第一篇：鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規則

鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規

則

鐵道部

鐵路部門無損檢測人員技術資格鑒定考核規則

1987年6月10日，鐵道部

第一章 總 則

第1條 凡采用本規則所規定的無損檢測方法，對在鐵道部所屬線路上運行的鐵路機車、車輛及所使用的鋼軌、橋梁及其有關鐵道機件的質量檢查、設備安全運行的監督檢查的無損檢測人員，必須按本規則進行技術資格鑒定考核。

第2條 從事無損檢測技術的科研、教學和其他人員，通過資格鑒定考核，也可獲得技術等級資格。

第3條 經技術資格鑒定考核合格的人員，由鐵道部門無損檢測人員技術資格鑒定考核委員會（以下簡稱部鑒定考核委員會）統一發給資格證。從事與所持證書規定的無損檢測方法、技術等級、專業相適應的無損檢測工作。第4條 本規則用于從事超聲檢測（ＵＴ），射線檢測（ＲＴ），磁粉檢測（ＭＴ），滲透檢測（ＰＴ），渦流檢測（ＥＴ）人員。

第二章 無損檢測技術等級

第5條 每種檢測方法的無損檢測人員分Ⅰ級（初級），Ⅱ級（中級）、Ⅲ級（高級）三個技術等級。

第三章 各級無損檢測人員的職責 第6條 Ⅰ級人員的職責：

（1）正確調整和使用檢測儀器。（2）執行規定的檢測工作。（3）記錄和初步評定檢測結果。（4）了解和執行有關安全防護規則。第7條 Ⅱ級人員的職責：

（1）熟練調整和校準檢測儀器。（2）圓滿完成所規定的檢測工作。

（3）記錄檢測結果并根據標準、規范等寫出評定檢測結果的報告。（4）熟悉檢測方法的應用范圍和限度。（5）制訂簡單的檢測工藝規程。

（6）指導和監督低于Ⅱ級的人員，培訓Ⅰ級人員。（7）執行安全防護規則。第8條 Ⅲ級人員的職責：

（1）監督、指導檢測工作的進行。（2）保證法規、標準和規范的貫徹執行。

（3）選擇適當的檢測方法和工藝：在沒有其他標準可供引用時，協助制訂驗收標準。

（4）根據法規、標準和規范，解釋、評判檢測結果。（5）培訓、指導和監督低于Ⅱ級的人員。（6）監督執行安全防護規則。

第四章 資格鑒定考核組織

第9條 部鑒定考核委員會對無損檢測人員Ⅱ、Ⅲ級技術資格進行鑒定考核。第10條 部鑒定考核委員會可下設各系統考核委員會。各系統無損檢測人員技術資格考核委員會的組成前，應報部鑒定考核委員會核批。

第11條 各系統考委會由部鑒定考核委員會成員和本系統無損檢測管理和專業人員代表組成，設主任委員一名，副主任委員二名，委員若干名。

第12條 各系統考委會成員中，專業人員的比例不得少于2／3，主任委員應由部鑒定考核委員會成員兼任。第13條 各系統考委會的職責：

（1）審查各級技術等級資格鑒定申請者的資格。

（2）按規定確定Ⅰ級人員的考試內容，組織考試、評定成績，并將考核人員的清冊、考試成績、考題、實物操作考試內容報部鑒定考核委員會核備認可。（3）組織Ⅱ級人員的培訓。

第五章 各級技術資格鑒定的申請

第14條 申請技術資格鑒定的無損檢測人員必須具備下列資格條件之一的文化程度和工作經驗（見表1）。表1-------------------------| 級別 | 報 考 資 格 | |--------|-----------| | |1．理工科大學畢業，并具有連續四年以上本 | | Ⅲ |專業方法無損檢測工作經驗者（無損檢測專 | | |業畢業的可二年）。| | |2．中等專業學校畢業，并具有連續六年以上 | | 級 |本專業方法無損檢測工作經驗者（無損檢測 | | |專業的可三年）。| | |3．取得Ⅱ級技術資格后五年以上者。| |--------|-----------| | |1．理工科大學畢業，具有一年以上本專業方 | | |法無損檢測工作經驗者（無損檢測專業畢業 | | |可不受工作年限限制）。| | Ⅱ |2．中等專業學校畢業，并具有連續二年以上 | | |本專業方法無損檢測工作經驗者（無損檢測 | | |專業畢業可不受工作年限限制）。| | |3．高中畢業，并具有連續四年以上本專業方 | | |法無損檢測工作經驗者。| | 級 |4．取得本專業方法Ⅰ級資格二年以上者。| | |5．具有六年以上本專業方法無損檢測工作 | | |經驗者。| |--------|-----------| | |1．高中或技工學校畢業，并具有連續一年以 | | |上射線、超聲、渦流方法無損檢測工作經驗 | | Ⅰ |者或具有半年以上磁粉、滲透方法無損檢測 | | |工作經驗者。| | |2．初中文化程度，并具有連續一射線、超聲、| | 級 |渦流方法無損檢測工作經驗者或具有連續 | | |一年以上磁粉、滲透方法無損檢測工作經驗 | | |者。|-------------------------第15條 申請者應填寫申請表，通過體格檢查，并由申請者單位蓋公章。

第六章 考 試

第16條 申請技術資料鑒定的無損檢測人員必須通過考試。考試包括無損檢測理論筆試和操作技術兩部分。各級人員考試內容（見表2）。各級人員考試內容 表2-------------------------| 級別 | 考 試 內 容 | |--------|-----------| | | 本規則所列的五種無損檢測技術知識。| | Ⅲ |所考核方法的基本原理，該方法所應用的儀 | | |器設備和校正方法、缺陷信號、圖象的解釋、| | |判斷、有關技術標準和規范、安全衛生、防護 | | 級 |規則、冶金和工藝知識。| |--------|-----------| | Ⅱ | 無損檢測概論。所考核方法的基本原 | | |理。該方法所用儀器設備的校正方法、有關 | | |技術標準和規范、安全衛生、防護規則。常見 | | 級 |材料缺陷特性及有關的冶金、工藝知識。| |--------|-----------| | Ⅰ |檢驗設備的操作和檢測方法等。| | 級 | |-------------------------第17條 資格鑒定應考人員的無損檢測理論和操作技術兩部分考試成績均不應低于80分（百分制）。

第18條 參加經部鑒定考核委員會認可的Ⅱ級、Ⅲ級無損檢測培訓班的學員，結業考試成績優良（百分制80分以上）者，在有效期內，技術資格鑒定時，可申請免試理論部分，直接參加操作技能考試。

第19條 參加經各系統考委會認可的Ⅰ級無損檢測人員培訓班的學員，結業考試成績優良（百分制80分以上）者，在有效期內，技術資格鑒定時，可申請免試理論部分，直接參加操作技術考試。

第七章 技術資格證書的申請

第20條 資格鑒定考核合格者，統一由相應考委會向部鑒定考核委員會申請資格證書。

第八章 技術資格證書及其有效期

第21條 無損檢測Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級技術資格證書由部鑒定考核委員會統一頒發，蓋部鑒定考核委員會和本系統公章。

第22條 技術資格證書有效期三年，可申請延長一次，有效期最長不得超過六年。繼續從事無損檢測的人員，在技術資格證到期前三個月，必須申請延長或更新考試。

第23條 注銷或暫停下列人員的技術資格：（1）持過期技術資格證者；（2）檢測工作中有重大失誤者；（3）脫離無損檢測工作一年以上者；（4）身體狀況不適合者。

第九章 無損檢測人員的培訓

第24條 實驗和實際操作訓練的課時，須占培訓總課時的1／3～1／2。第25條 培訓教材：

（1）基礎教材統一由部鑒定考核委員會推薦。（2）專業教材由各系統考委會確定。

（3）對從事鍋爐（固定）及壓力容器無損檢測人員的培訓教材與勞動人事部門商定。

第二篇：高級無損檢測技術資格人員RT題庫

高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編（填空題及答案1-50）

1.普朗克常數h=(6.626×10-34J?s),長度單位1 =(10-10m),電子質量me=(9.108×10-30kg),電子電量e=(-1.602×10-19C)2.當單色射線能量約（9MeV）時，對鋼的穿透力最大，此時相應的Χ射線輸出約為（20MeV）3.直接電離輻射通常是指陰極射線,(β)射線,(α)射線和(質子)射線,間接電離輻射是指(Χ)射線,(γ)射線和(中子)射線

4.60Co放出的γ射線平均能為(1.25MeV),相當于(2000～3000KVp)X射線穿透力,192Ir放出的γ射線平均能為(0.35MeV),相當于(150～800kVp)X射線穿透力

5.60Co和192Ir的射線輸出分別為(1.3)R/m?h?ci和(0.5)R/m?h?ci；60Co和192Irγ射線的能譜線分別為(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一種γ射線新源是（169Yb），其半衰期為（31）天，射線輸出為（125）mR/h?ci

7.檢查輕合金的薄試件也可利用β放射同位素所產生的韌致輻射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等

8.中子射線有以下特點：在重元素中衰減(小),在輕元素中衰減(大),在空氣中電離能力(弱),不能直接使膠片感光

9.常用的中子源有以下三種：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反應堆）10.不同劑量的照射對人體的損傷：D≤（0.25Gy）的一次照射時，無明顯病理變化；D≈（0.5Gy）時，出現一時性血象變化；D≥（1Gy）時，會引起急性放射病

11.電離輻射引起的生物效應分為兩類：①發生率取決于劑量的（隨機）效應，如遺傳效應和軀體致癌效應；②嚴重程度隨劑量而變化的（非隨機）效應，如對眼、皮膚和血液引起的效應。射線防護的目的在于防止有害的（非隨機）效應，并限制（隨機）效應的發生率，使之達到可以接受的水平

12.發生光電效應幾率的實驗近似公式為：τ=kρz4λ3，其中K為常數；ρ為（物質密度）；Z為（物質的原子序數）；λ為（射線的波長）

13.波長為0.1 的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)爾格,管電壓250kV時,產生射線的最短波長為(0.0496)14.射線穿透物質時產生的吸收程度，取決于材料的（原子系數）、（密度）、（厚度）以及射線本身的（波長）

15.射線的線質越硬，其光子能量越（大），波長越（短），穿透力越（強），衰減系數越（小）,半價層厚度越（大）

16.X射線穿透鋼材料時,兩種主要效應的發生幾率與光子能量的關系：J=σc時,E≈(100)keV；σc=max時,E=(1000)keV 17.連續Χ射線總強度可用下式表示：I=（ηoiZV2），連續Χ射線的轉換效率公式為η=（ηoZV）

18.單色窄束射線的半價層厚度約為1/10價層厚度的（0.3）倍；若已知線衰減系數μ，則1/10價層厚度為（2.3/μ）

19.γ射線放射性活度與照射量的關系式為X=A?t/KrR2。式中X-（照射量[倫]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常數[mR/h?ci]）；R-（到點源距離[m]）；t-（受照時間[h]）20.常用的γ源Kr常數,對于60Co為Kr=（1.32）；對于192Ir為Kr=（0.472）21.照射量的國際單位是(庫侖/千克,C/Kg),專用單位是(倫琴,R),兩者的換算關系是(1庫侖/千克≈3.877*103倫琴,1倫琴=2.58*10-4庫侖/千克)22.吸收劑量的國際單位是(戈瑞,Gy),專用單位是(拉德,rad),兩者的換算關系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.劑量當量的國際單位是(希沃特,Sv),專用單位是(雷姆,rem),兩者的換算關系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.劑量當量H是吸收劑量D與(品質因數Q)與(其他修正因數N)的乘積,數學表達式為H=(DQN),對Χ射線和γ射線防護而言,由于(有關修正因數為1),可以認為吸收劑量與劑量當量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(質量數),其原子核中含有(27)個質子和(33)個中子,60Co裂變時發生(β)射線和(γ)射線,60Co因(半衰期)較長而適用于無損檢測.26.當單色窄束X射線通過厚度為d的物質后，表示射線強度衰減規律的公式為：（I=I0e-μd）27.射線與物質作用時，最主要的效應是(光電)效應、(散射)效應、(電子對生成)效應 28.10居里鈷60射源衰減到1.25居里時大約需要(15.9)年

29.X射線的能量取決于（X射線管電壓），而γ射線的能量取決于（γ源的種類）30.高能射線是能量在（1）兆電子伏特以上的X射線，采用直線加速器產生的高能X射線與一般X射線相比，它具有（穿透能力強）、（焦點小）、（轉換效率高）等特點 31.X射線是利用（高速運動的電子撞擊金屬靶）的方法產生的，它具有（連續X）線譜和（特征X）線譜，γ射線是利用（放射性同位素物質衰變）的方法產生的，它只具有X射線中的后一種線譜

32.鈷60γ射線源發出的兩種γ射線能量分別為1.17和1.33MeV，因此它們的波長分別為(0.0106)和(0.00932)33.活度為1居里的銥192，距離它1米處在無遮擋、無吸收的條件下，其一次射線的照射量率為（0.55）倫琴/小時

34.衰變常數為0.021/年的γ射線源，其半衰期為（33年），此射線源為（銫）源 35.X射線的能量取決于X光機的（管電壓），γ射線的強度取決于（源的種類）36.原子核內的（質子）數相同，而（中子）數不同的元素叫做同位素

37.單色、窄束、強度為I0的X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=I0e-μd），而對于強度為I0的單色、寬束X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=(1+n)I0e-μd）38.X射線、γ射線與物質作用時，可產生（光電）效應、（康普頓(或散射)）效應和（電子對生成）效應，其中（電子對生成）效應只有在光子能量大于（1.02MeV）才會出現 39.射線的衰減系數與（射線能量）及照射物質的（原子序數）和（密度）有關

40.吸收劑量當量的單位是（雷姆(Rem)），對于X射線、γ射線，因為修正系數等于（1），故吸收劑量當量值與吸收劑量值是（相同）的

41.直線加速器的優點是（體積小）和（輸出射線強度大），回旋加速器的優點是（焦點尺寸小）

42.經Χ射線曝光過的膠片包含兩種不同類型的粒度：（膠片）粒度和（量子噪聲）引起的粒度

43.產生給定膠片密度所需要的倫琴數隨射線能量的增加而（增加）；射線能量高到一定數值，上述倫琴數（基本不變），這就是所謂射線膠片的光譜靈敏度

44.用鹽屏攝得的底片不清晰與兩個因素有關，一是（結構）斑點；二是（量子）斑點 45.底片顆粒度的表示為：G=σd/α,式中符號意義：σd（密度均方差）；α（掃描點面積）46.Χ射線能量低于150kV時，由于（吸收系數）變化很快，管電壓的選擇比較嚴格；能量在200～400kV時，電壓變化約為（30～40）kV才使靈敏度有明顯變化；當為2～31MeVΧ射線時，探傷靈敏度（幾乎相同）

47.(電離室)型監測儀可用來測量直射線、操作區內的散射線等相當高的照射率；（閃爍計數器）可用來探測曝光室之外的泄漏射線；（膠片劑量計）是最典型的個人照射劑量計，可記錄在相當長時間內累積的劑量

48.對電子加速器產生的Χ射線束，不宜用（鉛）或重過濾材料，因在（2～3）MeV時，其質量衰減系數有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三種：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反應堆中子源)50.192Ir中有（77）個質子，（115）個中子，其半衰期為75天，則其衰變常數為（0.00924/d），51.放射性同位素的制取有在核反應堆中通過中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂變的產物，如（137Cs）

52.X射線照相檢測時的工藝參數最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等 53.用棒陽極射線管透照有剩磁的鋼管環焊縫時，（聚焦電子）漂移會造成曝光量不穩定 54.膠片特性曲線上，某一區域的黑度差沒D與（相對曝光量對數的差值）的比值稱為該區域的反差系數r 55.我國天津感光膠片廠生產的工業用II、III、V型膠片，其感光度大致相當于國外（Agfa）牌號的（D10）、（D7）、（D4）型膠片，或國外（富士）牌號的（400）、（200）、（100或80）型膠片

