)()166.表面波亦可在液體表面?zhèn)鞑?)167.波的疊加原理說明,幾列波在, , , , 同一介質(zhì)中傳播并相遇時,都可以合成一個波繼續(xù)傳播()168.在同一固體材料中,傳播縱,橫波時的聲阻抗不一樣()169.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學特性的重要參數(shù),溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響()170.第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時的縱波入射角為第二臨界角()171.第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時的縱波入射角為第一臨界角()172.以有機玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭,其透鏡形狀為凹透鏡()173.以有機玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭,其透鏡形狀為凸透鏡()174.超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用()175.材料對聲波的吸收作用僅是超聲波檢測中所說的超聲波衰減原因之一()176.聲源輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)()177.頻率和晶片尺寸相同時,橫波聲束指向性比縱波好()178.由于水中只能傳播縱波,所以水浸探頭只能進行縱波探傷()179.有機玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑越大,焦距越大()180.有機玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率越小,焦距越大()181.材料對超聲能量衰減的主要原因是吸收衰減和散射衰減()182.鋼中聲速最大的波型是表面波()183.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時,同一波型的聲束反射角等于入射角()184.商品化斜探頭標志的角度是表示聲軸線在鋼中的折射角()185.超聲波探傷儀的脈沖重復頻率越高,探傷頻率也越高()186.完整地說，超聲波的材質(zhì)衰減包括了吸收衰減,擴散衰減和散射衰減()187.超聲波檢測法不能用于混凝土結構材料()188.由于在遠場區(qū)超聲束會擴散,所以探傷應盡可能在近場區(qū)進行()189.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應小于被檢試件中的縱波速度()190.超聲波的頻率取決于晶片振動的頻率()191.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與頻率成正比()192.超聲波在鋁中傳播時,頻率越低,波長越短()193.超聲波在鋼中傳播時,頻率越高,波長越短()194.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點的振動速度()195.在同種固體材料中,縱,橫波的聲速之比不是一個常數(shù)()196.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時,同種波型的反射角等于折射角()197.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時,同種波型的折射角總大于入射角()198.超聲波以10°入射至水/鋼界面時,反射角等于10°()199.介質(zhì)的聲阻抗越大,引起的超聲波的衰減越嚴重()200.聲源面積不變時,超聲波頻率越高,超聲場的近場長度越短()201.面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,超聲場的近場長度一樣()202.面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,其聲束指向角亦相同()203.低頻探傷是為了改善聲束指向性,提高探傷靈敏度()204.不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電晶體不能作成頻率相同的晶片()205.通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭()206.在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸。()207.蘭姆波和縱波及橫波一樣,其波速在一定介質(zhì)中為常數(shù)()208.在第二介質(zhì)中橫波折射角達到90°時,在第一介質(zhì)中的縱波入射角度稱為第二臨界角()209.在第二介質(zhì)中橫波折射角達到90°時,在第一介質(zhì)中的縱波入射角度稱為第一臨界角()210.超聲波探頭的近場長度近似與晶片直徑成反比,與波長成正比()211.超聲波探頭的半擴散角近似與晶片直徑成反比,與波長成正比()212.超聲波探頭發(fā)射超聲波利用的是正壓電效應,而接收超聲波則是利用的逆壓電效應()213.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越低,指向角越大()214.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越高,指向角越大()215.選用越高的頻率探測,有利于發(fā)現(xiàn)越大的缺陷,而且聲衰減越小()216.耦合劑的用途是消除探頭與工件之間的空氣以利于超聲波的透射()217.超聲波在介質(zhì)中傳播過程中由于聲束的不斷擴散,造成單位面積通過的聲能減小,稱為擴散衰減()218.聲透鏡的曲率越大,焦距越大()219.聲透鏡的曲率半徑越大,焦距越大()220.在探傷中,處在近場區(qū)內(nèi)的缺陷,距離近的有時反而比距離遠的反射回波低()221.波長越短,近場長度越長,晶片直徑越大,近場長度也越長()222.按照聲學的經(jīng)典理論,在超聲波探傷中容易探測出來的缺陷其尺寸一般不應小于波長的一半()223.粗糙的入射表面會導致缺陷回波高度降低()224.超聲波檢測儀是利用電致伸縮效應發(fā)射超聲波的()225.最常用的超聲波換能器是利用電致伸縮效應發(fā)射和接收超聲波的()226.同一探頭在鋼中的近場N要比在水中的近場短()227.質(zhì)點振動一次所需要的時間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播一個波長的距離()228.一般的超聲波檢測儀在有抑制作用的情況下不會影響其垂直線性()229.脈沖窄的儀器其頻帶寬度大()230.按照經(jīng)典理論，超聲波檢測方法所能檢測的最小缺陷尺寸大約是（λ/2）()231.波型相同的超聲波傳播于不同的材料中，由于材料彈性和密度的不同，致使傳播速度發(fā)生差異()232.超聲波在異質(zhì)界面上發(fā)生反射時，反射波中必有變型波存在()233.從公式：C=λ?f 可以看出,聲速C與頻率f成正比，因此高頻時的超聲波傳播速度比低頻時大()234.單位時間內(nèi)垂直通過單位面積的聲能量稱為聲強()235.聲壓與質(zhì)點振動速度之比稱為聲阻抗()236.瑞利波質(zhì)點運動的軌跡為橢圓形()237.壓電晶片是利用“正壓電效應”的原理產(chǎn)生超聲波的()238.壓電晶片是利用“正壓電效應”的原理接收超聲波的()239.天然的石英晶體屬于單晶體，而鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等壓電陶瓷屬于多晶體()240.已知鈦酸鋇的頻率常數(shù)Nt=2520Hz?m，則振動頻率為2MHz的鈦酸鋇晶片厚度應為0.5mm()241.當激勵探頭的脈沖幅度增大時，探頭發(fā)射的超聲波必然強度變大、頻帶變窄()242.用硫酸鋰制作的壓電晶片，其接收效率比PZT5的鋯鈦酸鉛壓電晶片高()243.用硫酸鋰制作的壓電晶片，其接收效率比PZT5的鋯鈦酸鉛壓電晶片低()244.用聲透鏡對超聲波進行聚焦時，必須選用中間厚度大、邊緣厚度小的凸形透鏡()245.超聲波垂直入射到薄層介質(zhì)時，薄層厚度為1/2波長時，其反射最強()246.物體在振動過程中，當外力的頻率等與振動系統(tǒng)的固有頻率時，物體的振幅達到最大值，這種現(xiàn)象稱為共振()247.波在傳播過程中遇到遠大于波長的障礙物時，就會發(fā)生繞射現(xiàn)象()248.在物體振動過程中，僅受彈性恢復力作用的振動叫做無阻尼自由振動，它的振動頻率叫做固有頻率，它的振動周期叫做固有周期()249.表面波是一種只能在固體表面?zhèn)鞑サ牟ǎ诒砻娌ㄋ椒秶鷥?nèi)質(zhì)點振動軌跡為橢圓形()250.超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關系，頻率越高，晶片越厚()251.在鋼中測定為某個折射角的探頭，移放到鋁上測定，該折射角將會變大()252.在超聲波檢測中，窄脈沖的縱向分辨力高，這是因為它的脈沖寬度小()253.一臺垂直線性理想的超聲波檢測儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比()254.當激勵探頭的脈沖幅度增大時，由探頭發(fā)射的超聲波強度也隨之增大，而頻帶范圍變小()255.復合鋼板的超聲波檢測可以從基體金屬表面或覆蓋層表面進行，其先決條件是基體金屬和覆蓋材料之間的聲速應當相同或相近()256.超聲波在介質(zhì)中傳播時，聲能的傳播是由各質(zhì)點的位移連續(xù)變化來傳遞的。()257.薄板中傳播非對稱型蘭姆波時，上下表面質(zhì)點振動相位相同。()258.水的溫度升高時，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。()259.所有的液體（水除外），其聲速都隨著溫度的升高而減小。()260.介質(zhì)中形成駐波時，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個波長。()261.超聲波垂直入射到平界面時，聲強反射率與聲強透過率之和等于1。()262.超聲波垂直入射到平界面時，反射波與透過波聲壓之和等于入射波電壓。()263.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，界面一側的總聲壓等于另一側的總聲壓。()264.超聲波垂直入射到的界面時，聲壓透過率大于1，說明界面有增強聲能的作用。()265.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，聲壓往復透過率與聲強透過率在數(shù)值上相等。()266.超聲波垂直入射時，界面兩側介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復透過率愈低。()267.當鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。()268.有機玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。()269.只有當?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時，才會有第三臨界角。()270.橫波斜入射至鋼/空氣界面時，入射角在左右時，橫波聲壓反射率最低。()271.超聲波縱波斜入射到端角時，端角反射率總是很高的。()272.介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴重()273.聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小()274.超聲波平面波不存在材質(zhì)衰減()275.超聲波聲場的近場長度愈短，聲束指向性愈好()276.超聲波聲場中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的()277.在超聲波聲場的未擴散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不變()278.斜角探傷橫波聲場中假想聲源的面積大于實際聲源面積()279.圓晶片斜探頭的折射波束上緣折射角小于下緣折射角()280.如斜探頭入射點到晶片的距離不變，入射點到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小()281.理想的鏡面大平面，對聲波產(chǎn)生全反射，隨傳播距離的增加其回波聲壓不變()282.球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同()283.同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小()284.在軸類工件外圓周面上探傷時，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同()285.對空心圓柱體在內(nèi)圓周面上探傷時，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低()286.A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板可直觀顯示缺陷的當量大小和缺陷深度()287.B型顯示探傷儀不能直觀顯示出缺陷深度()288.不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同()289.不同壓電晶休材料中聲速不一樣，因此用不同壓電晶體不能作成頻率相同的晶片()290.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大，則說明該晶片接收性能好()291.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說明該晶片接收性能好()292.當試件內(nèi)存在較大的內(nèi)應力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化()293.常用的有機玻璃楔探頭，當溫度升高時，其折射角將增大()294.超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高()295.超聲波聲速與介質(zhì)彈性系數(shù)、密度之間的關系式是：CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2()296.超聲波聲速與介質(zhì)彈性系數(shù)、密度之間的關系式是：CL=(E/ρ)1/2()

297.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（λ/4的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號()298.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（一個λ的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號()299.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的整數(shù)倍）可得到最大反射信號()300.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（λ/4的偶數(shù)倍）可得到最大反射信號()301.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號()302.一般情況下，對于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的偶數(shù)倍）可得到最大反射信號()303.一個2.25MHz，在水中近場長度等于58.6mm的直探頭，其半擴散角度大約是（3.75°）()304.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為（31°）()305.一個2.25MHz，在水中近場長度等于58.6mm的直探頭，其半擴散角度大約是（7.5°）()306.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為（53°）()307.當一平行聲束通過液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（被聚焦）()308.當一平行聲束通過液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（被發(fā)散）()309.當一平行聲束通過液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（仍然保持平行聲束狀態(tài)）()310.為了給tgβ=2.5的斜探頭設計一個適合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格，第二次回波前沿出現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應是42.3mm()311.超聲波檢測常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中接收效率最高的是硫酸鋰()312.超聲波檢測常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中居里點最高的是鈮酸鋰()313.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關而與探頭折射角度無關的是橫孔()314.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關而與探頭折射角度無關的是V形槽()315.聲壓的絕對值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點振動速度V之間的關系是：P∝ρCV()316.聲壓的絕對值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點振動速度V之間的關系是：P∝ρ2CV()317.聲壓的絕對值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點振動速度V之間的關系是：P∝ρC2V()318.聲壓的絕對值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點振動速度V之間的關系是：P∝ρ2CV2()