56.亞硫酸鈉在顯影液中起（保護）作用；在定影液中起（保護）作用

57.工業用X光機高壓的調節通常是通過（自耦變壓器）的調節，改變高壓發生器中的（初級電壓）來實現的，而管電流的調節是通過（電阻）的調節，改變（燈絲變壓器）的（初級電壓）來實現的

58.為使像質計靈敏度達到最佳值，透照余高磨平的焊縫宜選擇黑度約為（2.5）的攝片條件；透照有余高的焊縫時，宜選擇母材黑度約（3.0～3.5），焊縫黑度約（1.5～2.0）的攝片條件

59.按照信息論，空間頻率f即每毫米黑白線對是指（不清晰度），而影像噪聲是指（顆粒度）

60.若底片上階梯孔型像質計靈敏度為2%，則實際圓形氣孔的檢出靈敏度約為（3）%；為檢出1mm氣孔，像質計上應顯示的階梯孔徑為（2/3）mm 61.金屬增感屏的增感系數隨著材料原子序數的增大而（增大），在試驗范圍內（金）最大，在管電壓較低時（錫）最大

62.金屬增感屏的增感系數隨著Χ射線管電壓的降低而（減小），大約在（120）kV以下時，增感系數(小)于1 63.在某一密度D時的膠片襯度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在兩特定密度之間，膠片的平均襯度可表示為G=（△D/△lgE）

64.射線照相靈敏度是射線照相（清晰度）和（對比度）兩大因素的綜合結果

65.X射線照相檢測時的工藝參數最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等 66.射線輻射防護的三種基本方式是(距離防護),(屏蔽防護),(時間防護)67.按JIS Z3104,3105標準規定，用內膠片法，對管子環縫進行照像時，為保證橫向裂紋的檢出率，當焦距最遠時，按普通級要求，最少應照（13）張片子

68.為了提高射線照像的對比度，可以采取射線膠片與工件保持適當距離的特殊照像方法，此時（1/[1+n]）值隨該距離的增大而增大，（σ）值該距離的增大而減小，因此必須取（σ/[1+n]）值的最大時的最佳距離

69.對于厚度差比較大的工件進行一次曝光透照時，可以采用（雙膠片）、（分散曝光）、（補償）等方法，使底片黑度都處于有效黑度范圍內

70.為了保證焊縫中裂紋的檢出率，日本JIS Z3104標準規定：射線穿透方向與缺陷方向之間的相對角度，對于普通級應小于（14）度，對于特殊級應小于（9）度

71.用100居里的銥192γ射線源透照某工件，焦距1米，曝光時間5分鐘，能得到合適的底片黑度。225天后，用該源透照相同工件，焦距變為2米，為得到相同黑度，曝光時間應為（160）分鐘 72.底片對比度與（工件）對比度和（膠片反差）系數有關

73.射線照相的靈敏度由兩個指標來確定，即射線底片的（對比）度和（清晰）度 74.鑒定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做試驗液，如果底片上出現（棕黃色）現象，即可說明底片水洗不佳

75.銥192的半衰期為75天，用該新源透照工件最佳的曝光時間為10分鐘，225天后重照同樣的工件（設其他條件不變），則需曝光（80）分鐘

76.為了提高射線照像的對比度沒D，可以在照相布置時把膠片與工件的距離調整到使（σ/[1+n]）的比值達到最大值

77.底片黑度取決于輻射強度和曝光時間的乘積，若曝光量一定時，輻射強度與曝光時間成反比，但采用（熒光增感）方法時，則該反比定律失效

78.射線照相對比度的公式是（△D=-0.434γμσ△d/(1+n)），其中（μ△d/(1+n)）稱為主因對比度

79.一鑄件厚度為1.25英寸，射線底片上顯示出ASTM 20#像質計的2T孔，則該底片的當量靈敏度為（1.6%）

80.鑄件射線底片上出現清晰的黑線或長度與寬度不等，輪廓光滑分明的帶狀顯示，則大多數是（冷隔）缺陷

81.鉛箔增感屏前屏起（增感）、（吸收軟射線）作用，后屏主要起（吸收散射線）作用 82.在半波自整流電路里加裝逆電壓降低器的目的是(降低X射線管的逆電壓)，在倍壓整流電路里起倍壓作用的元件是(電容器)83.由于Χ射線照射場內陽極側和陰極側（焦點尺寸）和（射線強度分布）不同，因此不能利用整個照射場來透照工件

84.射線底片表觀對比度與底片對比度的關系式為：△Da=（△D/(1+n')）

85.體積狀缺陷的可檢出性主要取決于射線照相（對比度）細小缺陷的可檢出性還取決于膠片的（清晰度）

86.裂紋類面狀缺陷的可檢出性不僅取決于射線照相影像質量的三參數，還取決于缺陷本身的三參數即（深度L）、（寬度W）和（與射線束的角度θ）

87.給定γ射線源可透檢厚度范圍的上限取決于其（能量和強度）下限取決于（靈敏度下降值）

88.在Χ射線管窗口加濾板有兩大作用（增大厚度寬容度）、（消除邊蝕散射）

89.溫度對顯影的影響表現為：溫度越高時，顯影速度越（快），反差越（高），灰霧越（大），顆粒越（大）,溫度越低，反差越（低），一般將顯影溫度控制在（20℃）左右 90.不同透照電壓的厚度寬容度不同,這直接反映在其曝光曲線的(斜率)不同 91.細顆粒膠片感光速度(慢),清晰度(高),大顆粒膠片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能膠片可分為(增感型)和(非增感型)兩類膠片

93.在酸性堅膜定影液中會有相互分解的成分，大蘇打要靠（亞硫酸鈉），鉀明釩要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件時要選用較高（管電壓）的原因是它的波長（短），穿透能力（強）95.試件厚度越大，散射比越（大）

96.射線能量越高，μ值越（小）；試件厚度越大，μ值越（小）97.在X光機窗口加一層薄的過濾器，其目的主要是（提高平均能量）98.散射線對照相底片的影響主要是降低射線照相的（清晰度）和（對比度）

99.評價一個同位素源時，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四個方面

100.底片對比度與（工件對比度）和（膠片對比度）有關 ,

第三篇：高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題

高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編 填空題

1.普朗克常數h=(6.626×10-34J·s),長度單位1=(10-10m),電子質量me=(9.108×10-30kg),電子電量e=(-1.602×10-19C)2.當單色射線能量約（9MeV）時，對鋼的穿透力最大，此時相應的Χ射線輸出約為（20MeV）

3.直接電離輻射通常是指陰極射線,(β)射線,(α)射線和(質子)射線,間接電離輻射是指(Χ)射線,(γ)射線和(中子)射線

4.60Co放出的γ射線平均能為(1.25MeV),相當于(2000～3000KVp)X射線穿透力,192Ir放出的γ射線平均能為(0.35MeV),相當于(150～800kVp)X射線穿透力 5.60Co和192Ir的射線輸出分別為(1.3)R/m·h·ci和(0.5)R/m·h·ci；60Co和192Irγ射線的能譜線分別為(2)根和至少(24)根

6.可用于2～10mm薄壁管透照的一種γ射線新源是（169Yb），其半衰期為（31）天，射線輸出為（125）mR/h·ci

7.檢查輕合金的薄試件也可利用β放射同位素所產生的韌致輻射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等 8.中子射線有以下特點：在重元素中衰減(小),在輕元素中衰減(大),在空氣中電離能力(弱),不能直接使膠片感光

9.常用的中子源有以下三種：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反應堆）

10.不同劑量的照射對人體的損傷：D≤（0.25Gy）的一次照射時，無明顯病理變化；D≈（0.5Gy）時，出現一時性血象變化；D≥（1Gy）時，會引起急性放射病

11.電離輻射引起的生物效應分為兩類：①發生率取決于劑量的（隨機）效應，如遺傳效應和軀體致癌效應；②嚴重程度隨劑量而變化的（非隨機）效應，如對眼、皮膚和血液引起的效應。射線防護的目的在于防止有害的（非隨機）效應，并限制（隨機）效應的發生率，使之達到可以接受的水平

12.發生光電效應幾率的實驗近似公式為：τ=kρz4λ3，其中K為常數；ρ為（物質密度）；Z為（物質的原子序數）；λ為（射線的波長）

13.波長為0.1的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)爾格,管電壓250kV時,產生射線的最短波長為(0.0496)14.射線穿透物質時產生的吸收程度，取決于材料的（原子系數）、（密度）、（厚度）以及射線本身的（波長）

15.射線的線質越硬，其光子能量越（大），波長越（短），穿透力越（強），衰減系數越（小）,半價層厚度越（大）

16.X射線穿透鋼材料時,兩種主要效應的發生幾率與光子能量的關系：J=σc時,E≈(100)keV；σc=max時,E=(1000)keV 17.連續Χ射線總強度可用下式表示：I=（ηoiZV2），連續Χ射線的轉換效率公式為η=（ηoZV）

18.單色窄束射線的半價層厚度約為1/10價層厚度的（0.3）倍；若已知線衰減系數μ，則1/10價層厚度為（2.3/μ）

19.γ射線放射性活度與照射量的關系式為X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[倫]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常數[mR/h·ci]）；R-（到點源距離[m]）；t-（受照時間[h]）

20.常用的γ源Kr常數,對于60Co為Kr=（1.32）；對于192Ir為Kr=（0.472）21.照射量的國際單位是(庫侖/千克,C/Kg),專用單位是(倫琴,R),兩者的換算關系是(1庫侖/千克≈3.877*103倫琴,1倫琴=2.58*10-4庫侖/千克)22.吸收劑量的國際單位是(戈瑞,Gy),專用單位是(拉德,rad),兩者的換算關系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)23.劑量當量的國際單位是(希沃特,Sv),專用單位是(雷姆,rem),兩者的換算關系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)24.劑量當量H是吸收劑量D與(品質因數Q)與(其他修正因數N)的乘積,數學表達式為H=(DQN),對Χ射線和γ射線防護而言,由于(有關修正因數為1),可以認為吸收劑量與劑量當量(等值)25.放射性同位素60Co中的60叫做(質量數),其原子核中含有(27)個質子和(33)個中子,60Co裂變時發生(β)射線和(γ)射線,60Co因(半衰期)較長而適用于無損檢測.26.當單色窄束X射線通過厚度為d的物質后，表示射線強度衰減規律的公式為：（I=I0e-μd）

27.射線與物質作用時，最主要的效應是(光電)效應、(散射)效應、(電子對生成)效應

28.10居里鈷60射源衰減到1.25居里時大約需要(15.9)年

29.X射線的能量取決于（X射線管電壓），而γ射線的能量取決于（γ源的種類）30.高能射線是能量在（1）兆電子伏特以上的X射線，采用直線加速器產生的高能X射線與一般X射線相比，它具有（穿透能力強）、（焦點小）、（轉換效率高）等特點

31.X射線是利用（高速運動的電子撞擊金屬靶）的方法產生的，它具有（連續X）線譜和（特征X）線譜，γ射線是利用（放射性同位素物質衰變）的方法產生的，它只具有X射線中的后一種線譜

32.鈷60γ射線源發出的兩種γ射線能量分別為1.17和1.33MeV，因此它們的波長分別為(0.0106)和(0.00932)33.活度為1居里的銥192，距離它1米處在無遮擋、無吸收的條件下，其一次射線的照射量率為（0.55）倫琴/小時

34.衰變常數為0.021/年的γ射線源，其半衰期為（33年），此射線源為（銫）源 35.X射線的能量取決于X光機的（管電壓），γ射線的強度取決于（源的種類）36.原子核內的（質子）數相同，而（中子）數不同的元素叫做同位素

37.單色、窄束、強度為I0的X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=I0e-μd），而對于強度為I0的單色、寬束X射線通過厚度d的材料后的衰減公式為（I=(1+n)I0e-μd）

38.X射線、γ射線與物質作用時，可產生（光電）效應、（康普頓(或散射)）效應和（電子對生成）效應，其中（電子對生成）效應只有在光子能量大于（1.02MeV）才會出現

39.射線的衰減系數與（射線能量）及照射物質的（原子序數）和（密度）有關 40.吸收劑量當量的單位是（雷姆(Rem)），對于X射線、γ射線，因為修正系數等于（1），故吸收劑量當量值與吸收劑量值是（相同）的

41.直線加速器的優點是（體積小）和（輸出射線強度大），回旋加速器的優點是（焦點尺寸小）

42.經Χ射線曝光過的膠片包含兩種不同類型的粒度：（膠片）粒度和（量子噪聲）引起的粒度 43.產生給定膠片密度所需要的倫琴數隨射線能量的增加而（增加）；射線能量高到一定數值，上述倫琴數（基本不變），這就是所謂射線膠片的光譜靈敏度

44.用鹽屏攝得的底片不清晰與兩個因素有關，一是（結構）斑點；二是（量子）斑點

45.底片顆粒度的表示為：G=σd/α,式中符號意義：σd（密度均方差）；α（掃描點面積）

46.Χ射線能量低于150kV時，由于（吸收系數）變化很快，管電壓的選擇比較嚴格；能量在200～400kV時，電壓變化約為（30～40）kV才使靈敏度有明顯變化；當為2～31MeVΧ射線時，探傷靈敏度（幾乎相同）47.(電離室)型監測儀可用來測量直射線、操作區內的散射線等相當高的照射率；（閃爍計數器）可用來探測曝光室之外的泄漏射線；（膠片劑量計）是最典型的個人照射劑量計，可記錄在相當長時間內累積的劑量

48.對電子加速器產生的Χ射線束，不宜用（鉛）或重過濾材料，因在（2～3）MeV時，其質量衰減系數有一最低值

49.目前常用的中子源有以下三種：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反應堆中子源)50.192Ir中有（77）個質子，（115）個中子，其半衰期為75天，則其衰變常數為（0.00924/d）

51.放射性同位素的制取有在核反應堆中通過中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂變的產物，如（137Cs）

52.X射線照相檢測時的工藝參數最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等

53.用棒陽極射線管透照有剩磁的鋼管環焊縫時，（聚焦電子）漂移會造成曝光量不穩定

54.膠片特性曲線上，某一區域的黑度差沒D與（相對曝光量對數的差值）的比值稱為該區域的反差系數r 55.我國天津感光膠片廠生產的工業用II、III、V型膠片，其感光度大致相當于國外（Agfa）牌號的（D10）、（D7）、（D4）型膠片，或國外（富士）牌號的（400）、（200）、（100或80）型膠片

56.亞硫酸鈉在顯影液中起（保護）作用；在定影液中起（保護）作用

57.工業用X光機高壓的調節通常是通過（自耦變壓器）的調節，改變高壓發生器中的（初級電壓）來實現的，而管電流的調節是通過（電阻）的調節，改變（燈絲變壓器）的（初級電壓）來實現的

58.為使像質計靈敏度達到最佳值，透照余高磨平的焊縫宜選擇黑度約為（2.5）的攝片條件；透照有余高的焊縫時，宜選擇母材黑度約（3.0～3.5），焊縫黑度約（1.5～2.0）的攝片條件

59.按照信息論，空間頻率f即每毫米黑白線對是指（不清晰度），而影像噪聲是指（顆粒度）

60.若底片上階梯孔型像質計靈敏度為2%，則實際圓形氣孔的檢出靈敏度約為（3）%；為檢出1mm氣孔，像質計上應顯示的階梯孔徑為（2/3）mm 61.金屬增感屏的增感系數隨著材料原子序數的增大而（增大），在試驗范圍內（金）最大，在管電壓較低時（錫）最大

62.金屬增感屏的增感系數隨著Χ射線管電壓的降低而（減小），大約在（120）kV以下時，增感系數(小)于1 63.在某一密度D時的膠片襯度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在兩特定密度之間，膠片的平均襯度可表示為G=（△D/△lgE）

64.射線照相靈敏度是射線照相（清晰度）和（對比度）兩大因素的綜合結果

65.X射線照相檢測時的工藝參數最重要的是(管電壓),(管電流),(曝光時間),(焦距)等

66.射線輻射防護的三種基本方式是(距離防護),(屏蔽防護),(時間防護)67.按JIS Z3104,3105標準規定，用內膠片法，對管子環縫進行照像時，為保證橫向裂紋的檢出率，當焦距最遠時，按普通級要求，最少應照（13）張片子