319.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過聲阻抗Zb的介質(zhì)進入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Zb=(Za?Zc)1/2，則透聲效果較佳()320.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過聲阻抗Zb的介質(zhì)進入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Za=Zc，則透聲效果較佳()321.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過聲阻抗Zb的介質(zhì)進入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Zc=Za?Zb，則透聲效果較佳()322.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過聲阻抗Zb的介質(zhì)進入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Za=Zb?Zc，則透聲效果較佳()323.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為0.5%()324.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為10%()325.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為5%()326.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為1%()327.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨力是用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標()328.水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍是用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標()329.頻帶寬度、探測深度、重復頻率是用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標()330.入射點、近場長度、擴散角是用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標()331.頻帶寬度、探測深度、重復頻率屬于探頭的性能指標()332.入射點、近場長度、擴散角、頻率屬于探頭的性能指標()333.設波長為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長度應小于4(λ?S0)1/2()334.設波長為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長度應小于2(λ?S0)1/2()335.設波長為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長度應小于0.9(λ?S0)1/2()336.設波長為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長度應小于0.8(λ?S0)1/2()337.超聲波在介質(zhì)中傳播時，當遇到尺寸與波長相近似的障礙物時，將產(chǎn)生繞射現(xiàn)象()338.兩列頻率相同、相位相同或相差一個固定值的超聲波束在同一介質(zhì)中傳播時，就有可能產(chǎn)生波的干涉現(xiàn)象()339.在一般情況下，聲速決定于介質(zhì)的種類和波型，但蘭姆波的波速還決定于頻率與工件厚度的乘積()340.在活塞振子的聲場中，就波陣面而言，近聲源處可看作是平面波，離聲源較遠處可看作是球面波()341.超聲波的衰減實質(zhì)就是阻尼振動的一種物理現(xiàn)象()342.所謂振動，就是質(zhì)點在其平衡位置上所作的往返運動()343.振動在介質(zhì)中的傳播稱為波，它是傳遞能量的一種形式()344.超聲波在介質(zhì)中的衰減類型可以大致地分為擴散、吸收、散亂三種()345.諧振動是質(zhì)點的振動位移隨時間的變化，滿足正弦函數(shù)關系的一種運動()346.球面波的聲壓與距離成反比()347.球面波的聲壓與距離的平方根成反比()348.柱面波的聲壓與距離成反比()349.柱面波的聲壓與距離的平方根成反比()350.已知CL鋼=5900米/秒，CS鋼=3230米/秒，CL有機玻璃=2700米/秒，CS有機玻璃=1460米/秒，若在有機玻璃/鋼界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是瑞利波()351.已知CL鋼=5900米/秒，CS鋼=3230米/秒，CL有機玻璃=2700米/秒，CS有機玻璃=1460米/秒，若在有機玻璃/鋼界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是蘭姆波()352.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若該薄層介質(zhì)兩側的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為四分之一波長的奇數(shù)倍時，聲壓反射率最大()353.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若該薄層介質(zhì)兩側的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為二分之一波長的整數(shù)倍時，聲壓反射率最大()354.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若該薄層介質(zhì)兩側的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為四分之一波長的奇數(shù)倍時，聲壓透過率最大()355.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若該薄層介質(zhì)兩側的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為二分之一波長的整數(shù)倍時，聲壓透過率最大()356.簡諧振動方程式y(tǒng)=Asin(ωt+Ψ)中,y為振動位移，A表示最大振幅，Ψ表示初位相()357.振動在介質(zhì)中的傳播過程形成波，在波的傳播過程中，任意兩個相鄰的、相位相同的質(zhì)點之間的距離稱為一個波長()358.孔徑相同的平底孔與長橫孔在六倍近場長度以外時，其反射波最高的是長橫孔()359.孔徑相同的平底孔與長橫孔在六倍近場長度以外時，其反射波最高的是平底孔()360.兩個回波高度比為0.1，則它們的分貝差為（-20）dB()361.兩個回波高度相差12dB，則對應的回波高度比為4:1()362.確定探頭掃查速度時不必考慮儀器的脈沖重復頻率()363.特別是在自動化檢測中，確定探頭掃查速度時必須考慮儀器的脈沖重復頻率()364.任何探頭電纜,只要是高頻的,在任何情況下均可互換使用()365.調(diào)節(jié)探傷儀“深度細調(diào)”旋鈕時,可連續(xù)改變掃描線掃描速度()366.調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時,抑制越大,儀器動態(tài)范圍越大()367.調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時,抑制越大,儀器動態(tài)范圍越小()368.調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕,將會改變儀器的水平線性()369.測定儀器的“動態(tài)范圍”時,應將儀器的“抑制”,“深度補償”旋鈕置于“關”的位置()370.超聲波探傷儀開機通電后立即可以開始正常檢測工作()371.超聲波探傷儀開機通電后應經(jīng)過一段時間預熱后才可以開始正常檢測工作()372.超聲波檢測時只需要用一次回波就能調(diào)節(jié)好時基線()373.垂直入射縱波法檢測時,找到缺陷的最大回波,則缺陷正好位于直探頭中心的正下方()374.絕對靈敏度法測長適用于形狀不規(guī)則的長條形缺陷測長()375.半波高度(6dB)法主要適用于形狀較規(guī)則的長條形缺陷測長()376.半波高度(6dB)法可以適用于任何類型的長條形缺陷測長()377.超聲波檢測作業(yè)中,完成時基掃描線校正(俗稱“定標”)後,始波前沿應落在水平刻度零點的左邊()378.超聲波檢測作業(yè)中,完成時基掃描線校正(俗稱“定標”)後,始波前沿應落在水平刻度零點的右邊()379.超聲波檢測作業(yè)中,完成時基掃描線校正(俗稱“定標”)後,始波前沿應恰好落在水平刻度零點上()380.正確調(diào)整好時基線后,始波前沿應對準水平刻度的零位()381.超聲波檢測中評定缺陷為Φ2mm平底孔當量,即意味著該缺陷的實際面積就是Φ2mm的園面積大小()382.超聲波檢測中評定缺陷為Φ3mm平底孔當量,即意味著該缺陷的實際面積就是Φ3mm的園面積大小()383.超聲波檢測中評定缺陷為Φ2mm平底孔當量,即意味著該缺陷的反射回波與Φ2mm園面積的反射回波大小相當()384.超聲波檢測中評定缺陷為Φ6mm平底孔當量,即意味著該缺陷的反射回波與Φ6mm園面積的反射回波大小相當()385.超聲波檢測中評定缺陷為Φ2mm橫通孔當量,即意味著該缺陷的反射回波與相同聲束截面下的Φ2mm橫通孔表面積的反射回波大小相當()386.超聲波檢測中評定缺陷為Φ2mm橫通孔當量,即意味著該缺陷的實際大小就是等同于Φ2mm橫通孔表面積大小()387.超聲波檢測中評定缺陷為Φ2mm橫通孔當量,即意味著該缺陷的實際截面形狀等同于Φ2mm橫通孔的橫截面形狀()388.采用當量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸()389.采用當量法確定的缺陷尺寸一般大于缺陷的實際尺寸()390.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復頻率選用過高()391.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復頻率選用過低()392.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較高的探測頻率()393.超聲波檢測中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較低的探測頻率()394.在鋼鍛件探傷中,脈沖重復頻率選擇太高是產(chǎn)生幻像波的重要原因之一()395.超聲波檢測使用的缺陷長度測定方法中，以絕對靈敏度法的靈敏度最高，因此測得的缺陷長度偏大()396.絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時,測長靈敏度高,測得的缺陷長度大()397.在役部件超聲波檢測主要是探測疲勞裂紋和應力腐蝕裂紋()398.在對鑄鋼件進行超聲波檢測時,回波低的未必是小缺陷()399.檢測板厚較大的焊縫,常采用較小折射角的探頭,這是為了縮短聲程,減少聲路上的聲能衰減,提高探測靈敏度()400.對復合板進行超聲波檢測時,如果復合界面有分層時其界面回波會降低()401.對復合板進行超聲波檢測時,如果復合界面有分層時其界面回波會增高()402.鋼板探傷中若無底波出現(xiàn)則說明鋼板中無缺陷()404.對厚度與波長相當?shù)谋“逯饕捎脵M波法檢測()404.對厚度與波長相當?shù)谋“逯饕捎每v波法檢測()405.對厚度與波長相當?shù)谋“逯饕捎萌鹄ǚz測()406.對厚度與波長相當?shù)谋“逯饕捎锰m姆波法檢測()407.厚板與中厚板超聲波檢測主要采用橫波法()408.厚板與中厚板超聲波檢測主要采用縱波法()409.厚板與中厚板超聲波檢測主要采用蘭姆波法()410.厚板與中厚板超聲波檢測主要采用表面波法()411.厚板與中厚板超聲波檢測主要采用爬波法()412.串列式雙探頭法探傷實質(zhì)即為一發(fā)一收的穿透法()413.焊縫探傷所用斜探頭,當楔塊底面后部磨損較大時,其折射角將變小()414.焊縫探傷所用斜探頭,當楔塊底面前部磨損較大時,其折射角將變小()415.對焊縫中與聲束成一定角度的缺陷,探測頻率較高時,缺陷回波不易被探頭接收()416.焊縫探傷中,依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準確地判斷缺陷性質(zhì)()417.在超聲波檢測中,依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形就已經(jīng)可以準確判斷缺陷的性質(zhì)()418.在超聲波檢測中,僅僅依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形還不可以準確判斷缺陷的性質(zhì)()419.管材和棒材水浸橫波檢測時,通常利用調(diào)整偏心距的方法來調(diào)節(jié)入射角()420.管材水浸法周面弦向入射橫波探傷時,入射角的選擇通常是利用調(diào)整偏心距來實現(xiàn)的()421.管材水浸法周面弦向入射橫波探傷時,入射角的選擇通常是利用調(diào)整水距來實現(xiàn)的()422.小直徑薄壁無縫鋼管用水浸點聚焦探頭作橫波檢測時,折射角的調(diào)整是通過調(diào)節(jié)水層距離實現(xiàn)的()423.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＞0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達不到管子的內(nèi)壁()424.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＜0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達不到管子的內(nèi)壁()425.管材純橫波探傷,要保證聲束能探查到管內(nèi)壁的條件是管壁厚與管外徑之比大于0.2()426.管材純橫波探傷,要保證聲束能探查到管內(nèi)壁的條件是管壁厚與管外徑之比小于0.2()427.小口徑鋼管采用水浸聚焦探頭檢驗時,屬于縱波垂直法探傷()428.小口徑鋼管采用水浸聚焦探頭檢驗時,屬于橫波探傷()429.采用斜探頭對鋼管作周向接觸法探傷時,鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越大()430.采用斜探頭對鋼管作周向接觸法探傷時,鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越小()431.采用斜探頭對鋼管作周向接觸法探傷時,鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越小()432.采用斜探頭對鋼管作周向接觸法探傷時,鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越大()433.鋼管作手工接觸法周向探傷時,應從順,逆時針兩個方向各探傷一次()434.鋼管作手工接觸法周向探傷時,只需從一個方向探傷一次即可()435.鋼管水浸探傷時,水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗,改善透聲性()436.鋼管水浸探傷時,水中加入適量活性劑是為了改善水的潤濕性,減少附著在探頭和鋼管表面的氣泡()437.鋼管水浸探傷時,如鋼管中無缺陷,熒光屏上只有始波和界面波()438.管材超聲波檢測主要采用橫波法()439.管材超聲波檢測主要采用縱波法()440.管材超聲波檢測主要采用蘭姆波法()441.管材超聲波檢測主要采用瑞利波法()442.鍛件水浸法縱波垂直入射探傷時,對水層距離的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且盡可能利用距離-振幅曲線上的高聲壓區(qū)()443.在鍛件的超聲波探傷中,有關缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決()444.軸類鍛件,一般來說以縱波直探頭作徑向探測效果最佳()445.軸類鍛件,一般來說以斜探頭作周面弦向探測效果最佳()446.軸類鍛件,一般來說以斜探頭作周面軸向探測效果最佳()447.使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時,探頭應作正反兩個方向掃查()448.使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時,只需作一個方向掃查即可()449.對餅形鍛件采用直探頭在端面平面上作軸向探測是最常用的探傷方法()450.對餅形鍛件采用直探頭在側面圓周面上作徑向探測是最常用的探傷方法()451.對餅形鍛件采用斜探頭在端面平面上作斜入射探測是最常用的探傷方法()452.鍛件探傷中,如底波明顯下降或消失而不是聲接觸不良引起時,說明鍛件中可能存在較嚴重的缺陷()453.超聲波檢測時要求聲束方向與缺陷取向平行為宜()454.超聲波檢測時要求聲束方向與缺陷取向垂直為宜()455.所謂超聲波的材質(zhì)衰減包括了吸收衰減,擴散衰減和散射衰減()456.粗糙的入射表面會導致缺陷回波高度降低()457.用修磨斜探頭底面的方法可以改變探頭的入射角,若探頭底面前部修磨量大,則探頭的入射角增大()458.用修磨斜探頭底面的方法可以改變探頭的入射角,若探頭底面后部修磨量大,則探頭的入射角增大()459.斜探頭檢測焊縫時,按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷位置()460.斜探頭檢測焊縫時,按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷大小()461.盲區(qū)與始波寬度是同一概念()462.斜探頭楔塊前部和上部開有消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失()463.水浸法垂直入射縱波檢測時,水距的選擇在任何情況下只要保證第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了()464.工件表面越粗糙,使用的超聲檢測頻率應當越高,耦合劑粘度應當越稀()465.工件表面越粗糙,使用的超聲檢測頻率應當越低,耦合劑粘度應當越稠()466.雙晶直探頭傾角越大,交點離探測面距離越遠,覆蓋區(qū)越大()467.雙晶直探頭傾角越小,交點離探測面距離越遠,覆蓋區(qū)越大()468.在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸()469.工件表面比較粗糙時,為防止探頭磨損和保護晶片,宜選用硬保護膜()470.中心切槽的半圓試塊,其反射特點是多次回波總是等距離出現(xiàn)()471.用接觸法在試件中產(chǎn)生橫波的方法,唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上()472.曲面工件探傷時,探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好()473.曲面工件探傷時,探傷面曲率半徑越小,耦合效果越好()474.曲面工件探傷時,探傷面曲率越大,耦合效果越好()475.曲面工件探傷時,探傷面曲率越小,耦合效果越好()476.只有當工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時,才能采用測長法確定缺陷長度()477.當工件中缺陷在各個方向的尺寸均小于聲束截面時,無法采用測長法確定缺陷長度()478.對于厚度大于3N(N=D2/4λ)的鍛件,采用超聲波檢測法測定材質(zhì)衰減系數(shù)時的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S(注:式中N-近場長度,D-探頭晶片直徑,λ-超聲波在材料中的波長,B1和B2分別為第一、二次底波高度,S-工件厚度)()479.對鋼板用縱波直探頭探傷時，若熒光屏上同時存在底波和傷波,說明鋼板中存在小于聲束直徑的缺陷()480.對鋼板用縱波直探頭探傷時,通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷()481.對鋼板用縱波直探頭探傷時,不但要根據(jù)缺陷波情況，還要視底波變化情況來判定缺陷()482.復合鋼板探傷時,可從母材一側探傷,也可從復合材料一側探傷()483.焊縫中的裂紋回波信號基本特征是波幅不高,當探頭作原位擺動或轉動時,波幅無明顯變化()484.對焊縫進行超聲波檢測時,對所發(fā)現(xiàn)的缺陷必須測量其指示長度是為了便于評價與返修()485.某鋼管規(guī)格Φ83x14mm,可以采用純橫波法檢測該管材內(nèi)外壁缺陷()486.探傷靈敏度越高,檢測盲區(qū)越小,分辨率越低()487.不能探測到缺陷的范圍稱為近場區(qū)()488.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個晶片的相對傾角,相對傾角越大,焦距越短()489.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個晶片的相對傾角,相對傾角越小,焦距越長()490.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個晶片的相對傾角,相對傾角越大,焦距越長()491.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個晶片的相對傾角,相對傾角越小,焦距越短()492.在超聲波試塊中,和入射波束角度無關的人工反射體是U型缺口槽()493.在超聲波試塊中,和入射波束角度無關的人工反射體是V型缺口槽()494.在超聲波試塊中,和入射波束角度無關的人工反射體是平底孔()495.在超聲波試塊中,和入射波束角度無關的人工反射體是柱孔()496.在超聲波試塊中,和入射波束角度無關的人工反射體是橫孔()497.為滿足較高的近表面分辨率要求,較適宜的方法是選用組合雙晶探頭()498.缺陷本身的開隙度,取向,表面粗糙度以及內(nèi)涵物等都會對缺陷回波高度有影響()499.表面波探傷的實踐經(jīng)驗之一是采用觸摸法判斷缺陷位置()500.對薄板進行蘭姆波法檢測時的實踐經(jīng)驗之一是采用觸摸法判斷缺陷位置()501.超聲波檢測大鍛件時使用的重復頻率比管子自動探傷時低()502.超聲波儀器的C型顯示能展示工件中缺陷在探測方向上的面積投影，但不能展示其深度()503.超聲波儀器的C型顯示屬于二維顯示()504.超聲波儀器的B型顯示屬于三維立體顯示()505.軸類零件作超聲波檢測時，若遇到有游動訊號出現(xiàn)，則說明軸的內(nèi)部存在危險性缺陷()506.當被檢材料的晶粒尺寸大于1/10波長時，超聲波的散射會影響試驗結果()507.在超聲波檢測中，如果使用的重復頻率過高，在探測粗晶材料時會出現(xiàn)林狀回波()508.在超聲波自動化檢測中，必須考慮儀器重復頻率對檢驗速度的影響()509.采用縱波法檢查鋼板時，探頭掃查移動方向以垂直于鋼板壓延方向較好()510.用直探頭探測同一缺陷，探頭直徑增大時，缺陷波增高，但底波高度不變()511.超聲波檢測儀的發(fā)射脈沖應盡可能寬度大、前沿陡峭()512.超聲波檢測使用的試塊只能用于調(diào)整檢測靈敏度和評估缺陷大小()513.由于管子曲率對超聲波有散射作用，所以管子探傷必須采用水浸聚焦方法()514.根據(jù)焊縫的實際情況，有時采用斜探頭進行探傷，有時則應當采用直探頭進行探傷()515.根據(jù)鍛件的實際情況，可采用直探頭、組合雙晶探頭、斜探頭進行探傷()516.用直探頭在軸類鍛件的圓周面上進行周向掃查時，只有徑向缺陷才會產(chǎn)生游動信號()517.由于鑄件中的缺陷主要產(chǎn)生在澆冒口部位，因此在鑄件的超聲波檢測中，檢測的重點應放在澆冒口部位，其它部位可以不檢查或做一般性檢查()518.對焊縫進行超聲波檢測的時機是焊縫冷卻到室溫后即可進行超聲波檢測()519.如果使用帶有缺陷自動報警和缺陷自動記錄裝置的超聲波檢測儀，在檢測過程中探頭移動速度就可以不須限制()520.探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路()521.探傷儀中的發(fā)射電路可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵探頭晶片振動()522.探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路()523.探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強度愈弱()524.調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變()525.探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機械品質(zhì)因素，減少機械損耗()526.利用IIW1試塊上Φ50mm孔與兩側面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍()527.當斜探頭對準IIW2試塊上R50曲面時，熒光屏上的多次反射回波是等距離的()528.測定組合靈敏度時，可先調(diào)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進行測試()529.測定“始波寬度”時，應將儀器的靈敏度調(diào)至最大()530.為提高分辯力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應盡量調(diào)得低一些()531.串列式雙探頭法探傷即為穿透法()532.實際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低()533.采用當量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸()534.只有當工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才能采用測長法確定缺陷長度()535.鋼板探傷時，通常只根據(jù)缺陷波情況判別定缺陷()536.厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大()537.Φ50x10mm的鋼管，亦可采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向探傷()538.用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法周向探傷時，其跨距比同厚度平板大()539.焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的()540.焊縫斜角探傷時，如采用直射法，可不考慮結構反射、變型波等干擾回波的影響()541.鋼板探傷中若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，缺陷尺寸未必一定較大()542.鋼板探傷中若熒光屏上只有正常波形，僅表示鋼板中無當量超過調(diào)整起始靈敏度的基準平底孔的缺陷()543.鋼板探傷中若無底波時，說明鋼板中無缺陷()544.鋼板中不允許存在的缺陷尺寸，主要是用當量法測定的()545.即便探頭折射角較大，在焊縫一側用全跨距探傷，可以掃查到整個焊縫截面，但仍然有必要從焊縫兩側探傷()546.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑()547.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑()548.實踐證明，在探測工件側壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏低()549.實踐證明，在探測工件側壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏高()550.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，常會發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高()551.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低()552.管子的超聲波檢測除了采用水浸聚焦探傷方法外，還可以采用斜探頭接觸法()初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編 問答題

1.將超聲波直探頭置于IIW1試塊側面上探測100mm距離的底波,如下圖所示在第一次底波與第二次底波之間前兩個遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）

2．何謂超聲波？它有哪些重要特性？

答：頻率高于20000Hz的機械波稱為超聲波。重要特性：①超聲波可定向發(fā)射，在介質(zhì)中沿直線傳播且具有良好的指向性。

②超聲波的能量高。③超聲波在界面上能產(chǎn)生反射，折射和波型轉換。④超聲波穿透能力強。3．產(chǎn)生超聲波的必要條件是什么？

答：①要有作超聲振動的波源（如探頭中的晶片）。②要有能傳播超聲振動的彈性介質(zhì)（如受檢工件或試塊）。

4.在棒材圓周面上進行超聲探傷時,第一次底波與第二次底波之間可見到有兩個遲到波,如下圖所示,請指出這兩個遲到波各是什么波型?（前面為L-L-L波,后面為L-S-L波）

5．一個探頭的標記為5I 20SJ 20DJ，試說明其中數(shù)字和字母的含義？

答：5：頻率5MHZ；I：壓電晶片材料碘酸鋰單晶；20：圓晶片直徑20mm；SJ：水浸探頭；20DJ：點聚焦，水中焦距20mm

6.畫出下圖中不同情況下聲波的收斂或發(fā)散的情況:（答案從略）

7.在下圖中畫出超聲縱波從鈦合金中以45°斜入射到鋼中的反射與折射情況: C鈦L=6150m/s C鈦S=3150m/s C鋼L=5850m/s C鋼S=3200m/s（答案從略）

8．液體中為什么只能傳播縱波，不能傳播橫波？

答：凡能承受拉伸或壓縮應力的介質(zhì)都能傳播縱波，液體雖然不能承受拉伸應力，但能承受壓應力而產(chǎn)生容積變化，故液體介質(zhì)可傳播縱波。介質(zhì)傳播橫波時，介質(zhì)質(zhì)點受到交變的剪切應力作用，液體介質(zhì)不能承受剪切應力，故橫波不能在液體中傳播。

9．簡述影響超聲波在介質(zhì)中傳播速度的因素有哪些？答：①超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與介質(zhì)的彈性模量和介質(zhì)的密度有關。對一定的介質(zhì)，彈性模量和密度為常數(shù)。不同介質(zhì)，聲速不同。②超聲波波型不同時，聲速也不一樣。同一介質(zhì)，傳播不同類型聲波時，聲速也不相同。③介質(zhì)尺寸大小及介質(zhì)溫度對聲速也有一定影響。

10．簡述波的疊加原理？答：①當幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時，相遇處質(zhì)點的振動是各列波引起的分振動的合成，任一時刻該質(zhì)點的位移是各列波引起的分位移的矢量和。②相遇后的各列波仍保持它們各自原有的特性（頻率、波長、振幅、振動方向等）不變，并按照各自原來的傳播方向繼續(xù)前進。③波的疊加原理描述了波的獨立性，及質(zhì)點受到幾個波同時作用時的振動的疊加性。

11．何謂超聲波聲場？超聲波聲場的特征量有哪些？答：充滿超聲波的空間或超聲振動所波及的部分介質(zhì)，稱為超聲波聲場。描述超聲波聲場的物理量即特征量有聲壓、聲強和聲阻抗。

聲壓：超聲波聲場中某一點在某一瞬時所具有的壓強P與沒有超聲波存在時同一點的靜壓強P之差，稱為該點的聲壓。

聲強：單位時間內(nèi)通過與超聲波傳播方向垂直的單位面積的聲能，稱為聲強。常用I表示。

聲阻抗：介質(zhì)中某一點的聲壓P與該質(zhì)點振動速度V之比，稱為聲阻抗，常用Z表示，聲阻抗在數(shù)值上等于介質(zhì)的密度與介質(zhì)中聲速C的乘積。

12．什么是波型轉換？波型轉換的發(fā)生與哪些因素有關？

答：①超聲波入射到異質(zhì)界面時，除產(chǎn)生入射波同類型的反射和折射波外，還會產(chǎn)生與入射波不同類型的反射或折射波，這種現(xiàn)象稱為波型轉換。②波型轉換只發(fā)生在傾斜入射的場合，且與界面兩側介質(zhì)的狀態(tài)（液、固、氣態(tài)）有關。

13．什么是超聲波的衰減？引起超聲衰減的主要原因有哪些？

答：超聲波在介質(zhì)中傳播時，隨著傳播距離的增加，超聲波的能量逐漸減弱的現(xiàn)象稱為超聲波的衰減。衰減的主要原因：

①擴散衰減：由于聲束的擴散，隨著傳播距離的增加，波束截面愈來愈大，從而使單位面積上的能量逐漸減少。這種衰減叫擴散衰減。擴散衰減主要取決于波陣面的幾何形狀，與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無關。②散射衰減：超聲波在傳播過程中，遇到由不同聲阻抗介質(zhì)組成的界面時，發(fā)生散射（反射、折射或波型轉換），使聲波原傳播方向上的能量減少。這種衰減稱為散射衰減。材料中晶粒粗大（和波長相比）是引起散射衰減的主要因素。③吸收衰減：超聲波在介質(zhì)中傳播時，由于介質(zhì)質(zhì)點間的內(nèi)磨擦（粘滯性）和熱傳導等因素，使聲能轉換成其他能量（熱量）。這種衰減稱為吸收衰減，又稱粘滯衰減。散射衰減，吸收衰減與介質(zhì)的性質(zhì)有關，因此統(tǒng)稱為材質(zhì)衰減。

14．什么是壓電晶體？舉例說明壓電晶體分為幾類？答：①某些晶體受到拉力或壓力產(chǎn)生變形時，在晶體界面上出現(xiàn)電荷的現(xiàn)象稱為正壓電效應。在電場的作用下，晶體產(chǎn)生彈性形變的現(xiàn)象，稱為逆壓電效應。正、逆壓電效應統(tǒng)稱為壓電效應。能夠產(chǎn)生壓電效應的材料稱為壓電材料。由于它們多為非金屬電介質(zhì)晶體結構，故又稱為壓電晶體。②壓電晶體分為：單晶體：如硫酸鋰、碘酸鋰、鈮酸鋰等。多晶體：如鈦酸鋇、鈦酸鉛、鋯鈦酸鋁（PZT）等。

15．何謂壓電材料的居里點？哪些情況要考慮它的影響？

答：①當壓電材料的溫度達到一定值后，壓電效應會自行消失，稱該溫度值為材料的居里溫度或居里點，用表示。同一壓電晶體有不同的上居里溫度和下居里溫度。不同的壓電晶體，居里溫度也不一樣。②對高溫工件進行探傷時，應選用上居里點較高的壓電晶片制作探頭。在寒冷地區(qū)探傷時，應選用下居里點較低的壓電晶片作探頭。

16．探頭保護膜的作用是什么？對它有哪些要求？答：①保護膜加于探頭壓電晶片的前面，作用是保護壓電晶片和電極，防止其磨損和碰壞。②對保護膜的要求是：耐磨性好，強度高，材質(zhì)衰減小，透聲性好，厚度合適。

17．聲束聚焦有什么優(yōu)點？簡述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？

答：①聚焦的聲束，聲能更為集中，中心軸線上的聲壓增強，同時可改善聲束指向性，對提高探傷靈敏度、分辯力和信噪比均為有利。②聚焦方法：凹曲面晶片直接聚焦 采用聲透鏡片聚焦。③聚焦形式：點聚焦和線聚焦。

18.超聲場分為幾個區(qū)域？各個區(qū)域的主要特征是什么？用示意圖注明簡述之

[提示]超聲場是由聲源發(fā)射超聲振動的空間而形成特殊場，它可以根據(jù)超聲在空間各部位聲壓大小不同，形象地用圖示方法表示出來（如下圖a）：超聲場分為近場和遠場兩大部份，其中主聲束以錐體形狀（猶如鮮花主瓣），近場區(qū)內(nèi)主聲束以外的稱為副瓣。主聲束的擴散角按零階貝塞爾函數(shù)計算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中最小的根為X0=3.83，則sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a)sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--晶片直徑，a為半徑]，求出θ0值即為主瓣的擴散角（θ0），當用J2(X)、J3(X)……分別求出第一副瓣、第二副瓣……的擴散角θ

1、θ2……等（如下圖b），同樣由sinθ=1.22(λ/D)求出，當S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N時，主聲束由晶片中心擴散到晶片邊緣的距離（也可用二項式展開證明）（注：也有資料以1.67N為主聲束由晶片中心擴散到晶片邊緣的距離）

19.畫圖說明超聲波聲場分為哪幾個區(qū)域？ 答：超聲波聲場可分為：

① 主聲束和副瓣--聲源正前方，聲能最集中的錐形區(qū)域即為主聲束。主聲束的范圍最大，聲源發(fā)射的聲能主要集中在主聲束中。探頭的頻率指的是主聲束的頻率。聲束副瓣（即副聲束）通常出現(xiàn)在鄰近探頭晶片的一個區(qū)域內(nèi)，旁側于主波束。其軸線傾斜于晶片表面，能量微弱，截面較小。晶片尺寸和波長之比不同，副聲束的能量和輻射方向也不相同。