68.為了提高射線照像的對比度，可以采取射線膠片與工件保持適當距離的特殊照像方法，此時（1/[1+n]）值隨該距離的增大而增大，（σ）值該距離的增大而減小，因此必須取（σ/[1+n]）值的最大時的最佳距離

69.對于厚度差比較大的工件進行一次曝光透照時，可以采用（雙膠片）、（分散曝光）、（補償）等方法，使底片黑度都處于有效黑度范圍內

70.為了保證焊縫中裂紋的檢出率，日本JIS Z3104標準規定：射線穿透方向與缺陷方向之間的相對角度，對于普通級應小于（14）度，對于特殊級應小于（9）度 71.用100居里的銥192γ射線源透照某工件，焦距1米，曝光時間5分鐘，能得到合適的底片黑度。225天后，用該源透照相同工件，焦距變為2米，為得到相同黑度，曝光時間應為（160）分鐘

72.底片對比度與（工件）對比度和（膠片反差）系數有關

73.射線照相的靈敏度由兩個指標來確定，即射線底片的（對比）度和（清晰）度 74.鑒定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做試驗液，如果底片上出現（棕黃色）現象，即可說明底片水洗不佳

75.銥192的半衰期為75天，用該新源透照工件最佳的曝光時間為10分鐘，225天后重照同樣的工件（設其他條件不變），則需曝光（80）分鐘

76.為了提高射線照像的對比度沒D，可以在照相布置時把膠片與工件的距離調整到使（σ/[1+n]）的比值達到最大值

77.底片黑度取決于輻射強度和曝光時間的乘積，若曝光量一定時，輻射強度與曝光時間成反比，但采用（熒光增感）方法時，則該反比定律失效

78.射線照相對比度的公式是（△D=-0.434γμσ△d/(1+n)），其中（μ△d/(1+n)）稱為主因對比度

79.一鑄件厚度為1.25英寸，射線底片上顯示出ASTM 20#像質計的2T孔，則該底片的當量靈敏度為（1.6%）

80.鑄件射線底片上出現清晰的黑線或長度與寬度不等，輪廓光滑分明的帶狀顯示，則大多數是（冷隔）缺陷

81.鉛箔增感屏前屏起（增感）、（吸收軟射線）作用，后屏主要起（吸收散射線）作用

82.在半波自整流電路里加裝逆電壓降低器的目的是(降低X射線管的逆電壓)，在倍壓整流電路里起倍壓作用的元件是(電容器)83.由于Χ射線照射場內陽極側和陰極側（焦點尺寸）和（射線強度分布）不同，因此不能利用整個照射場來透照工件

84.射線底片表觀對比度與底片對比度的關系式為：△Da=（△D/(1+n')）

85.體積狀缺陷的可檢出性主要取決于射線照相（對比度）細小缺陷的可檢出性還取決于膠片的（清晰度）86.裂紋類面狀缺陷的可檢出性不僅取決于射線照相影像質量的三參數，還取決于缺陷本身的三參數即（深度L）、（寬度W）和（與射線束的角度θ）

87.給定γ射線源可透檢厚度范圍的上限取決于其（能量和強度）下限取決于（靈敏度下降值）

88.在Χ射線管窗口加濾板有兩大作用（增大厚度寬容度）、（消除邊蝕散射）89.溫度對顯影的影響表現為：溫度越高時，顯影速度越（快），反差越（高），灰霧越（大），顆粒越（大）,溫度越低，反差越（低），一般將顯影溫度控制在（20℃）左右

90.不同透照電壓的厚度寬容度不同,這直接反映在其曝光曲線的(斜率)不同 91.細顆粒膠片感光速度(慢),清晰度(高),大顆粒膠片感光速度(快),清晰度(差)92.按增感性能膠片可分為(增感型)和(非增感型)兩類膠片

93.在酸性堅膜定影液中會有相互分解的成分，大蘇打要靠（亞硫酸鈉），鉀明釩要靠（醋酸）和（硼酸）才能共存

94.透照厚工件時要選用較高（管電壓）的原因是它的波長（短），穿透能力（強）95.試件厚度越大，散射比越（大）

96.射線能量越高，μ值越（小）；試件厚度越大，μ值越（小）97.在X光機窗口加一層薄的過濾器，其目的主要是（提高平均能量）

98.散射線對照相底片的影響主要是降低射線照相的（清晰度）和（對比度）99.評價一個同位素源時，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四個方面

100.底片對比度與（工件對比度）和（膠片對比度）有關

101.同位素源輻射出的伽瑪射線能量用（所有輻射能量的平均值）來度量，X射線機輻射出X射線的能量用（電壓峰值）來度量 102.金屬增感屏靠（二次射線和電子）增感，常用的金屬材料是（鉛），它的粒度（細），增感系數（小），所得底片清晰度（高）

103.入射光強與透過光強之比為10，則底片黑度為（1），若透射光強與入射光強之比為1:1000，則底片黑度為（3）

104.影響顯影的主要因素為（配方）、（顯影溫度）、（顯影時間）、（顯影觀察-暗室安全燈）、（顯影液老化程度）與（攪動-顯影均勻程度）105.顯影液是（堿）性的，定影液是（酸）性的

106.透照某工件，已知曝光量達到膠片特性曲線的過渡曝光區，為使底片達到一定黑度，采用縮短顯影時間的方法來調整，這將影響底片的（對比度）和（清晰度），并降低底片的（靈敏度）

107.大晶粒金屬零件進行射線照相時，利用（提高管電壓和使用鉛增感屏）可以減少或消除衍射斑的影響

108.從實際應用來說，可以認為X射線膠片特性曲線的形狀與（X射線或γ射線的線質）無關

109.對于一定的射線質量，如果因試樣厚度范圍太大并且被攝物對比度過大，應采用的修正方法是（提高管電壓、在X射線管上放置濾波器，并延長曝光時間）

110.X射線在大晶粒材料中衍射而引起的一種特殊形式的散射線會使底片上出現（斑點）狀影像

111.輻射防護監測儀器多半是利用射線能使氣體物質（電離）的原理制造的 112.個人劑量筆給出的是（射線劑量累計照射率）值 113.X射線管按不同的用途可分為五大類，第一類是（醫學診斷用X射線管），第二類是（醫學治療用X射線管），第三類是（材料分析用X射線管），第四類是（材料檢驗用X射線管），第五類是（特殊用途X射線管），無損檢測應用的是第（4）類X射線管

114.有的X射線管的陰極頭有兩組燈絲，可產生（兩個大小不同的）焦點，以適應不同的用途

115.在其他工作條件保持恒定的情況下，管電流變化會使X射線管發射的輻射強度發生變化，強度近似地與管電流成比例，造成強度與管電流不能精確地成比例的主要因素是（X射線機變壓器的電壓和波型隨負荷變化）

116.金屬陶瓷X射線管與玻璃殼X射線管相比有下面六個優點：（抗震性強，不易破碎）、（金屬殼不存在電擊穿和表面放電問題）、（管內真空度高，各項電性能好）、（體積小，重量輕，壽命長）、（容易裝焊鈹或鉬窗口以放射軟X射線）、（制造工藝簡單）

117.特殊用途的X光管包括（周向輻射X射線管）、（軟X射線管）、（微焦點X射線管）、（棒狀陽極X射線管）

118.X射線管的管電壓是指它的（最大額定工作電壓峰值），但在電工測量中，表頭指示的是（有效）值

119.輻射監測主要是（場所輻射）監測和（個人劑量）監測 120.輻射劑量儀可分為（探測器）和（測量裝置）兩部分

121.影響輻射損傷的因素是（輻射性質）、（劑量）、（劑量率）、（照射方式）、（照射部位）、（照射面積）

122.在X射線檢測中，以保證穿透為前提，一般為了提高靈敏度，應盡量選擇（低）的管電壓，（高）的管電流，（長）焦距，（小）焦點

123.用相同條件透照同一容器的環焊縫，采用外照法（射線源在容器外側）比內照法（射線源在容器內側）對橫向裂紋的檢出率要（低），而對單面焊根部裂紋和未焊透（熔入不足）的檢出率要（高）

124.用銥192透照某工件，曝光10分鐘可獲得理想的底片，150天后，以相同條件用該源透照同一工件時，要獲得相同質量的底片需曝光（40）分鐘

125.焊縫照像底片評定時發現焊縫中央沿縱向有一較寬直長的黑線，黑線邊緣很整齊，則該瑕疵可能是（未焊透）

126.在分別含有氣孔,鎢粒和夾渣的鋼焊縫X射線底片上,比它們周圍其他地方看起來較亮的是(鎢粒)127.在分別含有氣孔,鎢粒和夾渣的鋼焊縫X射線底片上,比它們周圍其他地方看起來較黑的是(氣孔和夾渣)128.底片上評定區域出現黑點，大致有以下幾種可能（氣孔或點狀夾渣）、（弧坑）、（顯影液飛濺）、（壓痕）、（水跡）、（銀粒子流動）、（霉點）129.底片上評定區域出現黑線，大致有以下幾種可能（裂紋）、（未熔合）、（錯口）、（咬邊）、（膠片劃傷）、（增感屏劃傷）、（線狀氣孔）130.在射線底片上呈現較大面積的樹枝形影像是(靜電感光)131.在焊縫的射線底片上,較周圍部位顯得非常明亮的缺陷是(重金屬夾渣,或稱高密度夾渣,如夾銅,夾鎢等)132.對于未曝光膠片的儲存應考慮（溫度）、（濕度）、（有效期限）、（防止受壓）和（遠離放射線）133.GB3323標準的最早頒布年份是（1982）年，在87年的版本中，把射線照相質量劃分成（A）、（AB）、（B）三個等級，適用厚度在（2-200mm）范圍內的（鋼熔化對接焊縫）X射線和γ射線照相方法以及質量分級

是非判斷題（在每題后面括號內打“X”號表示“錯誤”，畫“○”表示正確）1.不穩定的同位素在衰變期間，始終要輻射出γ射線。()2.一放射性同位素放出的γ射線穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射線機的穿透力，這種關系稱作該同位素的當量能。()3.放射性同位素的當量能上限總是高于其平均能。（）

4.射線通過材料后，其強度的9/10被吸收，該厚度即稱作1/10價層。（）

5.60Co和192Ir射線源是穩定的同位素在核反應堆中俘獲中子而得到的，當射線源經過幾個半衰期后，將其放在核反應堆中激活，可重復使用。（）6.俄歇電子是指被熒光Χ射線逐出原子軌道的電子。（）7.光電子又稱為反沖電子。（）

8.暗室內的工作人員在沖洗膠片的過程中，會受到膠片上感生的射線照射，因而白血球也會降低。（）

9.一能量為300千電子伏的光子進入原子中,使一軌道電子脫離50千電子伏的結合能后,又給這個電子50千電子伏的能量使其飛出軌道,則新的光子能量是200千電子伏()10.中子射線照相檢測方法的英文縮寫是NRT()11.射線照相檢驗方法的局限性是不易評定缺陷的形狀,大小和分布()12.射線照相檢驗法的優點是效率高,成本低()

13.當射線中心束方向與裂紋開裂面成45°角時,最容易發現該裂紋()14.當射線中心束方向與裂紋開裂面成90°角時,最容易發現該裂紋()15.X射線檢測法不適用于混凝土結構件()17.X或γ射線的計算機輔助層析掃描技術簡稱為工業CT()18.“韌致輻射”是高速運行的電子與陽極靶相撞后能量被轉換的一種電磁輻射，即X射線()19.連續、寬束X射線透過厚度d的物體后，射線強度的衰減規律可用下列公式表示：I=I0e-μd()20.X射線的光子與物質相互作用時，當射線能量達到MeV以上時，會產生電子、正電子對，而光子的能量全部消失，這就是“電子對的生成”效應（）21.對于某一種放射源，若其活度越高，則所發出的射線能量也越強()22.最小可見對比度△Dmin隨線狀圖像的寬度增大而增大，當線狀圖像的寬度達到一定數值時，△Dmin成為常數()23.射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點的大小成正比，與射線源到工件表面的距離成反比（）

24.射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點的大小成反比，與射線源到工件表面的距離成正比()

25.由焦點尺寸和照像幾何條件決定的像質計金屬絲幾何因素修正系數σ在d'/d的比值大于1時，其數值隨d'/d的增大而減小（）

26.通常把膠片本身引起的不清晰度稱為膠片不清晰度或固有不清晰度（）27.散射線不影響射線照像底片的對比度而是影響底片的清晰度（）28.底片的黑度取決于射線強度與曝光時間的乘積，即曝光量，但當采用熒光或金屬熒光增感屏時，射線強度與曝光時間不成反比關系（）

29.鉛箔增感屏之所以有增感作用，是因為X與γ射線能從鉛中激發出電子來，從而使膠片感光，達到增感的目的（）

30.通常對于管電壓大于120KVP的X射線才能使鉛箔有增感作用（）

31.對于2MeV的電子直線加速器，靶材料為鎢，比例系數為1.2x10-6時，其連續X射線的轉換效率約為1.8%()32.X或γ射線在標準狀態下，對一立方厘米的空氣照射時，使空氣中產生一個靜電單位電荷的離子對，這時的射線照射量為一居里（）33.用于射線照相法檢驗的X和γ射線，它們之間的差別僅在于X射線是高速電子韌致的輻射產物，γ射線是放射性物質原子核裂變的輻射產物（）

34.高能X射線一般指的是其能量在千電子伏特（KeV）級以上的X射線()

35.中子射線照相的原理，主要是由于含氫物質中的氫具有俘獲中子的能力，從而使透過含氫物質后的中子射線的強度發生變化（）

36.X射線、γ射線與可見光一樣，它們在真空中的傳播速度都是3x108cm/s()37.在國際單位制中，放射性活度用符號X表示，它的單位是庫侖/千克（C/Kg）()38.在國際單位制中，吸收劑量用符號D表示，它的單位是戈瑞（Gy）（）

39.射線膠片中的溴化銀微粒銀的負離子失去電子，使曝光的膠片中形成所謂“潛影”（）

40.波長相同的X射線和γ射線具有相同的性質（）

41.不同種類的放射性同位素，其中活度（居里數）高的輻射出的γ射線劑量不一定比活度低的大（）

42.高速運動的電子在與靶金屬的原子核外電場作用時，發射出連續X射線（）43.連續X射線的總強度與管電壓的平方成正比，與管電流和靶原子序數成正比（）44.當射線的能量達到1.02MeV以上時，射線的光量子同原子作用的結果，使得光量子消失，產生一對離子，這就是電子對生成效應()45.當X射線通過三個半價層后，其強度僅剩初始的1/8（）

46.半衰期是指放射性同位素其能量減少到一半所需要的時間（）

47.管電壓越高，X光管中飛向靶金屬的電子速度就越大，射線的輻射能量就越高（）48.連續、寬束射線透過厚度為d的物體后，射線強度的衰減規律可用下式表示：I=Ie-μd（）

49.散射比n是表示散射線強度Is和輻射源到工件的入射線的強度I0之比，即：n=Is/I0（）

50.射線通過膠片時，能在膠片上激發出自由電子，這種散亂的自由電子也能使膠片感光，形成不清晰度，這種不清晰度稱為“固有不清晰度”（）

51.通常對于管電壓大于150KVP的X射線，鉛箔才能起增感作用，而對于管電壓低于150KVP的X射線，鉛箔對于射線的減弱作用大于射線的增強作用，所以沒有增感作用（）

52.射線透過工件后的兩個不同厚度區域的強度比值稱為工件對比度（）

53.X或γ射線在標準狀態下，對一立方厘米的空氣照射時，空氣中離子產生一個靜電單位電荷的照射劑量為一居里()54.“吸收劑量當量”-拉德（Rad）等于被照射生物機體的吸收劑量-雷姆（Rem）與該射線相應的修正系數（RBE）的乘積（對X和γ射線來說修正系數等于1）()

55.直線加速器的輸出強度要比同樣能量的電子感應加速器的輸出強度要大許多倍。（）

56.192Ir射線源產生的射線主要成分是能量幾乎呈連續分布的“白色Χ射線”。（）57.在顯影過程中，KBr中的Br離子被吸附在AgBr表面形成負電層，因而能排斥顯影劑負離子對未曝光的AgBr的還原作用，防止灰霧生成。（）58.膠片劑量計和袖珍劑量筆的工作原理均基于電離效應。（）

59.對電子加速器產生的Χ射線束，不宜用鉛作過濾材料，原因是鉛在高能量射線照射下會被激活。（）

60.在射線劑量筆中,兩個石英纖維絲帶有正電荷,當射線通過時就失去它們的電荷,并且其中一個石英纖維絲向另一個靠攏()61.在X射線管窗口處加濾光板可以濾掉軟射線，從而獲得線質更加均勻的X射線（）62.像質計是判別射線照像質量和測定照像靈敏度的器件（）

63.閃爍計數器型的輻射儀，是由鉈活化的碘化鈉單晶、光電倍增管和電子電路構成（）

64.X射線能量取決于X射線管的燈絲電流（）

65.膠片感光的部分越多，顯影時耗費的顯影液就越多（）

66.射線膠片產生一定黑度所需要的照射量（即倫琴數）與射線線質無關。（）67.當缺陷尺寸小于幾何不清晰度尺寸時，影像會被放大，而對比度則降低。（）68.如果信噪比不夠，即使增大膠片襯度，也不可能識別更小的細節影像。（）69.在MeV級高能射線照相中，能量越高，則照射場尺寸越大。（）

70.就設備性能而言，在高能射線照相中照射場尺寸顯得十分重要，而焦點尺寸顯得較不重要。（）

71.密封鉛罐中的水位可用中子照相法測定。（）

72.在某一黑度條件下的膠片，其曝光量倒數的104，定義為膠片的感光速度（）73.根據美國核管理委員會（USNRC）規定，對于職業射線工作者來說，人體不同部位的照射劑量不得超過下列指標：全身-頭部、軀干、器官、眼睛、生殖腺等為5雷姆/年；手和前臂、腳和關節等為30雷姆/年；全身皮膚為75雷姆/年()74.美國ASTM E94的標準名稱是“射線照相檢驗的推薦操作方法”（）

75.日本JIS Z3104的標準名稱是“焊縫射線照相檢驗技術的標準評定方法”()76.射線照相的靈敏度由射線底片的對比度和清晰度兩個指標來確定（）77.｜△D｜≥｜△Dmin｜時，才能發現缺陷（）

73.對某一曝光曲線，應使用同一類型的膠片，但可更換不同的X射線機（）76.X射線的能量取決于射線管中電子飛向陽極的速度()77.伽瑪射線的強度取決于射源的比活度（）

78.硬X射線比軟X射線的波長短、傳播速度快，所以硬X射線具有更高的能量（）79.像質計是用來鑒定照相技術和膠片處理質量的器件()80.當固有不清晰度不大于幾何模糊度時，只要改善幾何模糊度，仍可得到高清晰度的底片（）

81.射線透過工件的兩個不同厚度區域的強度比值稱為工件對比度()82.連續X射線透過工件后，雖然強度減弱了，但線質不變（）83.高能X射線比低能X射線更易于使膠片感光（）84.散射線影響底片的對比度和清晰度，從而降低靈敏度()85.37x1011Bq的銥192源經過五個半衰期后，僅剩115.625x109Bq，由于能量太低，不能繼續使用（）

86.個人劑量筆的讀數是射線照射量的累積值()87.伽瑪射線透過物質的兩個半值層后，其強度僅為透過前的四分之一()88.在X射線管中，高速運動的電子與靶相撞，能夠產生連續X射線，在特定的情況下也能產生特征X射線()89.含氫元素的物質對中子射線有較強的衰減作用()94.如果X射線和伽瑪射線的波長相同，那么它們具有相同的性質()95.所謂對比度，就是指一張射線底片上兩個相鄰區域之間的黑度差()96.不同感光速度的工業X光膠片的基本區別在于溴化銀的顆粒大小()97.對于管電壓低于150KV的X射線，鉛箔增感屏不能起到增感作用()100.在射線檢測中應用的X射線、伽瑪射線、中子射線，從本質上來說都屬于電磁波（）

101.康普頓效應中，散射光子的波長大于入射光子的波長()102.透過物體后的射線，其能量減弱到入射能量一半時的物體厚度稱為半值層（）103.射線強度的衰減公式：I=I0e-Ex，適用于單色、寬束X射線或伽瑪射線（）104.新的或長期停止使用的X光機，使用前要對X光管進行“訓練”，其目的是為了提高X光管的真空度()105.在無損檢測中應用的伽瑪射源除了最常用的鈷60和銥192、銫137以外，還有75Se、169Yb、170Tm和153Gd()106.鈷60的半衰期是5.3年()107.精確地說，銥192的半衰期是74.4天()108.75Se（硒75）的半衰期是118天()109.169Yb（鐿169）的半衰期是31天()110.170Tm（銩170）的半衰期是129天()111.153Gd（釓153）的半衰期是242天()112.銫137的半衰期是33年()113.照射量單位“庫侖/千克”只適用于Χ射線或γ射線。不能用于其它射線。（）114.當X或γ射線源移去以后工件不再受輻射作用，但工件本身仍殘留極低的輻射。（）

115.被照體離焦點越近，Ug值越小（）

116.管電壓一定，曝光量=管電流×曝光時間（）

117.X射線穿透相同厚度的物體時,衰減系數μ愈大,穿透率I/I0愈大,X射線的波長愈長μ愈小,穿透物質的原子序數愈大μ愈小,穿透物質的密度愈高μ愈小()118.對于相同物體,易于透過的X射線其線質軟,硬X射線比軟X射線的波長長,衰減系數大,半值層薄()193.對不同種類的放射性同位素，高活度的同位素總是比低活度的同位素具有更高的輻射水平。（）

194.放射性同位素的原子核數目減少到原來一半所需要的時間稱作半衰期。（）195.在某種材料中，入射射線強度減少到原來一半所需要經過的距離稱作該射線對該材料的半值層。（）

196.高速電子與靶原子的軌道電子相撞發出X射線，這一過程稱作韌致輻射。（）197.一能量為300KeV的光子與原子相互作用,使一軌道電子脫離軌道,且具有50KeV動能飛出,則新光子的能量是250KeV()198.含氫元素的物質對中子射線具有較強的衰減作用。（）

199.照射量只反映X或γ射線對空氣中的電離本領，而吸收劑量可反映不同性質的物質吸收輻射能量的程度。（）

200.從X射線或γ射線防護角度上講，可認為在數值上1倫琴相當于1拉德,相當于1雷姆。（）

201.X射線機采用高頻電路的優點能將幾乎所有的電源瞬變和干擾消除，KV，mA讀數精度較高。（）

202.實驗表明，膠片顆粒性對平板孔型像質計中小孔影象顯示的影響，要比對線型像質計中金屬絲影像的顯示影響小得多（）

203.新購置或放置較久的X光機使用前要進行“訓練”的主要原因是為了吸收射線管中的殘留氣體（）

204.X射線照相時應盡量采用金屬增感屏，因為它與熒光增感屏相比，具有更高的增感系數（）

205.在X射線機窗口前裝濾光片的目的是吸收軟X射線、增大寬容度和減少散射線對底片的影響（）

206.安裝陽極靶時，通常要傾斜一定角度，使該實際焦點小，而有效焦點大（）207.新購置或擱置較長時間不用的X光機使用前要進行開機“訓練”，這是為了排除機頭絕緣油中的氣泡（）

208.像質計是用來鑒定照相技術和膠片處理質量的器件（）209.新購置或長期停用的X光機使用前要進行“訓練”，這是為了排除冷卻油中的氣泡，提高冷卻油的絕緣性能（）

210.在X射線實時成像中，射線照射工件傳到熒光屏上所產生的顯示與射線強度有關，而與曝光時間無關。（）

211.對不同型式的像質計來說，只要采用相同的透照技術，像質計靈敏度的數值一般都相同。（）

212.在實際使用的焦距范圍（100～1000mm）內，焦距的變化對散射比的數值幾乎沒有影響。（）

213.只要底片達到特定的黑度值(如最佳黑度值)，而不管μp/1+n如何，底片上可識別的象質計金屬絲直徑必然最小。()214.采用熒光增感時，由于“互易定律失效”，不能根據曝光因子公式修正透照參數。（）

215.濾板厚度改變時所繪制的Χ射線膠片特性曲線形狀和位置均會改變。（）216.透照有加強高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指能保證焊縫部位和母材部位得到相同透度計靈敏顯示的黑度值（）

217.用2，5，8，18和31MeV這些高能Χ射線透照大厚度工件時，可以達到的探傷靈敏度幾乎相同。（）

218.使用γ射線或高能Χ射線透照厚工件時，膠片類型和膠片黑度的選擇十分重要。（）

219.采用不同的透照方法能獲得相同的金屬絲像質計靈敏度，但不一定能給出相同的裂紋檢出靈敏度。（）220.采用換算的方法，可將某種材料制作的像質計用于不同吸收系數的材料透照時的像質評價。（）221.使用襯度較低的射線膠片，必要時采用單面乳劑膠片，可增大透照厚度寬容度。（）

222.實驗證明，焊縫余高和母材區的散射比是不一致的，一般來說，余高中心部位的散射比大于母材區的散射比（）223.熒光增感屏或金屬熒光增感屏，由于熒光亮度產生的感光作用與接受的射線照相量率的大小是不成正比的，因此照射量率低的時候，曝光時間比通常計算所得的要高，這種現象稱之謂“反比定律失效”（）

224.高能Χ射線發生器能產生能量值很高的射線,因此能檢測大厚度的工件,但它的缺點是焦點較大,能量轉換效率較低()225.用強光觀察高黑度的底片時，由于界限識別對比度△Dmin增大，從而擴大了可識別的黑度范圍（）

226.為了提高射線照相的對比度，在照相膠片選定以后，選用的射線能量越低越好()227.缺陷沿射線方向的尺寸與底片上缺陷影像的大小成正比()228.透照某工件，采用金屬熒光增感，管電流5mA，透照時間4分鐘，獲得底片黑度為1.8，若其他條件不變，把管電流改為10mA，透照時間改為2分鐘，底片黑度仍不變()229.當選用100KV-200KV的管電壓進行透照時，對鉛增感屏的增感系數是不變的()230.透照同一工件，鉛箔增感比熒光增感獲得的底片清晰度高而對比度低()231.要在一張射線探傷底片上同時顯示出材料厚度不等的影像，必須采用低電壓和熒光增感()232.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片直接放入定影液（）233.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片顯影時間縮短一分鐘后直接放入定影液（）

234.手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片先在活水中至少沖洗2分鐘，然后放入定影液（）

235.防止底片產生水斑的方法是將濕底片快速干燥（）

236.防止底片產生水斑的方法是先將濕底片在潤濕液中浸

一、兩分鐘（）237.防止底片產生水斑的方法是使用新鮮的定影液（）238.防止底片產生水斑的方法是延長水洗時間（）239.未焊透和未熔合的主要區別是產生原因不同，因此缺陷的形狀和產生部位也不同（）

240.在底片上觀察透度計金屬絲時，應從粗絲開始向細絲方向（）241.鉛增感屏的剝落部位，在底片上的黑度大（）

242.射線照像質量等級是根據射線源(能量),膠片和增感屏的不同組合來劃分的()243.對于γ射線探傷機，根據不同需要，放射源傳輸裝置的長度應盡可能減短，每次照相后，放射源必須能立即返回源容器并進入關閉狀態（）244.進行γ射線探傷作業時，必須考慮γ射線探傷機和被檢物體的距離、照射方向、時間和屏蔽條件，以保證作業人員的受照劑量低于年劑量限值，并應達到可以合理做到的盡可能低的水平（）

245.常見的金屬增感屏按金屬箔材料的不同分為如下幾類：鉛屏；鋼屏；銅屏；鉭屏；鎢屏()246.金屬增感屏是由金屬箔與襯紙緊密膠粘制成的()247.金屬增感屏的金屬箔是由鉛、鋼、銅、鉭或鎢等金屬分別軋制而成的()248.金屬增感屏襯紙的材料可以是紙質的、塑料的或其他適宜的非金屬材料()249.金屬增感屏（金屬箔或襯紙）的表面應光滑清潔和平整()250.金屬箔的表面不應有肉眼可辨的孔洞、劃痕、擦傷、皺紋、油污、氧化等()251.金屬增感屏的表面質量可用肉眼在白光下進行檢查()252.晶粒較粗大的材料，在一定的射線透照條件下，射線底片上可能產生衍射斑紋()253.用偏心內透照法100%檢驗容器的環焊縫，當焦距大于容器外半徑時，為了防止漏檢，應將搭接標記放在膠片側()254.環焊縫中橫向缺陷的檢出率，在焦距相同的情況下，內照法優于外照法()255.一般來說，曝光量只有選擇在膠片特性曲線的直線部分才易于發現缺陷()256.透照容器環焊縫時選擇焦距的原則是：采用內透照法應優先考慮厚度比K和失真角θ；采用外透照法應優先考慮幾何不清晰度Ug（）

257.要在一張底片上顯示出母材不等厚的焊縫影像，必須采用低電壓和熒光增感（）258.為了獲得高襯度和高清晰度的射線圖像，在選擇X射線機時，焦點的有效面積應盡可能大（）

259.當設計低壓X射線管時，為了考慮到濾波、效率、散熱等因素，X射線管的窗口一般采用銅合金制成（）

260.采用中子照相法時，其曝光需要先經過轉換屏轉換，然后再使用X射線膠片曝光()261.采用中子照相法時，其曝光方法是利用熒光增感屏+X射線膠片曝光（）

262.一般采用鈷60照射鋼材時，適用的檢查厚度范圍在270毫米以內或其當量厚度（）

263.鈷60的半衰期為5.3年，如該放射源已存放三年，則透照時的曝光時間應增加約70%（）

264.銥192的半衰期為75天，若目前檢驗工件的最佳曝光時間為20分鐘，則經過150天后，在相同的攝影條件下要達到同樣的黑度，曝光時間需要120分鐘（）265.假定管電壓和曝光時間一定，在焦距500毫米和管電流5毫安的情況下可得到曝光適宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，則應采用10毫安的管電流才能得到相同的曝光量（）

266.已知銥192源的放射性強度為10居里，在焦距400毫米時可得到正確的曝光量，若其他條件不變，把焦距增加到800毫米，則要求更換放射性強度為60居里的新源（）

267.對于管電壓和管電流都不變的某一曝光量，當焦距從1200毫米減少到800毫米時，其曝光時間將從原來的10分鐘縮短到4.4分鐘()268.已知銥192源在距離1米時的曝光時間為60分鐘，如果把曝光時間縮短為15分鐘，則需要將距離縮短到0.25米（）

269.在膠片特性曲線上連接給定兩點密度的直線的斜率稱為曝光范圍（）270.根據膠片特性曲線上的斜率可以判別膠片的密度（）271.通過增大焦距，可以起到降低底片襯度的作用（）272.利用儀表測量法可以測定X射線管的焦點（）

273.用鉛箔做增感屏時，若X射線管電壓太高，會產生磷光現象（）274.若僅從高清晰度的需要出發，焦距應盡可能長()275.在X射線管窗口處加裝濾光板可以使X射線強度均勻化（）

276.鉛的密度是11.4，鋼的密度是7.8，鉛的密度約是鋼的1.5倍，用220KV的X射線進行照相時，2.5mm厚的鉛吸收相當于30mm厚鋼的吸收，因此鉛的吸收是鋼的24倍（）277.使用鉛或鉛化銻高原子序數增感屏的目的是為了降低攝片的條件和降低對底片的要求（）

278.關于底片清晰度，它與焦點大小和物體至膠片的距離成反比（）279.粒度大的X射線膠片其照相的清晰度比粒度小的膠片差()280.強度一定的兩種同位素源，若其放射性比活度值不同，則對放射性比活度值較高的源來說，其半衰期比放射性比活度值低的源長（）