②近場--指主聲束中心軸線上最后一個聲壓最大值處至晶片表面這一區(qū)域。近場區(qū)長度用N表示，它取決于晶片的直徑D（或面積As）和波長λ，用公式N=D2/4λ=As/πλ表示。近場區(qū)鄰近壓電晶片，聲壓分布最不均勻，這是由于此區(qū)域內(nèi)聲波干涉現(xiàn)象最嚴重。近場區(qū)也稱為干涉區(qū)，干涉現(xiàn)象對探傷有很大影響，探傷時要盡量避免。

③ 遠場--近場以外的區(qū)域稱為遠場。遠場中各子波傳播的距離已經(jīng)很長，相位幾乎相等，各量可簡單相加。聲壓值隨距離增加單調(diào)下降。遠場區(qū)的大小由晶片尺寸、波長、介質(zhì)的聲學特性及激勵晶片的電壓決定。④ 未擴散區(qū)--主聲束截面與聲源直徑相同之點至近場與遠場分界點的一段區(qū)域，稱為未擴散區(qū)。未擴散區(qū)分界點至晶片表面的距離約為近場區(qū)長度的1.6倍，該區(qū)域內(nèi)的平均聲壓可以看做常數(shù)，自此點開始主聲束擴散，形成錐體。

20.什么叫壓電效應？答：在某些物體上施加壓力時，在其表面上產(chǎn)生電荷聚集的現(xiàn)象，稱為正壓電效應。反之，當把這種物體放在電場中，它自身產(chǎn)生形變，稱為逆（或負）壓電效應。壓電效應是可逆的。21.超聲波檢測利用超聲波的哪些特性？

答：①超聲波有良好的指向性，在超聲波檢測中，聲源的尺寸一般都大于波長數(shù)倍以上，聲束能集中在特定方向上，因此可按幾何光學的原理判定缺陷位置。②超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉換、利用這些特性，可以獲得從缺陷等異質(zhì)界面反射回來的反射波及不同波型，從而達到探傷的目的。③超聲波檢測中，由于頻率較高，固體中質(zhì)點的振動是難以察覺的。因為聲強與頻率的平方成正比，所以超聲波的能量比聲波的能量大得多。④超聲波在固體中容易傳播。在固體中超聲波的散射程度取決于晶粒度與波長之比，當晶粒小于波長時，幾乎沒有散射。在固體中，超聲波傳輸損失小，探測深度大。22.什么叫AVG曲線？

答：根據(jù)反射體的反射面積大小，離聲源的距離，反射信號的幅度三者之間的關系繪制的曲線，叫做AVG曲線

23.如果要求檢查對接焊縫中的未熔合和小氣孔，應采用什么無損檢測方法檢查？答：超聲波和射線二種方法。

24.試比較射線檢測與超聲波檢測兩種方法的適用范圍和局限性

[提示]：應從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及安全防護和經(jīng)濟性等方面進行比較

25.指出下列四種情況下因為探頭斜楔磨損而導致折射聲束軸線方向變化的情況(實線為原始斜楔面,虛線為磨損後的斜楔面)折射角：a.變大，b.變小，折射聲軸線：c.偏左，d.偏右

26．簡述超聲波檢測儀中，同步電路的主要作用？答：同步電路又稱觸發(fā)電路，它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個觸發(fā)脈沖，觸發(fā)探傷儀的掃描電路，發(fā)射電路等，使之步調(diào)一致，有條不紊地工作，因此，同步電路是整個探傷儀的指揮“中樞”。

27．超聲波檢測儀發(fā)射電路中的阻尼電阻有什么作用？答：改變阻尼電阻的阻值可改變發(fā)射強度，阻值大發(fā)射強度高，發(fā)射的聲能多，阻尼電阻阻值小，則發(fā)射強度低。但改變阻值也會改變探頭電阻尼大小，影響分辨力。

28．超聲波檢測儀的接收電路主要由哪幾部分組成？

答：接收電路由衰減器，射頻放大器，檢波器和視頻放大器等幾部分組成。

29．超聲波檢測儀的“抑制”旋鈕有什么作用？答：調(diào)節(jié)“抑制旋鈕”可使低于某一電平的信號在熒光屏上不予顯示，從而減少熒光屏上雜波。但使用“抑制”時，儀器的垂直線性和動態(tài)范圍均會下降。

30．超聲波檢測儀的主要性能指標有哪些？答：超聲波檢測儀性能是指僅與儀器有關的性能，主要有水平線性，垂直線性和動態(tài)范圍等：①水平線性：也稱時基線性或掃描線性，是指檢測儀掃描線上顯示的反向波距離與反射體距離成正比的程度。水平線性的好壞以水平線性誤差表示。②垂直線性：也稱放大線性或幅度線性，是指檢測儀熒光屏上反射波高度與接收信號電壓成正比的程度。垂直線性的好壞以垂直線性誤差表示。③動態(tài)范圍：是檢測儀熒光屏上反射波高從滿幅（垂直刻度100%）降至消失時（最小可辯認值）儀器衰減器的變化范圍。以儀器的衰減器調(diào)節(jié)量（dB數(shù)）表示。31．簡述超聲波檢測系統(tǒng)的主要性能指標有哪些？

答：系統(tǒng)性能是儀器，電纜、探頭特性的綜合反映，即檢測儀和探頭的組合性能，主要有信噪比，靈敏度余量，始波寬度，盲區(qū)和分辯力：①信噪比：是檢測儀熒光屏上界面反向波幅與最大雜波幅度之比。以dB數(shù)表示。②靈敏度余量：也稱綜合靈敏度。是指探測一定深度和尺寸的反射體，當其反射波高調(diào)到熒光屏指定高度時，檢測儀剩余的放大能力。以此時衰減器的讀數(shù)（dB）表示。③始波寬度：也稱始波占寬，它是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時間，通常以一定靈敏度條件下，熒光屏水平“0”刻度至始波后沿與垂直刻度20%線交點間的距離所相當?shù)穆暡ㄔ诓牧现袀鞑ゾ嚯x來表示。④盲區(qū)：是探測面附近不能探出缺陷的區(qū)域。以探測面到能夠探出缺陷的最小距離表示。⑤分辨力：是在檢測儀熒光屏上能夠把兩個相鄰缺陷作為兩個反射信號區(qū)別出來的能力。分辯力可分為縱向分辯力和橫向分辯力。通常所說的分辯力是指縱向分辯力。一般以相距6mm或9mm的兩個反射面反射波幅相等時，波峰與波谷比值的dB數(shù)表示。

32．什么是底面多次回波法？該法主要用于哪些場合？答：依據(jù)底面回波次數(shù)，判斷試件有無缺陷和缺陷嚴重程度的探傷法稱為底面多次回波法。主要用于：①缺陷回波法不便實施，要求檢出靈敏度較低的場合。②工件厚度不大，形狀簡單，探測面與底面平行的場合。③有時作為輔助手段，配合缺陷回波法或底面回波高度法判定缺陷情況。

33．什么叫探傷靈敏度？常用的調(diào)節(jié)探傷靈敏度的方法有幾種？

答：探傷靈敏度是指在確定的探測范圍的最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時也稱為起始靈敏度或評定靈敏度。通常以標準反射體的當量尺寸表示。實際探傷中，常常將靈敏度適當提高，后者則稱為掃查靈敏度或探測靈敏度。調(diào)節(jié)探傷靈敏度常用的方法有試塊調(diào)節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標準反射體調(diào)節(jié)和水試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào)節(jié)法包括計算法，AVG曲線法，底面回波高度法等多種方式。

34．焊縫斜角探傷中，定位參數(shù)包括哪些主要內(nèi)容？

答：缺陷位置的記錄應包括下列各項：①缺陷位置的縱坐標：沿焊縫方向缺陷位置到焊縫探傷原點或檢驗分段標記點的距離。記錄時應規(guī)定出正方向。②缺陷深度：缺陷到探測面的垂直距離。③缺陷水平距離：缺陷在探測面上的投影點到探頭入射點的距離，也稱作探頭缺陷距離。有時以簡化水平距離代之，即缺陷在探測面上投影點到探頭前沿的距離，亦稱缺陷前沿距離。④探頭焊縫距離：探頭入射點到焊縫中心線的距離。⑤缺陷位置的橫坐標：缺陷在探測面上投影點到焊縫中心線的距離，記錄時應規(guī)定的正方向。其數(shù)值可以從③、④兩參數(shù)之差求得。實際探傷中，由于焊縫結構形式不同，缺陷定位時，可依據(jù)標準或檢驗規(guī)程的要求，記錄以上全部或部分參數(shù)。

35．何謂缺陷定量？簡述缺陷定量方法有幾種？答：超聲波探傷中，確定工件中缺陷的大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長度。缺陷的定量方法很多，常用的有當量法，底波高度法和測長法。

36．什么是當量尺寸？缺陷的當量定量法有幾種？

答：將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標準反射體的回波進行比較，兩者的回波等高時，標準反射體的尺寸就是該自然缺陷的當量尺寸。當量僅表示對聲波的反射能力相當，并非尺寸相等。當量法包括：①試塊比較法：將缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對缺陷定量的方法。②計算法：利用規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進行計算來確定缺陷當量尺寸的宣方法。③AVG曲線法：利用通用AVG曲線或?qū)嵱肁VG曲線確定缺陷當量尺寸的方法。

37．什么是缺陷的指示長度？測定缺陷指示長度的方法分為哪兩大類？

答：按規(guī)定的靈敏度基準。根據(jù)探頭移動距離測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。測定缺陷指示長度的方法分為相對靈敏度法和絕對靈敏度法兩大類。①相對靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對基準。沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波輻降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測定缺陷長度的方法。②絕對靈敏度法：是沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測長靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。

38．什么是缺陷定量的底波高度法？常用的方法有幾種？答：底波高度法是利用缺陷波與底波之比來衡量缺陷相對大小的方法，也稱作底波百分比法。底波高度法常用兩種方法表示缺陷相對大小：F/B法和F/BG法：①F/B法：是在一定靈敏度條件下，以缺陷波高F與缺陷處底波高B之比來衡量缺陷的相對大小的方法。②F/BG法：是在一定靈敏度條件下，以缺陷波高F與無缺陷處底波高BG之比來衡量缺陷相對大小的方法。底波高度法只能比較缺陷的相對大小，不能給出缺陷的當量尺寸。

39．何謂鋼板探傷的多次重合法？答：鋼板水浸（或局部水浸）探傷時，為避免水層界面多次回波與鋼板多次底波相互干擾，調(diào)整水層厚度，使水層界面回波與某次鋼板底波復合，這種方法就稱為多次重合法。當界面回波與鋼板第二或三、四次底波重合時，則分別稱為二次或三、四次重合法。

40．為什么鋼板探傷的多次重合法一般不推薦采用一次重合法？答：一次重合法時，界面各次回波分別與鋼板底波一一重合。此時，由于鋼板底波的位置經(jīng)常有水層界面波存在，探傷過程中，難以觀察到鋼板底波的衰減或消失情況，因而無法根據(jù)底波衰減或消失情況來判定缺陷情況，所以一般不采用一次重合法探傷。

41．簡要說明鋼板探傷中，引起底波消失的幾種可能情況？答：①表面氧化皮與鋼板結合不好；②近表面有大面積的缺陷；③鋼板中有吸收性缺陷（如疏松或密集小夾層）；④鋼板中有傾斜的大缺陷。42．鍛件探傷中，利用鍛件底波調(diào)節(jié)探傷靈敏度有什么好處？對鍛件有何要求？

答：優(yōu)點：①可不考慮探傷面耦合差補償。②可不考慮材質(zhì)衰減差補償。③可不使用試塊。要求：①工件厚度應大于3N。②工件底面應與探傷面平行，如為曲面應進行修面。③工件底面應光滑平整，且不得與其他透聲物質(zhì)接觸。

43．焊縫檢驗中，“一次波法”與“直射法”是否為同一概念？

答：是同一概念。“一次波法”是指在斜角探傷中，超聲束不經(jīng)工件底面反射而直接對準缺陷的探測方法，亦稱為直射法。探頭的移動范圍一般為跨距，焊縫實際掃查中，往往從焊縫邊緣起移動到超過跨距一定距離。

44．有人說，焊縫檢驗中的“一次波法”與“一次反射法”是一回事。這種說法對嗎？答：不對。“一次反射法”又稱“二次波法”，是指在斜角探傷中，超聲波在工件底面只反射一次而對準缺陷的探測方法。探頭移動范圍一般為跨距。實際檢驗中厚板焊縫時，往往一、二次波法聯(lián)合使用，故探頭應從焊縫邊緣起移動到超過1跨距一定距離。

45．“前沿距離”這一術語是否表示缺陷前沿距離？答：不是。“前沿距離”表示從斜探頭入射點到探頭底面前端的距離。是斜探頭的參數(shù)之一。“缺陷前沿距離”表示從斜探頭前端到缺陷在探傷面上投影點的距離。有時它可代替“水平距離”作為缺陷的一個位置參數(shù)，在國內(nèi)也常稱其為“簡化水平距離”。46．“水平距離”與“探頭焊縫距離”在數(shù)值上相等嗎？

答：除非缺陷定位在焊縫中心線上，否則一般兩者在數(shù)值上并不相同。“水平距離”亦稱“探頭缺陷距離”，表示從斜探頭入射點到缺陷在探傷面投影點的距離。它是缺陷的位置參數(shù)之一。“探頭焊縫距離”表示在探傷面上從斜探頭入射點到焊縫中心線的距離。比較兩者的數(shù)值，可以得出缺陷相對于焊縫中心線的位置，有助于對缺陷的識別。47．簡述焊縫探傷中，選擇探頭折射角應依據(jù)哪些原則？答：探頭折射角的選擇應從以下三個方面考慮：①能使聲束掃查到整個焊縫截面。②能使聲束中心線盡量與焊縫中主要缺陷垂直。③保證有足夠的探傷靈敏度。