281.提高熒光屏觀察法（即時射線成像）靈敏度的主要困難是成本高和速度慢（）282.表達式：（毫安x時間）/距離平方，稱之為照相的對比度（）283.表達式：（毫安x時間）/距離平方，稱之為互易定律（）

284.在X射線管和膠片距離一半處放置一塊用高密度材料制成并鉆有小孔的板，這是用來測量軟化X射線的能量（）

285.在試樣周圍放置鉛板的目的是產生較短波長的X射線輻射（）286.X射線照相時使用的電壓值高或低，其襯度不變（）

287.膠片的增感因子在40-400KV之間的變化情況是隨著電壓增大，增感因子增大（）288.膠片的增感因子在40-400KV之間的變化情況是隨著電壓增大，增感因子變小（）289.如果熒光增感屏的種類一定，則感光速度主要取決于熒光物質的顆粒度，顆粒越大，感光速度越慢（）

290.根據黑度D的定義，其數學表達式為：D=lg(L/L0)式中：L0-透過底片前的光強度；L-透過底片后的光強度（）

291.在膠片背面放一個“B”鉛字，曝光后沖洗出來的底片上出現該鉛字的影像，說明對背散射的防護適當（）

292.工件內部如有一面積型缺陷，當該缺陷面與射線投照方向成90°夾角時，在底片上的影像最清晰（）

293.220KV的X射線對鋼和銅進行射線照相，兩者的厚度當量系數為1:1.4，若以12mm的銅板進行射線照相時的曝光條件對鋼進行射線照相，則該鋼板的厚度應為25mm（）294.當用觀片燈觀察底片時，為了獲得更直觀的效果，在曝光時采用不同方向攝取兩張底片的特殊照相方法，稱之為立體射線照相法()295.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為深度定位視差法()296.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為立體射線照相法（）

297.在同一張底片上，做兩個不同位置的X射線照相，可以確定缺陷的深度，根據缺陷陰影的移動，相對于試樣固定標志的圖像可以計算出缺陷的深度，這種方法稱之為空間投影法（）

298.定影液使用一段時間后，由于定影液中可溶解的銀鹽濃度增加，導致定影效果下降()299.定影液使用一段時間后，由于定影液成分被揮發，導致定影效果下降（）300.熒光增感屏經常受到強光照射或紫外線照射后，會導致顏色改變和喪失一些光澤()301.熒光增感屏因為經常受到強光照射或紫外線照射導致顏色改變和喪失一些光澤時，可以用弱射線照射使其恢復原有的狀態（）302.在制作膠片特性曲線時，如果增加顯影時間，會使膠片特性曲線變得更陡，并且向左移動()303.在制作膠片特性曲線時，如果增加顯影時間，會使膠片特性曲線變得更陡，并且向右移動（）

304.采用高KV值X射線照相法的特點是能獲得較高的對比度（）

305.采用高KV值X射線照相法的特點是適用于厚試樣或吸收系數大的試樣的照相()306.當采用高KV值X射線照相法時，幾乎所有的曝光均需要使用鉛箔增感屏()307.當采用熒光屏觀察法時，幾乎所有的曝光均需要使用鉛箔增感屏（）308.一般用于熒光屏觀察法的觀察窗口是用硼硅酸玻璃制成的（）309.一般用于熒光屏觀察法的觀察窗口是用光學玻璃制成的（）

310.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為波長的變化不完全成比例（）

311.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為管電壓和X射線設備的電壓波形會隨著負載發生變化()312.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為電流在線性比率上才能改變（）

313.當其他操作條件保持不變，管電流的變化會引起X射線管發生的射線強度的變化，但是其強度的變化只是大致與管電流的變化成比例，而不能完全按比例變化，這是因為散射線不能按比率變化()314.觀察底片時要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為底片高度曝光的原因造成的()315.觀察底片時要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為X射線強度太高的原因造成的()316.觀察底片時，要注意辨別膠片暗盒背面圖像重疊在試樣的圖像上，因為它很可能是因為背散射的原因造成的()317.由于X射線在粗晶材料中可能發生衍射效應，因此散射的特殊表現形式是底片的襯度差()318.由于X射線在粗晶材料中可能發生衍射效應，因此散射的特殊表現形式是底片上出現斑點()319.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用熒光增感屏法()320.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒內同時裝兩張相同的膠片重疊曝光()321.拍攝具有厚薄差異的試件時，為了同時得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒內同時裝兩張具有不同感光速度的膠片重疊曝光()322.如果放射源的尺寸較大，為了獲得質量較高的底片，可以考慮增大射源至膠片的距離()323.如果放射源的尺寸較大，為了獲得質量較高的底片，可以考慮采用感光速度快的膠片()324.射線照相時，底片邊緣未經直接曝光而出現黑度較高的區域，這是由于試件幾何形狀不規則引起的()325.射線照相時，底片邊緣未經直接曝光而出現黑度較高的區域，這是由于鉛屏蔽引起的()326.裝在暗盒內而未經曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是膠片本身質量有問題()327.裝在暗盒內而未經曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是受到宇宙射線曝光()328.裝在暗盒內而未經曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是暗盒邊緣處漏光()329.裝在暗盒內而未經曝光的膠片邊緣呈有淡黑色的原因是受到散射線照射()330.底片上產生樹枝狀影像的原因是顯影液攪拌不均勻()331.底片上產生樹枝狀影像的原因是裝拆膠片時摩擦產生靜電火花放電()332.使用透度計的目的是要知道X射線和γ射線的穿透特性的好壞()333.使用透度計的目的是要知道所透照的底片質量好壞()334.線狀透度計和孔型透度計相比較，線狀透度計難以看得清()335.線狀透度計和孔型透度計相比較，孔型透度計容易看得清()336.工業射線檢測使用的膠片與一般膠片之間最大的差別是雙面涂乳劑()337.工業射線檢測使用的膠片與一般膠片之間最大的差別是單面涂乳劑()338.膠片經曝光后產生的潛影能夠被肉眼觀察到()339.膠片經曝光后產生的潛影在紅燈下能夠被肉眼觀察到()340.確定膠片密度和膠片速度的方法是利用特性曲線進行比較()341.確定膠片密度和膠片速度的方法是通過與一張已知速度的膠片進行比較()342.未經射線曝光的膠片經暗室處理后，發現底片上存在模糊的淡黑色，這稱之為膠片的本底化學灰霧度()343.鋼板厚度15毫米，雙面焊冠之和為5毫米的焊接件，在底片上能發現最小直徑為0.4毫米的鋼絲透度計，此時所達到的靈敏度即是約為2.7%()344.在進行焊縫射線照相時，線型透度計一般是放置在鋼板上面()345.在進行焊縫射線照相時，線型透度計一般是放置在焊縫上面()346.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以提高管電壓并使用熒光增感屏()347.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以降低管電壓并使用鉛箔增感屏()348.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以提高管電壓并使用鉛箔增感屏()349.對大晶粒金屬零件進行射線照相時，為了減輕衍射斑點的影響，可以降低管電壓并使用熒光增感屏()350.對顯影液添加補充液時，一般在添加的補充液量達到原來顯影液量的4倍時，該顯影液應該報廢，而不應無限制地添加補充液()351.對顯影液添加補充液時，一般在添加的補充液量達到原來顯影液量的7倍時，該顯影液應該報廢，而不應無限制地添加補充液()352.底片上焊縫中心部位出現的長度和寬度不等的連續或間斷的長條形黑色影像很可能是裂紋()353.底片上焊縫中心部位出現的長度和寬度不等的連續或間斷的長條形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）()354.底片上焊縫中心部位出現的長度和寬度不等的連續或間斷的長條形黑色影像很可能是夾雜()355.底片上焊縫中心部位出現的長度和寬度不等的連續或間斷的長條形黑色影像很可能是疏松()高級無損檢測技術資格人員-射線檢測考題匯編 問答題

1.射線可分為哪幾類，對于工業探傷的射線有哪幾種？ 答：射線可分為以下幾類：

(1)Χ射線和γ射線。它們都是波長很短的電磁波，按波粒二相性觀點，也可以看作是能量很高的光子流。Χ射線是高速運動的電子撞擊金屬產生的；γ射線是放射性同位素在γ衰變過程中從原子核內發出的。

(2)電子射線和β射線。它們都是高速電子流。電子射線是通過加速器加速電子得到的；β射線是放射性同位素在β衰變過程中從原子核內發出的。

(3)質子射線、氘核射線和α射線。它們都是帶正電的粒子流，質子是普通氫原子核1H1；氘核是氫同位素氘2H1的原子核，由1個質子與1個中子構成；α粒子是氫原子核4He2，由2個質子與2個中子構成。質子射線與氘核射線可利用回旋加速器或靜電加速器得到，α射線是放射性同位素在α衰變過程中從原子核內發出的。(4)中子射線。它是高速中子流，可從原子反應堆中獲得，也可通過加速器獲得，或從放射性同位素-252中獲得。

目前用于探傷的主要是Χ射線、γ射線和中子射線。其中Χ射線和γ射線廣泛用于工業探傷，中子射線用于特種檢驗。

2.什么叫連續Χ射線的有效能量？為什么連續Χ射線穿透物質后有效能量會增大？答：如果某一單能射線的吸收系數與連續Χ射線在特定厚度范圍內平均吸收系數相等，便可用此單能射線的能量來表示連續Χ射線的平均能量，稱作有效能量。連續Χ射線包含有能量不同的光子，在穿透物質過程中，能量較低的光子較容易被物質吸收，因此，在射線透過物質后，不同能量射線所占的強度比率發生變化，低能量射線所占比率減少，從而使透過射線的平均能量或有效能量增大。3.放射性同位素衰變過程中的輻射有哪幾種形式？答：放射性同位素的衰變幅射主要有以下幾種形式：(1)僅幅射α粒子,(2)僅幅射β粒子,(3)既幅射α粒子又幅射γ射線,(4)既幅射β粒子又幅射γ射線

4.射線防護有哪幾種基本方法？每種防護方法的基本原理是什么？

[提示]：射線防護方法有三種，即距離防護、時間防護、屏蔽防護，距離防護--射線劑量率與離射線源的距離平方成反比，因此盡量在距離射線源遠的地方從事射線探傷工作；時間防護--人體接收射線劑量與時間成正比，盡量縮短接收時間以減少對人體的危害；屏蔽防護--射線穿過屏蔽材料時，其能量會衰減，盡量在有安全屏蔽的條件下進行工作

5.影響照相質量的散射線是如何產生的？答：射線穿過物質時，與物質發生各種相互作用，其結果是除了一部分直接前進的透射線外，還有向各個方向射出的散亂射線以及光電子，反跳電子等。光電子和反跳電子穿透力極弱，大多數被物體自身吸收，即使射到物體外，也很容易被空氣吸收，對探傷質量不產生影響。散亂射線中的一部分是由光電效應引發的熒光X射線，這部分射線能量遠小于透射線。例如鐵的Kβ1熒光X射線能量約7keV，很容易被物體和增感屏吸收，對探傷質量也不產生什么影響。因此影響探傷質量的散射線主要是由康普頓效應和湯姆遜效應產生的，在射線能量很低（小于50keV）范圍內，散射線主要由于湯姆遜效應產生，在射線能量較高范圍內，散射線主要由康普頓效應產生。

6.簡述Χ射線管的結構和各部分作用 答：Χ射線管 陰極 燈絲：發射電子 陰極頭：燈絲支座，聚焦電子

陽極 靶：遏制電子，發出X射線 陽極體：支承靶，傳遞靶熱量

陽極罩：吸收二次電子，減少管壁電荷，提高工作穩定性 管殼 連接兩極，保持真空度

7.繪出能工作的X射線機的最基本電路圖,并標明各部分名稱 答:如右圖所示。

8.用于X射線檢測用的X射線管有哪些類型和種類？答：就焦點大小區分，可分為大焦點、小焦點和微焦點；就結構形式區分有玻璃殼管、金屬陶瓷管和波紋陶瓷管；就輻射形式區分有定向曝光和周向曝光（有平靶和錐靶兩種），軟X射線管，棒陽極等 9.試比較射線檢測與超音波檢測兩種方法的適用范圍和局限性

[提示]：應從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發現的缺陷形狀以及安全防護和經濟性等方面進行比較

10.何謂互易定律失效？它對射線照相有何影響？答：互易定律是光化學反應的一條定律，該定律指出，決定光化學反應產物質量的條件，只與總曝光量相關，即取決于照度和時間的乘積，而與這兩個因素的單獨作用無關，由于它指出了時間和照度的互易關系，所以稱為互易定律，如果與這一定律結論有偏離，則稱為互易定律失效。如果不考慮光解銀對感光乳劑顯影的引發作用的差異，互易定律可引伸為顯影黑度只與總曝光量有關，而與照度和時間分別無關。在射線照相中，當采用鉛箔增感和無增感時，遵守互易定律。設產生一定顯影黑度的曝光量E=I·t，當射線強度I和時間t相應變化時，只要兩者乘積E值不變，底片黑度不變。當采用熒光增感時，互易定律將會失效。I與t發生變化時，盡管I與t的乘積不變，底片黑度仍會改變。用公式描述保證底片黑度不變的前提下，曝光量E與射線強度I，時間t的關系，其形式為E=I·tp（p≠1）。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照參數的基礎，如果互易定律失效，則不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照參數，這將使透照參數的選擇復雜化。

11.何謂幾何不清晰度？其主要影響因素有哪些？答：由于射線源都具有一定尺寸，所以照相時工件輪廓或缺陷邊緣都會在底片上產生半影。這個半影寬度便是幾何不清晰度Ug,缺陷的幾何不清晰度Ug值計算公式為：Ug=db/(F-b),式中：d--射源尺寸；F--焦距；b--缺陷至膠片距離。技術標準中規定的幾何不清晰度，通常是指透照中心部位的最大幾何不清晰度，計算公式為：Ugmax=dL2/L1 ,式中：L1--射線至工件表面距離；L2--工件表面至膠片距離；d--射源公稱有效焦點尺寸。由以上公式可知，Ug值與射源尺寸和工件厚度或工件表面至膠片距離成正比，與射源至工件表面距離或焦距成反比。

12.△D=(-0.434μγσ△x)/(1+n)是計算什么的公式？從這個公式中可以說明什么問題？答：這是計算缺陷（或金屬絲透度計的金屬絲直徑）對比度的完整公式。從這個公式中可以看出影響射線檢驗靈敏度的主要因素，如：吸收系數μ越大，△D就越大，為此應選用盡量低的管電壓；膠片襯度γ越大，△D也越大，為此應選用襯度（對比度）高的膠片和相應的暗室處理條件；幾何修正系數σ越大，△D也越大，為此應選用焦點小的射線機和合適的焦距，并盡量使膠片與零件緊貼；△x越大（即缺陷沿射線方向尺寸越大），△D也越大；散射比n越大，則△D就越小，因此應設法降低散射線的影響，以將n降低到最低限度。13.射線輻射防護檢測的目的和種類有哪些？ 答：輻射檢測的目的是為了控制和判定電離輻射對人體的照射劑量，從而估計照射對人體的影響，以便采取更完善的輻射防護措施，防患于未然，確保放射性工作人員及周圍群眾的健康和安全，它包括場所輻射監測和個人劑量監測。

14.無損檢測中常用的能量范圍內的伽瑪射線衰減是通過哪種方式產生的？答：光電效應和康普頓散射

15.產生X射線的必備條件是什么？

答：要有一定數量的電子；這些電子沿一定方向作高速運動；在電子前進的路徑上，有阻止電子運動的障礙物

16.X、γ射線具有哪些主要特征？答：直線傳播的電磁波，速度為光速；不受電磁場的影響；能使膠片感光；能使物質電離；能透過可見光不能透過的物質；具有反射、折射、衍射、干涉等波的性質；有生物效應

17.敘述射線穿過物質發生的三個效應與入射線能量之間的關系。答：低能射線以光電效應為主；中等能量射線以康普頓效應為優勢，以光電效應結束；能量大于1.022MeV者，以電子對生成效應為主 18.何謂中子射線？

答：中子射線即中子流，中子是原子核的基本粒子之一，在放射性物質裂變時，有時會放射出中子而形成中子射線

19.對于實用的X射線，為了要用半值層公式，應以什么波長為計算半值層厚度的基準？

答：在管電壓一定時，X射線強度最大所對應的波長為計算基準 20.寫出窄束射線穿過物質的衰減定律公式，并注明各符號的含義。

答：I=I0e-μd 式中：I0--沒有穿透物質某點的射線強度（又稱為初始射線強度）；I--穿過厚度為d的試件某點后的射線強度；d--射線穿透試件的厚度；μ--線性減弱系數或稱衰減系數

21.何謂放射性同位素？答：在元素周期表上占據相同位置，具有不穩定性的元素，它能自發蛻變成另一種原子核

22.X射線的能量取決于什么？答：X射線的能量大小取決于管電壓 23.γ射線的能量取決于什么？答：γ射線的能量大小取決于射線源放射性同位素的種類

24.X光管陽極靶材料由鎢換成鉬會產生什么結果？答：提高發射X射線的效率；耐熱性好

25.繪圖說明膠片特性曲線由哪五部分組成？底片黑度應控制在膠片特性曲線的哪個區域？為什么要控制在這個區域？答：AB-遲鈍區；BC-感光不足區；CD-正常（適量）感光區；DE-過感區；EF-負感區。底片黑度應限制在正常感光區內，因為在這個區域內底片的對比度大（曝光量有小的差異就能產生較大的黑度差），靈敏度高。26.試述高能X射線的特殊性質。答：穿透力極強，可達500mm；射線焦點小；能量轉換高；散射線少，清晰度高；透照幅度寬。27.X射線管中為什么選用鎢靶？

答：高速運動的電子撞擊陽極靶時，約有1-2%的動能轉換為X射線，絕大部分均轉化為熱能，使靶面溫度升高，同時X射線的強度與陽極靶的原子序數有關，所以一般工業用X射線管的陽極靶選用原子序數大、耐高溫的鎢來制造

28.散亂射線是怎樣產生的？它對底片有何影響？透照時如何遮擋？答：散亂射線是由射線與物質作用而產生的，如果來自工件內部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、墻壁上等，均會產生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側壁散亂射線）；散亂射線使底片產生附加黑度，嚴重時全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度；遮擋的方法有：采用限光器（準直器）或采用鉛板在射線源側遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響；采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響；透照較厚工件時，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線；被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關的雜物以避免側壁散亂射線影響。

29.高能X射線設備的主要原理是什么？答：利用超高壓、強磁場、微波等技術對射線管的電子進行加速，從而獲得能量強大的電子束，轟擊靶面而獲得高能X射線 30.X射線管焦點的尺寸大小與什么有關？

答：主要取決于X射線管陰極燈絲的形狀和大小，使用的管電壓和管電流對焦點大小也有一定影響。

31.周向輻射X射線管有哪兩種陽極靶？答：平面陽極和錐體陽極兩種形式 32.用于狹窄部位攝片的X射線管陽極是什么樣的？答：棒狀陽極

33.X射線熒光屏法的優缺點是什么？答：優點是：檢驗速度快，檢驗結果可即時性觀察；操作簡單，檢測成本低；無膠片處理過程；可改變照射角度來全面觀察工件內部質量。缺點是：檢驗結果較難做全面的永久性記錄；工作人員容易疲勞；檢驗靈敏度較低；受穿透力限制，一般只適用于較薄的工件。

34.輻射場限制區是如何測量的？答：X射線機的輻射場尺寸是指從X射線管焦點上發出的X射線在規定距離d處，垂直于輸出窗軸線的平面上，X射線輻射場的大小可用曝光拍片法測量，膠片取得足夠大，可將輻射場的限制區拍攝下來，以底片最大黑度降低20%構成的邊界為輻射場的尺寸

35.伽瑪射線探傷裝置主要由哪四部分構成？答：射源、保護罐（用鉛或貧化鈾制成）、操作機構和支撐裝置

36.中子探傷設備包括哪幾部分？答：中子源、慢化劑、準直器和像探測器

37.射線防護的基本原則是什么？答：采取一些措施，把射線工作人員以及周圍其他工作人員所受的射線劑量降低到最高允許劑量（也叫安全劑量）以下，確保人身安全。38.工業電視應配什么樣的X射線機？包括哪些主要部件？答：應配備小焦點、恒電位的X射線機，包括的部件有圖像增強器、攝像管及電視顯示器，最新的工業電視則采用了CCD(電荷耦合器件)或CMOS來接受X射線并轉換成電信號送入電腦進行信號處理及重構圖像，在電腦屏幕上顯示射線透視的結果

39.什么是軟射線技術？答：使用軟X射線管，產生的X射線束直接從鈹窗口射出，避免了普通X射線管的固有濾波，能基本保持原有波長且能量較低的X射線，稱為軟X射線，利用其進行透照的技術，即是軟射線技術，多用于人體軟組織、輕金屬和非金屬的射線檢測

40.選購X光機時，應考慮哪些條件？答：應考慮以下條件：①首先要選擇穿透能力能滿足工作厚度的要求；②能量相同時，盡量選小焦點的；③要考慮工作量的大小，連續生產還是斷續生產；④要考慮工件的材質和形狀，即是有色金屬還是重金屬，軸類、板材還是筒類等去選擇相應的X射線探傷機種。

41.X射線機的常見故障有哪些？答：常見故障有：①X 射線管松動；②保險絲溶斷；③電流表沒指示或指示數很小；④電纜斷線；⑤自耦變壓器老化、高壓指數達不到額定值；⑥發生器保護罩漏油，高壓跳火；⑦X射線管失效；⑧陽極過熱，毫安表針擺動較嚴重；⑨馬達不轉，發生器局部發熱；⑩X射線管燈絲預熱時間不夠，而使燈絲老化損壞。42.絕緣油絕緣強度低劣時有何現象？

答：絕緣油絕緣強度低時，送高壓后，電流值不規則的波動，一般不至達到跳閘程度。43.什么是絕緣油的絕緣強度？答：油樣在油杯內2.5mm間隙時的擊穿電壓的多次平均值，就是該油的絕緣強度。

44.X射線機要求什么樣的絕緣油，有哪些具體要求？

答：X射線機多用45#變壓器油、絕緣強度要在50kv以上，還要求有燃點高、凝固點低、揮發性低、粘度適中等。

45.經常熔斷電源保險絲的故障原因可能有哪些?答:X射線管真空度不良,絕緣油里有氣泡或絕緣強度降低,高壓電路元件損壞,造成對地放電或短路,調壓器等低壓電路元件絕緣降低,造成對地短路,電源接錯等

46.高壓可接通,但無管電流的故障原因可能有哪些?答:X射線管或高壓整流管燈絲斷或接觸不良,高壓變壓器斷線或接觸不良,高壓電纜與插座接觸不良,毫安表損壞無指示,毫安調節器斷路等

47.試述底片影象顆粒度及影響因素答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時在感覺上產生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由于影像不均勻引起的透射光強變化，其測定結果稱為顆粒度。由于顆粒大小的分布是隨機的，所以顆粒度一般是采用均方根離差σ來度量。目前較通用的方法是用直徑24μm的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重迭生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念，影像顆粒大小取決于以下因素：①膠片鹵化銀粒度；②曝光光子能量；③顯影條件。48.試推導射線照相主因對比度（物件對比度）的表達式

答：已知寬束射線透過厚度為T的試件,其透過射線強度Ip=(1+n)Ioe-μT--(1),當試件中某一局部區域厚度有變化,射線穿過的厚度差為△T,該區域透過射線的強度也會發生變化,其強度增量為△I,則有：

△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1)--(2),(2)÷(1)得： △I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展為級數

eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！??+(μ△T)n/n！??--(4),近似取級數前兩項代入(3),得：

△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n)--(5)49.寫出透照厚度差為△T的平板底片對比度公式和象質計金屬絲底片對比度公式，說明公式中各符號的含義，并指出兩個公式的差異 答：厚度差為△T的平板底片對比度公式：△D=-0.434μpγ△T/(1+n)--(1)象質計金屬絲底片對比度公式：△D=-0.434μpγσ·d/(1+n)--(2),式中：μp--考慮膠片速度系數的射線吸收系數；γ--膠片反差系數；σ--幾何修正系數；△T--平板透照厚度差；d--象質計金屬絲直徑；n--散射比。

兩個公式的差別在于幾何修正系數σ，由于透度計金屬絲直徑d遠小于焦點尺寸，在一定透照幾何條件下，焦點尺寸會影響金屬絲影像對比度，所以公式(2)引入σ對底片對比度進行修正。當缺陷尺寸大于焦點尺寸時，焦點尺寸對底片對比度的影響可忽略不計，所以公式(1)中，沒有幾何修正系數σ

50.什么是幾何修正系數，寫出其計算式并說明其實用意義

答：幾何修正系數σ是考慮射源焦點尺寸在一定的透照幾何條件下,會對小缺陷影像對比度產生影響而提出的,其公式是按透度計金屬絲的情況推導的。對金屬絲透度計按左圖中表示的情況進行透照,到達膠片上P點的射線將通過金屬絲截面的abcd部分,近似認為射線通過的是a1b1c1d1部分,并認為在焦點尺寸f范圍內射線強度無變化。

設金屬絲直徑為d,金屬絲截面圓為O,在距圓心x的一點上,射線穿過金屬絲b2d2兩點，設其穿透厚度為d“,則有 d”=(d2-4x2)1/2 連接膠片上P點與焦點兩端,設兩直線與以O為原點的直線的橫軸分別交于x1和x2,則x1和x2之間的距離d'可用下式表示：d'=f·l/L,式中：l--金屬絲中心至膠片距離；L--焦點至膠片距離。

底片上P點所產生的黑度差△D是由于焦點上各點發出的射線穿過a1b1c1d1金屬絲截面,強度減小而產生的,而焦點上各點發出的射線穿過金屬絲的厚度不一樣,所以穿透厚度d“是一個變量,設dm為d”的平均值,則有：

當d'＜d時,積分上下限為X1=-d'/2，X2= d'/2代入,得：d“m＝{[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}·(d/2)

當d'≥d時,積分上下限為X1=-d/2，X2= d/2代入,得：d”m=(πd/4)(d'/d)-1,修正系數σ= d"m/d，所以有：

d'＜d：σ=(1/2){[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)} d'≥d：σ=(π/4)(d'/d)-1 σ值隨d'/d變化情況見圖b,由圖可見：當d'/d接近1時,σ值會急劇下降,也意味著小缺陷的對比度會隨之減小,在實際透照中,為保證小缺陷的對比度,應考慮采用d'/d≤0.5,σ≈1的幾何布置,此時焦距L的計算公式推導如下：

已知：d'/d≤0.5,則d'≤0.5d,又d'=f·l/L,∴f·l/L≤0.5d,則L≥2fl/d,式中：L-焦距；f-焦點尺寸；l-透度計至膠片距離；d-要求能夠識別的金屬絲直徑

51.固有不清晰度大小與哪些因素有關？答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響：(1)射線的質。透照射線的光子能量越高，激發的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。

(2)增感屏。據文獻報道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會引起固有不清晰度增大；在γ射線和高能量Χ射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。

(3)屏與膠片貼緊程度。透照時，如暗盒內增感屏和膠片貼合不緊，會使固有不清晰度增大。為改善屏與膠片貼合情況，提出使用一種真空暗盒。固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關，與暗室處理條件無關。52.實際照相中，底片上各點的Ug值是否變化？有何規律？

答：實際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡化計算，便于應用，有關技術標準僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標。對不同部位Ug值的變化忽略不計。底片上不同部位的Ug值變化規律如下：

(1)焦點尺寸變化引起Ug值變化，由于Χ射線管的結構原因，沿射線管軸向不同位置焦點投影尺寸是變化的。陽極側焦點小，陰極側焦點大。因此底片上偏向陽極一側的部位Ug值小，偏向陰極一側的部位Ug值大。

(2)L2/L1變化引起Ug值變化，透照縱縫時，被檢區域各點的L2/L1值是定值，Ug值不發生變化。但在透照環縫時，各點的L2/L1值是變化的，因此Ug值也發生變化。例如，環縫外透法和F≠R的環縫內透法，端部的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也會增大。53.試述Ug與Ui的關系以及對照相質量的影響 答：可簡要歸納為以下幾點：(1)射線照相中，通常主要考慮的是幾何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛應用的，表達U，Ug，Ui的關系式是：U2=Ug2+Ui2(2)由于U是Ug和Ui的綜合結果，所以在Ug值已小于Ui值的情況下，再進一步減小Ug值，以期望減小U，其效果是不顯著的，從而是沒有意義的。(3)在Χ射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug。

(4)在60Co，137Cs及192Irγ射線照相中，Ui值較大，對照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過Ui值。54.透照有焊冠的焊縫應注意哪些事項？

答：（1）由于焊縫焊冠的存在，底片上焊縫部位黑度D1總是小于母材部位黑度D2，照相時應注意保證D1、D2均在標準允許的黑度范圍內。（2）由于底片對比度△D隨黑度D的增加而增大，而識別界限對比度△Dmin也隨黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊縫時，通過控制適當的焊縫部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊縫部位能識別的透度計線徑相等，此黑度稱為有焊冠焊縫透照的最佳黑度。（3）底片對比度隨射線有效能量的降低而增大，但另一方面，射線有效能量的降低會使焊縫部位的透射線I1與母材部位的透射線I2的比值大大減小，從而使母材部位的散射線對焊縫部位的影響更嚴重，其結果是降低了對比度，因此，透照有焊冠焊縫時，焊縫部位的對比度不是單純地隨射線能量的降低而增大，而是在某一線質時，焊縫部位的底片對比度達到最大值。此線質稱為有焊冠焊縫透照的最佳線質。

55.指出小口徑管對接焊縫射線照相缺陷檢出的不利因素，并提出改進措施。答：小口徑管焊縫射線照相采用雙壁雙影法透照，對缺陷檢出的不利因素和改進措施有以下幾點：(1)雙壁雙影法透照時，由于射源側焊縫比膠片側焊縫離開膠片的距離相差一個管子直徑，故射線源尺寸的幾何影響較大，使幾何模糊度增加，小缺陷對比度降低，為減小射源尺寸對幾何模糊度和對比度的影響，可選擇焦點尺寸小的射線源，適當增大焦距。(2)透照小口徑管時射線的穿透厚度自中心向兩端變化很大，易導致底片上中心部位黑度過大，邊緣部位黑度過小，為減少被檢區域不同部位的黑度差，宜適當提高射線能量，采用“高電壓，短時間”的透照工藝。(3)由于管子直徑較小，散射線引起“邊蝕”效應比較嚴重。相應的措施是在射線機窗口處加濾板，或采用鉛罩屏蔽焊縫以外部分，以減少“邊蝕”。(4)雙壁雙影透照時，焊縫被傾斜投影到膠片上，缺陷影像會發生畸變。為減少畸變，應控制透照角度和橢圓開口間距，間距一般為3～10mm，最大不超過15mm。

56.試述編寫射線檢測程序書所應包含的內容？答：(1)工藝適用范圍(試件種類、焊接方法和類型、厚度等)。(2)工藝編制依據(有關規程、規范、標準、設計規定等)。(3)對探傷人員要求(資格、工作經歷、學歷、視力等)。(4)設備器材選擇(射線機、膠片、增感屏、透度計、暗盒、鉛字等)。(5)對工件要求(工序、探傷時機、工件表面狀況)。(6)探傷技術要求（質量等級、比例、部位、合格級別)。(7)透照方法(源-膠片相對位置、焦距、劃線長度、編號方法、透度計、鉛字擺放、散射線屏蔽等)。(8)曝光參數(管電壓、管電流、曝光時間等)。(9)暗室處理(配方、程序、條件、要求等)。(10)底片評定(像質鑒定、級別評定、返修規定等)。(11)記錄報告(種類、內容、簽證、存檔及發送規定等)。(12)安全管理規定。