48．焊縫探傷時，斜探頭的基本掃查方式有哪些？各有什么主要作用？

答：鋸齒形掃查：是前后、左右、轉角掃查同時并用，探頭作鋸齒形移動的掃查方法，可檢查焊縫中有無缺陷。左右掃查：探頭沿焊縫方向平行移動的掃查方法，可推斷焊縫縱向缺陷長度。前后掃查：推斷缺陷深度和自身高度。轉角掃查：判定缺陷方向性。前后、左右、轉角掃查同時進行，可找到缺陷最大回波，進而判定缺陷位置。環(huán)繞掃查：推斷缺陷形狀。平行、斜平行掃查及交叉掃查：探測焊縫及熱影響區(qū)橫向缺陷。串列式掃查：探測垂直于探傷面的平面狀缺陷。

49.超聲波探傷報告的主要內(nèi)容有哪些？被檢產(chǎn)品的基本狀況、探傷方法、探傷條件、驗收標準、探傷結論、操作者、審核人、探傷日期

50.正確的選用耦合劑應注意哪些問題？答：正確地選用耦合劑，應注意以下幾點：①耦合劑的聲阻抗盡量與被檢材料的聲阻抗相近；②無氣泡和固體微粒；③無腐蝕和無毒；④有一定粘度和流動性 51.超聲波檢測儀主要由哪幾部分組成？

答：主要由：同步電路、發(fā)射電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部分組成。52.簡述A型超聲波檢測儀的工作過程

答：儀器的工作過程是：儀器的同步電路產(chǎn)生方波，同時觸發(fā)發(fā)射電路、掃描電路和定位電路。發(fā)射電路被觸發(fā)后，激發(fā)探頭產(chǎn)生一個衰減很快的超聲脈沖，這脈沖經(jīng)耦合傳送到工件內(nèi)，遇到不同介質(zhì)的界面時，產(chǎn)生回波。回波反射到探頭后，被轉換成電信號，儀器的接收電路對這些信號進行放大，并通過顯示電路在熒光屏上顯示出來。

53.發(fā)射電路的主要作用是什么？答：由同步電路輸入的同步脈沖信號觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號，激勵晶片產(chǎn)生高頻機械振動，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

54.發(fā)射電路中的閘流管（或可控硅）起什么作用？如果用普通電子管（或硅整流管）代替行不行？答：發(fā)射電路中的閘流管（或可控硅）起電子開關作用，它產(chǎn)生激勵晶片的電脈沖信號。不能用普通電子管（或硅整流管）代替。

55.同步信號發(fā)生器主要起什么作用？它主要控制哪兩部分電路工作？

答：同步電路產(chǎn)生脈沖信號，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時協(xié)調(diào)工作。它主要控制同步發(fā)射和同步掃描兩部分電路。

56.超聲波探頭起什么作用？探頭晶片是由哪些材料制成的？

答：探頭在超聲波探傷中起能量轉換作用，是將電能、聲能相互轉換的器件。探頭晶片材料用壓電陶瓷[如鈦酸鋇（BaTiO3）、鋯鈦酸鉛（PbTiO3）]和壓電單晶[如石英（SiO2）、碘酸鋰（LiIO3）、鈮酸鋰（LiNbO3）]制作。

57.使用橫孔作為標準反射體有哪些優(yōu)點？答：①加工方便；②適用于各種角度和類型的探頭。

58.畫出斜探頭的結構示意圖，并標出主要部件名稱。（標準圖略，主要部件應包括：壓電晶片、壓電晶片接地環(huán)或接地極、高頻引線、外殼、接插口、吸收塊、斜楔、斜楔上的消聲槽等）

59.脈沖反射探傷法對探頭晶片有什么要求？答：①轉換效率要高，盡可能降低轉換損失，以獲得較高的靈敏度，宜選用Kt（機電耦合系數(shù)）大的晶片。②脈沖持續(xù)時間盡可能短，即在激勵晶片后能迅速回復到靜止狀態(tài)，以獲得較高的縱向分辯力和較小的盲區(qū)。③要有好的波形，以獲得好的頻譜包跡。④聲阻抗適當，晶片與被檢材料的聲阻抗盡量接近，水浸法探傷時，晶片應盡量與水的聲阻抗相近，以獲得較高的靈敏度。⑤高溫探傷時，居里點溫度要高。⑥制造大尺寸（直徑）探頭時，應選擇介電常數(shù)小的晶片。⑦探頭實際中心頻率與名義頻率之間誤差小，頻譜包絡無雙峰。60.鋼板探傷中，底波消失，可能是由于什么原因造成的？

答：①近表面大缺陷；②吸收性缺陷（或疏松和密集小夾層）；③傾斜大缺陷；④氧化皮與鋼板結合不好 61.鋼板的超聲波檢測為什么通常都要采用直探頭？答：由于板材為軋制而成，板材中的缺陷大都是平行于板面，而且呈扁平狀。因此，在板厚方向進行垂直探傷最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷。

62.試述薄板焊縫表面聲能損失差的測定方法。答：①做一個與工件材料相似、厚度相同，光潔度為▽7平板試塊；②用同型號的兩個斜探頭沿探傷方向置于工件上作一發(fā)一收測試，使其最大反射波幅的高度為熒光屏上3格高；③用上述條件探測平板試塊，得出的穿透波幅的高度與工件上反射波幅的高度差的dB值，就是薄板焊縫的表面聲能損失差。

63.聲透鏡線聚焦的內(nèi)半擴散角的選擇，過大和過小對探傷有什么影響？

答：θ角不能選得過大，θ角越大，則α與α

1、α2相差越大，這是探傷中所不希望的。因為在探傷中，θ角過大，由于管子跳動，會使聲束內(nèi)外側的入射點位置發(fā)生變化，入射角偏移出影響范圍，使檢測條件不穩(wěn)定。同時入射角又不能過小，過小的θ角在相同的晶片寬度時，焦距增大，水層加厚，使探頭發(fā)射的超聲波能量產(chǎn)生不必要的損失。同時要求探頭旋轉腔的內(nèi)徑相應增大，旋轉機構外徑加大，穩(wěn)定性變壞。64.餅形大鍛件探傷，如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度，對工件底面有何要求？ 答：①底面必須平行于探傷面；② 底面必須平整，且有一定的光潔度 65.T型焊縫和角焊縫在超聲波檢測方法上與對接焊縫有什么不同？

答：對接焊縫主要用橫波斜探頭探傷，而T型焊縫和角焊縫除了用橫波斜探頭探傷外，還要用直探頭縱波進行探傷。

66.鍛件的超聲波檢測對儀器性能有哪些要求？

答：①儀器至少應具備1.25、2.5、5兆周三種頻率和連續(xù)可調(diào)的50dB以上的衰減器。②在探測200mm厚的工件時，使用Φ2平底孔的靈敏度，儀器盲區(qū)應小于10mm。分辨力大于7mm。③水平線性誤差應小于2%。④儀器衰減器的精度在任一12dB衰減時，誤差不超過0.5dB。⑤儀器在探測深度為500mm的Φ2直徑的平底孔時，衰減器上應有20dB的余量，反射波高應在滿幅的75%以上。并且動態(tài)范圍在10dB以上時，不允許有雜波出現(xiàn)。⑥探傷的指向性好，要求無雙峰，無歪斜，發(fā)射頗率誤差不超過標定值的10%。67.大鍛件為什么通常采用直探頭進行超聲波檢測？答：主要原因是：①鍛造缺陷一般與鍛造纖維方向平行；②探測面通常選擇在與鍛造纖維方向平行的面；③鍛件尺寸大，縱波探傷穿透力強。68.選擇焊縫超聲波檢測用斜探頭的折射角有哪幾條原則？

答：①聲束能掃查到整個焊縫截面；②聲束盡量垂直于主要缺陷；③有足夠的靈敏度 69.鍋爐受熱面管子的對接焊縫，超聲波檢測時，采用的探頭參數(shù)是什么？

答：主要參數(shù)是①頻率為5MHZ，②tgβ取2.5～3，③探頭前沿b—般為7mm，最大不超過10mm。70.管子對接焊縫進行探傷，對試樣和有探頭何要求?答：①試樣與工件的曲率半徑相同，②探頭接觸面與工件相吻合。

71.什么是半波高度法？若發(fā)現(xiàn)一缺陷有多個波峰，該缺陷的長度應如何測定？答：半波高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作為缺陷邊緣的指示缺陷長度的方法。有多個波峰的缺陷，其長度用端點半波高度法測定。

72.什么是端點半波高度法？答：端點半波高度法是缺陷端部最大反射波高度降低一半（-6dB）測量缺陷指示長度的方法，適用于有多個波峰（即粗細不均勻）的長條形缺陷。

73.什么是缺陷指示長度？答：缺陷指示長度是指按規(guī)定測量方法確定的缺陷長度

74.右圖為用于焊縫超聲波檢測時制作距離-波幅曲線、調(diào)整檢測靈敏度使用的短橫孔試塊，為什么要在試塊側面銑一園弧槽，然后才在該圓弧中心鉆制Φ1x6mm的短橫孔？

答：為了消除試塊的邊界影響，此槽對克服試塊的側面和端面反射有一定益處。

75.焊縫探傷時，為缺陷定位，儀器時間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法？答：有水平定位，垂直定位（也叫深度定位），聲程定位三種方法。

76.時間掃描線比例的調(diào)整，若是不正確，有什么害處？答：時間掃描線比例的調(diào)整正確與否，直接影響缺陷定位的精度，若是不正確，可能發(fā)生誤判和漏檢。

77.什么叫鋼板的重合波探傷法？答：若超聲波在板中的傳播時間tB為在水中傳播時間t的整數(shù)倍，界面波將與底面波重合，利用該種方法進行探傷就稱為重合波探傷法。78.焊縫超聲波檢測中，干擾回波產(chǎn)生的原因是什么？我們怎樣判別干擾回波？答：焊縫超聲波檢測中，由于焊縫幾何形狀復雜，由形狀產(chǎn)生干擾回波，另一方面是由于超聲波的擴散、波型轉換和改變傳播方向等引起干擾回波。判別干擾回波的主要方法是用計算和分析的方法尋找各種回波的發(fā)生源，從而得知哪些是由于形狀和超聲波本身的變化引起的假信號，通常用手指沾耦合劑敲打干擾回波發(fā)生源、作為驗證焊縫形狀引起假信號的輔助手段。

79.焊縫超聲波檢測中，有哪些主要的干擾回波？答：焊縫超聲波檢測中，主要有以下8種干擾回波：①加強層干擾回波。②焊縫內(nèi)部未焊透反射引起的干擾回波。③單面焊襯板引起的干擾回波。④焊縫錯邊引起的干擾回波。⑤焊瘤引起的干擾回波。⑥焊偏引起的干擾回波。⑦焊縫表面溝槽引起的干擾回波。⑧油層引起的干擾回波。

80.超聲波檢測報告記錄有哪幾種形式？

答：超聲波檢測報告記錄有以下三種形式：①直接寫在工件上。②現(xiàn)場探傷記錄。③正式的探傷報告。81.為什么要加強超聲波檢測的記錄和報告工作？

答：任何工件經(jīng)過超聲波檢測后，都必須出具檢驗報告，以作為該工件質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報告，除建立于可靠的探測方法和結果外，很大程度上取決于原始記錄的好壞，所以加強現(xiàn)場的記錄和最后的出具探傷報告是非常重要的，如果我們檢查了工件，不作記錄，也不出報告，那么探傷檢查就毫無意義。

82.焊縫超聲波檢測中，把焊縫中的缺陷分幾類？怎樣進行分類？答：在焊縫超聲波檢測中，我們一般把焊縫中的缺陷分成三類：①點狀缺陷。②線狀缺陷。③面狀缺陷。在分類中把長度小于10mm的缺陷叫點狀缺陷，一般不測長，小于10mm的缺陷以5mm計。把大于等于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于等于10mm，高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。83．何謂耦合劑？簡述影響耦合的因素有哪些？

答：在探頭與工件表面之間施加的一層透聲介質(zhì)，稱為耦合劑。影響聲耦合的主要因素有： ①耦合層厚度：厚度為λ/4的奇數(shù)倍時，透聲效果差。厚度為λ/2的整數(shù)倍或很薄時，透聲效果好。②表面粗糙度：一般要求表面粗糙度不大于6.3μm。表面粗糙耦合效果差，表面光潔耦合效果好。③耦合劑聲阻抗：耦合劑聲阻抗大，耦合效果好。

④工件表面形狀：平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差。不同曲率半徑耦合效果也不相同，曲率半徑大，耦合效果好。

84．簡述鋼板探傷中“疊加效應”形成的原因及回波變化特征？

答：“疊加效應”多出現(xiàn)在板厚較薄，缺陷較小且位于板中心附近時。缺陷回波變化特征是：鋼板各次底波前的缺陷多次回波F1、F2、F3、F4、F5...起始幾次回波的波高逐漸升高，到某次回波后，波高又逐漸降低。這種效應的出現(xiàn)是由于不同反射路徑的聲波互相疊加的結果，隨著缺陷回波次數(shù)的增加，回波路徑逐漸增多，如F2比F1多3條路徑，F(xiàn)3比F1多5條路徑...路徑多，疊加能量多，故缺陷回波逐漸升高。但路徑進一步增加時，反射損失及衰減也增加，增加到一定程度后，損失和衰減的聲能將超過疊加效應。因此缺陷波升高到一定程度后又逐漸降低。

85．小口徑鋼管水浸探傷時，如何調(diào)節(jié)聲束入射角度？

答：小口徑鋼管水浸探傷時，是依靠調(diào)節(jié)偏心距來調(diào)整聲束入射角的。偏心距是指探頭聲束軸線與管子中心軸線間的距離，常用X表示。X與入射角α的關系是sinα=X/R，因此調(diào)節(jié)X值即能改變聲束入射角，為滿足純橫波探傷，同時聲束又能探測到管子內(nèi)壁，X的調(diào)節(jié)必須滿足下列條件：(CL1/CL2)?R≤X≤(CL1/CS2)?r,式中：CL1-水中聲速；CL2、CS2-鋼中縱橫波聲速；r、R-管子的內(nèi)外半徑。86．小口徑管水浸聚焦法探傷時，為什么一般要求聲束在水中的焦點要落在管子的中心軸線上？ 答：當聚焦聲束在水中的焦點落在與聲束軸線相垂直的管子中心軸線上時，能使聲束外邊緣聲線在鋼管曲面上有相等的入射角，從而可減小聲束復蓋面上各點的入射角差別，獲得最佳入射條件。為獲得這個最佳入射條件，應根據(jù)探頭焦距（F），管半徑（R）和偏心距（X）的數(shù)值，調(diào)節(jié)最佳水聲程來實現(xiàn)。最佳水聲程等于：H=F-(R2-X2)1/2 87．鍛件探傷時，什么情況下用當量法定量？當量法有幾種？

答：鍛件探傷中，對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般用當量法定量。當量法分為試塊比較法，計算法和AVG曲線法。當缺陷位于X＜3N區(qū)域內(nèi)，可用試塊比較法或當量A.V.G曲線法定量。當缺陷位于X≥3N區(qū)域，可用當量計算法或當量A.V.G曲線法定量。88．何謂繞射？繞射現(xiàn)象的發(fā)生與哪些因素有關？

答：波在傳播過程中遇到障礙物時，能繞過障礙物的邊緣繼續(xù)前進的現(xiàn)象，稱為波的繞射（衍射）。繞射的產(chǎn)生與障礙物的尺寸Df和波長λ的相對大小有關，Df《λ時，幾乎只繞射，無反射。Df》λ時，幾乎只反射，無繞射。Df與λ相當時，既反射又繞射。

89．超聲波垂直入射到兩側介質(zhì)不同（Z1≠Z3）的異質(zhì)薄層（Z2）時，（如探頭保護膜），什么情況下聲壓往復透過率最高？答：①當薄層厚度等于λ2/4的奇數(shù)倍，薄層介質(zhì)聲阻抗為其兩側介質(zhì)聲阻抗幾何平均值時，即Z2=(Z1Z3)1/2，聲壓往復透過率等于1，聲波全透射。②當薄層厚度＜λ2/4時，薄層愈薄，聲壓往復透過率愈大。

90．什么是端角反射？它有什么特征？

答：①超聲波在工件（或試樣）的兩個互相垂直的平面構成的直角內(nèi)的反向，稱為端角反射。②端角反射中，同類型的反射波和入射波總是互相平行方向相反。端角反射中，產(chǎn)生波型轉換，不同類型的反射波和入射波互相不平行。縱波入射時，端角反射率在很大范圍內(nèi)很低。橫波入射時，入射角在30°及60°附近，端角反射率最低。入射角在35°-55°時，端角反射率最高。91．何謂主聲束？什么是聲束的指向性？

答：①聲源正前方聲能集中的錐形區(qū)域稱為主聲束。②聲源輻射的超聲波定向，集中輻射的性質(zhì)稱為聲束指向性。指向性的優(yōu)劣常用指向角表示，指向角即為主聲束的半擴散角，通常用第一零輻射角表示，即聲壓為零的主聲束邊緣線與聲束軸線間的夾角。指向角θ0與波長和晶片直徑的比值（λ/D）有關，D愈大，λ愈短θ0愈小，聲束指向性愈好。

92.名詞解釋：垂直線性 答：超聲波探傷儀的接收信號與熒光屏所顯示的反射波幅度之間能按比例方式顯示的能力

93.名詞解釋：分辨力 答：超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向或深度方向相距最近的兩個相鄰缺陷的能力 94.名詞解釋：抑制 答：在超聲波探傷儀中，使某一高度以下的反射波或噪聲不被顯示的方法 95.名詞解釋：阻塞 答：接收器在接收到發(fā)射脈沖或強信號后的瞬間引起的靈敏度降低現(xiàn)象 96.名詞解釋：信噪比 答：超聲信號幅度與最大背景噪聲幅度之比

97.名詞解釋：盲區(qū) 答：在正常探傷靈敏度下，從探傷表面到最近可探缺陷的距離

98.名詞解釋：動態(tài)范圍 答：在增益不變時，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大反射面積與最小反射面積波幅高度之比，通常以分貝表示

99.名詞解釋：靈敏度 答：超聲探傷系統(tǒng)所具有的探測最小缺陷的能力 100.名詞解釋：吸收 答：由于部分超聲能量轉變?yōu)闊崮芏鸬乃p

101.名詞解釋：遠場 答：近場以遠的聲場，在遠場中，聲波以一定的指向角傳播，而且聲壓隨距離的增大而單調(diào)地衰減

102.名詞解釋：重復頻率 答：單位時間（秒）內(nèi)產(chǎn)生的發(fā)射脈沖的次數(shù) 103.名詞解釋：頻率常數(shù) 答：晶片共振頻率與其厚度的乘積

104.名詞解釋：聲場的指向性 答：波源發(fā)出的超聲波集中在一定區(qū)域內(nèi)，并且以束狀向前傳播的現(xiàn)象 105.名詞解釋：半波高度法 答：把最大反射波高降低一半（-6dB）用以測量缺陷指示長度的方法 106.名詞解釋：臨界角 答：超聲束的某個入射角，超過此角時某種特定的折射波型就不再產(chǎn)生 107.名詞解釋：阻尼 答：用電的或機械的方法來減少探頭的振動持續(xù)時間

108.名詞解釋：距離幅度校準（距離幅度補償、深度補償）答：用電子學方法改變放大量，使位于不同深度的相同反射體能夠產(chǎn)生同樣回波幅度的方法

109.名詞解釋：遲到回波 答：來自同一來源的回波，因所經(jīng)的路徑不同或在中途發(fā)生波型變換以致延遲到達的回波

110.名詞解釋：界面波 答：由聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的交界面產(chǎn)生的回波

111.什么叫超聲場？反映超聲場特征的主要參數(shù)是什么？答：充滿超聲波能量的空間叫做超聲場，反映超聲場特征的重要物理量有聲強、聲壓、聲阻抗、聲束擴散角、近場和遠場區(qū)

112.超聲探傷儀最重要的性能指標是什么？答：超聲探傷儀最重要的性能指標有：①分辨力；②動態(tài)范圍；③水平線性；④垂直線性；⑤靈敏度；⑥信噪比

113.超聲波探傷試塊的作用是什么？答：試塊的作用是：①檢驗儀器和探頭的組合性能；②確定靈敏度；③標定探測距離；④確定缺陷位置，評價缺陷大小

114.用CSK-1A試塊可測定儀器和探頭的哪些組合性能指標？答：可測定的組合性能指標包括：①水平線性；②垂直線性；③靈敏度；④分辨力；⑤盲區(qū)；⑥聲程；⑦入射點；⑧折射角

115.焊縫探傷時，用某K值探頭的二次波發(fā)現(xiàn)一缺陷，當用水平距離1:1調(diào)節(jié)儀器的掃描時，怎樣確定缺陷的埋藏深度？

答：采用下式確定缺陷的埋藏深度：h=2T-(水平距離/K)，式中：h-缺陷的埋藏深度；T-工件厚度；K-斜探頭折射角的正切值

116.超聲波探傷儀按顯示方式可分幾種？答：可分三種：①A型顯示-示波屏橫坐標代表超聲波傳播時間（或距離），縱坐標代表反射回波的高度；②B型顯示-示波屏橫坐標代表探頭移動距離，縱坐標代表超聲波傳播時間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；③C型顯示-儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度

117.開機后出現(xiàn)掃描基線，但無始波，基線能上下移動，這種情況該如何檢修？答：故障出現(xiàn)在發(fā)射或接收系統(tǒng)，首先檢查電源電壓是否正常，然后確定發(fā)射部分是否正常；檢查衰減器有無短路和斷線，將儀器置“雙”，將衰減器置“零”，用手指碰觸接收端，如果熒光屏出現(xiàn)雜波，說明故障在發(fā)射部分。常見的原因有：可控硅管損壞，觸發(fā)訊號太低，發(fā)射部分線路板接觸不良。如故障出現(xiàn)在放大器，則分別測量各級波形是否正常

118.當缺陷長度大于聲場直徑時，其指示長度怎樣測量？答：測長方法有兩種：①采用相對靈敏度法，即6分貝測長法和端點6分貝法；②采用絕對靈敏度法 119.畫出方框圖說明直探頭檢測技術的典型原理圖

答：直探頭檢測技術的典型原理如右圖所示，同步信號發(fā)生器同時向發(fā)射電路和掃描電路發(fā)出工作指令，掃描電路輸給水平偏轉板一組對稱的鋸齒波電壓，因而在熒光屏上形成掃描基線，發(fā)射電路發(fā)出的高頻電脈沖經(jīng)高頻同軸電纜傳給探頭的壓電晶片，激勵晶片產(chǎn)生振動，將電信號轉換為聲信號傳入被檢工件，如果在超聲波傳播的路徑上遇到缺陷或底面，超聲波返回時被探頭接收并轉換為電信號，經(jīng)放大后輸送到示波管的垂直偏轉板上，在熒光屏上顯示出各種脈沖反射信號。120.影響缺陷反射波高度的因素有哪些？

答：影響缺陷反射波高度的因素有以下五個方面：①儀器和探頭的因素，有儀器的發(fā)射功率、頻率、放大系數(shù)和電纜長度以及探頭的晶片尺寸、晶片材料、固有頻率、阻抗等；②對被檢工件來說，有探測面形狀、厚度、粗糙度、晶粒結構、聲速、衰減等；③從缺陷角度看，有缺陷的深度、形狀、方向、大小、內(nèi)部介質(zhì)等；④耦合劑的衰減、聲速、厚度等能影響反射波高度；⑤聲束的方向、擴散角、能量等也影響反射波高度。

初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編 計算題

1.在水浸法探傷中，求水/鋼的往復透過率T 解：Z1=1.5×106Kg/m2s(水溫20℃)Z2=45.4×106Kg/m2s(水溫20℃)T=4Z1Z2/(Z1+Z2)2=(4x1.5x45.4x1012)/(1.5+45.4)2×1012=0.12=12% 答：水/鋼的往復透過率T為12% 2.碳素鋼和不銹鋼的聲阻抗差異約為1%，求二者復合界面上的聲壓反射率。解：設界面聲壓反射率為r（r取絕對值）r=(Z1-Z2)/(Z1+Z2)=(1-0.99)/(0.99+1)=0.005=0.5% 答：二者復合界面上的聲壓反射率為0.5%。3.邊長為D=10mm的方形晶片，指向角用θ0=57λ/D表示。試計算探測鋼材時，下列探頭晶片的指向角： ①5MHz10x10、②4MHz12x12、③3MHz15x15、④2MHz20x20 解：λ①=(5900x103)/(5x106)=1.18mm；λ②=(5900x103)/(4x106)=1.48mm；λ③=(5900x103)/(3x106)=1.97mm；

λ④=(5900x103)/(2x106)=2.95mm，則：①的指向角：θ0=57x1.18/10=6.70；②的指向角：θ0=57x1.48/12=7.030；

③的指向角：θ0=57x1.97/15=7.480；④的指向角：θ0=57x2.95/20=8.410

4.當聲壓比為下列數(shù)值時，計算dB值。（不可用圖表及計算尺）①

8、②400、③20、④0.8、⑤1000 解：如用分貝表示兩數(shù)值之比P/Q，則數(shù)值A=20lg（P/Q）

① A=20lg8=60lg2=18dB；② A=20lg400=40lg20=52dB；③ A=20lg20=20(lg2+lg10)=26dB； ④ A=20lg0.8=20(lg8+lg10-1)=-2dB；⑤ A=20lg1000=60lg10=60dB 5.5P20x10 45°的探頭有機玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（低碳鋼）中聲速為3230m/s，求入射角α。

解：根據(jù)折射定律：sinα/sinβ=CL1/CS2 又：β=45° sinα=(CL1/CS2)?sinβ=(2730/3230)?sin45°=0.59 α=36.7° 答：入射角α為36.7°

6.試以鋼材為例，計算2MHzΦ30直探頭的近場區(qū)

解：聲波在鋼材中的縱波速度為5900m/s λ鋼=Ｃ鋼／f=5900x103/2x106=2.95mm N鋼=D2/4λ=302/4x2.95=76mm

答：2MHzΦ30直探頭近場區(qū)為76mm。

7.用折射角60°的斜探頭探測坡口角為60°的鋼板對接焊縫,如下圖所示,計算在探頭一側坡口面發(fā)現(xiàn)坡口面未熔合缺陷處所有反射波型的反射角(CL=5900m/s,CS=3200m/s)（標準答案從略）

8.用直探頭水浸法探鋼板，當板厚δ=60mm時，使底波第二次反射波B2正好與水層第二次反射波S2重合，求其水層高度？解：題意要求鋼板的第二次回波與水層的第二次回波重合，即超音波在水中的傳播時間等于超音波在鋼板中兩次反射波的傳播時間。h/CL水=2?δ/ CL鋼 式中：h-水層高度，δ-鋼板厚度 h=(CL水/CL鋼)?2?δ=(5.9/1.48)x2x60=30.1mm 答：水層厚度h=30.1mm

9.用水浸聚焦探頭探鋼管，當要求水層高度為10mm，檢查Φ40mm的鋼管時，試計算透鏡的曲率半徑。解：根據(jù)公式r1=[1-(C2/C1)]f，式中：r1-透鏡曲率半徑；C1-有機玻璃聲速；C2-水聲速；f-焦距（探頭至管子中心的垂直距離），r1=[1-(C2/C1)]f=[1-(1500/2700)](20+10)=(1-0.556)x30=13.3mm 答：檢查Φ40mm的鋼管時，透鏡的曲率半徑為13.3mm 10.用水浸聚焦法檢查Φ42x4mm的小口徑鋼管，水層距離為30mm，求偏心距、入射角、折射角、焦距和透鏡的曲率半徑各為多少？