57.散亂射線是怎樣產生的？它對底片有何影響？透照時如何遮擋？

答：散亂射線是由射線與物質作用而產生的，如果來自工件內部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、墻壁上等，均會產生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側壁散亂射線）；散亂射線使底片產生附加黑度，嚴重時全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度；遮擋的方法有：采用限光器（準直器）或采用鉛板在射線源側遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響；采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響；透照較厚工件時，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線；被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關的雜物以避免側壁散亂射線影響。

58.射線源和膠片處于工件兩面，透照時的像質計應如何放置？為什么？

答：應放置在射線源側工件的表面上，置于有效受檢部分的一端，鋼絲橫跨且垂直于焊縫，細絲向片子的端部；這樣放置時的幾何模糊度最大、靈敏度最低，若此靈敏度符合規范標準的要求，則其它部位也能符合要求。

59.在一些壓力容器安全監察規程中規定對于厚度較大的焊縫在進行射線照相后還要求進行超聲波檢測復驗，這是為什么？

答：各種非破壞檢測方法都有其局限性，射線照像隨著板厚的增加，發現小缺陷的能力就越來越差，特別是對于線狀缺陷，例如輕微的未焊透（熔入不足）及小裂紋等難以發現，而超音波檢測對于線狀缺陷是敏感的，為提高檢測可靠性，保證產品質量，特別是質量要求高的產品，超音波檢測可以彌補射線照像檢測的不足。

60.簡述判片的一般程序步驟。[提示]應按相應的規范標準要求進行，通常主要包括：檢查底片上的各標記符號是否齊全及擺放位置是否合乎要求；測定判片區域的黑度與靈敏度要符合標準要求；評定缺陷的位置、性質、大小、分布狀況，按評級標準評出底片級別并作記錄；發出報告。

61.曝光條件主要包括哪些內容？答：對一定機器產生的X射線而言，曝光條件包括管電壓、管電流、曝光時間和焦距；對射源一定的伽瑪射線而言，曝光條件包括曝光時間和焦距。

62.對于水循環冷卻油絕緣的X射線機，當高壓切斷后（已經沒有X射線產生），是否能馬上關閉機器的油泵？為什么？

答：不能馬上關閉油泵，因為X射線產生的過程中有大量電子轟擊陽極鎢靶而產生很高的熱量，所以必須將冷卻油泵繼續運轉10-15分鐘，使X射線管的陽極充分冷卻后才能關閉總電源、關閉水源。

63.右圖所示線路屬于何種高壓回路？多用于哪些射線機上？ 答：這是半波自整流線路，多用于便攜式X射線機上

64.目前工業射線檢測中已經應用的伽馬射源有哪些？它們各自的半衰期及可檢鋼厚度范圍是多少？答：60Co(5.3年，60-150 mm)；192Ir(74.4天，20-90 mm)；75Se(118天，5-40mm)；169Yb(31天，2-12mm)；170Tm(129天，≤5mm)；153Gd(242天，≤5mm)

65.射線檢測的“三個基本要素”是什么？答：射線源、受檢物和記錄或顯示介質。66.選擇透照方式時必須確定的事項、幾何參數和必須考慮的相關因素是什么？答：選擇透照方式時必須確定的事項是：射線源和膠片的位置、射線束照射的方向、透度計和標記的放置、散射線的屏蔽和監測等；必須確定的幾何參數是：焦距、一次透照長度、環焊縫100%透照時最少曝光數；必須考慮的相關因素是：幾何模糊度、透照厚度比、橫裂檢出角、縱裂檢出角、有效評定長度以及100%透照時相鄰兩片的搭接長度。

67.射線探傷的組織管理工作主要包括哪幾個方面？[提示]①配備足夠完成本單位探傷任務的人員，這些人員需經考試合格并取得資格證書；②配備足夠完成本單位探傷任務的設備及器材，加強設備維護，保證設備完好；③制定必要的各項規章制度，如：檢測程序書、設備維護、人員培訓、檢測報告、審核及存檔制度等；④儲備足夠數量的探傷用消耗器材（膠片、增感屏、藥品等），并認真驗收保管好；⑤監督本單位全體人員各負其責，把好質量關。

68.最新的第二代75Seγ射線源有些什么特點？答：是在反應堆中激活的具有熱穩定性的金屬硒化物，焦點呈準球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦點尺寸更小，更適用于小焦距曝光、管道爬行器和接觸式射線照相，影像幾何不清晰度小，是γ射線透照中等厚度（5-40mm鋼），獲取較高影像質量的一種新型同位素射源，較銥192和釔169源的半衰期長(118天)，與銥192相比，其發射能譜較軟，γ射線照射率常數較小，設定輻射防護禁區較小，對操作者安全等

69.評片時對底片的質量一般有哪些要求？答：底片上應無偽像、劃傷、跡痕和其他可能引起評片結論出現差錯的影像；底片上應有識別工件的編號、拍片部位編號、定位記號等標志并與工件相對應；底片上應有透度計的影像，透度計規格適當，底片靈敏度符合標準要求；底片黑度應在規定范圍內，反差適當。70.畫出曝光曲線的示意圖，說明制作條件并簡述其用途。

答：曝光曲線是給定X射線機在選定工藝條件下（包括膠片類型、增感方式、顯影條件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在給定的X射線機和相同的工藝條件下才能使用該曝光曲線。有了實際射線探傷工藝條件下的曝光曲線，在射線探傷時，對于不同厚度的工件就可以根據曝光曲線上的穿透厚度直接求得相應的管電壓、管電流和曝光時間，這是非常經濟、省時和方便的。

71.在評片前首先要檢查底片是否合格，其合格要求有哪幾項？

答：底片黑度合格、像質指數或像質計靈敏度合格、影像識別要求合格，即定位及識別標記齊全；沒有妨礙底片評定的偽像，包括底片的損傷、污跡等。72.以玻殼X射線管為例說明其結構各部分名稱及主要作用。

答：玻殼X射線管的內部構造主要包括七個部分，即：鉛玻璃罩-保持X射線管內的真空度，吸收軟射線；陽極罩-吸收二次電子和軟射線；陽極體-支撐陽極靶和散熱；陰極頭-聚焦電子；燈絲-產生熱電子；陽極靶-發射X射線；鈹窗-吸收軟射線 73.X射線管的種類中，有一種旋轉式陽極，它是怎樣的？

答：它的陽極是裝在一個小的感應電動機軸上，在X射線照射時旋轉，這樣陽極時刻以“新的靶面”接受電子束的轟擊，因此電子束的能量不至于像固定式陽極那樣集中于一點，它可把熱量散布在陽極的相當大的面積上。由于陽極轉動的非常平穩，焦點可以保持形狀和位置的穩定。用旋轉陽極制成的X射線管不但可以得到很小的焦點，而且可以制成較大的功率，其陽極為一直徑約76毫米具有斜邊緣的鎢盤構成，旋轉速度可達到每分鐘數千轉。

74.什么是X射線管的有效焦點？其焦點形狀和尺寸于哪些因素有關？

答：在X射線管中，電子束轟擊陽極靶上的實際面積為X射線管的實際焦點，實際焦點在所激發的射線束中心方向（即垂直于X射線管軸線方向）的投影面積稱為X射線管的有效焦點，有效焦點的平面可認為在X射線管的軸線上，它是直接影響X射線檢驗質量的因素，因此X射線機說明書或檢測規程上所說的焦點（或稱作射源尺寸）都是指有效焦點。X射線管焦點的形狀和尺寸，決定于燈絲的形狀、尺寸、安裝位置以及陽極靶面的傾斜角度。

75.什么是X射線管的容量？答：X射線管允許的最大負荷量就稱為X射線管的容量，它等于X射線管在使用時額定最高管電壓和額定管電流的乘積（計算管電壓時取有效值：U有效=0.707U峰值），即容量P=U有效(千伏)I(毫安)/1000(千瓦)，該容量是指在使用中按規定的冷卻方式工作，并且連續工作時間不能超過規定的連續工作時間的情況下。

76.影響X射線管容量的因素有哪些？答：X射線管的負荷容量直接決定于X射線管實際焦點處的工作溫度，影響焦點處溫度的因素有：實際焦點大小；使用管電壓的高低；管電流的大小；X射線管的連續使用時間；在實際焦點上電子束截面的電子密度分布情況；陽極的構造及冷卻方式。

77.X射線管為什么要經過訓練（老練硬化）處理？答：X射線管的質量優劣及使用壽命都與管內的真空度密切相關，盡管制造時已經達到要求的真空度（一般可達10-7mmHg）,但是管內的結構材料在第一次使用或者長期擱置，或者受到電子轟擊或受熱時，都有可能從這些物體中逸出氣體（“放氣”）而降低真空度，導致X射線管不能穩定工作甚至損壞。X射線管的訓練實質上是通過從低端開始逐步升高管電壓和管電流，使管內的氣體分子電離并因被電離出來的質量較大的正離子高速沖向陰極，使得陰極金屬發生濺散，這些濺散的金屬此時會吸收管內的氣體，即“排氣”，從而提高管內真空度，保障X射線管穩定工作。因此對于新的或停止工作較長時間的X射線管在正式使用前都必須進行訓練處理。

78.為什么在射線檢測規范標準中對底片黑度的要求有越來越高的趨勢，而且采用的觀片燈的亮度液越來越大？ 答：隨著底片黑度的提高，其對比度也相應增加，這一關系直到黑度值為3-3.5左右，底片對比度提高后。透照靈敏度也增加了，因此有傾向于要求較高的底片黑度，而為了能夠觀察高黑度的底片，要求觀片燈的亮度也要隨之相應加大了。79.X射線硬度對靈敏度有什么影響？

答：X射線的硬度決定于波長，波長越短，硬度越高。X射線檢驗的靈敏度主要取決于底片的對比度和清晰度，對比度越高，越容易發現缺陷，然而當其他條件固定時，缺陷在底片上的對比度完全取決于主因對比度：IA/IC=eμx（式中IA-透過缺陷處的射線強度；IC-透過缺陷附近材料的射線強度；e-自然對數的底，常數；μ-吸收系數；x-缺陷深度）當缺陷深度一定時，提高主因對比度的唯一途徑是增大物質的吸收系數μ，由于μm=CZmλn（式中μm-質量吸收系數；C-常數；Z-物質的原子序數；λ-X射線波長，m和n一般取3），即質量吸收系數與被透物質原子序數的立方和入射X射線波長的立方成正比。當被透物質固定時，吸收系數僅決定于X射線波長。采用較低的管電壓時可以得到波長較長的X射線，從而提高了主因對比度，亦即提高了靈敏度，因此在可能的條件下盡量采用較低的管電壓，也就是較軟的X射線，對提高靈敏度是有益的。

80.焦距對射線檢驗的靈敏度有何影響？答：主要表現在四個方面：①焦距的大小會引起缺陷投影的畸變，焦距越小，缺陷投影畸變越大，因此從減小缺陷畸變考慮，選用較大焦距為好；②焦距的大小會引起零件沿射線方向厚度的變化，這是由于射線束成圓錐形擴散，引起零件邊緣沿射線方向厚度增加，導致零件在底片上的黑度不均勻，用K表示邊緣部位與中間部位沿射線方向的厚度比，即K值越大，零件中間部位與邊緣部位沿射線方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均勻，對射線檢驗靈敏度影響越大，選用較大的焦距可有效地減小K值（一般要求K值越小越好，最好不超過1.1），對靈敏度有利；③焦距大小隊幾何模糊度的影響，幾何模糊度Ug的存在使缺陷邊緣輪廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷對比度，因此焦距越大則Ug越小，檢驗靈敏度越高；④焦距大小對散射線的影響，焦距增大必然導致曝光量要增加，在管電流一定的情況下只能增加曝光時間，除了降低工作效率外，也會使得散射線作用時間增長而影響底片清晰度，降低了檢驗靈敏度。因此，從前三項而言，增大焦距對提高檢驗靈敏度有利，但從散射線影響的因素來說，提高焦距對靈敏度是不利的，故在確定焦距參數時應予以全面綜合考慮，選擇適宜的焦距。81.什么是增感和增感系數？

答：增感即是增加膠片的感光量，從而可以相對地縮短對膠片的曝光時間。增感系數用于說明增感屏的作用程度，也稱增感因素，它是在所有條件不變的情況下，使底片得到相同黑度時，不使用增感屏所需曝光時間t1與使用增感屏所需曝光時間t2之比：K=t1/t2,但是此增感系數K并不是一個固定不變的值，它隨使用的X射線波長和所取底片黑度的不同而變化的。

82.影響射線檢測透照靈敏度的諸因素有哪些？

答：使用的X射線機性能；使用的X射線膠片性能質量與暗室處理條件；增感屏的選用；散射線的防護措施；零件的材料、尺寸和形狀，缺陷的性質、尺寸、形狀和方向；管電壓、管電流、曝光時間與焦距的選用。83.常見的曝光曲線有哪些形式？

答：常見的曝光曲線形式有：曝光量和管電壓隨材料厚度變化的曲線；管電壓對材料厚度變化的曝光曲線。

84.工業X射線電視的優缺點如何？

答：優點：可以直觀地觀察物體動態或靜態情況下的內部結構與缺陷；使用經濟、簡便、效率高；可用于流水作業，便于實現X射線檢驗自動化。缺點：其檢測靈敏度一般較X射線照相法低；對形狀復雜的零件檢查有困難；初始投入較高。85.工業CT的全稱是什么？答：工業用計算機控制層析X射線照相裝置

86.用黑度計測定的底片黑度是一個綜合的表觀值，它包含了什么因素在內？答：包含了工件對比度和膠片對比度

87.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發現如右圖顯示的圓形瑕疵分布，按（）標準，該焊縫應判定為幾級？（按出題人確定的標準作答）

88.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發現如右圖顯示的圓形瑕疵和線形瑕疵，按（）標準，該焊縫應判定為幾級？（按出題人確定的標準作答）

89.右圖為某合金鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：氣體保護焊-鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質。答：橫裂紋

90.右圖為某鈦合金板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質。答：夾鎢

91.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：密集氣孔

92.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：局部夾渣

93.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：未焊透（熔入不足）94.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：線狀夾渣

95.右圖為某厚度14mm低合金鋼板對接焊縫，X型坡口，焊接方式：自動焊，判斷影像中缺陷的性質。答：縱向裂縫

96.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：樹枝狀偽缺陷

97.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：蜘蛛狀偽缺陷

98.什么是偽缺陷？簡述底片上偽缺陷的來源。

[提示]：由于膠片本身質量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨別的影像，但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像，稱之為偽缺陷。偽缺陷的來源包括機械損傷或表面附著物形成（如指紋、折痕、劃傷、水印等），或者是由化學作用形成（如漏光、感光、藥物玷污等），大致上可以分為來源于膠片本身的制造質量與儲運、保管，來源于增感屏制造質量及損傷導致的增感不均勻或受過可見光線照射過的熒光增感屏的受激熒光影響等，來源于膠片裁切、包裝、照相及沖洗過程中的漏光、手印、靜電、劃傷或局部折傷等；來源于暗室處理中的玷污、處理不均勻、水跡、指紋、氣泡、藥水老化失效、操作程序不當等等

99.什么是“照相灰霧（Photo graphic fog）”和“曝光灰霧（exposure fog）”？ [提示]：照相灰霧是由于乳劑和沖洗條件造成的灰霧，即是膠片固有灰霧與顯影時的化學灰霧的總和；曝光灰霧則是由于膠片受到不需要的電離輻射或可見光波的曝光而造成的灰霧

100.什么是影響射線照相影象質量的三要素？答：影響射線照相影像質量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為底片影像中相鄰區域的黑度差。射線照相清晰度定義為底片影像中不同黑度區域間分界線的寬度。用來定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射線照相顆粒度定義為對視覺產生影響的底片影像黑度的不均勻程度。

101.什么叫主因對比度？什么叫膠片對比度？它們與射線照相對比度的關系如何？ 答：由于不同區域射線強度存在差異所產生的對比度稱為主因對比度，其數學表達式為：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透過試件到達膠片的射線強度；△I--局部區域射線強度增量；μ--射線的吸收系數；△T--局部區域的透射厚度差；n--散射比。由上式可以看出，主因對比度取決于透照厚度差、射線的質以及散射比。膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數定量表示，數學式為：γ'=△D/△lgE,式中γ'--膠片平均反差系數；△D--底片對比度；△lgE--曝光量對數值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型，底片黑度，顯影條件和增感方式。射線照相底片對比度是主因對比度和膠片對比度的綜合結果，主因對比度是構成底片對比度的根本因素，膠片對比度可以看作是主因對比度的放大系數。

102.就象質計金屬絲底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高底片對比度可能會帶來什么缺點？答：象質計金屬絲底片對比度公式△D=-0.434μpγσ·d/(1+n),提高對比度主要途徑及由此帶來的缺點：(1)增大μp值。在保證穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，得這樣會使曝光時間增加。(2)增大γ值。可選用γ值更高的微粒膠片；由于非增感型片膠片γ值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間，提高黑度也需要增加曝光時間，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度△Dmin，對靈敏度產生不利影響。(3)提高σ值，可選擇焦點尺寸小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光時間延長。(4)減少n值。要減小散射線，就要使用鉛窗口和鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時間延長。

103.以鋼鐵材料為例簡述吸收系數μ的三個主分量τ、σ、χ在不同射線能量（從0-100MeV）時的分布規律，并用圖示說明（答案從略）

104.簡述射線照相時，最小可見對比度△Dmin的含義以及它與底片黑度的關系，對于金屬線圖像來說，在什么黑度范圍內是可以識別的，并用圖示加以說明（答案從略）105.簡述射線檢驗中除照相法外的任意三種其他方法的原理及適用范圍（答案從略）106.簡述焊縫射線照相時，影響底片圖像對比度的各種因素，為提高照相對比度，可采用哪些工藝措施？（答案從略）107.簡述暗室處理時，影響底片質量的主要因素以及因暗室處理不當造成底片質量問題的各種主要表現形式（答案從略）

108.試用射線的衰減規律解釋射線照相法的基本原理，并簡要分析提高射線照相質量的各種因素（答案從略）

109.簡述X射線工業電視檢測法的原理及優缺點（答案從略）

110.何謂射線照相中的“寬容度”？在什么情況下需要提高照相的寬容度？這樣會給它的照相質量參數帶來什么影響？（答案從略）

111.試述焊縫射線照相時，降低散射、直射線強度比n的幾種方法（答案從略）112.請對GB3323-82和JB1152-81這兩個標準任選一個談談對其優缺點及改進意見的看法（答案從略）

113.按GB3323-82標準規定，射線照相探傷底片上標志的主要要求有哪些？（答案從略）

114.對應于平的對接焊縫，在透照時應怎樣選擇膠片類型、KV值和底片黑度？（答案從略）

115.散射線是怎樣產生的？它對射線照相有何影響？透照時應采取什么措施加以防止？（答案從略）

116.對焊縫而言，采用射線照相法與超聲波檢驗法各有什么優缺點？（答案從略）117.底片黑度是影響射線照相質量的參數之一，試述黑度D與對比度△D和最小可見對比度△Dmin之間的關系，根據這一關系，應如何選定底片的黑度范圍？并作圖加以說明（答案從略）

118.γ射線探傷中最常用的幾種放射源的名稱、半衰期、γ射線能量、比活度范圍、化學狀態以及對鋼鐵工件的適用厚度范圍是什么？（答案從略）

119.為什么散射線會降低射線照相的靈敏度？在焊縫射線照相中，加強高（余高）和母材區的散射比n的數值分布規律大致是怎樣的？并以簡圖加以說明。在焊縫射線照相中可以用什么方法來減少散射比以提高圖像質量？（答案從略）

120.射線探傷用的膠片一般是根據什么來進行分類的？各類膠片主要參數之間（如顆粒度、對比度、感光速度、清晰度）的相互關系是什么？（答案從略）

121.為什么適當提高觀片燈亮度就可以擴大金屬絲影像在底片上的可見黑度范圍？并請作圖加以說明（答案從略）122.簡述X射線照相法之外的任意四種射線檢測缺陷方法的名稱和應用范圍（答案從略）

第四篇：中國民航無損檢測人員技術資格鑒定委員會

中國民航無損檢測人員資格鑒定與認證委員會

※※※※※※※※※※※※※※編號：NDT200503 ※※

※NDT資格鑒定文件※頒發日期：2005年4月6日 ※※

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標題:征文通知

國際、南方、東方集團航空公司機務工程部，北京、廣州飛機維修工程有限公司，海南航空集團公司，民航飛行學院機務處，廈門、山東太古飛機工程有限公司，深圳、廈門、四川、上海、山東、飛龍航空公司，各有關單位：

隨著民用航空器維修事業的快速發展，無損檢測技術越來越廣泛地應用到維修的各個方面。2005年正值民航無損檢測技術應用30周年，為了提高無損檢測人員技術水平，促進民航無損檢測技術進步，提高航空器維修質量，保證飛行安全。擬在今年適當時間舉辦民航無損檢測技術交流會，希望各單位從事航空器無損檢測的技術人員、操作人員和管理人員踴躍投稿，具體要求如下：

1.稿件內容：無損檢測技術在航空器維修中的應用研究，航空器及其零部件無損檢測經驗，國內外新標準、新技術、新設備在航空器檢測中的應用，航空器無損檢測中的疑難問題探討，無損檢測質量控制和管理等。

2.稿件用A4紙打印，宋體，小四號字體。

3.稿件文本和軟盤于9月30日前寄到民航NDT委員會秘書處，或者發電子郵件。

秘書處地址：成都雙流機場國航工程技術分公司成都維修基地無損檢測中心

聯系電話：（028）85721322、（028）85721328

傳真：（028）85721321e-mail:caacndt@163.net

聯系人：熊德瓊

民航無損檢測人員資格鑒定與認證委員會

注：請各集團航空公司將本通知轉告所屬各分公司。

報：總局飛標司抄送：各管理局適航處

第五篇：鍋爐壓力容器無損檢測人員資格鑒定考核規則

第一章 總則

第一條為了提高鍋爐壓力容器無損檢測工作質量，保證鍋爐壓力容器安全運行，根據《鍋爐壓力容器安全監察暫行條例》及有關規定，制定本規則。

第二條本規則適用的無損檢測方法包括射線（ＲＴ）、超聲波（ＵＴ）、磁粉（ＭＴ）、滲透（ＰＴ）、渦流（ＥＴ）、聲發射（ＡＥ）。無損檢測人員的級別分為：Ⅰ級（初級）、Ⅱ級（中級）、Ⅲ級（高級）。第三條從事鍋爐壓力容器無損檢測的人員，必須按本規則經資格考核，取得勞動行政主管部門鍋爐壓力容器安全監察機構（以下簡稱監察機構）頒發的相應的資格證書。

第二章考核組織

第四條鍋爐壓力容器無損檢測人員（以下簡稱無損檢測人員）的資格考核工作由鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核委員會（以下簡稱考委會）負責進行。

考委會分為全國考委會（對境外稱：中國鍋爐壓力容器無損檢測人員考核委員會）、省考委會（指省、自治區、直轄市考委會，下同）、地市和企業考委會。

第五條全國考委會受勞動部鍋爐壓力容器安全監察機構領導，并由該監察機構商請有關部、委的代表及部分無損檢測專業技術人員組成。委員中無損檢測專業技術人員比例不低于８０％，其中，承擔考核的每一種無損檢測方法的Ⅲ級持證人員不應少于四個。全國考委會的職責：

１．負責Ⅲ級（必要時可負責Ⅱ級）無損檢測人員的資格考核工作； ２．對境外無損檢測人員進行資格考核；

３．組織編寫無損檢測人員的考核大綱和培訓教材，建立試題庫； ４．組織考核工作經驗交流和咨詢；

５．承辦勞動部鍋爐壓力容器安全監察機構委托的有關業務； ６．指導省以下（含省）考委會的考核工作； ７．與國外無損檢測考核機構交流考核工作經驗。

第六條省考委會受省級監察機構領導，并由該監察機構商請該省有關部門的代表及部分無損檢測專業技術人員組成。委員中無損檢測專業技術人員比例不低于８０％，其中，承擔考核的每一種無損檢測方法的Ⅲ級持證人員不應少于三個。省考委會的職責：

１．負責Ⅱ級（必要時可負責Ⅰ級）無損檢測人員資格考核工作； ２．指導地市和企業考委會的考核工作； ３．承辦省級監察機構委托的有關業務；

４．組織Ⅰ級考委會的考核工作經驗交流和咨詢。

第七條地市考委會須經所在地的省級監察機構批準，受所在地的地市級監察機構領導，并由該監察機構商請該地市有關部門的代表及部分無損檢測專業技術人員組成。

企業考委會須經所在地的地市級監察機構同意后報所在地的省級監察機構批準。企業考委會受本企業領導并由該企業的技術負責人、質量管理負責人、教育部門的代表及部分無損檢測專業技術人員組成。

地市和企業考委會中無損檢測專業技術人員比例不低于８０％，其中，承擔考核的每一種無損檢測方法的Ⅲ級持證人員不應少于二個，Ⅱ級持證人員不應少于三個。地市和企業考委會的職責：

負責Ⅰ級無損檢測人員的資格考核工作及地市級監察機構委托的有關業務。

第八條各考委會應制訂與考核有關的管理制度，同時應具備考核所需的設備、試件、試塊、器材及場地。

第九條省以下（含省）考委會成立后，應由相應的監察機構報上一級監察機構備案。

第十條各考委會應將考核工作總結和下一的考核計劃報送監察機構，并抄報上一級監察機構。

第十一條監察機構對所管轄的考委會的考核工作應進行檢查。

第三章報考條件

第十二條無損檢測報考人員（以下簡稱報考人員）須同時滿足下列基本條件：

１．從事無損檢測工作的經歷應滿足表１的要求。

２．雙眼矯正視力應在１．０以上，并具有報考的無損檢測方法所要求的顏色分辨能力。

第四章考核程序

第十三條報考人員應向表２所列的所在地的初審機構提交《鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核申請表》（附件一）及有關材料，初審機構審查后送復審機構審查。

第十四條遇到下列情況之一時，報考人員可到外地接受考核，復審機構應將符合報考條件的申請表及時轉至外地相應的監察機構。１．目前尚未成立考委會的地區；

２．考委會尚無條件對報考的無損檢測方法進行考核； ３．考核計劃無法滿足報考人員的需要。

第十五條考委會應將考核時間、地點通知符合條件的報考人員，報考人員應按規定繳納考核費。

第十六條考委會對符合報考條件的人員進行考核。每次考核，每種無損檢測方法的主考人員不應少于三人，并應指定一人負責。

第十七條考委會評定報考人員的考試成績后，報相應的監察機構審核。經審核合格的人員，由監察機構簽發資格證書（附件二），對其中參加Ⅰ或Ⅱ級考核的外地報考人員的成績，應分別轉至報考人員所在地的地市級或省級監察機構，并由其對考核合格人員簽發資格證書。報考人員對考核結果有異議時，可向考委會所在地的監察機構或上一級監察機構申訴，監察機構可根據情況對考試成績進行復審。

第五章考核方法、內容及評定

第十八條無損檢測人員的資格考核方法分筆試、實際操作考試，其中對報考Ⅲ級的人員還必須進行口試。第十九條Ⅰ級無損檢測人員的考核：

一、筆試按表３的要求命題；

二、實際操作考試包括： １．檢測儀器的調試；

２．典型檢測對象的檢測操作； ３．識別缺陷的信號、指示及影像； ４．記錄檢測數據，整理檢測資料。第二十條Ⅱ級無損檢測人員的考核：

一、筆試按表４的要求命題；

二、實際操作考試包括： １．檢測儀器的調試； ２．檢測規范的選擇；

３．典型檢測對象的檢測操作；

４．識別缺陷的信號、指示和影像，根據標準評定檢測結果； ５．填寫檢測報告。

第二十一條Ⅲ級無損檢測人員的考核：

一、筆試分基礎知識考試和無損檢測知識考試兩種，按表５的要求命題；

二、實際操作考試包括： １．檢測儀器的調試； ２．檢測規范的選擇；

３．典型檢測對象的檢測操作；

４．判別并解釋缺陷的影像、信號和指示，依據標準評定、分析檢測結果；

５．填寫檢測報告；

６．提出改進產品質量和檢測工作質量的措施。

注：凡已持有某種方法的Ⅲ級資格證書的人員在報考另一種方法Ⅲ級證時，可免試基礎知識。

三、口試。主考人員根據報考人員所從事無損檢測工作的簡歷、技術總結和編制典型產品的無損檢測工藝進行提問，綜合考察報考人員處理實際問題的能力。口試的成績按優、良、中、差四級評定。第二十二條報考人員各科考試成績同時滿足表６相應級別要求時為合格。報考Ⅰ、Ⅱ級的人員，若筆試和實際操作考試中有一科成績不合格，可在一年內補考不合格科目，報考Ⅲ級的人員，若實際操作考試和口試中有一科成績不合格，可在一年內補考不合格科目。第六章監督管理

第二十三條鍋爐壓力容器無損檢測持證人員只能從事與其證書級別相應的無損檢測工作，其中：

Ⅰ級人員可在Ⅱ、Ⅲ級人員的指導下進行無損檢測操作，記錄檢測數據，整理檢測資料。

Ⅱ級人員可編制一般的無損檢測程序，并按Ⅲ級無損檢測人員編制的無損檢測工藝獨立進行檢測操作，評定檢測結果，簽發檢測報告。Ⅲ級人員可根據標準編制無損檢測工藝，審核或簽發檢測報告，解釋檢測結果，仲裁Ⅱ級人員對檢測結論的技術爭議。

無損檢測的實習人員只能在持證人員的指導下，從事無損檢測的輔助工作。

第二十四條持證人員所在單位應對無損檢測持證人員加強管理，并建立無損檢測人員技術檔案，內容包括： １．檢測質量方面的獎懲情況； ２．中斷無損檢測工作的起止時間； ３．接受技術培訓的情況。

當持證人員出現本規則第二十六條所述情況時，持證人員所在單位應及時向所在地的地市級監察機構報告。

第二十五條如果持證人員不再從事鍋爐壓力容器無損檢測工作，或工作單位發生變動時，持證人員所在單位應書面向地市級監察機構備案，并報發證機構。

第二十六條監察機構應對本地持證人員的無損檢測工作實行監督檢查，發現下列情況之一時，視情節輕重，分別予以通報批評、吊銷資格證書等處分。

１．轉讓無損檢測資格證書；

２．因弄虛作假、玩忽職守，造成嚴重責任事故的； ３．因嚴重漏檢、誤檢，不能保證檢測質量的； ４．私自外出從事鍋爐壓力容器無損檢測工作的；

５．從事與資格證書不符的鍋爐壓力容器無損檢測工作的； 無損檢測資格證書被吊銷者，兩年內不準參加資格考核。

第二十七條持證人員的資格證書有效期為五年。有效期期滿前九個月內，持證人員須按本規則第十三條規定的程序向相應的監察機構提交復試申請表（附件三）。

第二十八條下列人員不得參加復試：

１．連續中斷無損檢測的時間超過１８個月的；

２．本內出現本規則第二十六條所述情況受到通報批評處分的。第二十九條復試工作應由相應的考委會進行，但經所在地的監察機構（Ⅱ級人員指省級監察機構，Ⅰ級人員指地市級監察機構）同意，持證人員也可參加外地考委會組織的復試。第三十條復試科目分為筆試和實際操作考試。

筆試的內容側重于考察報考人員對有關的無損檢測新技術、新標準的熟知程度；實際操作考試是考察其操作技能是否達到相應級別的要求，可選取本規則第十九條、第二十條、第二十一條中部分實際操作考核項目進行考核。

第三十一條各科目復試成績同時符合表７要求時，復試為合格，由相應的監察機構按本規則第十七條的規定簽發資格證書。第七章附則

第三十二條鍋爐壓力容器無損檢測人員資格證書由勞動部鍋爐壓力容器安全監察機構統一印制。

第三十三條本規則由勞動部負責解釋。

第三十四條本規則自一九九四年十月一日起施行。