解：已知：鋼管Φ42x4mm、水層厚度L2=30mm，r=(42/2)-4=17，y=(R2-X2)1/2，式中：R=Φ/2=21mm X=r?(CL2/CS3)=17x(1.5/3.2)=8mm，y=(212-82)1/2=(377)1/2=19.4mm，焦距f=L2+y=30+19.4=49.4mm 入射角：sinα=X/R=8/21=0.38，α=22.3°；折射角：sinβ=r/R=17/21=0.81，β=54.1°

聲透鏡曲率半徑：r'=[(n-1)/n]?f，式中：n=CL1/CL2=2.7/1.5=1.8，r'=[(1.8-1)/1.8]?49.4≈22mm 偏心距：X=8mm 11.用單探頭接觸法橫波探傷外徑為300mm厚60mm的大口徑鋼管時，應選用折射角為多少的探頭？ 解：為保證管內(nèi)壁的缺陷能被發(fā)現(xiàn)，聲束必須與內(nèi)壁相切：sinβ=r/R=90/150=0.6，β=36.87° 答：探頭的折射角應小于或等于36.87°

12.有一厚度為400mm的餅形鍛件，要求探傷靈敏度為h=400mm、Φ4mm平底孔，當用底波調(diào)節(jié)靈敏度時，①底波應調(diào)至多少dB？②若在100mm處發(fā)現(xiàn)波高24dB的缺陷，該缺陷的當量直徑為多大？（使用2.5MHz、Φ20mm的直探頭）答：①底波應調(diào)至31.4dB。②該缺陷的當量直徑為Φ4mm

13.用2.5MHzΦ20的直探頭對厚度為215mm的鋼鍛件進行探傷，要求能發(fā)現(xiàn)Φ2當量的平底孔缺陷。①怎樣調(diào)節(jié)探傷靈敏度？②在深度200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，用衰減器調(diào)節(jié)至同一穩(wěn)定高度時，衰減器讀數(shù)nf=20dB，求缺陷大小。（利用AVG曲線計算）解：根據(jù)公式：L0=D2/4λ先計算近場區(qū)長度,λ=c/f=5.9/2.5=2.34mm，L0=202/(4x2.34)=43mm Φ2mm的缺陷歸一化后得G=2/20=0.1，δ=215mm；探測距離歸一化后得A=215/43=5，由基本AVG曲線查出A=

5、G=0.1時的增益值V=48dB。將探頭放在工件上，將熒光屏顯示的底波調(diào)節(jié)到某一高度（通常是滿屏的80%），增益48dB，儀器的探傷靈敏度調(diào)節(jié)完畢。

當在129mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷時，衰減器讀數(shù)nf=20dB，此時缺陷的增益值為Vf=V-nf，∴Vf=V-nf=48-20=28dB 將缺陷距離化為歸一化距離：Af=129/43=3，根據(jù)Af=

3、Vf=28dB 查基本AVG曲線圖得Gf=0.2，缺陷當量大小為Φf=Gf?Df=0.2x20=4mm 答:該缺陷為Φ4當量.(注：基本AVG曲線圖考試卷上給出。)14.用tgβ=2.5的探頭，探測厚度16mm的對接焊縫，探頭移動區(qū)寬度應為多少毫米？ 答：探頭移動區(qū)寬度L=2T?tgβ+50=2x16x2.5+50=130mm

15.用某折射角β的斜探頭的二次波發(fā)現(xiàn)一缺陷，當用水平距離1:1調(diào)節(jié)儀器的掃描時，怎樣確定缺陷的埋藏深度？

答：缺陷的埋藏深度H=2T-水平距離/tgβ

16.對Φ60x6鋼管的對接焊縫進行探傷，焊縫寬14mm，探頭折射角應選多大？

答：按一次掃查到焊根計算，若探頭前沿距離b=8mm，則：tgβ=[(焊縫寬度/2)+b]/T=(7+8)/6=2.5，β=68.2° 17.假設有一厚度δ為30mm的壓力容器焊縫，外表面焊縫寬為60mm，內(nèi)焊縫寬為30mm，探頭前沿距離L=15mm，為保證聲束掃查到整個焊縫，探頭的折射角最小應取多大？ 解：根據(jù)題意，探頭的水平跨距最小應是外焊道和內(nèi)焊道的半數(shù)和，所以探頭的：tgβ≥(L+b+a)/δ=(15+30+15)/30=2，式中：b-(1/2)外焊道寬；a-(1/2)內(nèi)焊道寬，即β≥63.4°

18.當板厚δ=20mm時，利用2.5MHz，tgβ=2的斜探頭進行超音波檢測，試計算第一、二次聲程的水平距離。

解：一次水平距離=δ?tgβ=2x20=40mm；二次水平距離=2δ?tgβ=2x40=80mm

19.用tgβ=2的斜探頭探測厚度δ=20mm的焊縫，缺陷在熒光屏上出現(xiàn)的位置分別為32和52，求缺陷在鋼中的深度。（按水平比例1:1定位）解：一次聲程缺陷深度 δ1=X1/tgβ=32/2=16mm；二次聲程缺陷深度 δ2=2δ-(X2/2)=40-(52/2)=14mm 答：

一、二次聲程缺陷深度分別為16mm和14mm。20.試計算出厚度δ=46mm和120mm對接焊縫的探頭移動區(qū)。（選用tgβ=1和tgβ=2探頭）解：①厚度δ=46mm時應采用單面兩側探傷，故探測區(qū)P1≮2?δ?tgβ+50mm，對于tgβ=1探頭：P1≮2x46x1+50=142mm；對于tgβ=2探頭：P1≮2x46x2+50=234mm ②厚度 δ=120mm時應采用兩面探測，故探測區(qū)P2≮T?tgβ+50mm，對于tgβ=1探頭：P2≮120x1+50=170mm；對于tgβ=2探頭：P2≮120x2+50=20mm 21.外半徑為400mm，內(nèi)半徑為340mm的筒體縱焊縫，我們至少應選多大折射角的探頭進行探傷？ 解：超音波聲束中心線與筒體內(nèi)表面相切時，β'=90°，sinβ/sinβ'=r/R，sinβ'=1，r/R=sinβ=340/400=0.85，β=58.2°或tgβ=1.6 答：我們至小應選tgβ小于或等于1.6探頭來探傷。

22.如右圖所示，探頭為tgβ=2，用儀器與鋼試塊比較，測得探頭中S=10mm，計算探頭中a和b的長度。解：因為儀器中測得的S值是相當于鋼中的S值，所以要將S鋼換算成S有機玻璃,即: S有機玻璃/CL有機玻璃=S鋼/CS鋼，S有機玻璃=S鋼?CL有機玻璃/CS鋼=10x2.7/3.2=8.4 另外tgβ=2，β=63.4°，sinα=CL有機玻璃?sinβ/CS鋼=2.7?sin63.4°/3.2=0.754，α=48.97°，因此：a=cosα?S有機玻璃=cos48.97°?8.4=5.5mm

b=sinα?S有機玻璃=sin48.97°?8.4=6.3mm 答：a=5.5mm，b=6.3mm

23.用深度比例定位，探頭tgβ=1.5，探測厚度δ=100mm的焊縫，在熒光屏上80mm處出現(xiàn)一缺陷波，計算探頭入射中心至缺陷的水平距離（注：深度比例1:1）解：L=tgβ?h=1.5x80=120mm 答：水平距離L=120mm

24.利用右圖所示試塊（CSK—ⅡA試塊）測定探頭K值（K=tgβ），選用試塊中h=30mm和60mm的孔，調(diào)節(jié)好儀器的水平比例。測得h=30mm孔的水平距離為60mm，h=60mm孔的水平距離為120mm求探頭的K值是多少？解：K=b/a 式中：b-探頭入射點至探測孔的水平距離，a-探頭入射點至探測孔的垂直距離。用h=30mm的孔調(diào)節(jié)水平比例時K=60/30=2（還可用h=60mm的孔檢驗以上求出的K值是否正確）答：探頭的K值等于2。

25.超音波檢測100mm板厚的縱焊縫，該園筒外半徑為500mm，用tgβ=1的探頭探傷，在平板試塊上1:1深度定位調(diào)節(jié)掃描線，從筒體外園面探傷時，在熒光屏80mm深處發(fā)現(xiàn)一缺陷反射波，求缺陷在曲面上跨距弧長及離工件外表面的深度。

解：由公式L=0.0174?θ?R=0.0174?tg-1[tgβ?h/(R-h)]?R=0.0174?tg-1[1?80/(500-80)]?500=93.786mm h0=R-(tgβ?h/sinθ)=500-(1?80/sin10.78°)=72.2mm 答：該缺陷的曲面跨距是93.786mm,離工件表面深度72.2mm

26.求直徑為20毫米，頻率為2.5兆赫的探頭在水中的半擴散角

解：水中波長（C水=1480m/s）λ=c/f=1.48x106/2.5x106=0.59mm，水中半擴散角sinθ=1.22(λ/D)或θ≈70°(λ/D)θ≈70°(0.59/20)=2°

27.比較2.5兆赫、Φ14探頭與2.5兆赫、Φ20探頭的指向性（鋼中聲速為5900米/秒）解：鋼中波長λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，探頭的半擴散角分別為：θ1≈70°(λ/D)≈70°(2.36/14)≈11.8°θ2≈70°(λ/D)≈70°(2.36/20)≈8.3°，同頻率的探頭，直徑較大的指向性較好 28.試計算2.5兆赫、直徑20毫米的直探頭在鋼中的近場區(qū)長度（鋼中聲速為5900米/秒）解：鋼中波長λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，鋼中的近場長度N=D2/4λ=202/(4x2.36)=42.4mm 29.當縱波從有機玻璃楔塊通過耦合劑斜入射鋼制工件時，得到橫波折射角為45°，已知有機玻璃中的縱波速度CL=2730米/秒，鋼中橫波聲速CT=3230米/秒，試計算楔塊的角度θ是多少度？ 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct，sinθi=sinθt(Ci/Ct)=sin45°(2730/3230)=0.598 θi=36.7°

30.當采用液浸探頭探測浸于水中的工件時，為使縱波能從水傳入鋼件中并且只有橫波，求所需的入射角 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct=sin90°/CL，sinθi=(Ci/CL)sin90°=(1480/5900)x1，θi≥14.5° 31.用水浸法探測鋼材，超聲波以14°的入射角射入工件，求鋼中橫波折射角 解：按折射定律sinθi/Ci=sinθt/Ct，sinθt=(Ct/Ci)sinθi=(3200/1480)sin14°，θt=31°

32.兩聲壓比值為下列各數(shù)值：①0.4；②9；③16；④400；⑤105，分別計算分貝值各為多少？ 解：①20lg0.4=20lg(4/10)=20(lg4-lg10)=-8dB；②20lg9=20lg32=40lg3=40x0.47=19dB；③20lg16=20lg24=80lg2=80x0.3=24dB；④20lg400=20lg(22x100)=20(2lg2+lg102)=20(2x0.3+2x1)=52dB；⑤20lg105=20x5lg10=100dB 33.探測300毫米厚的鋼制工件，用2.5兆赫直探頭，用底波調(diào)節(jié)儀器靈敏度，要求能發(fā)現(xiàn)Φ2的當量缺陷，問衰減器調(diào)節(jié)量多少？

解：底面反射與缺陷反射之比：PF/PB=πΦ2/2λX，式中X-聲程，Φ-平底孔徑，λ=c/f=5.9x106/2.5x106=2.36mm，取對數(shù)代入，Φ=2，X=300，dB=20lg(PF/PB)=20lg(πΦ2/2λX)=20(lgπΦ2-lg2λX)=20(1.10-3.15)=-41(dB)34.用2.5兆赫、Φ20直探頭探測400毫米厚鋼件，在200毫米處發(fā)現(xiàn)一缺陷波高比底波低12分貝，求其當量平底孔直徑

解：由題意得PF/PB=1/4（-12dB），PF/PB=πΦ2X2/X12=3.14xΦ2x400/2x2.36x2002=0.0067Φ2，0.0067Φ2=1/4=0.25，Φ2=0.25/0.0067=37，Φ=6mm

35.用折射角60°的斜探頭探測同孔徑、不同聲程、距離表面分別為30毫米和65毫米的兩個橫孔，求兩者的波高相差多少分貝？（探頭中的聲程相當于鋼中10毫米）

解：分別求兩者聲程：S1=30/cos60°+10=30/0.5+10=70mm，S2=65/cos60°+10=65/0.5+10=140mm，求兩者波高差：dB=30lg(S2/S1)=30lg(140/70)=30lg2=30x0.3=9dB 36.用水浸法聚焦探頭檢驗鋼管，水層距離取15毫米，鋼管直徑36毫米，壁厚3毫米，求透鏡的曲率半徑（環(huán)氧樹脂材料，CL=2700m/s）

解：求透鏡焦距：R=36/2=18mm，f=R+15=18+15=33mm，透鏡曲率半徑r=f(1-C1/C2)=33(1-1480/2700)=33x(1-0.55)=14.9mm 37.外徑250毫米、壁厚40毫米的鋼管需要檢驗內(nèi)外壁縱向缺陷，用單斜探頭接觸法探傷，求此探頭K值多大為合適？

解：為保證發(fā)現(xiàn)內(nèi)外壁縱向缺陷，聲束應滿足與內(nèi)壁相切的條件，即折射角應滿足βs=sin-1(r/R)，R=250/2=125，r=125-40=85，代入：βs=sin-1(85/125)=42.8°，K=tgβs=tg42.8°=0.92 38.用K2.5的探頭探測厚度16毫米的對接焊縫，探頭移動區(qū)寬度應為多少毫米？ 解：探頭移動區(qū)寬度L=2TK+50=2x16x2.5+50=130mm 39.用深度比例定位，探頭K=1.5，探測厚度δ=100毫米的焊縫，在熒光屏上80毫米處出現(xiàn)一缺陷波，計算探頭中心至缺陷的水平距離（深度定位比例1:1）解：L=K?h=1.5x80=120mm 初、中級無損檢測技術資格人員-超聲檢測考題匯編 工藝規(guī)范 問答與計算：

1.在進行某試件的無損檢測前,一般都應編制檢驗規(guī)程,試列舉在規(guī)程中所應包含的內(nèi)容

2.用2.5P 20K1.5（2.5MHz,Φ20mm，tgβ=1.5）斜探頭,檢驗T=100mm鋼板對接焊縫，掃描按深度1:1調(diào)節(jié)，探傷靈敏度為φ3x40-14dB，探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深40mm，波高25dB，按GB11345-89標準B級，此缺陷如何評定？（楔中等效橫波聲程取為10mm）。

解：設x1，x2分別為孔深d1=100mm，d2=40mm時的聲程： 已知K=1.5，L=10mm x1=d1(K2+1)1/2+L=100x1.8+10=190(mm)，x2=d2(K2+1)1/2+L=40x1.8+10=82(mm)兩孔反射波高dB差△=30lg(x1/x2)=30lg(190/82)=11dB，∴ d2=40mm，φ3x40孔的波高為：[H2]=[H1]+△=14+11=25dB，判廢線靈敏度為φ3-2dB，即23dB，缺陷波高25dB，表明缺陷波高已位于距離波幅曲線的III區(qū)，按GB11345-89標準的規(guī)定，應評定為IV級。

3.用2.5 P20K1.5（2.5MHz,Φ20mm，tgβ=1.5）斜探頭，檢驗板厚T=100mm鋼板對接焊縫，掃描按深度1:1調(diào)節(jié)，探傷靈敏度為φ3-16dB,探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深40mm，波高20dB，指示長度35mm，按GB11345-89標準B級，此缺陷如何評定？（楔中等效橫波聲程取為10mm）。

解：參見2題：d1=100mm，x1=190mm；d2=40mm，x2=82mm, 不同聲程φ3橫孔反射波高dB差為： △=30lg(x1/x2)=30lg(190/82)=11dB，∴ d2=40mm時，φ3橫孔波高為：[H2]=[H1]+△=16+11=27dB 缺陷波高20dB，即為φ3-7dB，表明波高位于距離—波幅曲線II區(qū)，指示長度△L=35mm，30mm＜△L＜50mm，按GB11345標準應評定為II級

4.按JB3144—82標準檢驗鍋爐大口徑管座角焊縫，接管為φ540x80mm，焊縫寬為35mm，采用2.5P14Z（2.5MHz，Φ14mm）直探頭在接管內(nèi)壁作垂直探傷。如以接管外壁曲底面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度，底波應調(diào)節(jié)到多少dB？（鋼CL=5900m/s）

解：按JB3144—82標準要求，選探傷靈敏度為φ3-6dB，已知：R=540/2=270mm，r=270-80=190mm，λ=5.9x106/2.5x106=2.36mm，設：x1=80mm，x2=80+35+5=120mm；底波與x2=120mm，φ=3mm孔波高dB差為：

△=20lg(2λ?x1/πΦ2)+40lg(x2/x1)+10lg(R/r)=20lg(2x2.36x80/π?32)+40lg(120/80)+10lg(270/190)=22.5+7+1.5=31dB，底面回波波高應為：[HB]=[Φｓ]+6=31+6=37dB 5.檢驗板厚T=40mm鋼板對接焊縫，探傷靈敏度為φ3-16dB，在一段焊縫內(nèi)依次發(fā)現(xiàn)間距小于8mm的缺陷5個，試依據(jù)GB11345—89標準A級，評定焊縫質(zhì)量級別？ 缺陷編號 波幅 指示長度（mm）數(shù)量 1 φ3-2dB 18 1 2 φ3-4dB 12 1 3 φ3-8dB 8 1 4 φ3-12dB 14 1 5 φ3-7dB 15 1 解：BG11345—89標準A級檢驗定量靈敏度為φ3-10dB，故4#缺陷不計，因此5#缺陷與3#的間距已大于8mm，應單獨評定。3#缺陷指示長度小于10mm，按5mm計。缺陷指示長度總和：△L=18+12+5＝35（mm）

3/4?T=3x40/4=30mm；T＝40mm，∴(3/4)T＜△L＜T，該焊縫按GB11345—89標準A級檢驗可評為Ⅲ級。6.用2.5P20Z（2.5MHz，Φ20mm）直探頭檢驗厚度為350mm餅形鋼鍛件（CL=5900m/s），將底波調(diào)節(jié)為40dB進行探傷。求：①此探傷靈敏度是否符合JB3963—85標準的要求？②探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深200mm，波幅29dB，求此缺陷當量？

解：①JB3963-85標準要求，探傷靈敏度不低于Φ=2mm當量。底波與Φ2孔反射波高dB差應為：△=20lg(2λ?x/πΦ2)

已知：x=350mm，λ=2.36mm，△=20lg(2x2.36x350/π?22)=42.4dB＞40dB，故此所用探傷靈敏度低于Φ2當量，不符合JB3963—85要求

②缺陷與底波反射波高dB差：△=40-29=11dB，由△=20lg(2λ?xf2/πΦ2?xB)xf=200mm xB=350mm 得Φ2=(2λ?xf2/π?xB?1011/20)=2x2.36x2002/π?350?3.55=48.4，缺陷當量：Ф≈7（mm）

7.用2.5P20Z（2.5MHz，Φ20mm）直探頭,按ZBJ74003-88標準檢驗T=150mm厚鋼板（CL=5900m/s）,如何用鋼板完好部位底波調(diào)整探傷靈敏度? 解：對150mm厚的鋼板，ZBJ74003標準要求φ5平底孔距探測面的距離x1=90mm，∴底波與φ5平底孔反射波高dB差為：

△=20lg(2λ?x12/πΦ2x2)已知x1=90mm，x2=150mm，λ=5.9x106/2.5x106=2.36mm，△=20lg(2x2.36x902/π?52?150)=20lg(3.25)≈10dB，∴應將鋼板完好部位的第一次底波，調(diào)到熒屏滿刻度的50%，然后靈敏度再提高10dB作為探傷靈敏度。8.按ZB J 74003-88標準檢驗板厚12mm鋼板，如何選擇探頭和調(diào)節(jié)探傷靈敏度？

答：①選用頻率5MHz,晶片面積≥150mm2,雙晶直探頭；②將探頭置于階梯試塊厚度為12mm的臺階面上，把該底面第一次底波高度調(diào)整到熒屏滿刻度的50%，再提高靈敏度10dB作為探傷靈敏度。此外，還應計入試塊與被探鋼板之間的表面耦合聲能損失

9.按ZB J 74003-88標準的規(guī)定，對B1＜50%，F(xiàn)1亦很小的缺陷，如何測定缺陷邊界？

答：這類缺陷測定邊界時，應向缺陷區(qū)外移動探頭，當鋼板底面第一次反射波高升到探傷靈敏度下熒光屏滿刻度的50%時，探頭中心點即為缺陷的邊界點

10.ZB J 74003-88標準對缺陷的評定方法中依據(jù)哪些評定規(guī)則？

答：有三條：①缺陷指示長度：一個缺陷按其表現(xiàn)的最大長度作為該缺陷的指示長度；②單個缺陷指示面積：一個缺陷按其表現(xiàn)的面積作為該缺陷的單個指示面積。多個缺陷其相鄰間距小于100mm，或間距小于相鄰小缺陷的指示長度（取其較大值）。各塊缺陷面積之和也作為單個缺陷指示面積；③缺陷面積占有率：在任1x1m探傷面積內(nèi)，缺陷面積占探傷面積的百分比。11.采用手工接觸法檢驗鋼管時，JB 1150-73標準有什么要求？

答：①探頭與工件表面應接觸良好；②探傷靈敏度用人工標準試樣調(diào)節(jié)，試樣內(nèi)外表面人工缺陷的反射波幅應調(diào)節(jié)到等于熒屏滿刻度的50%；③每根鋼管應從兩個相反方向各探傷一次 12.按JB 3963-85標準的定義，什么是密集缺陷？

答：①當熒光屏掃描線上相當于50mm聲程范圍內(nèi)，同時有5個或5個以上的缺陷反射信號，或者②在50x50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度范圍內(nèi)有5個或5個以上的缺陷反射信號

13.按JB 3963-85標準檢驗鋼鍛件時，如何記錄密集性缺陷？如何測定缺陷密集區(qū)面積？

答：①記錄密集性缺陷中當量最大缺陷的位置和分布。餅形鍛件：記錄大于等于Φ4mm當量直徑的缺陷密集區(qū)；其他鍛件：記錄大于等于Φ3mm當量直徑的缺陷密集區(qū)。②缺陷密集區(qū)的邊界用半波高度法測定，密集區(qū)的面積以50x50mm的方塊為最小量度單位

14.按JB 3963-85標準的規(guī)定，檢驗探傷面是曲面的鍛件時，什么情況下可不做曲面補償？

答：①采用曲率與工件相同或相近（0.7-1.1倍）的參考試塊校正靈敏度，或②采用N≤R/4（R為工件半徑）的小直徑晶片的探頭進行探傷

15.按JB 3963-85標準的規(guī)定，鍛件探傷結束重新校準靈敏度時，如發(fā)現(xiàn)靈敏度有變化，應如何處理？ 答：①如增益電平降低2dB以上，應在靈敏度校準后，對上一次校準以來所有檢查的鍛件進行重新探傷；②如增益電平升高2dB以上，對上一次校準以來所有記錄的信號進行重新評定 16.什么是距離-波幅曲線？簡述GB 11345-89標準“距離-波幅”曲線的組成及作用？

答：描述某一反射體回波高度隨距離變化的關系曲線稱為距離-波幅曲線。GB 11345-89標準采用的反射體為Φ3mm橫孔，距離-波幅曲線由判廢線（RL）、定量線（SL）和評定線（EL）組成，其主要作用是：①調(diào)整探傷靈敏度；②判定缺陷大小，為評定缺陷提供依據(jù)；③比較缺陷大小 17.GB 11345-89標準規(guī)定的缺陷指示長度的測定方法有幾種？各用于什么情況？

答：①降低6dB法：缺陷反射波高位于II區(qū)，當缺陷反射波只有一個高點時，用降低6dB法測定缺陷指示長度；②端點峰值法：缺陷最高反射波位于II區(qū)，且波峰起伏變化有多個高點時，用端點峰值法測定缺陷指示長度；③絕對靈敏度法：采用串列掃查法探傷時，最大反射波幅位于II區(qū)的缺陷，用絕對靈敏度法測定缺陷指示長度。測長靈敏度為評定線靈敏度。

18.板厚66mm的鋼制壓力容器對接焊縫，按GB 11345-89標準作B級檢驗，試綜述哪些缺陷按II級驗收不合格？

答：現(xiàn)以B級靈敏度探傷為例解答：①缺陷反射波幅≥Φ3-4dB；②缺陷反射波幅≥Φ3-10dB，且缺陷指示長度＞44mm；③缺陷反射波幅≥Φ3-10dB，缺陷指示長度小于44mm的缺陷，如缺陷間距小于8mm，累積的指示長度大于44mm（指示長度小于10mm按5mm計）；④被探傷人員判定為裂紋等危害性的缺陷 19.按JB 3144-82標準檢驗鍋爐大口徑管座角焊縫，接管為Φ540x80mm，焊縫寬為35mm，采用2.5P14Z直探頭在接管內(nèi)壁作垂直探傷，如以接管外壁曲底面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度，底波應調(diào)節(jié)到多少dB？（鋼CL=5900m/s）

解：按JB 3144-82標準要求，選探傷靈敏度為Φ3-6dB，已知R=540/2=270mm，r=270-80=190mm，λ=(5.9x106)/(2.5x106)=2.36mm，設：x1=80mm，x2=80+35+5=120mm，底波與x2=120mm，Φ=3mm孔波高dB差為：△=[20lg(2λx1)/(πΦ2)]+40lg(x2/x1)+10lg(R/r)=[20lg(2x2.36x80/πx32)+40lg(120/80)+10lg(270/190)=22.5+7+1.5=31dB，底面回波高應為：[HB]=[Φ3]+6=31+6=37dB

20.按JB 1151-73標準使用透鏡式聚焦直探頭時，透鏡的中心厚度選擇多少合適？答：（λ/2）的整數(shù)倍 21.為什么在ZBY230-84標準中只要求測量電噪聲電平，不要求對電和聲共同引起的噪聲電平進行測量？ 答：因為在超聲探傷中，聲噪聲要在超聲波的傳播過程中才能產(chǎn)生，若用試塊代替?zhèn)鞑ソ橘|(zhì)，由于目前還沒有建立測量試塊中聲噪聲的理想方法，因此采用不同的試塊，可能會得到不同的測量結果，失去測量意義

22.鋼板標準中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么？（用字母和數(shù)字表達）

答：在探傷過程中發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即為缺陷：①缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度50%，即F1≥50%；②當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達到滿刻度，此時缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%；③當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即B1＜50% 23.在探測1mx1m鋼板時，發(fā)現(xiàn)鋼板上有5個缺陷，其面積均為24cm2，指示長度均為55mm，問：在什么情況下此張鋼板為I級、II級、III級及不合格？

答：當5個缺陷均在鋼板中間且相鄰間距大于100mm，此時這張鋼板為I級；當5個缺陷有兩個缺陷相鄰間距小于100mm，且這5個缺陷均在鋼板中間，此時這張鋼板為II級；當5個缺陷有3個缺陷相鄰間距